TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten A1 - Ewert, Uwe T1 - Simulation for high energy radiography and reliability assessment T2 - National Seminar on NDE of the Indian Society for Non-Destructive Testing CY - Kolkata, India DA - 2005-12-02 KW - Radiation techniques KW - Simulation KW - High-energy radiography KW - CAD PY - 2005 SP - 14 pages PB - Indian Society for Non-Destructive Testing CY - Kalkutta AN - OPUS4-11834 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten A1 - Samadurau, Uladzimir A1 - Zhukovskiy, M. A1 - Podoliako, Serguei T1 - Monte Carlo radiographic model with CAD-based geometry description KW - Monte Carlo Verfahren KW - CAD KW - Radiographie PY - 2006 SN - 0007-1137 VL - 48 IS - 10 SP - 618 EP - 623 PB - British Institute of Non-Destructive Testing CY - Northampton AN - OPUS4-13795 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Reliability assessment by simulation for high energy radiography T2 - Review of Progress of Quantitative Non Destructive Evaluation - QNDE 2006 CY - Portland, OR, USA DA - 2006-07-31 PY - 2006 AN - OPUS4-12500 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - McRay - A Monte Carlo model coupled to CAD for radiation techniques T2 - ECNDT CY - Berlin, Germany DA - 2006-09-25 PY - 2006 AN - OPUS4-13980 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - aRTist - analytical RT inspection simulation tool T2 - 45th Annual British Conference on NDT CY - Stratford-upon-Avon, England DA - 2006-09-12 PY - 2006 AN - OPUS4-13979 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - aRTist - radiographic simulation for industrial application T2 - 6th International Exhibition and Conference for Non-Destructive Testing and Technical Diagnostics CY - Moscow, Russia DA - 2007-05-15 PY - 2007 AN - OPUS4-14827 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten A1 - Ewert, Uwe ED - Thompson, D. O. T1 - Reliability assessment by simulation for high energy radiography T2 - 33th Annual Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation CY - Portland, OR, USA DA - 2006-07-30 KW - Simulation KW - Radiography KW - CAD KW - Probability of Detection PY - 2007 SN - 978-0-7354-0399-4 SN - 0743-0760 SN - 0094-243X N1 - Serientitel: AIP conference proceedings – Series title: AIP conference proceedings IS - 894 SP - 1831 EP - 1838 PB - American Institute of Physics CY - Melville, NY AN - OPUS4-15696 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten T1 - Analytische Modellierung für die Radiologie mit ARTIST - analytical RT inspection simulation tool T2 - DGZfP-Jahrestagung 2007 CY - Fürth, Deutschland DA - 2007-05-14 KW - Radiographie KW - Computer-Simulation PY - 2007 SN - 978-3-931381-98-1 SP - 1 EP - 2 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-15998 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten T1 - Modellierung digitaler radiographischer Techniken im Rahmen des FilmFree Projektes T2 - DGZfP-Jahrestagung 2007 CY - Fürth, Deutschland DA - 2007-05-14 KW - Radiographie KW - Computer-Simulation PY - 2007 SN - 978-3-931381-98-1 SP - 1 EP - 5 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-15997 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten T1 - Modellierung digitaler radiographischer Techniken im Rahmen des FilmFree Projektes T2 - DGZfP Jahrestagung 2007 CY - Fürth, Germany DA - 2007-05-14 PY - 2007 AN - OPUS4-15474 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Modelling for film replacement T2 - International Workshop on Imaging NDE CY - Kalpakkam, India DA - 2007-04-25 PY - 2007 AN - OPUS4-14829 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Ewert, Uwe A1 - Beckmann, Jörg A1 - Bellon, Carsten A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Jechow, Mirko T1 - Fehlergrößenabhängige Kontrastreduktion und zusätzliche Unschärfe durch Streustrahlung - Film und digitale Detektoren im Vergleich N2 - Die radiografische Bildqualität in ihrer klassischen Definition hängt von Kontrast, Rauschen und Unschärfe ab. Diese Parameter werden normalerweise mit Bildgüteprüfkörpern (BPK) bestimmt. Die Streustrahlung reduziert im Allgemeinen immer die Bildqualität in der Radiografie. Verschiedene Einflussgrößen werden unter Berücksichtigung von Techniken, wie Film-Radiografie, Computer-Radiografie mit Speicherfolien und digitale Radiographie mit Matrixdetektoren, analysiert. In Lehrbüchern und Standards werden das Streuverhältnis k und verschiedene Kontraste definiert. Für digitale Medien werden zusätzliche Parameter wie das Signal-Rausch-Verhältnis SNR und das Kontrast-Rausch-Verhältnis CNR eingeführt. In diesem Zusammenhang wird der Einfluss der Streustrahlung aus dem Messobjekt und dem Detektor bestehend aus Kassette bzw. Gehäuse und sensitiver Detektorschicht auf die Bildqualität ermittelt. Die numerische Modellierung wird eingesetzt, um die Streustrahlung und die Primärstrahlung aus dem Objekt separat zu bestimmen. Die Streustrahlung aus dem Objekt und Detektor erzeugen eine Abbildung des Objektes, die dem Primärstrahlungsbild überlagert ist, wobei das Streubild eine höhere Unschärfe aufweist. Dieser Effekt hängt von der Fehlergröße, dem Abstand zwischen Detektor und Objekt und der Zwischenfilterung ab. KW - Digitale Radiologie KW - Kontrast-Rausch-Verhältnis KW - Streuverhältnis KW - Röntgen Simulation PY - 2008 SN - 0025-5300 VL - 50 IS - 10 SP - 560 EP - 568 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-18346 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten A1 - Ewert, Uwe T1 - aRTist - Analytical RT Inspection Simulation Tool for Industrial Application T2 - 17th World Conference on Non-Destructive Testing CY - Shanghai, China DA - 2008-10-25 KW - Computer Simulation KW - Radiography KW - Computed Tomography KW - Ray Tracing PY - 2008 SP - 1 EP - 6 PB - International Committee for Non-Destructive Testing CY - Shanghai AN - OPUS4-18584 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Bellon, Carsten A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - aRTist - Analytical RT Inspection Simulation Tool T2 - DIR 2007 - International Symposium on Digital industrial Radiology and Computed Tomography CY - Lyon, France DA - 2007-06-25 KW - Computer Simulation KW - Radiography KW - Computed Tomography KW - Ray Tracing PY - 2007 UR - http://www.ndt.net/article/dir2007/papers/s1.pdf SP - 1 EP - 5 CY - Lyon, France AN - OPUS4-16086 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Simulation of X-ray spectra T2 - NDT 2008 - 33th Annual Conference of the British Institute of Non-Destructive Testing CY - Cheshire, England DA - 2008-09-16 PY - 2008 AN - OPUS4-17970 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Optimization of X-Ray sources by modeling T2 - The 10th European conference on NDT and technical diagnostics CY - Moscow, Russia DA - 2010-06-07 PY - 2010 AN - OPUS4-19801 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Analytical radiographic simulation for industrial application T2 - Conference "NDT in Industry and Medicine" CY - Kiev, Ukraine DA - 2008-04-21 PY - 2008 AN - OPUS4-17372 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten A1 - Schumm, A. A1 - Tabary, J. A1 - Duvauchelle, P. ED - Thompson, D. O. ED - Chimenti, D. E. T1 - A proposed benchmark problem for scatter calculations in radiographic modelling T2 - 35th Annual Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation CY - Chicago, IL, USA DA - 2008-07-20 KW - Radiography KW - Justifications or modifications of Monte Carlo methods KW - Emission KW - Absorption, and scattering of electromagnetic radiation KW - X-ray scattering KW - Radiographie KW - Simulation KW - Benchmark KW - Monte Carlo Verfahren KW - Streustrahlung PY - 2009 SN - 978-0-7354-0629-2 SN - 0743-0760 SN - 0094-243X N1 - Serientitel: AIP conference proceedings – Series title: AIP conference proceedings IS - 1096 SP - 1930 EP - 1937 PB - American Institute of Physics CY - Melville, NY AN - OPUS4-20134 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Monte Carlo Simulating the electron emission from surfaces of objects being under radiation T2 - The 10th European conference on NDT and technical diagnostics CY - Moscow, Russia DA - 2010-06-07 PY - 2010 AN - OPUS4-19804 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten A1 - Schumm, A. A1 - Tabary, J. A1 - Duvauchelle, P. ED - Thompson, D.O. ED - Chimenti, D.E. T1 - Radiographic benchmark problem 2009 - scatter calculations in modelling T2 - 36th Annual Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation CY - Kingston, RI, USA DA - 2009-07-26 KW - Radiography KW - Justifications or modifications of Monte Carlo methods KW - Emission KW - Absorption and scattering of electromagnetic radiation KW - X-ray scattering KW - Simulation KW - Röntgenspektrum Benchmark KW - Monte Carlo Modell PY - 2010 SN - 978-0-7354-0748-0 SN - 0743-0760 SN - 0094-243X N1 - Serientitel: AIP conference proceedings – Series title: AIP conference proceedings VL - 1211 SP - 2117 EP - 2124 CY - Melville, NY AN - OPUS4-21137 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -