TY - JOUR A1 - Schmidt, Daniel A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Schichtdickenberechnung aus Mikrosondenmessungen mittels Gaußscher Verteilung PY - 1974 SN - 0028-1042 SN - 1432-1904 VL - 61 IS - 1 SP - 30 EP - 31 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-8089 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schmidt, Daniel A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Zum Zusammenhang zwischen der Dicke dünner Metallschichten, der relativen Röntgenintensität und anderen Mikrosonden-Parametern T2 - Gemeinsame Tagung für Elektronenmikroskopie CY - Lüttich, Belgien DA - 1973-09-03 PY - 1974 SN - 0340-3815 VL - 6 SP - 55 EP - 66 PB - Remy CY - Münster, Westf. AN - OPUS4-8090 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram A1 - Schmidt, Daniel T1 - A test chart for STEREOSCAN 180 by generating grey-scale signals in staircase form PY - 1978 SN - 0161-0457 SN - 1932-8745 VL - 1 IS - 2 SP - 131 EP - 133 PB - Wiley CY - Hoboken, NJ AN - OPUS4-8950 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -