TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Munz, Martin A1 - Sturm, Heinz T1 - Mapping of local mechanical and thermal properties - The Scanning Force Microscope in Tribology T2 - Dreiländertagung für Elektronenmikroskopie T2 - Dreiländertagung für Elektronenmikroskopie CY - Innsbruck, Austria DA - 2001-11-09 PY - 2001 AN - OPUS4-6525 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Cappella, Brunero A1 - Sturm, Heinz T1 - Nanolithography on Polymeric Surfaces T2 - ICEM 15 T2 - ICEM 15 CY - Durban, South Africa DA - 2002-08-30 PY - 2002 AN - OPUS4-6534 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Geuss, Markus A1 - Sturm, Heinz T1 - Ferroelectric Mikro- and Nanostructures by DPL T2 - EDO Tagung T2 - EDO Tagung CY - Wuppertal, Germany DA - 2002-09-10 PY - 2002 AN - OPUS4-6535 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Geuss, Markus A1 - Sturm, Heinz T1 - Tailored Ferroelectric Mikro- and Nanostructures by DPL T2 - ICEM 15 T2 - ICEM 15 CY - Durban, South Africa DA - 2002-08-30 PY - 2002 AN - OPUS4-6536 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Munz, Martin A1 - Sturm, Heinz T1 - Reliability of Polymer Based Composites T2 - ICEM 15 T2 - ICEM 15 CY - Durban, South Africa DA - 2002-08-30 PY - 2002 AN - OPUS4-6537 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Munz, Martin A1 - Eltanany, Gehan A1 - Sturm, Heinz T1 - A close view of the interface between cured epoxy-amine system and a thermoplastic polymer T2 - 35. EDO-Herbsttagung, veranstaltet vom Arbeitskreis "Elektronenoptische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen" (EDO) der Deutschen Ges. für Elektronenmikroskopie e.V. T2 - 35. EDO-Herbsttagung, veranstaltet vom Arbeitskreis "Elektronenoptische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen" (EDO) der Deutschen Ges. für Elektronenmikroskopie e.V. CY - Wuppertal, Germany DA - 2004-09-13 PY - 2004 AN - OPUS4-4161 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Chung, Jae Un A1 - Munz, Martin A1 - Sturm, Heinz T1 - A close view of the interface between cured epoxy-amine system and copper electrodes T2 - 35. EDO-Herbsttagung, veranstaltet vom Arbeitskreis "Elektronenoptische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen" (EDO) der Deutschen Ges. für Elektronenmikroskopie e.V. T2 - 35. EDO-Herbsttagung, veranstaltet vom Arbeitskreis "Elektronenoptische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen" (EDO) der Deutschen Ges. für Elektronenmikroskopie e.V. CY - Wuppertal, Germany DA - 2004-09-13 PY - 2004 AN - OPUS4-4162 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Chung, Jae Un A1 - Eltanany, Gehan A1 - Sturm, Heinz A1 - Munz, Martin T1 - Interphasial Stiffness Gradients in Polymer Materials T2 - 14. Symposium "Verbundwerkstoffe und Werkstoffverbunde" T2 - 14. Symposium "Verbundwerkstoffe und Werkstoffverbunde" CY - Vienna, Austria DA - 2003-07-02 PY - 2003 AN - OPUS4-4652 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Munz, Martin A1 - Eltanany, Gehan A1 - Sturm, Heinz T1 - A close view of the interface between cured epoxy-amine system and thermoplastic polymer T2 - The 13th European Microscopy Congress "EMC2004", veranstaltet von der "European Microscopy Society" (EMS) T2 - The 13th European Microscopy Congress "EMC2004", veranstaltet von der "European Microscopy Society" (EMS) CY - Antwerp, Belgium DA - 2004-08-23 PY - 2004 AN - OPUS4-4154 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Chung, Jae Un A1 - Munz, Martin A1 - Sturm, Heinz T1 - A close view of the interface between cured epoxy-amine system and copper electrodes T2 - The 13th European Microscopy Congress "EMC2004", veranstaltet von der "European Microscopy Society" (EMS) T2 - The 13th European Microscopy Congress "EMC2004", veranstaltet von der "European Microscopy Society" (EMS) CY - Antwerp, Belgium DA - 2004-08-23 PY - 2004 AN - OPUS4-4150 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Munz, Martin T1 - Concentration and modulus gradients at the interface between an amine-cured epoxy and the thermoplastic PVP T2 - Microscopy Conference 2005 (MC2005) T2 - Microscopy Conference 2005 (MC2005) CY - Davos, Switzerland DA - 2005-08-28 PY - 2005 AN - OPUS4-10936 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Sturm, Heinz A1 - Bovtun, V. T1 - Messung lokaler elektrischer Eigenschaften an keramischen Dielectrika T2 - EDO-Kolloquium der DEG T2 - EDO-Kolloquium der DEG CY - Münster, Germany DA - 1996-10-09 PY - 1996 AN - OPUS4-6403 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Sturm, Heinz A1 - Stark, Wolfgang A1 - Bovtun, V. T1 - Determination of electric properties of heterogeneous systems using the contact and non-contact force microscopy (SFM) T2 - 9th International Symposium on Electrets (ISE9) T2 - 9th International Symposium on Electrets (ISE9) CY - Shanghai, China DA - 1996-09-25 PY - 1996 AN - OPUS4-6404 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Sturm, Heinz T1 - Methoden zur simultanen Messung der Topographie und lokalen elektrischen Eigenschaften in der Rasterkraftmikroskopie T2 - Diskussionstagung: Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien V T2 - Diskussionstagung: Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien V CY - Münster, Germany DA - 1996-10-07 PY - 1996 AN - OPUS4-6405 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -