TY - JOUR A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten T1 - Monte Carlo Simulation für radiographische Anwendungen JF - Materialprüfung = Materials testing PY - 2003 SN - 0025-5300 N1 - Geburtsname von Jaenisch, Gerd-Rüdiger: Tillack, G.-R. - Birth name of Jaenisch, Gerd-Rüdiger: Tillack, G.-R. VL - 45 IS - 3 SP - 85 EP - 91 PB - Carl Hanser Verlag CY - München AN - OPUS4-1995 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Artemiev, Valentin M. A1 - Naumov, A. T1 - Rekonstruktion dynamischer Objekteigenschaften für CT JF - Materialprüfung = Materials testing PY - 2001 SN - 0025-5300 N1 - Geburtsname von Jaenisch, Gerd-Rüdiger: Tillack, G.-R. - Birth name of Jaenisch, Gerd-Rüdiger: Tillack, G.-R. VL - 43 IS - 6 SP - 254 EP - 258 PB - Carl Hanser Verlag CY - München AN - OPUS4-1190 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Sophisticated X-Ray Imaging Modalities JF - Insight PY - 2002 SN - 0007-1137 N1 - Geburtsname von Jaenisch, Gerd-Rüdiger: Tillack, G.-R. - Birth name of Jaenisch, Gerd-Rüdiger: Tillack, G.-R. VL - 44 IS - 3 SP - 158 EP - 165 PB - British Institute of Non-Destructive Testing CY - Northampton AN - OPUS4-1535 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten A1 - Zhukovskiy, M. A1 - Podoliako, S. 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Sitzung des UA Bildverarbeitung in der Durchstrahlungsprüfung CY - Berlin, Germany DA - 2006-11-28 PY - 2006 AN - OPUS4-13880 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Gewährleistung von Sicherheit und Zuverlässigkeit bei der Endlagerung radioaktiver Abfälle - Eine BAM-Studie zur Integrität von CU-Schweißnähten für das erste europäische Endlager T2 - 200. Sitzung des DGZfP-Arbeitskreises Frankfurt T2 - 200. Sitzung des DGZfP-Arbeitskreises Frankfurt CY - Frankfurt am Main, Germany DA - 2006-01-25 PY - 2006 AN - OPUS4-13893 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Ewert, Uwe A1 - Deresch, Andreas A1 - Bellon, Carsten A1 - Przybilla, Waldemar T1 - Measurement and modeling of scatter ratios at high energies T2 - QNDE 2010 T2 - QNDE 2010 CY - San Diego, CA, USA DA - 2010-07-18 PY - 2010 AN - OPUS4-25383 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Bellon, Carsten A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Durchstrahlungsprüfung am Computer simuliert T2 - ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung - Jahrestagung 2005 T2 - DGZfP-Jahrestagung 2005 CY - Rostock, Deutschland DA - 2005-05-02 KW - Radiographie KW - Computer-Simulation PY - 2005 SN - 3-931381-64-1 N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - 94-CD SP - 1 EP - 4(?) 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