TY - RPRT A1 - Witt, Klaus T1 - Bestimmung optischer Kennwerte lumineszierender und reflektierender Materialien N2 - Die UV/VIS-Spektrometrie an lumineszierenden und reflektierenden Materialien zur Bestimmung optischer Kennwerte wird nach der 2-Monochromator-Methode (2MM) (monochromatische Anregung) und der 1- Monochromator-Methode (1 MM) (poly-chromatische Anregung) praktiziert. Wie weit die verschiedenen Methoden zu vergleichbaren Ergebnissen kommen, sollte in einem Rundversuch mit insgesamt drei 2MM- und sieben 1 MM-Spektrometern anhand eines umfangreichen Probensatzes aus verschiedenen Materialtypen bestimmt werden. Während die 2MM-Spektrometer eine von der Strahlungsquelle unabhängige Bestimmung der spektralen Strahldichtefaktoren von Lumineszenz und regulärer Reflexion für vorgegebene Lichtart zulassen, aus denen die Gesamtstrahldichtefaktoren zu bilden sind, benötigen die 1 MM-Spektrometer im Idealfall eine präzise D65-Strahlungsquelle, wenn auf Normlichtart D65 bezogene spektrale Gesamtstrahldichtefaktoren bestimmt werden sollen. Diese Voraussetzung war nur in einem Fall erfüllt, die übrigen 1 MM-Spektrometer verwendeten eine Xenonlampe in Verbindung mit einer UV-Partialfilterung justiert für optisch aufgehellte weiße Proben, die nur den UV-Spektralbereich der Xenon-Quelle auf ähnliche Wirkung wie die der Normlichtart D65 bringt. Die 2MM-Spektrometer erwiesen sich als gut übereinstimmende Referenzgeräte bei kaum bis schwach strukturierten Proben. Bei starker Probenstruktur verändern sich bei unterschiedlicher Messgeometrie vor allem die spektralen Strahldichtefaktoren der regulären Reflexion erheblich, während die der Lumineszenz nahezu unabhängig bestimmbar bleiben. Bei den 1 MM-Spektrometern mit UV gefilterter Xenonlampe werden wegen der speziellen Justierung die spektralen Gesamtstrahldichtefaktoren von optisch aufgehellten weißen Proben mit relativ geringer Streuung wiedergegeben. Bei bunt lumineszierenden Proben versagt die UV-Anpassung, da auch Teile des nicht angepassten VIS-Spektrums die Lumineszenz erzeugen. In diesen Fällen wird bei gerichteter Messgeometrie die Lumineszenz mit Bezug zur Normlichtart D65 überhöht dargestellt, bei Kugelgeometrie wegen des bekannten Kugelfehlers zu niedrig. Die farbmetrischen Auswertungen bilden die spektralen Differenzen analog ab. Die Frage, ob trotz fehlender Übereinstimmung in den absoluten Kennzahlen wenigstens relative Farbunterschiede von den verschiedenen Spektrometern vergleichbar ermittelt werden, ließ sich ansatzweise aus einigen zusammengestellten Probenpaaren beantworten: die 1 MM- Spektrometer unterscheiden sich deutlich stärker als die 2MM-Spektrometer. T3 - BAM Forschungsberichtreihe - 258 PY - 2003 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-1937 SN - 978-3-89701-977-9 SN - 0938-5533 VL - 258 SP - 1 EP - 17 PB - Wirtschaftsverlag NW CY - Bremerhaven AN - OPUS4-193 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Witt, Klaus T1 - Haben wir die UV/VIS-Spektrometrie lumineszierender Materialien im Griff? JF - Die Farbe PY - 2003 SN - 0014-7680 VL - 46 IS - 1-2 SP - 31 EP - 51 PB - Musterschmidt CY - Göttingen AN - OPUS4-2695 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Witt, Klaus ED - Sprinsteen, A. T1 - Spectral and colorimetric intercomparison of fluorescent materials - polychromatic versus monochromatic irradiation T2 - Fourth Oxford Conference on Spectroscopy T2 - 4th Oxford Conference on Spectroscopy ; 4th Oxford Conference on Spectrometry CY - Davidson, NC, USA DA - 2002-06-10 KW - Luminescent materials KW - Two-monochromator-spectrophotometer KW - One-monochromator-spectrophotometer KW - Reflected radiance factor KW - Luminescent radiance factor KW - Total radiance factor KW - Colour difference KW - UV-filter adjustment KW - Reference material PY - 2003 SN - 0-8194-4600-9 SN - 1605-7422 N1 - Serientitel: SPIE Volume – Series title: SPIE Volume IS - 4826 SP - 61 EP - 69 PB - SPIE CY - Bellingham, Wash. AN - OPUS4-2662 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -