TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Ecker, Klaus A1 - Kowalewsky, Helmut A1 - Wolk, Thomas T1 - Gas permeation through common elastomer sealing materials N2 - Using a quadrupole mass spectrometer system the permeation of D2, He, Ne, Ar, Kr and Xe through EPDM (ethylene-propylene-diene rubber), Viton (fluoro rubber) and Silicone-rubber was measured as a function of temperature. The results for O-ring samples were compared with those for slab geometry. From the measured permeation functions the diffusion coefficients, the permeation coefficients and the solubilities of the gases in the elastomer materials were evaluated using a nonlinear fitting algorithm. The variations of these data with temperature yield the activation energies for diffusion and permeation as well as the heat of solution. The results confirm that the transmission of noble gases and of deuterium through elastomer materials is merely a physical process because the activation energies are far below common values for processes involving chemical reactions. The solubilities correlate well with the boiling temperatures of the gases and with the well depth of the Lennard-Jones interaction potential between the gas atoms. The diffusion coefficients monotonically decrease and the activation energies monotonically increase with increasing molecular diameter of the gases. KW - gas permeation KW - elastomer KW - sealing material PY - 1990 SN - 0391-3155 VL - 20 IS - 2 SP - 225 EP - 230 PB - Tamburini Ed. CY - Milano AN - OPUS4-50600 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weise, Hans-Peter ED - Henning, K. T1 - Strahlenexposition der Bevölkerung in der Umgebung von Beschleunigeranlagen niedriger Energie T2 - 18. Jahrestagung des Fachverbandes für Strahlenschutz CY - Lübeck-Travemünde, Germany DA - 1985-10-06 PY - 1985 N1 - Serientitel: FS-Berichte aus der Schriftenreihe des Fachverbandes für Strahlenschutz – Series title: FS-Berichte aus der Schriftenreihe des Fachverbandes für Strahlenschutz IS - 85-37 SP - 470 EP - 483 PB - Fachverband für Strahlenschutz CY - Würenlingen AN - OPUS4-34252 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Jost, Peter ED - Hacke, J. ED - Borchardt, D. ED - Kaul, A. T1 - Bestimmung der Körperdosis bei externer Strahlenexposition durch Photonenstrahlen (Fallstudie) PY - 1985 SN - 3-87344-074-1 SP - 1 EP - 16 PB - Hoffmann CY - Berlin AN - OPUS4-34253 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Kettschau, A. A1 - Goebbels, Jürgen A1 - Reimers, Peter A1 - Weise, Hans-Peter ED - Merz, E. T1 - Possibilities of quality assurance on radioactive waste packages by computertomography and other radiometric techniques T2 - International Seminar on Radioactive Waste Products - Suitability for Final Disposal CY - Jülich, Germany DA - 1985-06-10 PY - 1985 N1 - Serientitel: Berichte der Kernforschungsanlage Jülich – Series title: Berichte der Kernforschungsanlage Jülich IS - 54 SP - 483 EP - 491 PB - Zentralbibliothek der Kernforschungsanlage CY - Jülich AN - OPUS4-34222 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Berechnung der Strahlenexposition in der Umgebung von Schwerionen-Beschleunigeranlagen T2 - Gemeinsame Strahlenschutztagung über Radiologische Auswirkungen von Kernkraftwerken und anderen Kerntechnischen Anlagen auf den Menschen und seine Umwelt, Jahrestagung der Société Française de Radioprotection, Jahrestagung des Fachverbandes für Strahlenschutz CY - Lausanne, Switzerland DA - 30.09.1981 PY - 1982 SP - 45 EP - 52 CY - Würenlingen AN - OPUS4-36435 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Segebade, C. A1 - Lutz, G. J. A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Fusban, H.-U. T1 - Quantitative Evaluation of Interference Reactions in Photon Activation Analysis PY - 1981 SN - 0134-0719 SN - 0022-4081 VL - 67 IS - 1 SP - 205 EP - 214 PB - Elsevier Sequoia CY - Lausanne AN - OPUS4-33361 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Jost, Peter T1 - Shielding against scattered radiation at electron accelerator installations N2 - Shielding data for high energy X-rays scattered from common shielding materials at electron accelerators were determined. The required thickness of secondary protective barriers can be calculated if the intensity and the quality of scattered radiation are known. Therefore the differential exposure albedo of various important materials was measured for primary X-rays in the energy ränge from 10 MeV to 35 MeV using an electron linear accelerator. The quality of secondary X-rays was investigated by measuring the spectra of scattered photons with a Nal-detector. From these spectra the attenuation of scattered X-rays in common shielding materials was computed using transmission factors for monoenergetic photons taken from the literature. The calculations were performed for the limiting cases of broad beam and narrow beam geometry. The results are compared with directly measured attenuation curves and with recommendations given in the literature. PY - 1983 IS - 45 SP - 3 EP - 7 AN - OPUS4-40798 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Strahlenschutz an Beschleunigeranlagen, Strahlenfelder, Abschirmung und Aktivierung N2 - Der folgende Beitrag befaßt sich mit den beim Betrieb von Elektronen- und lonenbeschleunigern auftretenden Strahlenfeldern und deren Abschirmung sowie mit der in Beschleunigerkomponenten und Abschirmungen induzierten Radioaktivität. Der Schwerpunkt liegt auf Beschleunigern mit kleinen und mittleren Energien (typischerweise unter 100 MeV). Beschleuniger für Hochenergiephysik werden nicht behandelt. PY - 1983 VL - 13 IS - 3 SP - 373 EP - 383 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) CY - Berlin AN - OPUS4-40816 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jost, Peter A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Messung der Luftaktivierung beim Betrieb von Elektronenbeschleunigern und Vergleich mit theoretischen Rechnungen T2 - Jahrestagung des Fachverbandes für Strahlenschutz in Zusammenarbeit mit der Gesellschaft für Strahlenschutz- und Umweltforschung, Institut für Strahlenschutz CY - Neuherberg ; (München) DA - 19.10.1982 PY - 1983 SP - 239 EP - 242 AN - OPUS4-40686 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Reinholz, Uwe A1 - Bremser, Wolfram A1 - Brzezinka, Klaus-Werner A1 - Strub, Erik A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Merchel, Silke T1 - A thin-layer reference material for hydrogen analysis N2 - In many areas of material sciences, hydrogen analysis is of particular importance. For example, hydrogen is most abundant as impurity in thin film materials – depending on the deposition process – and has great influence on the chemical, physical and electrical properties of many materials. Existing bulk reference materials (RMs) are not suited for surface sensitive analytical methods like elastic recoil detection analysis (ERDA) or nuclear reaction analysis (NRA). To overcome this serious lack of (certified) thin-layer reference materials for the determination of hydrogen in the near-surface region (1–2 µm depth), we produced stable, homogeneous amorphous silicon layers on Si-wafers (aSi:H–Si) by means of chemical vapour deposition (CVD), while about 10% of hydrogen was incorporated in the Si-layer. Homogeneity and stability were proved by NRA whereas traceability of reference values has been assured by an international interlaboratory comparison. KW - Hydrogen KW - Nuclear reaction analysis KW - Depth profiling KW - Reference material KW - Ion beam analysis PY - 2008 DO - https://doi.org/10.1016/j.nimb.2008.03.015 SN - 0168-583X SN - 1872-9584 VL - 266 IS - 10 SP - 2418 EP - 2423 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-17553 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Ergebnisunsicherheit zählstatistischer Messungen- Kernstrahlungsmessungen T2 - BAM-Ak Ergebnisunsicherheit CY - Berlin, Germany DA - 2002-09-03 PY - 2002 AN - OPUS4-3010 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Grenzflächenuntersuchung mittels Niklear-Reaktionen T2 - 7. Workshop zu Nanometer-Schutzschichten, Frankfurter Institut für Schicht und Oberflächentechnik (IST) CY - Braunschweig, Germany DA - 2002-06-05 PY - 2002 AN - OPUS4-3011 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Reiche, I. A1 - Britzke, Ralf A1 - Bukalis, Gregor A1 - Reinholz, Uwe A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Gadebusch, R.D. T1 - An external PIXE study: Mughal painting pigments KW - PIXE KW - Mughal painting KW - Pigments KW - Archaeometry PY - 2005 SN - 0049-8246 VL - 34 SP - 42 EP - 45 PB - Wiley CY - Chichester AN - OPUS4-6846 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Mewar Rajput Pigments- An External Beam PIXE Study T2 - 10th International Conference in Pixe and its Analytical Applications CY - Ljubljana, Slovenia DA - 2004-06-04 PY - 2004 AN - OPUS4-7183 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Die Farbabstände im Farbsystem der DIN-Farbenkarte PY - 1959 SN - 0014-7680 VL - 8 IS - 1 SP - 19 EP - 28 PB - Musterschmidt CY - Göttingen AN - OPUS4-10070 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Richter, Manfred A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Demonstration der Grundlagen der Farbvalenzmetrik PY - 1963 SN - 0014-7680 VL - 12 IS - 1-6 SP - 219 EP - 236 PB - Musterschmidt CY - Göttingen AN - OPUS4-10296 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Vergleich dreier skandinavischer Farbsysteme mit dem der DIN-Farbenkarte T2 - Internationale Farbtagung CY - Luzern, Schweiz DA - 1965-06-01 PY - 1966 SN - 0014-7680 VL - 15 IS - Tagungsbericht Intern. Farbtagung Luzern 1965 SP - 277 EP - 286 PB - Musterschmidt CY - Göttingen AN - OPUS4-10555 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Wasserstoffbestimmung an oberflächennahen Schichten und Kernreaktionsanalyse T2 - 3. Diskussionstreffen zu Aktuellen Problemen und Entwicklungen der Nichtmetall-/Gasanalytik CY - Rathen, Germany DA - 2003-10-19 PY - 2003 AN - OPUS4-3849 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Allgemeine Strahlenschutzprobleme bei Errichtung und Betrieb von medizinischen Elektroenbeschleunigern T2 - Akademie für Arbeitsmedizin und Gesundheitsschutz Berlin CY - Berlin, Germany DA - 2003-03-28 PY - 2003 AN - OPUS4-3850 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Mittmann, Hans-Ulrich A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Scattering of Ions - V. Elastic Scattering on the Symmetric Rare Gas Ion - Rare Gas Atom Systems PY - 1974 SN - 0044-3166 VL - 29 SP - 400 EP - 410 PB - Verl. d. Zeitschrift für Naturforschung CY - Tübingen AN - OPUS4-8080 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Mittmann, Hans-Ulrich T1 - Scattering of Ions VI - Elastic Scattering of N+ on Ne, Ar, Kr and Xe PY - 1974 SN - 0044-3166 VL - 29 SP - 1143 EP - 1151 PB - Verl. d. Zeitschrift für Naturforschung CY - Tübingen AN - OPUS4-8122 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Witt, Karin A1 - Otto, Peter A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Test Colors for Specifying Color Reproduction PY - 1975 SN - 0003-6935 SN - 1539-4522 VL - 14 IS - 8 SP - 1768 EP - 1769 PB - Optical Society of America CY - Washington, DC AN - OPUS4-8313 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Segebade, Christian A1 - Lutz, G. A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Quantitative Evaluation of Interference Reactions in Photon Activation Analysis T2 - 5th International Conference : Modern trends in activation analysis CY - München, Germany DA - 1976-09-13 PY - 1976 VL - 2 SP - 1239 EP - 1244 CY - College Station, Tex. AN - OPUS4-8560 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Segebade, Christian T1 - Application of X-ray spectroscopy in nondestructive photon activation analysis T2 - 5th International Conference : Modern trends in activation analysis CY - München, Germany DA - 1976-09-13 PY - 1976 VL - 1 SP - 146 EP - 153 CY - College Station, Tex. AN - OPUS4-8564 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Neider, Rudolf A1 - Wandelburg, Klaus A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Dudzus, Thomas A1 - Fusban, H. A1 - Jost, Peter A1 - Reimers, Peter A1 - Schmitt, B. A1 - Segebade, Christian T1 - Comparison of photon activation analysis with other modern analytical methods as tools for the solution of actual analytical problems T2 - 5th International Conference : Modern trends in activation analysis CY - München, Germany DA - 1976-09-13 PY - 1976 VL - 2 SP - 1396 EP - 1405 CY - College Station, Tex. AN - OPUS4-8555 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Jost, Peter A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Freundt, Wolfgang A1 - Mundry, Eberhard A1 - Schnitger, Dierk T1 - Messung, Interpretation und Vergleich der Energieverteilungen von Röntgenstrahlen verschiedener industrieller Röntgenanlagen PY - 1977 SN - 0025-5300 VL - 19 IS - 10 SP - 426 EP - 430 PB - Carl Hanser Verlag CY - München AN - OPUS4-8779 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Neider, Rudolf A1 - Dudzus, Thomas A1 - Fusban, H. A1 - Jost, Peter A1 - Reimers, Peter A1 - Schmitt, B. A1 - Segebade, Christian A1 - Wandelburg, Klaus A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Comparison of photon activation analysis with other modern analytical methods as tools for the solution of actual analytical problems PY - 1977 SN - 0134-0719 SN - 0022-4081 VL - 39 IS - 1-2 SP - 397 EP - 408 PB - Elsevier Sequoia CY - Lausanne AN - OPUS4-8782 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Segebade, Christian A1 - Lutz, G. A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Quantitative Evaluation of Interference Reactions in Photon Activation Analysis - The Production of Identical Radionuclides PY - 1977 SN - 0134-0719 SN - 0022-4081 VL - 39 IS - 1-2 SP - 179 EP - 184 PB - Elsevier Sequoia CY - Lausanne AN - OPUS4-8788 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Segebade, Christian T1 - Application of X-ray spectroscopy in nondestructive photon activation analysis PY - 1977 SN - 0134-0719 SN - 0022-4081 VL - 37 IS - 1 SP - 195 EP - 202 PB - Elsevier Sequoia CY - Lausanne AN - OPUS4-8789 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Jost, Peter A1 - Freundt, Wolfgang A1 - Malitte, Hans-Joachim A1 - Schnitger, Dierk T1 - Untersuchung der Energie und Winkelverteilung der Streustrahlung und Ihre Bedeutung für die Durchstrahlungsprüfung PY - 1977 SN - 0025-5300 VL - 19 IS - 10 SP - 420 EP - 423 PB - Carl Hanser Verlag CY - München AN - OPUS4-8790 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Segebade, Christian A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Comparison of Sensitivity Estimates for Low Energy Photon and Classical Gamma-Ray Spectroscopy Applied to Photon Activation Analysis PY - 1978 SN - 0134-0719 SN - 0022-4081 VL - 45 SP - 209 EP - 220 PB - Elsevier Sequoia CY - Lausanne AN - OPUS4-9006 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Stockhausen, K. A1 - Bögl, W. A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Nachweis der Strahlenbehandlung bei bestrahltem Geflügelfleisch anhand des strahleninduzierten Verlustes von Proteinsulfhydrylgruppen PY - 1978 SN - 1438-2377 SN - 1431-4630 SN - 1438-2385 VL - 167 SP - 256 EP - 261 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-9007 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Stockhausen, K. A1 - Bögl, W. A1 - Weise, Hans-Peter T1 - A new biochemical technique for detection of radiation treatment of meat PY - 1978 SN - 0004-7147 VL - 31 SP - 184 EP - 188 PB - Thiemig CY - München AN - OPUS4-9008 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Stockhausen, K. A1 - Bögl, W. A1 - Jahn, Marcus A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Gamma-Bestrahlung von Stärke in wäßriger Lösung und in Gegenwart von Sauerstoff - Untersuchung über die Bildung von organischen Peroxyverbindungen PY - 1978 SN - 0038-9056 SN - 1521-379X VL - 30 IS - 1 SP - 1 EP - 4 PB - Verl. Chemie CY - Weinheim, Bergstr. AN - OPUS4-9009 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter T1 - A simple filter method for measuring peak voltage and inherent filtration of pulsating potential X-ray machines PY - 1978 SN - 0017-9078 SN - 1538-5159 VL - 34 SP - 483 EP - 486 PB - Lippincott, Williams & Wilkins CY - Hagerston, Md. AN - OPUS4-9011 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Jost, Peter A1 - Freundt, Wolfgang T1 - Absolute Photonenausbeuten technischer Röntgenanlagen - Vergleich zwischen Theorie und Messung T2 - Europäische Tagung für Zerstörungsfreie Materialprüfung CY - Mainz, Deutschland DA - 1978-04-24 PY - 1978 VL - 3 SP - 63/553 EP - 63/564 PB - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-9012 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Heidt, Heinrich A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Schnitger, Dierk T1 - Determination of instrument properties of X-ray installations as a contribution to the radiography objectification T2 - 9th World Conference on Nondestructive Testing CY - Melbourne, Australia DA - 1979-11-19 PY - 1979 IS - 4C.1 SP - 1 EP - 7(?) CY - Cannes AN - OPUS4-9184 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Stockhausen, K. A1 - Bögl, W. A1 - Weise, Hans-Peter ED - Reich, H. T1 - Die strahleninduzierte Chemilumineszenz von festen Polyalkoholen als gewebeäquivalentes Dosimetersystem für energiereiche Strahlung T2 - 10. Wissenschaftliche Tagung der Deutschen Gesellschaft für Medizinische Physik CY - Braunschweig, Deutschland DA - 1979-05-16 PY - 1979 SN - 3-7785-0612-9 SP - 199 EP - 204 PB - Hüthig CY - Heidelberg AN - OPUS4-9202 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Jost, Peter A1 - Santer, E. A1 - Wieters, C. U. T1 - High Energy Bremsstrahlung Albedo for Ordinary Concrete and Brick PY - 1979 VL - 29 SP - 3 EP - 5 PB - European Shielding Information Service CY - Ispra AN - OPUS4-9204 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Segebade, Christian T1 - Use of Low Energy Photon Spectroscopy in Activation Analysis of Noble Metals with High-Energy Bremsstrahlung PY - 1979 SN - 0134-0719 SN - 0022-4081 VL - 49 IS - 1 SP - 95 EP - 102 PB - Elsevier Sequoia CY - Lausanne AN - OPUS4-9205 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Heidt, Heinrich A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Schnitger, Dierk T1 - Bestimmung von Geräteeigenschaften technischer Röntgenanlagen als Beitrag zur Objektivierung der Durchstrahlungsprüfung PY - 1980 SN - 0025-5300 VL - 22 IS - 5 SP - 211 EP - 213 PB - Carl Hanser Verlag CY - München AN - OPUS4-9415 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Heumos, K. A1 - Kowalewsky, Helmut A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Investigation of Gas Leakage from Sealing Constructions at Containments for Radioactive Materials T2 - 6th International Symposium on Packaging and Transportation of Radioactive Materials CY - Berlin, Germany DA - 1980-11-10 PY - 1980 VL - 6 IS - 4 SP - 210 EP - 213 CY - Springfield, Va. AN - OPUS4-9429 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Reimers, Peter A1 - Heidt, Heinrich A1 - Stade, Jürgen A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Beispiele für die Anwendung der Computer-Tomographie (CAT) in der zerstörungsfreien Materialprüfung PY - 1980 SN - 0025-5300 VL - 22 IS - 5 SP - 214 EP - 217 PB - Carl Hanser Verlag CY - München AN - OPUS4-9433 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Stade, Jürgen A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Reimers, Peter A1 - Heidt, Heinrich T1 - Zerstörungsfreie Materialprüfung mit Computertomographie PY - 1980 SN - 0014-0058 SN - 0367-0716 VL - 33 IS - 8 SP - 384 PB - VCH Verl.-Ges. CY - Weinheim AN - OPUS4-9420 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Segebade, Christian A1 - Fusban, H.-U. A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Analysis of some toxic components of environmental samples by high energy photon activation PY - 1980 SN - 0134-0719 SN - 0022-4081 VL - 59 IS - 2 SP - 399 EP - 405 PB - Elsevier Sequoia CY - Lausanne AN - OPUS4-9437 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Spektroskopische Meßverfahren zur Beurteilung der Geräteeigenschaften technischer Röntgenanlagen PY - 1980 SN - 0025-5300 VL - 22 IS - 7 SP - 300 EP - 303 PB - Carl Hanser Verlag CY - München AN - OPUS4-9439 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Jost, Peter A1 - Freundt, Wolfgang T1 - Spectra, Differential Albedo and Shielding Data for Bremsstrahlung Scattered from Common Shielding Materials T2 - 5th International Radiation Protection Association = Association internationale de radioprotection CY - Jerusalem, Israel DA - 1980-03-09 PY - 1980 VL - 5 SP - 327 EP - 330 CY - Oxford AN - OPUS4-9440 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Die DIN-Farbenkarte und ihre Verwendungsmöglichkeit für das graphische Gewerbe PY - 1954 SN - 0015-7708 VL - 5 IS - 1 SP - 455 EP - 457 PB - Hauptvorstand IG Medien CY - Stuttgart AN - OPUS4-9746 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Weise, Hans-Peter ED - Becker, Gerhard Wilhelm T1 - Farbsysteme und Farbtoleranzen PY - 1973 SP - 437 EP - 440 PB - Bundesanstalt für Materialprüfung CY - Berlin AN - OPUS4-9672 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Ein Nomogramm mit geradlinien Trägern für projektive Transformationen und seine Anwendung in der Farbmetrik PY - 1954 SN - 0014-7680 VL - 3 IS - 3 SP - 105 EP - 118 PB - Musterschmidt CY - Göttingen AN - OPUS4-9745 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Die Ermittlung der Farbkennzeichnung nach der DIN-Farbkarte (DIN 6164) aus den Normfarbwerten und umgekehrt PY - 1955 SN - 0014-7680 VL - 4 IS - 2 SP - 89 EP - 94 PB - Musterschmidt CY - Göttingen AN - OPUS4-9827 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Reiche, I. A1 - Castaing, J. A1 - Calligaro, T. A1 - Salomon, J. A1 - Aucouturier, M. A1 - Reinholz, Uwe A1 - Weise, Hans-Peter T1 - Analyses of hydrogen in quartz and in sapphire using depth profiling by ERDA at atmospheric pressure: Comparison with resonant NRA and SIMS N2 - Hydrogen is present in anhydrous materials as a result of their synthesis and of their environment during conservation. IBA provides techniques to measure H concentration depth profiles allowing to identify various aspects of the materials including the history of objects such as gemstones used in cultural heritage. A newly established ERDA set-up, using an external microbeam of alpha particles, has been developed to study hydrated near-surface layers in quartz and sapphire by non-destructive H depth profiling in different atmospheres. The samples were also analysed using resonant NRA and SIMS. KW - Hydrogen KW - Gemstones KW - ERDA KW - External beam KW - Depth profiling PY - 2006 DO - https://doi.org/10.1016/j.nimb.2006.03.066 SN - 0168-583X SN - 1872-9584 VL - 249 IS - 1-2 SP - 608 EP - 611 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-12844 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Weise, Hans-Peter ED - Richter, M. T1 - Vergleich dreier skandinavischer Farbsysteme mit dem der DIN-Farbenkarte PY - 1966 VL - 1 SP - 389 EP - 398 PB - Musterschmidt CY - Göttingen AN - OPUS4-15486 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Reimers, Peter A1 - Goebbels, Jürgen A1 - Heidt, Heinrich A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Wilding, Kay T1 - Röntgen- und Gammastrahlen-Computertomographie N2 - Erklärung der gesetzmäßigen Zusammenhänge zwischen Radiographie, Radiometrie und Computertomographie mit anschließendem Bericht über die Entwicklung und den erreichten Status dieser komplexen Prüftechnik in der BAM. T3 - BAM Forschungsberichtreihe - 101 KW - Schichtaufnahmeverfahren PY - 1984 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-3493 SN - 978-3-88314-327-8 SN - 0938-5533 VL - 101 SP - 1 EP - 36 PB - Wirtschaftsverlag NW CY - Bremerhaven AN - OPUS4-349 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Weise, Hans-Peter A1 - Görner, Wolf A1 - Hedrich, Martina T1 - Determination of elements by nuclear analytical methods N2 - Zusammenfassung The working principle of nuclear analytical methods (NAMs) is not influenced by the chemical bond. Consequently, they are independent counterparts to the well-known chemical procedures. NAMs obey fundamental laws or can be described and understood thoroughly. This qualifies them as candidates for reference methods. Although following similar nuclear reaction schemes, they comprise bulk analyzing capability (neutron and photon activation analysis) as well as detection power in surface near regions of solids (ion beam techniques). Prominent features of NAMs are sensitivity, selectivity, multielement determination and linearity of the calibration function covering a concentration range of several orders of magnitude. Moreover, ion beam techniques allow depth profiling with nm-resolution in several cases while the ion microprobe additionally offers a lateral resolution in the wm-scale. As NAMs require expensive apparatus (nuclear reactor, accelerator in radioactive control areas) their availability is restricted to a small number of suitably equipped institutes. However, they are able to solve complex analytical tasks, take part in key comparisons and play an essential role in the certification of reference materials. KW - Nuclear Analytical Methods PY - 2001 DO - https://doi.org/10.1007/s002160000626 SN - 0937-0633 VL - 369 IS - 1 SP - 8 EP - 14 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-843 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -