TY - JOUR A1 - Gründer, Klaus-Peter A1 - Geburtig, Anja T1 - Dreidimensionale Dehnungsfeldmessungen an parallelepipedischen Zugproben JF - Technisches Messen N2 - Es wird die Anwendung des Objektrasterverfahrens zur Untersuchung des elastischen und inelastischen, anisotropen und inhomogenen Verformungsverhaltens parallelepipedischer, metallischer Einkristall-Zugproben im Ergebnis unterbrochener Belastungsstufen von ca. 0,01%, 0,05%, 0,10% und 0,20% Restdehnung beschrieben. Diese Vorgehensweise ermöglicht die gleichzeitige Bestimmung aktivierter Gleitsysteme mit einem optischen Nano-Topografiesystem nach der Weißlichtinterferenzmethode. Aus den Verformungsdaten im elastischen Bereich können flächen- und richtungsabhängige Materialkennwerte ermittelt werden. A special grating method has been applied for three-dimensional investigation of elastic and inelastic, anisotropic and inhomogeneous deformation of parallelepipedal metallic single crystal specimen by interrupted tensile tests in steps of 0,01%, 0,05%, 0,10% and 0,20% residual strain. This procedure gives the ability to determine activated slip systems by white light interferometric nanoscale topometry. Elastic anisotropic material parameters of cubic crystals can be calculated from experimental data. KW - Optical 3D-deformation measurement KW - Grating method KW - Mono-crystalline metallic alloys KW - Elastic material parameters PY - 2002 DO - https://doi.org/10.1524/teme.2002.69.10.418 SN - 0340-837X SN - 0178-2312 SN - 0171-8096 VL - 69 IS - 10 SP - 418 EP - 420 PB - Oldenbourg CY - München AN - OPUS4-1575 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gründer, Klaus-Peter A1 - Geburtig, Anja T1 - Optische Verfahren zur Untersuchung von Nickel-Basis-Superlegierungen, Mikroverformungen an Materialoberflächen T2 - Test 2003, International Conference on Materials Testing T2 - Test 2003, International Conference on Materials Testing CY - Nuremberg, Germany DA - 2003-05-13 PY - 2003 AN - OPUS4-5157 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gründer, Klaus-Peter A1 - Geburtig, Anja T1 - Mikroverformungen an Materialoberflächen T2 - GESA-Symposium 2003, Sicherheit und Wirtschaftlichkeit durch Messtechnik, Monitoring und Beanspruchungsanalyse T2 - GESA-Symposium 2003, Sicherheit und Wirtschaftlichkeit durch Messtechnik, Monitoring und Beanspruchungsanalyse CY - Braunschweig, Germany DA - 2003-06-12 PY - 2003 AN - OPUS4-5162 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gründer, Klaus-Peter A1 - Quercetti, Thomas T1 - Einsatz der Photogrammetrie zur Bestimmung von Deckelverschiebungen im Rahmen der sicherheitstechnischen Beurteilung von Behältern für radioaktive Stoffe T2 - GESA-Symposium 2005 T2 - GESA-Symposium 2005 CY - Saarbrücken, Germany DA - 2005-09-21 PY - 2005 AN - OPUS4-7759 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Gründer, Klaus-Peter A1 - Quercetti, Thomas T1 - Einsatz der Photogrammetrie zur Bestimmung von Deckelverschiebungen im Rahmen der sicherheitstechnischen Beurteilung von Behältern für radioaktive Stoffe T2 - GESA-Symposium 2005 - Strukturanalyse T2 - GESA-Symposium 2005 : Strukturanalyse CY - Saarbrücken, Deutschland DA - 2005-09-21 PY - 2005 SN - 3-18-091899-3 SN - 0083-5560 N1 - Serientitel: VDI-Berichte – Series title: VDI-Berichte IS - 1899 SP - 261 EP - 268 PB - VDI-Verl. CY - Düsseldorf AN - OPUS4-11471 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gründer, Klaus-Peter A1 - Kadoke, Daniel T1 - Formerfassung im Mikrobereich T2 - Kolloquium; Instrumentierte Eindringprüfung, BAM T2 - Kolloquium; Instrumentierte Eindringprüfung, BAM CY - Berlin, Germany DA - 2007-04-17 PY - 2007 AN - OPUS4-16348 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gründer, Klaus-Peter A1 - Kadoke, Daniel A1 - Müller, Karsten A1 - Musolff, André T1 - Characterizaton of shock absorber deformation by optical surface digitization T2 - PATRAM Konferenz 2007 T2 - PATRAM Konferenz 2007 CY - Miami, FL, USA DA - 2007-10-21 PY - 2007 AN - OPUS4-15968 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gründer, Klaus-Peter A1 - Kadoke, Daniel T1 - Deformation characterization of large shock absorbers under drop test conditions with ATOS T2 - GOM User Meeting T2 - GOM User Meeting CY - Braunschweig, Germany DA - 2007-09-24 PY - 2007 AN - OPUS4-15961 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gründer, Klaus-Peter A1 - Czepluch, Wolf T1 - Oberflächenkennzeichnung durch Glanz T2 - Fachseminar Glanz T2 - Fachseminar Glanz CY - Ludwigshafen am Rhein, Germany DA - 2008-09-23 PY - 2008 AN - OPUS4-18331 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gründer, Klaus-Peter T1 - Dreidimensionale Verformungsanalyse duch optische Messverfahren T2 - Ausstellung "Berlin im Licht" T2 - Ausstellung "Berlin im Licht" CY - Berlin, Germany DA - 2008-06-24 PY - 2008 AN - OPUS4-17088 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -