TY - GEN A1 - Hosp, Erich A1 - Knapp, Jürgen T1 - Anwendung der holographischen shearing-Interferometrie zur vollständigen Bestimmung ebener Spannungszustände in Modellen T2 - 6. Internationale Konferenz Experimentelle Spannungsanalyse (VDI-Berichte 313) T2 - 6. Internationale Konferenz Experimentelle Spannungsanalyse CY - München, Deutschland DA - 1978-09-18 PY - 1978 SN - 3-18-090313-9 SN - 0083-5560 VL - 313 SP - 187 EP - 193 PB - VDI-Verl. CY - Düsseldorf AN - OPUS4-8972 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hosp, Erich A1 - Wutzke, Günter ED - Becker, Gerhard Wilhelm T1 - Anwendung der holographischen Interferometrie zur Untersuchung des Spannungszustandes in ebenen Modellen T2 - Wissenschaftliche Berichte aus der Arbeit der Bundesanstalt für Materialprüfung (BAM) - Berlin PY - 1973 SP - 465 EP - 468 PB - Bundesanstalt für Materialprüfung CY - Berlin AN - OPUS4-9679 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -