TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Photolytically and Thermally Initiated Destruction on the Stability of (Ultra)High Molecular Polyethylene N2 - THz and mid IR spectroscopy of high-molecular PE (HMW) and ultra high-molecular PE (UHMW) reveals modifications of the molecular structure. Characteristic absorption bands are changed if the two materials are exposed by γ-Co60 radiation up to 600 kGy and subsequently stored at an annealing temperature of 398 K until for 729 days. UHMW-PE and HMW-PE behave differently during the ageing process because of their molecular weight and inherent structure distinctions. The spectroscopic data offer characteristic absorption bands, which have been used to describe the complete ageing process in more detail. For instance, the integral absorption in the B1u THz-region can be used to describe quantitatively the reduction of crystallinity. The formation of trans vinylene unsaturation and the decay of vinyl during ageing can be observed in detail in the mid IR range. T2 - 9th International Workshop on Terahertz Technology and Applications CY - Kaiserslautern, Germany DA - 03.03.2020 KW - Degradation KW - MID IR Spectroscopy PY - 2020 AN - OPUS4-50555 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - von der Ehe, Kerstin A1 - Jaunich, Matthias A1 - Schade, U. A1 - Aziz, E. F. A1 - Wolff, Dietmar T1 - Fourier-spektroskopische Untersuchungen im mittleren- und fernen Infrarotbereich an Co-60 bestrahlten und thermisch belasteten ultrahochmolekularen Polyethylen-Proben N2 - Fourier-Spektroskopische Untersuchungen von hochmolekularem Polyethylen (HMW-PE) und ultrahochmolekularem Polyethylen (UHMW-PE) im Mittleren - und Fernen Infrarotbereich können Veränderungen der molekularen Strukturen nachweisen, die durch Co60 γ-Strahlung und Rekristallisationsprozesse initiiert werden. UHMW-PE und HMW-PE sind im gewählten IR-Bereich unterscheidbar. Die integrale Absorption der B1u – Gitterschwingungen im Fernen Infrarotbereich (THz-Bereich) ermöglichen die quantitative Beschreibung des Kristallinitätsgrades und dessen Abbau. Die Bildung ungesättigter Vinylengruppen und der Abbau ungesättigter Methylengruppen können im Mittleren Infrarotbereich nachgewiesen werden. T2 - DGZfP-Jahrestagung 2014 CY - Potsdam, Germany DA - 26.05.2014 KW - Infrared and far-infrared spectroscopy KW - Polyethylene KW - Co-60 irradiation PY - 2014 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-313317 SN - 978-3-940283-61-0 VL - 148 SP - 1 EP - 7 PB - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (DGZfP) CY - Berlin AN - OPUS4-31331 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg ED - Spranger, Holger T1 - Synthetische Aperturfokussierung für die Terahertzspektroskopie N2 - Die zeitaufgelöste THz-Spektroskopie (THz-TDS) operiert mit elektromagnetischen Impulsen, die ein Amplitudenspektrum im unteren THz-Bereich aufweisen. Die THz-TDS ist in der Lage, dielektrische Volumina zerstörungs- und kontaktfreie zu durchstrahlen. Um eine 3D-THz Bildung zu ermöglichen, wurde für die THz-TDS ein rechnergestütztes Mess- und Rekonstruktionsverfahren (THz-TDSAFT) entwickelt, mit dem es gelingt, unter Verwendung der im Zeitbereich registrierten THz-TDS-Daten das Volumeninnere in Form eines dreidimensionalen Tomogramms zu rekonstruieren. Die THz-TD-SAFT basiert auf die für die Ultraschalltechnik entwickelte Synthetische Apertur Fokussierung (SAFT) bzw. des heuristisch begründeten Algorithmus des Synthetischen Apertur Radars (SAR). Anhand von Beispielen wird die Möglichkeiten der THz-TD-SAFT demonstriert und nachgewiesen, dass mit dem Rekonstruktionsansatz die künstlich eingebauten Fehlstellen bezüglich der Position und Größe geometrisch richtig im Tomogramm abgebildet werden können. T2 - 4. Fachseminar des FA MTHz, Mikrowellen- und Terahertz-Prüftechnik in der Praxis CY - Fürth, Germany DA - 02.04.2019 KW - THz-TDS KW - Tomographie, KW - Zerstörungsfreie Prüfung PY - 2019 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-490481 UR - https://www.ndt.net/search/docs.php3?MainSource=262 SP - 1 EP - 8 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-49048 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Eddah, Mustapha A1 - Markötter, Henning A1 - Mieller, Björn A1 - Sintschuk, Michael A1 - Beckmann, Jörg A1 - Bruno, Giovanni T1 - Mitigation of DMM-induced stripe patterns in synchrotron X-ray radiography through dynamic tilting N2 - In synchrotron X-ray radiography, achieving high image resolution and an optimal signal-to-noise ratio (SNR) is crucial for the subsequent accurate image analysis. Traditional methods often struggle to balance these two parameters, especially in situ applications where rapid data acquisition is essential to capture specific dynamic processes. For quantitative image data analysis, using monochromatic X-rays is essential. A double multilayer monochromator (DMM) is successfully used for this aim at the BAMline, BESSY II (Helmholtz Zentrum Berlin, Germany). However, such DMMs are prone to producing an unstable horizontal stripe pattern. Such an unstable pattern renders proper signal normalization difficult and thereby causes a reduction of the SNR. We introduce a novel approach to enhance SNR while preserving resolution: dynamic tilting of the DMM. By adjusting the orientation of the DMM during the acquisition of radiographic projections, we optimize the X-ray imaging quality, thereby enhancing the SNR. The corresponding shift of the projection during this movement is corrected in post-processing. The latter correction allows a good resolution to be preserved. This dynamic tilting technique enables the homogenization of the beam profile and thereby effectively reduces noise while maintaining high resolution. We demonstrate that data captured using this proposed technique can be seamlessly integrated into the existing radiographic data workflow, as it does not need hardware modifications to classical X-ray imaging beamline setups. This facilitates further image analysis and processing using established methods. KW - Double multilayer monochromators KW - Synchrotron X-ray imaging KW - Signal normalization KW - BAMline KW - Dynamic tilting PY - 2024 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-615049 DO - https://doi.org/10.1107/S1600577524008646 SN - 1600-5775 VL - 31 SP - 1551 EP - 1560 PB - International Union of Crystallography (IUCr) AN - OPUS4-61504 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz- and MIR FTIR Spectroscopy on Polyethylene, irradiated with gamma Co60 Radiation T2 - 6th International Workshop on Terahertz Technology and Applications Workshop, VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik CY - Kaiserslautern, Germany DA - 2014-03-11 PY - 2014 AN - OPUS4-31303 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg ED - Jaunich, Matthias ED - Wolf, Dietmar ED - Schade, U. ED - Kerstin, von der Ehe T1 - THz-and mid IR Fourier Transform Spectroscopy on Physical Aged Polyethylene N2 - THz and mid IR spectroscopy of high-molecular PE (HMW) and ultra high-molecular PE (UHMW) reveals modifications of the molecular structure. Characteristic absorption bands are changed if the two materials are exposed by γ-Co60 radiation up to 600 kGy and subsequently stored at an annealing temperature of 398 K until for 729 days. T2 - 43rd International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THZ), 2018 CY - Nagoya, Japan DA - 09.09.2018 KW - THz Spectroscopy PY - 2018 SN - 978-1-5386-3809-5 SN - 2162-2027 SP - 1 EP - 1 PB - IEEE Xplore Digital Library AN - OPUS4-46824 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz- and MIR FTIR Spectroscopy on Polyethylene, irradiated with gamma Co60 Radiation N2 - THz and mid IR spectroscopy of high-molecular PE (HMW) and ultra high-molecular PE (UHMW) are appropriated to characterize theire molecular structure. Characteristic absorption bands are changed if the two materials are exposed by gamma-Co60 radiation up to 600 kGy and subsequently stored at an annealing temperature of 398 K until for 729 days. The spectroscopic data oarfe used to describe the existing ageing process in more detail. T2 - 10TH JOINT BER II AND BESSY II USER MEETING CY - Berlin, Bessy DA - 05.12.2018 KW - Physical Ageing KW - Far Infrared Spectroscopy PY - 2018 AN - OPUS4-46937 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz- and MIR FTIR Spectroscopy on Polyethylene, N2 - THz and mid IR spectroscopy of high-molecular PE (HMW) and ultra high-molecular PE (UHMW) reveals modifications of the molecular structure. Characteristic absorption bands are changed if the two materials are exposed by -Co60 radiation up to 600 kGy and subsequently stored at an annealing temperature of 398 K until for 729 days. UHMW-PE and HMW-PE behave differently during the ageing process because of their molecular weight and inherent structure distinctions. The spectroscopic data offer characteristic absorption bands, which have been used to describe the complete ageing process in more detail. For instance, the integral absorption in the B1u THz-region can be used to describe quantitatively the reduction of crystallinity. The formation of trans vinylene unsaturation and the decay of vinyl during ageing can be observed in detail in the mid IR range. T2 - IRMMW-THz 2018 (43rd) Conference CY - Nagoya, Japan DA - 09.09.2018 KW - Gamma-Co60 radiation KW - THz and mid IR spectroscopy PY - 2018 AN - OPUS4-46442 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Spranger, Holger A1 - Beckmann, Jörg A1 - Boehm, Rainer T1 - THz-ToF techniques for the detection of inherent discontinuities in dielectric materials based on a SAFT – and an optical layer reconstruction algorithm N2 - Electromagnetic waves with frequencies between 0.1 and 10 THz are described as THz-radiation (T-ray). The ability to penetrate dielectric materials makes T-rays attractive to reveal discontinuities in polymer and ceramic materials. THz-Time Domain Spectroscopy Systems (THz-TDS) are available on the market today which operates with THz-pulses transmitted and received by optically pumped semiconductor antennas. In THz-TDS the travelling time (ToF) and shape of the pulse is changed if it interacts with the dielectric material and its inherent discontinuities. A tomogram of the object under the test can be reconstructed from time of flight diffraction (ToFD) scans if a synthetic focusing aperture (SAFT) algorithm is applied. Otherwise, planar discontinuities like cracks in plastics or delaminated layers in composites can be abstracted as layers located at any angle in relation to the outer sample surface direction. A tomogram from the scanned sample can then be reconstructed in case the interactions of electromagnetic pulses with the existing inherent interfaces are detectable and a model is assumed which describes the device under the test as multilayer structure composed of thin layers with different dielectric properties. A short description of both the SAFT – and Optical Layer algorithm for the reconstruction of the inherent structure is initially given. Measurements on representative samples with a variety of artificially produced small and large scale. Reconstructed tomograms are presented to discuss and evaluate the benefits and limits of the two different reconstruction approaches. T2 - 19th World Conference on Non-Destructive Testing 2016 CY - Munich, Germany DA - 13.06.2016 KW - THz SAFT Optical layer reconstruction PY - 2016 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-365866 SN - 978-3-940283-78-8 VL - 158 SP - 1 EP - 10 AN - OPUS4-36586 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Fratzscher, Daniel A1 - von Chrzanowski, Lars A1 - Ewert, Uwe T1 - Zeitaufgelöste THz-Spektroskopie für technische und zivile Sicherheitsanwendungen N2 - Vortrag über Zeitaufgelöste THz-Spektroskopie für technische und zivile Sicherheitsanwendungen T2 - DACH-Jahrestagung 2012 CY - Graz, Austria DA - 17.09.2012 KW - THz Spektroskopie KW - Technische und zivile Sicherheit PY - 2012 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-280013 SN - 978-3-940283-44-3 IS - DGZfP-BB 136 SP - Mi.1.C.4, 1 EP - 14 PB - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. (DGZfP) AN - OPUS4-28001 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Spranger, Holger A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz-SAFT Rekonstruktion von HDPE-Bauteilen N2 - Obwohl THz-TDS-Systeme vielfältige Qualitätsparameter von Dielektrika ermitteln können, ist deren industrielle Nutzung im Bereich der zerstörungsfreien Bauteilprüfung noch nicht anerkannter Stand der Technik. Ein pragmatischer Weg, TDS-Systeme neben traditionellen Prüfverfahren zu etablieren, sind systematische Untersuchungen an Modellbauteilen, mit dem Ziel einer Methodenentwicklung zur zuverlässigen berührungslosen Prüfung von Dielektrika. Anhand von THz-TDS-Messungen an Polyethylen-Testkörpern mit künstlich eingebauten Fehlstellen werden anfänglich die Möglichkeiten der Laufzeitmessung zur Ermittlung von Tiefenlagen von Ungänzen in Testkörpern präsentiert. Im weitern Teil wird gezeigt, wie durch eine veränderte Versuchsdurchführung und Verwendung eines modifizierten SAFT-Rekonstruktions-Algorithmus Tomogramme berechnet werden können, in denen die künstlich eingebrachten Fehlstellen hinsichtlich ihrer Größe und Lage geometrisch richtig dargestellt werden. T2 - 3. Fachseminar des FA MTHz Mikrowellen- und Terahertz-Prüftechnik in der Praxis CY - Würzburg, Germany DA - 05.04.2017 KW - THz KW - THz-SAFT KW - THz-TDS KW - SAFT KW - HDPE PY - 2017 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-396883 SN - 978-3-940283-84-9 VL - 161 SP - 1 EP - 9 PB - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (DGZfP) CY - Berlin AN - OPUS4-39688 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -