TY - GEN A1 - Steckert, Carsten A1 - Witt, Klaus A1 - Richter, Klaus T1 - Elektronische Hilfsmittel zur Qualitätssicherung dekorativer Beschichtungen auf Aluminium bei Freibewitterung T2 - Aluminium-Anwendungen (Berichtsband / Deutsche Forschungsgesellschaft für Oberflächenbehandlung e.V., DFO 36) T2 - Tagung Aluminium-Anwendungen : neue Entwicklungen in der Oberflächentechnik CY - Düsseldorf, Deutschland DA - 1998-03-10 PY - 1998 SN - 3-932287-36-3 IS - 36 SP - 159 EP - 166 PB - DFO CY - Düsseldorf AN - OPUS4-2722 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Witt, Klaus T1 - Bestimmung optischer Kennwerte lumineszierender und reflektierender Materialien N2 - Die UV/VIS-Spektrometrie an lumineszierenden und reflektierenden Materialien zur Bestimmung optischer Kennwerte wird nach der 2-Monochromator-Methode (2MM) (monochromatische Anregung) und der 1- Monochromator-Methode (1 MM) (poly-chromatische Anregung) praktiziert. Wie weit die verschiedenen Methoden zu vergleichbaren Ergebnissen kommen, sollte in einem Rundversuch mit insgesamt drei 2MM- und sieben 1 MM-Spektrometern anhand eines umfangreichen Probensatzes aus verschiedenen Materialtypen bestimmt werden. Während die 2MM-Spektrometer eine von der Strahlungsquelle unabhängige Bestimmung der spektralen Strahldichtefaktoren von Lumineszenz und regulärer Reflexion für vorgegebene Lichtart zulassen, aus denen die Gesamtstrahldichtefaktoren zu bilden sind, benötigen die 1 MM-Spektrometer im Idealfall eine präzise D65-Strahlungsquelle, wenn auf Normlichtart D65 bezogene spektrale Gesamtstrahldichtefaktoren bestimmt werden sollen. Diese Voraussetzung war nur in einem Fall erfüllt, die übrigen 1 MM-Spektrometer verwendeten eine Xenonlampe in Verbindung mit einer UV-Partialfilterung justiert für optisch aufgehellte weiße Proben, die nur den UV-Spektralbereich der Xenon-Quelle auf ähnliche Wirkung wie die der Normlichtart D65 bringt. Die 2MM-Spektrometer erwiesen sich als gut übereinstimmende Referenzgeräte bei kaum bis schwach strukturierten Proben. Bei starker Probenstruktur verändern sich bei unterschiedlicher Messgeometrie vor allem die spektralen Strahldichtefaktoren der regulären Reflexion erheblich, während die der Lumineszenz nahezu unabhängig bestimmbar bleiben. Bei den 1 MM-Spektrometern mit UV gefilterter Xenonlampe werden wegen der speziellen Justierung die spektralen Gesamtstrahldichtefaktoren von optisch aufgehellten weißen Proben mit relativ geringer Streuung wiedergegeben. Bei bunt lumineszierenden Proben versagt die UV-Anpassung, da auch Teile des nicht angepassten VIS-Spektrums die Lumineszenz erzeugen. In diesen Fällen wird bei gerichteter Messgeometrie die Lumineszenz mit Bezug zur Normlichtart D65 überhöht dargestellt, bei Kugelgeometrie wegen des bekannten Kugelfehlers zu niedrig. Die farbmetrischen Auswertungen bilden die spektralen Differenzen analog ab. Die Frage, ob trotz fehlender Übereinstimmung in den absoluten Kennzahlen wenigstens relative Farbunterschiede von den verschiedenen Spektrometern vergleichbar ermittelt werden, ließ sich ansatzweise aus einigen zusammengestellten Probenpaaren beantworten: die 1 MM- Spektrometer unterscheiden sich deutlich stärker als die 2MM-Spektrometer. T3 - BAM Forschungsberichtreihe - 258 PY - 2003 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-1937 SN - 978-3-89701-977-9 SN - 0938-5533 VL - 258 SP - 1 EP - 17 PB - Wirtschaftsverlag NW CY - Bremerhaven AN - OPUS4-193 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Witt, Klaus ED - Kovácsné Stahl, Á. T1 - CIEDE2000 - an optimised colour-difference formula for industrial application T2 - El´´oadások T2 - 28 Kolorisztikai Szimpózium ; 28th Colouristic Symposium CY - Tata, Hungary DA - 2001-09-03 PY - 2001 SP - 84 EP - 88 CY - Budapest AN - OPUS4-1470 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Witt, Klaus T1 - CIEDE2000, an optimised colour-difference formula for industrial application T2 - XXVIIIth Colouristic Symposium T2 - XXVIIIth Colouristic Symposium CY - Tata, Hungary DA - 2001-09-03 PY - 2001 AN - OPUS4-3430 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Steckert, Carsten A1 - Witt, Klaus ED - Eschbach, R. T1 - Application of digital color image analysis for colorimetric quality evaluation of surface defects on paint coatings T2 - Color imaging: device-independent color, color hardcopy, and graphic arts VI N2 - A method for the quality management of paint producers was developed that allows for an objective description of inhomogeneous fading of paint coatings after free weathering using relevant metric quantities such as color contrast, gradient of color contrast, and geometric features of the inhomogeneous structures. These may be quantified with the method of digital color image analysis. The first step to apply this technique means a systematic investigation of the color transformation properties specific of the selected input/output devices (CRT display, flatbed scanner) used for digital imaging. To build a color management system mathematical models of the color transformation processes were optimized and embedded in a commercial color image analysis software. The needed metric parameters, that evaluate the damages on the coated surfaces, must be deduced for highest possible agreement with visual judgements of experts on the categorization of the damages. 150 samples of paint coatings after weathering were selected to investigate this correlation. T2 - 6th Conference "Color Imaging: Device-Independent Color, Color Hardcopy, and Graphic Arts" CY - San José, CA, USA DA - 2001-01-23 KW - Free weathered paints KW - Inhomogeneous surface defects KW - Colorimetric quality evaluation KW - Analytical device calibration KW - Color image analysis PY - 2001 UR - http://cat.inist.fr/?aModele=afficheN&cpsidt=17427491 SN - 0-8194-3978-9 SN - 1605-7422 N1 - Serientitel: SPIE proceedings series – Series title: SPIE proceedings series IS - 4300 SP - 337 EP - 347 PB - SPIE CY - Bellingham, Wash. AN - OPUS4-1017 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Witt, Klaus T1 - CIE Guidelines for Coordinated Future Work on Industrial Colour-Difference Evaluation JF - Color research and application KW - Farbmessung PY - 1995 SN - 0361-2317 SN - 1520-6378 VL - 20 IS - 6 SP - 399 EP - 403 PB - Wiley CY - New York, NY AN - OPUS4-591 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Witt, Klaus T1 - Some recent developments in colour-difference evaluation T2 - CIE Collection 1999 - Vision and colour N2 - A compressed overview is given of developments in colour-difference evaluation that trace back to the early beginnings by MacAdam. The correlation of colorimetric measures of coloured samples with judgements on small colour differences follows normal statistics, but in a three-dimensional space. A wide diversity of experimental conditions in investigations of the colour-difference effect made comparisons of different studies troublesome. Some external influential factors could be identified. Recently developed data sets resulted from much better control of experimental conditions. They form a new basis for deriving colour difference formulae. The CIE is the international body to encourage field research for optimising new colour-difference formulae. The various stages for recommending formulae and exchanging extensive investigation documents make a close link between practitioners and theorists, however, in general industrialists have a faster response. Nonetheless, the CIE still remains the mother-body for international discussion and agreement. Recent developments in colour-difference evaluation show an acceleration of the work of CIE TCs. Their studies first improved the CIELAB-formula, and second now try to fill the gap between the CIE94 and the older CMC(l:c) solutions. A new idea is introduced to optimise the formalism of a formula not at the components of differential terms, but at the co-ordinates which keeps the vector definition of colour-difference as in the CIELAB-formula. An international discussion is proposed on this aspect as a forthcoming step to further improvement of colour-difference evaluation. T2 - ISCC/OSA Joint Symposium on Color Discrimination and Color Difference Perception and Prediction CY - Baltimore, MD, USA DA - 1998-10-04 KW - Farbabstandsbewertung KW - Colour difference evaluation PY - 1999 UR - http://www.cie.co.at/publ/abst/135-99.html SN - 3-900-734-94-1 SN - 1011-6567 N1 - Sprachen: Deutsch/Englisch - Languages: German/English N1 - Serientitel: CIE – Series title: CIE IS - 136 SP - 27 EP - 43 PB - CIE Central Bureau CY - Vienna AN - OPUS4-754 LA - mul AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Steckert, Carsten A1 - Witt, Klaus T1 - Bewertung von Oberflächenschäden auf dekorativen Beschichtungen mit digitaler Farbbildanalyse JF - Technisches Messen N2 - Für das Qualitätsmanagement der Lackhersteller wurde ein Verfahren entwickelt, das eine objektive Beschreibung des dekorativen Effektes freibewitterter Beschichtungen mit relevanten Messgrößen ermöglicht. Die Maßzahlen über den Farbkontrast bzw. Farbkontrastgradienten der Ungleichmäßigkeiten sowie über die Geometrie erkennbarer Strukturen werden mit Methoden digitaler Farbbildbearbeitung bzw. -analyse ermittelt. Der Einsatz dieser Technik erforderte die systematische Untersuchung und analytische Beschreibung der gerätespezifischen Farbtransformationseigenschaften ausgewählter konventioneller digitaler Ein- und Ausgabemedien (Farbmonitore und Flachbettscanner). In eine kommerzielle Farbbildanalysesoftware wurde ein Farbmanagementsystem implementiert, das auf den bereits ermittelten mathematischen Modellen basiert. Zur Bewertung der Beschichtungsschäden sind geeignete Klassifikatoren auszuarbeiten, die eine möglichst hohe Korrelation mit subjektiven Beurteilungsergebnissen visueller Abmusterungen durch Experten aufweisen. Visuelle Abmusterungen und Bewertungen von 150 ausgewählten bewitterten Beschichtungen durch Fachpersonal dienten zur quantitativen Untersuchung dieser Zusammenhänge. A method for the quality management of paint producers was developed that allows for an objective description of inhomogeneous fading of paint coatings after free weathering using relevant metric quantities such as color contrast, gradient of color contrast, and geometric features of the inhomogeneous structures. These may be quantified with the method of digital color image analysis. The first step to apply this technique means a systematic investigation of the color transformation properties specific of the selected input/output devices (CRT display, flatbed scanner) used for digital imaging. To build a color management system mathematical models of the color transformation processes were optimized and embedded in a commercial color image analysis software. The needed metric parameters, that evaluate the damages on the coated surfaces, must be deduced for highest possible agreement with visual categorical judgements of the damages by experts. 150 samples of paint coatings after weathering were selected to investigate this correlation. KW - Paint coating KW - Color fading KW - Digital color analysis KW - Weathering KW - Classification PY - 2002 DO - https://doi.org/10.1524/teme.2002.69.10.421 SN - 0340-837X SN - 0178-2312 SN - 0171-8096 VL - 69 IS - 10 SP - 421 EP - 427 PB - Oldenbourg CY - München AN - OPUS4-1576 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Witt, Klaus ED - Sprinsteen, A. T1 - Spectral and colorimetric intercomparison of fluorescent materials - polychromatic versus monochromatic irradiation T2 - Fourth Oxford Conference on Spectroscopy T2 - 4th Oxford Conference on Spectroscopy ; 4th Oxford Conference on Spectrometry CY - Davidson, NC, USA DA - 2002-06-10 KW - Luminescent materials KW - Two-monochromator-spectrophotometer KW - One-monochromator-spectrophotometer KW - Reflected radiance factor KW - Luminescent radiance factor KW - Total radiance factor KW - Colour difference KW - UV-filter adjustment KW - Reference material PY - 2003 SN - 0-8194-4600-9 SN - 1605-7422 N1 - Serientitel: SPIE Volume – Series title: SPIE Volume IS - 4826 SP - 61 EP - 69 PB - SPIE CY - Bellingham, Wash. AN - OPUS4-2662 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steckert, Carsten A1 - Witt, Klaus T1 - Optical surface defects on paint coatings analysed by colorimetrically adjusted image analysis T2 - Material testing and research T2 - MAT 2001 ; International conference: material testing and research ; MAT Kongreß ; MAT Conference CY - Nuremberg, Germany DA - 2001-05-08 PY - 2001 IS - A6.5 SP - 163 EP - 168 PB - AMA Service GmbH CY - Wunstorf AN - OPUS4-1115 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -