TY - JOUR A1 - Knapp, Jürgen T1 - Externe Meßdateneingabe in Taschenrechner JF - Elektronik PY - 1978 SN - 0013-5658 VL - 27 IS - 10 SP - 79 EP - 80 PB - WEKA Fachzeitschr.-Verl. CY - Poing AN - OPUS4-8973 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hosp, Erich A1 - Knapp, Jürgen T1 - Anwendung der holographischen shearing-Interferometrie zur vollständigen Bestimmung ebener Spannungszustände in Modellen T2 - 6. Internationale Konferenz Experimentelle Spannungsanalyse (VDI-Berichte 313) T2 - 6. Internationale Konferenz Experimentelle Spannungsanalyse CY - München, Deutschland DA - 1978-09-18 PY - 1978 SN - 3-18-090313-9 SN - 0083-5560 VL - 313 SP - 187 EP - 193 PB - VDI-Verl. CY - Düsseldorf AN - OPUS4-8972 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -