TY - JOUR A1 - Abou-Ras, D. A1 - Caballero, R. A1 - Fischer, C.-H. A1 - Kaufmann, C.A. A1 - Lauermann, I. A1 - Mainz, R. A1 - Mönig, H. A1 - Schöpke, A. A1 - Stephan, C. A1 - Streeck, C. A1 - Schorr, S. A1 - Eicke, A. A1 - Döbeli, M. A1 - Gade, B. A1 - Hinrichs, J. A1 - Nunney, T. A1 - Dijkstra, H. A1 - Hoffmann, V. A1 - Klemm, D. A1 - Efimova, V. A1 - Bergmaier, A. A1 - Dollinger, G. A1 - Wirth, Thomas A1 - Unger, Wolfgang A1 - Rockett, A.A. A1 - Perez-Rodriguez, A. A1 - Alvarez-Garcia, J. A1 - Izquierdo-Roca, V. A1 - Schmid, T. A1 - Choi, P.-P. A1 - Müller, M. A1 - Bertram, F. A1 - Christen, J. A1 - Khatri, H. A1 - Collins, R.W. A1 - Marsillac, S. A1 - Kötschau, I. T1 - Comprehensive comparison of various techniques for the analysis of elemental distributions in thin films JF - Microscopy and Microanalysis N2 - The present work shows results on elemental distribution analyses in Cu(In,Ga)Se2 thin films for solar cells performed by use of wavelength-dispersive and energy-dispersive X-ray spectrometry (EDX) in a scanning electron microscope, EDX in a transmission electron microscope, X-ray photoelectron, angle-dependent soft X-ray emission, secondary ion-mass (SIMS), time-of-flight SIMS, sputtered neutral mass, glow-discharge optical emission and glow-discharge mass, Auger electron, and Rutherford backscattering spectrometry, by use of scanning Auger electron microscopy, Raman depth profiling, and Raman mapping, as well as by use of elastic recoil detection analysis, grazing-incidence X-ray and electron backscatter diffraction, and grazing-incidence X-ray fluorescence analysis. The Cu(In,Ga)Se2 thin films used for the present comparison were produced during the same identical deposition run and exhibit thicknesses of about 2 µm. The analysis techniques were compared with respect to their spatial and depth resolutions, measuring speeds, availabilities, and detection limits. KW - Elemental distributions KW - Comparison KW - Depth profiling KW - Chemical mapping KW - Thin films KW - Solar cells KW - Chalcopyrite-type KW - Cu(In,Ga)Se2 PY - 2011 DO - https://doi.org/10.1017/S1431927611000523 SN - 1431-9276 SN - 1435-8115 VL - 17 IS - 5 SP - 728 EP - 751 PB - Cambridge University Press CY - New York, NY AN - OPUS4-24506 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Bleck, W. A1 - Bork, Claus-Peter A1 - Engl, B. A1 - Evertz, Th. A1 - Frehn, A. A1 - Hatscher, A. A1 - Hinterdorfer, J. A1 - Kaufmann, H. A1 - Masendorf, R. A1 - Nicklas, D. A1 - Sonne, H.-M. A1 - Sonsino, C.M. A1 - Steinbeck, G. A1 - Zenner, H. T1 - Ermittlung von Berechnungskennwerten für Karosseriestähle JF - Stahl und Eisen KW - Feinblech KW - Kennwerte KW - FEM-Simulation KW - Automobilindustrie PY - 2004 SN - 0340-4803 SN - 0340-479x VL - 124 IS - 11 SP - 137 EP - 140 PB - Verl. Stahleisen CY - Düsseldorf AN - OPUS4-5834 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Ahrendt, H. A1 - Gesatzke, Roger A1 - Hahn, G. A1 - Herrmann, P. A1 - Julien, H. A1 - Karger, R. A1 - Kaufmann, M. A1 - Krebs, H.-J. A1 - Lucht, J. A1 - Müller, A. A1 - Müller, R. A1 - Vetter, B. T1 - Überdruckmessgeräte nach DIN EN 837 - Auswahl und Anwendung T2 - Normung, Terminologie, Messwesen - Praxis KW - Druckmessgerät KW - Sicherheit PY - 2007 SN - 978-3-410-16626-9 IS - 1. Auflage SP - 1 EP - 89 PB - Beuth CY - Berlin AN - OPUS4-15994 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Steinbeck, G. A1 - Bleck, W. A1 - Bork, Claus-Peter A1 - Engl, B. A1 - Evertz, Th. A1 - Frehn, A. A1 - Hatscher, A. A1 - Hinterdorfer, J. A1 - Kaufmann, H. A1 - Masendorf, R. A1 - Nicklas, D. A1 - Sonne, H.-M. A1 - Sonsino, C. M. A1 - Zenner, H. ED - Zenner, H. T1 - Eigenschaften und Berechnungskennwerte von Karosseriestählen T2 - Dünnwandige Strukturbauteile T2 - DVM-Tag 2005 CY - Berlin, Deutschland DA - 2005-04-27 KW - Feinblech KW - Kennwerte KW - FE-Simulation KW - Automobilindustrie PY - 2005 SN - 0946-5987 N1 - Serientitel: DVM Bericht – Series title: DVM Bericht IS - 672 SP - 133 EP - 146 PB - DVM CY - Düsseldorf AN - OPUS4-10652 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Sonsino, C.M. A1 - Kaufmann, H. A1 - Masendorf, R. A1 - Hatscher, A. A1 - Zenner, H. A1 - Bork, Claus-Peter A1 - Hinterdorfer, J. A1 - Sonne, H.M. A1 - Engl, B. A1 - Steinbeck, G. T1 - Werkstoffkennwerte für die Lebensdauerberechnung von Strukturen aus Stahlfeinblechen für den Automobilbau JF - Materialwissenschaft und Werkstofftechnik = Materials science and engineering technology N2 - Im Rahmen eines gemeinschaftlichen Projektes der Stahl- und Automobilindustrie wurden für 17 Stahlfeinbleche des Automobilbaus in verschiedenen Anlieferungs- und Verformungszuständen unter -40°C, Raumtemperatur und +100°C mit 37 Versuchsreihen Anrisswöhlerlinien und zügige bzw. zyklische Spannung-Dehnung-Kurven bestimmt. Sämtliche Versuchspunkte, Hysteresen und ermittelte zyklische Kennwerte liegen in einer Datenbank vor. Eine Korrelationen zwischen den Kennwerten aus dem Zugversuch und den Kennwerten aus den zyklischen, dehnungsgeregelten Versuchen ist grundsätzlich möglich. KW - Zyklische Werkstoffkennwerte KW - Zügige und zyklische Spannung-Dehnung-Kurve KW - Dehnungswöhlerlinie KW - Technischer Anriss KW - Elasto-plastisches Werkstoffverhalten KW - Automobilbau KW - Cyclic properties KW - Monotonic and cyclic stress-strain curve KW - Strain-life curve KW - Technical crack KW - Elasto-plastic material behaviour KW - Thin steel sheets KW - Automotive engineering KW - Karosseriestähle KW - Strukturen KW - Lebensdauerberechnung KW - Zyklische Kennwerte PY - 2004 DO - https://doi.org/10.1002/mawe.200400769 SN - 0933-5137 SN - 1521-4052 VL - 35 IS - 8 SP - 522 EP - 533 PB - Wiley-VCH Verl. CY - Weinheim AN - OPUS4-22436 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -