TY - RPRT A1 - Andreae, Götz A1 - Knapp, Jürgen A1 - Niessen, Gottfried T1 - Entwicklung und Untersuchung eines kapazitiven Hochtemperatur-Dehnungsaufnehmers für Einsatztemperaturen bis ca. 1000'C N2 - Beschreibung von Möglichkeiten und Grenzen der kapazitiven Messung von Dehnungen und Verschiebungen bei Einsatztemperaturen bis ca. 1000'C. Vorgestellt werden 2 kapazitive Aufnehmer - einer nach dem Prinzip der variablen Fläche, der andere nach dem Prinzip des variablen Abstandes -, die bis an die Grenze des Möglichen, d.h. ca. 900'C, einsetzbar sind. T3 - BAM Forschungsberichtreihe - 178 PY - 1991 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:b43-2720 SN - 978-3-89429-091-9 SN - 0938-5533 VL - 178 SP - 1 EP - 73 PB - Wirtschaftsverlag NW CY - Bremerhaven AN - OPUS4-272 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Kohlhoff, Harald A1 - Knapp, Jürgen T1 - Pneumatischer Schrittmotor für EMV-Tests KW - EMV-Prüfung PY - 2000 SN - 0177-7297 VL - 36 IS - 9 SP - 52 EP - 54 PB - b-Quadrat-Verl.-GmbH CY - Kaufering AN - OPUS4-905 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Knapp, Jürgen A1 - Helmerich, Rosemarie A1 - Habel, Wolfgang T1 - Monitoring bridges of the new Lehrter Bahnhof in Berlin by means of long-term stable sensors T2 - International Conference on Force, Mass, Torque, Hardness and Civil Engineering Metrology in the Age Globalization CY - Celle, Germany DA - 2002-09-24 PY - 2002 SN - 3-18-091685-0 SN - 0083-5560 N1 - Serientitel: VDI-Berichte – Series title: VDI-Berichte IS - 1685 SP - 153 EP - 158 PB - VDI-Verl. CY - Düsseldorf AN - OPUS4-1754 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Kohlhoff, Harald A1 - Knapp, Jürgen ED - Bonfig, K. T1 - Vollständig nichtmetallischer 3-Achsen Positioniertisch für EMV-Prüfungen T2 - 8. Symposium über Sensoren, Aufnehmer und Systeme CY - Esslingen, Deutschland DA - 2000-05-16 KW - EMV-Prüfung PY - 2000 SN - 3-933609-05-4 N1 - Serientitel: Messen, prüfen, automatisieren – Series title: Messen, prüfen, automatisieren IS - 3 SP - 1(?) EP - 8(?) PB - B-Quadrat Verl. CY - Kaufering AN - OPUS4-888 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Habel, Wolfgang A1 - Hofmann, Detlef A1 - Kohlhoff, Harald A1 - Knapp, Jürgen A1 - Brandes, Klaus A1 - Haenichen, H. A1 - Inaudi, D. ED - Inaudi, D. T1 - Complex measurement system for long-term monitoring of prestressed railway bridges of the new "Lehrter Bahnhof" in Berlin T2 - Smart structures and materials 2002 - Smart sensor technology and measurement systems CY - San Diego, CA, USA DA - 2002-03-18 KW - Fiber-optic sensors KW - Monitoring KW - Structure behaviour PY - 2002 SN - 0-8194-4442-1 U6 - https://doi.org/10.1117/12.472624 SN - 1605-7422 N1 - Serientitel: SPIE proceedings series – Series title: SPIE proceedings series IS - 4694 SP - 236 EP - 241 PB - SPIE CY - Bellingham, Wash. AN - OPUS4-1456 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Ullner, Robert A1 - Helmerich, Rosemarie A1 - Knapp, Jürgen ED - Mencík, J. 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CY - Poing AN - OPUS4-8973 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Andreae, Götz A1 - Knapp, Jürgen ED - Becker, Gerhard Wilhelm T1 - Neue Entwicklungen und Erkenntnisse im Bereich der Dehnungsmeßstreifentechnik PY - 1973 SP - 461 EP - 464 PB - Bundesanstalt für Materialprüfung CY - Berlin AN - OPUS4-9678 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Knapp, Jürgen A1 - Rohrbach, Christof T1 - Anwendung der Strombalance-Schaltung für Vielstellenmessungen mit Dehnungsmesstreifen T2 - 5th International Conference on Experimental Stress Analysis and its Influence on Design CY - Udine, Italien DA - 1974-05-27 PY - 1974 IS - Subject 4., Section 4.a., Paper 40 SP - 4.26 EP - 4.32 CY - London AN - OPUS4-8756 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Knapp, Jürgen T1 - Einsatz von Mikrocomputern zur Meßdatenerfassung und -auswertung in der Materialprüfung T1 - Application of microcomputers for data acquisition and evaluation in materials testing PY - 1982 SN - 0025-5300 VL - 24 IS - 8 SP - 276 EP - 282 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-36388 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Knapp, Jürgen T1 - Ein digitales Filter zur nachträglichen Beseitigung des Netzbrumms bei digital gespeicherten Analogsignalen PY - 1982 SN - 0171-8096 VL - 49 IS - 12 SP - 435 EP - 439 PB - de Gruyter CY - Berlin AN - OPUS4-36389 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Knapp, Jürgen T1 - Neuartiger optischer Dehnungsaufnehmer mit faseroptischen Sensor-Arrays PY - 1985 SN - 0083-5560 VL - 552 SP - 241 EP - 252 PB - VDI-Verl. 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CY - Poing AN - OPUS4-33305 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -