TY - JOUR A1 - Kloß, Heinz A1 - Santner, Erich A1 - Dmitriev, A.I. A1 - Shilko, E.V. A1 - Psakhie, S.G. A1 - Popov, V.L. T1 - Simulation of material behavior in tribological contacts on the basis of movable cellular automation method PY - 2003 UR - http://www.sciencedirect.com/science/journal/10299599 SN - 1029-9599 VL - 6 IS - 5-6 SP - 57 EP - 62 PB - Inst. of Strength Physics and Materials Science SB RAS CY - Tomsk AN - OPUS4-3708 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Meine, Kerstin A1 - Kloß, Heinz A1 - Schneider, Thomas A1 - Spaltmann, Dirk T1 - Adhäsion an strukturierten Oberflächen N2 - Das tribologische Verhalten wird neben den chemischen und physikalischen Eigenschaften der Reibpartner auch von deren Oberflaechentopographie bestimmt. Um deren Beitrag auf die Reibkraft zu untersuchen, wurden daher definierte Rauheitsstrukturen in Siliziumwafer geaetzt. Reibversuche mit einem Mikrotribometer [1, 2] gaben Aufschluss ueber den Einfluss dieser Strukturen auf das Deformationsverhalten im Kontaktbereich. Mit Hilfe der gewonnenen Daten wurde ein Deformationsmodell entwickelt, das eine Abschaetzung der Reibkraft in Abhaengigkeit von der Rauheit erlaubte. Treten starke Adhaesionskraefte im Reibkontakt auf, ist ein inverter Einfluss der Rauheit auf die Reibkraft zu verzeichnen. Um diesen Verlauf weiter zu charakterisieren, wurden mit einem UHV-AFM Adhaesionsmessungen an strukturierten Siliziumwafern durchgefuehrt. Diese zeigen den Verlauf der Adhaesionskraft in Abhaengigkeit von der Groesse der Kontaktflaeche auf. Ein Vergleich dieser experimentell gefundenen Korrelation mit den klassischen Kontaktmodellen machte dabei den Einfluss der Oberflaechenrauheit auf die Groesse der Adhaesionskraft deutlich. Danach ergab sich, dass bei gleicher Kontaktflaeche, aber unterschiedlicher Rauheit sich die Adhaesionskraefte um bis zu einem Faktor 3 unterscheiden. [1] K. Meine, T. Schneider, D. Spaltmann, E. Santner, Wear, 253, 2002, 725-732 [2] K. Meine, T. Schneider, D. Spaltmann, E. Santner, Wear, 253, 2002, 733-738 T2 - Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik bei der DPG CY - Dresden, Deutschland DA - 2003-03-24 PY - 2003 UR - http://old.dpg-tagungen.de/archive/2003/o_6.html SN - 0420-0195 SN - 0372-5448 SN - 0343-9216 IS - O 6.2 SP - 382 CY - Bad Honnef AN - OPUS4-2400 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -