TY - JOUR A1 - Neuschaefer-Rube, U. A1 - Illemann, J. A1 - Sturm, M. A1 - Bircher, B. A1 - Meli, F. A1 - Bellon, Carsten A1 - Evsevleev, Sergei T1 - Validation of a fast and traceable radiographic scale calibration of dimensional computed tomography N2 - A fast and highly precise method of determining the geometrical scale factor of computed tomography (CT) measurements has been validated successfully by Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), the Federal Institute of Metrology (METAS) and Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) within the scope of AdvanCT (Advanced Computed Tomography for dimensional and surface measurements in industry), a project funded in the European Metrology Programme for Innovation and Research (EMPIR). The method has been developed by PTB and requires only two radiographic images of a calibrated thin 2D standard (hole grid standard) from two opposite directions. The mean grid distance is determined from both radiographs. From this and with the help of the calibration result, the radiographic scale and therefore the voxel size is determined. The procedure takes only a few minutes and avoids a time-consuming CT scan. To validate the method, the voxel sizes determined via this method were compared with voxel sizes determined from CT scans of calibrated objects. Relative deviations between the voxel sizes in the range of 10−5 were achieved with minimal effort using cone-beam CT systems at moderate magnifications. KW - Dimensional metrology KW - Voxel size KW - Industrial CT KW - Geometrical magnification PY - 2022 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-553271 DO - https://doi.org/10.1088/1361-6501/ac74a3 SN - 0957-0233 VL - 33 IS - 9 SP - 1 EP - 9 PB - IOP Publishing CY - Bristol, UK AN - OPUS4-55327 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Illemann, J. A1 - Meinel, Dietmar A1 - Bellon, Carsten T1 - Effektive Bestimmung der Fokusparameter von Mikrofokus-Röntgenquellen N2 - Mikrofokus-Röntgenquellen werden in der industriellen CT flexibelverwendet, um mit kleiner Leistung hohe Auflösung zu erzielen oder mit verminderter Auflösung bei höherer Leistung kürzere Messzeiten zu erreichen. Insbesondere Quellen in offener Bauweise benötigen Wartung wie Filamentwechsel und Nachstellen der Fokusparameter. Ziel ist es, einen optimal kleinen Quellfleck bei bekannter Spannung einzustellen und dessen Größe zu bestimmen. Zur Überprüfung der Quellfleckgröße sind bereits Verfahren unter Verwendung lithographisch hergestellter Masken mit Strichmustern oder Siemenssternen aus Mikrometer dünnen Schichten aus stark absorbierendem Material wie z.B. Gold bekannt. Diese erfordern wegen der geringen Absorption eine lange Messzeit und sind nur kostenintensiv herzustellen. Ihre Verwendung zur regelmäßigen Qualitätsüberprüfung von CT-Anlagen ist daher nicht verbreitet. Ziel dieser Arbeit ist es, die richtungsabhängige Quellfleckgröße absolut zu bestimmen, wobei nur einfach zu beschaffende Wolframspitzen verwendet werden. Dazu werden radiographische Bilder in hoher Vergrößerung aufgenommen und die Grauwertverteilung parametrisiert. Unter Verwendung der Kenntnis von Targetmaterial und Spannung wird eine eineindeutige Zuordnung zur Quellfleckgröße vorgenommen. Dieses erfordert eine extensive Simulation für verschiedene Spannungen, Fokusgrößen und andere Einflussgrößen, sowie die experimentelle Verifikation an verschiedenen CT-Anlagen im Vergleich zu einer bekannten Methode. Erste Ergebnisse werden vorgestellt und die praktische Implementierung unter Angabe der Einschränkungen der Verwendbarkeit diskutiert. Die Autoren hoffen, damit einen wesentlichen Beitrag zur Verbesserung der Qualitätssicherung und zur Arbeitseffizienz in der Mikrocomputertomographie leisten zu können. T2 - DGZfP DACH-Jahrestagung 2019 CY - Friedrichshafen, Germany DA - 27.05.2019 KW - Mikro-Computertomographie KW - Röntgenröhre KW - Quellfleckgröße KW - Brennfleck PY - 2019 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-485960 UR - https://www.ndt.net/search/docs.php3?id=24551 UR - https://www.ndt.net/article/dgzfp2019/papers/Mi.2.A.3.pdf IS - NDT.net Issue: 2019-08 SP - 1 EP - 13 AN - OPUS4-48596 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -