TY - GEN A1 - Beck, M. A1 - Becker, S. A1 - Beckmann, Jörg A1 - Cojocari, O. A1 - Feige, V. A1 - Fischer, B. A1 - Friederich, F. A1 - Globisch, B. A1 - Haupt, H. A1 - Hechtfischer, G. A1 - Hens, K. A1 - Hübers, H.-W. A1 - Jelonnek, J. A1 - Jonuscheit, J. A1 - Keil, A. A1 - Kleine-Ostmann, T. A1 - Nickel, H.-U. A1 - Peichl, M. A1 - Peters, O. A1 - Sprenger, T. A1 - Steiger, A. A1 - van Frank, S. A1 - Vieweg, N. A1 - Werner, M. A1 - Wilk, R. T1 - Terahertzsysteme - Anwendungsfelder und Systeme N2 - Die nicht ionisierende elektromagnetische Strahlung im Bereich von Terahertz-Frequenzen ermöglicht berührungslose und zerstörungsfreie Mess- und Prüftechnik in zahlreichen Bereichen. Nach ersten Anwendungen in der Astronomie und der Atmosphärenforschung wurden in letzter Zeit Anwendungsfelder in der Sicherheitstechnik, der Medizintechnik, der Nachrichtentechnik und der zerstörungsfreien Prozess- und Qualitätskontrolle erschlossen. Dielektrische Materialien wie Kunststoffe und Keramiken können von Terahertz-Wellen durchdrungen werden. Das ermöglicht Untersuchungen des Objektinneren ohne spezielle Schutzmaßnahmen, wie sie z.B. beim Röntgen notwendig sind. Die Richtlinie erleichtert die Verständigung zwischen Nutzern, Herstellern und dem Vertrieb von Terahertz-Systemen. In der Richtlinie werden bekannte Einsatzgebiete sowie die eingesetzten Verfahren und Funktionsprinzipien aufgeführt, um den Leser bei der Auswahlentscheidung zu unterstützen. Nach einer kurzen Einführung in die physikalischen Grundlagen und Hinweisen zur elektromagnetischen Verträglichkeit, zum Strahlenschutz und zur regulierten Frequenzvergabe werden die verschiedenen Geräteklassen von Terahertz-Systemen ausführlich vorgestellt. Die Richtlinie gibt Hinweise zur messtechnischen Charakterisierung von Terahertz-Wellen. Einsatzgebiete von Terahertz-Systemen, wie die zerstörungsfreie Prüfung, die Dicken- und Abstandsmessung, die Tomografie und die chemische Analytik, werden mit ihren spezifischen Eigenschaften im Detail beschrieben. Umfangreiche Literaturverweise vereinfachen eine vertiefte Beschäftigung mit den Themen der Richtlinie. Eine tabellarische Übersicht mit einer Zusammenfassung, welche Terahertz-Systeme für welche Anwendungsfelder eingesetzt werden können, vervollständigt die Richtlinie. KW - Terahertzsysteme KW - THz-Wellen PY - 2018 UR - https://www.vdi.de/5590 VL - VDI/VDE 5590 Blatt 2 SP - 1 EP - 27 PB - VDI-Verlag CY - Düsseldorf ET - Entwurf - November 2018 AN - OPUS4-46727 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schade, U. A1 - Ritter, E. A1 - Aziz, E. F. A1 - Puskar, L. A1 - Beckmann, Jörg T1 - Spectroscopic ellipsometry on liquids in the far infrared N2 - The far infrared refractive indices and the extinction coefficients of liquids can be obtained by means of spectroscopic ellipsometry in attenuated total reflection configuration. Such optical constants will contribute to a spectroscopic data base in the far infrared and terahertz spectral regions. The experimental implementation and the calibration procedure of the method are described in detail. The temperature dependency of the optical constants for water over a broad spectral range is exemplarily presented. T2 - 42nd International Conference on Infrared, Millimeter and THz Waves CY - Cancun, Mexico DA - 27.08.2017 KW - Ellipsometry KW - Far Infrared KW - ATR KW - Attenuated total reflection KW - Calibration KW - Extinction coefficients KW - Refractive index measurement KW - Spectroscopic ellipsometry KW - Far infrared refractive index KW - Terahertz spectral region KW - Optical constant KW - Attenuated total reflection configuration KW - Liquid extinction coefficient KW - Optical refraction KW - Optical variables control KW - Optical reflection KW - Liquids KW - Optical films KW - Optical polarization KW - Optical variables measurement PY - 2017 UR - http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8066931&isnumber=8066832 DO - https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2017.8066931 SN - 2162-2035 SP - MD.1.5-1 EP - MD.1.5-2 PB - IEEE CY - Danvers AN - OPUS4-42028 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Spranger, Holger T1 - THz-TDS-SAFT for the detection of inherent discontinuities in dielectric materials N2 - Today X-ray tomography and Ultrasound Synthetic Aperture Focusing Techniques are representative examples for defect imaging in the field of nondestructive testing. THz time domain spectroscopy (TDS) operates with short electromagnetic pulses. The sensitivity of the pulses to optical material property changes makes THz-TDS attractive for the detection of flaws in dielectric materials. Unfortunately, the X-ray computed tomography (CT) model holds only for THz-TDS reconstruction if minor refraction index differences between the inhomogeneities and the surrounding material matrix exist. A Time Domain SAFT algorithm has been developed to overcome the restrictions. THz time domain measurement on representative sample sets with inherent artefacts were performed to use them for the Image reconstructions. The results will be presented and compared with optical surface images of the used test objects to evaluate the SAFT algorithm in relation to the econstruction quality. T2 - 42nd International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves CY - Cancun, Mexico DA - 27.08.2017 KW - THz-TDS-Saft KW - Tomography KW - Dielectric materials KW - Image reconstruction KW - Terahertz spectroscopy KW - Terahertz wave imaging KW - Time-domain analysis KW - X-ray tomography KW - Ultrasound synthetic aperture focusing techniques KW - Terahertz time domain spectroscopy KW - Time domain SAFT algorithm KW - Image reconstructions KW - Optical surface images KW - Computed tomography KW - Dielectrics KW - Time measurement KW - Reflection PY - 2017 UR - http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8067159&isnumber=8066832 SN - 978-1-5090-6048-1 DO - https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2017.8067159 SP - TD.19-1 EP - TD.19-2 PB - IEEE CY - Danvers, USA AN - OPUS4-42030 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz-TDS-SAFT for the detection of inherent discontinuities in dielectric materials N2 - X-ray computed tomography (CT) model holds only for THz-TDS reconstruction if minor refraction index differences between the inhomogeneities and the surrounding material matrix exist. A Time Domain SAFT algorithm has been developed to overcome the restrictions. THz time domain measurement on representative sample sets with inherent artefacts were performed to use them for the Image reconstructions. The results will be presented and compared with optical surface images of the used test objects to evaluate the SAFT algorithm in relation to the reconstruction quality. T2 - 42nd International Conference on Infrared, Millimeter and THz waves CY - Cancun, Mexico DA - 27.08.2017 KW - THz-time-domain spectroscopy KW - SAFT KW - Tomography PY - 2017 AN - OPUS4-42034 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Optischer Ansatz zur Bestimmung von Materialeigenschaften und Schichtstrukturen N2 - THz-TDS Systeme können zeitaufgelöst die Amplitude der elektrischen Feldstärke E(t) detektieren. Der Vorteil des verwendeten Messprinzips besteht in dem gleichzeitigen Nachweis von Amplitude und Phase des zwischen der Antenne und dem Detektor sich ausbreitenden elektrischen Feldes eines Impulses. Befindet sich im Strahlengang dielektrisches Material, dann ändern sich die Laufzeit (Time of Flight) und Amplitude des Impulses im Vergleich zum freien Strahlengang. Planare Fehlstellen, wie Risse oder delaminierte Schichten in Kompositen sowie mehrschichtig aufgebaute Dielektrika können als optische Mehrschichtsysteme aufgefasst werden, mit denen sich die beobachteten Transmissions- und Reflektionseigenschaften im THz-Bereich erklären lassen. Bei Entwicklung eines optischen Schichtenmodells für das jeweilig ausgewählte Schichtensystem lassen sich zeitliche Impulsverläufe in Abhängigkeit von der Schichtenfolge- und deren –dicke berechnen. Durch den Fit der experimentell gewonnener Daten mit den aus dem Schichtenmodell berechneten Impulssequenzen lassen sich unter Verwendung der Methode der kleinsten Quadrate Schichtdicken oder die Brechungsindizes der einzelnen Schichten im jeweiligen Testobjekt bestimmen. Anhand eines repräsentativen Beispiels wird die Entwicklung des Schichtenmodells erklärt und die erreichten Genauigkeiten zur Bestimmung der Schichtdicken und Brechungsindizes anhand selbst entwickelter Testkörper diskutiert. T2 - Workshop „Wertschöpfungspotential der neuen Mikrowellen- und Terahertz-Sensorik in der Kunststoffindustrie" CY - Würzburg, Germany DA - 07.11.2018 KW - Dickenmessung, KW - Zeitaufgelöste THz-Spektroskopie PY - 2018 AN - OPUS4-46629 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Hat die Nutzung der Terahertz-Strahlung eine Zukunft in der Zerstörungsfreien Prüfung? N2 - Die zeitaufgelöste THz-Spektroskopie (THz-TDS) ist eine relativ junge Technologie, die im Bereich der Zerstörungsfreien Werkstoffprüfung (ZfP) seit einiger Zeit genutzt wird. Es werden die neusten Entwicklungen in Verbindung mit deren Perspektiven in der ZfP vorgestellt und diskutiert. T2 - DGZfP Arbeitskreis Zwickau-Chemnitz CY - Ackerbürgersaal am Kornmarkt 5, Zwickau, Germany DA - 16.10.2018 KW - Zeitaufgelöste THz Spektroskopie KW - ZfP 4.0 PY - 2018 AN - OPUS4-46637 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schade, U. A1 - Ritter, E. A1 - Bawagan, A.D.O. A1 - Beckmann, Jörg A1 - Aziz, E. F. T1 - Far-infrared absorption measurements on thin polymer films N2 - Interference fringes in the far-infrared spectra of thin films are the result of the coherent adding up of waves and can influence the spectral interpretation by concealing smaller features. A number of methods have been developed in order to eliminate such oscillating features from the transmittance spectrum. The paper critically evaluates the total transmission-reflection technique and applies the method to quantify the spectra of different polymer films. T2 - IRMMW-THz 2014 - 39th International conference on infrared, millimeter, and terahertz waves CY - Tucson, Arizona, USA DA - 14.09.2014 KW - Far-infrared spectra KW - Thin films KW - Total transmission reflection technique KW - Infrared spectroscopy KW - Light absorption KW - Light reflection KW - Polymer films KW - Far-infrared absorption measurements KW - Thin polymer films KW - Interference fringes KW - Spectral interpretation KW - Transmittance spectrum KW - Oscillating features KW - Total transmission-reflection technique KW - Interference KW - Absorption KW - Finite impulse response filters KW - Optical films KW - Optical reflection PY - 2014 UR - http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6956145&isnumber=6955975 SN - 978-1-4799-3877-3 DO - https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2014.6956145 IS - IEEE Catalog No.: CFP14IMM-ART SP - 1 EP - 2 AN - OPUS4-32700 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Spranger, Holger A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz – ToF optical layer analysis (OLA) to determine optical properties of dielectric materials N2 - Electromagnetic waves with frequencies between 0.1 and 10 THz are described as THz-radiation (T-ray). The ability to penetrate dielectric materials makes T-rays attractive to reveal discontinuities in polymer and ceramic materials. THz-Time Domain Spectroscopy Systems (THz-TDS) are available on the market today which operates with THz-pulses transmitted and received by optically pumped semiconductor antennas. In THz-TDS the travelling time (ToF) and shape of the pulse is changed if it interacts with the dielectric material and its inherent discontinuities. A tomogram of the object under the test can be reconstructed from time of flight diffraction (ToFD) scans if a synthetic focusing aperture (SAFT) algorithm is applied. The knowledge of the base materials shape and optical properties is essential for a proper reconstruction result. To obtain these properties a model is assumed which describes the device under the test as multilayer structure composed of thin layers with different dielectric characteristics. The Optical Layer Analysis (OLA) is able to fulfill these requirements. A short description why the optical properties are crucial for meaningful SAFT reconstruction results will be given first. Afterwards the OLA will be derived and applied on representative samples to discuss and evaluate ist benefits and limits. T2 - QNDE 2016 CY - Atlanta, GA, USA DA - 17.07.2016 KW - Optical layer analysis KW - THz-TDS KW - Optical properties of dielectric materials KW - THz-ToF PY - 2017 SN - 978-0-7354-1474-7 DO - https://doi.org/10.1063/1.4974707 SN - 0094-243X VL - 1806 IS - 1 SP - UNSP 120002, 1 EP - 7 PB - AIP Publishing AN - OPUS4-39393 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz applications for NDT N2 - Electromagnetic waves in the frequency range between 0.1 and 10 THz are described as THz-radiation (T-ray). The ability to penetrate dielectric materials, to operate contactless and to be non-ionizing as well as be-ing insensitive to ambient temperatures makes THz technologies for NDT applications attractive especially where other techniques are not available or less suitable. Today T-rays are applied in non-destructive testing for quality control and condition monitoring issues. The operation is based on the combination of both transmission and/or reflection measurements and specially developed reconstruction procedures. Firstly, THz-TDS measurements will be presented to demonstrate the opportunities for spectroscopy and imaging of polymer materials. A SAFT algorithm and an Optical Layer-Model will be presented and discussed in more detail to demonstrate the opportunities of image reconstruction for visualization of the inner structures of op-tically and far infra-red opaque polymer composites. T2 - 2017 Far East Forum On Nondestructive Evaluation/Testing: New Technology & Application CY - XI'an, China DA - 22.06.2017 KW - THz radiation KW - Terahertz synthetic aperture focusing KW - Thickness measurements KW - Image reconstruction KW - Dielectric materials PY - 2017 AN - OPUS4-40799 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - von Chrzanowski, Lars A1 - Beckmann, Jörg A1 - Marchetti, Barbara A1 - Ewert, Uwe A1 - Schade, U. T1 - Capability of terahertz-wave instrumentation for non destructive testing of liquids T2 - 10th European conference on non-destructive testing CY - Moscow, Russia DA - 2010-06-07 KW - Terahertz PY - 2010 UR - http://www.ndt.net/article/ecndt2010/reports/1_05_16.pdf IS - Paper 4.02.18 SP - 1 EP - 8 AN - OPUS4-21685 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beckmann, Jörg A1 - Schmidt, Richard A1 - Ewert, Uwe A1 - Berndt, A. A1 - Strebl, F. T1 - Agenda 2020 for a European Certification System for CBRNE Sensor Systems and Devices - the Concept for a Road Map N2 - Developments for technologies were initiated by the European Commission to improve future response capabilities and strategies to prevent terrorist attacks, to reduce the vulnerability to terrorism and to minimize the extent of damage from terrorist attacks. CBRN civil protection faces a growing significance in this concept and modern detectors and detection systems play the key role for a future reliable functioning that counters terrorism in Europe. The European Union is supporting the project CREATIF which is dedicated to provide a communication platform for technology users and decision makers, providers, and testers. First ideas were designed, strategies developed, preconditions and rules were named for a future internationally recognized certification system. A concept for a future European Certification System for CBRNE Sensor Systems and Devices and Processes has been developed, which is described in more detail. T2 - 1st International symposium on development of CBRN defence capabilities CY - Berlin, Germany DA - 2010-11-30 KW - WMD KW - CBRNE KW - Certification KW - Testing PY - 2010 SN - 978-3-935938-75-4 IS - P10.5 SP - 1603 EP - 1606 CY - Bonn AN - OPUS4-22879 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Handheld Terahertz Spectrometer for the Detection of Liquid Explosives T2 - SPIE Europe, Security+Defence CY - Berlin, Germany DA - 2009-08-31 PY - 2009 AN - OPUS4-22929 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Optimierung der Bildgüte in der Computer-Radiographie für die Schweißnahtprüfung T2 - DGZfP-Jahrestagung 2009 CY - Münster, Germany DA - 2009-05-18 PY - 2009 AN - OPUS4-20185 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Stategies for Film Replacement in Radiography - a comparative stude - T2 - Malaysia International NDT Conference 09 CY - Kuala Lumpur, Malaysia DA - 2009-07-20 PY - 2009 AN - OPUS4-20186 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Ewert, Uwe A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Beckmann, Jörg A1 - Bavendiek, K. T1 - Digital radiography - Films and digital detectors in comparison T2 - MINDTCE `09 - Malaysia international NDT conference and exhibiton `09 - NDT Driving industry safety, growth and performance CY - Kuala Lumpur, Malaysia DA - 2009-07-20 KW - Radiography KW - Film replacement KW - Computed radiography KW - Imaging plates KW - Digital detector arrays KW - Contrast sensitivity KW - SNR KW - standards PY - 2009 SP - 181 EP - 189 AN - OPUS4-20253 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Krumbholz, N. A1 - Jansen, A. A1 - Scheller, M. A1 - Müller-Wirts, T. A1 - Lübbecke, S. A1 - Holzwarth, R. A1 - Scheunemann, R. A1 - Wilk, R. A1 - Sartorius, B. A1 - Roehle, H. A1 - Stanze, D. A1 - Beckmann, Jörg A1 - von Chrzanowski, Lars A1 - Ewert, Uwe A1 - Koch, M. ED - Keith A. Krapels, ED - Neil A. Salmon, T1 - Handheld terahertz spectrometer for the detection of liquid explosives N2 - We present a handheld fiber-coupled terahertz spectrometer operating at a center wavelength of 1550 nm. The key elements are a fs-fiber laser, a fiber stretcher delay line and fiber-coupled antennas, which contain novel InAlAs-InGaAs multi layer chips. First experimental data obtained with this system demonstrates its great potential and robustness. In addition, we investigate different hazardous and harmless liquids in reflection geometry. These experiments show that liquids are in principle distinguishable by terahertz spectroscopy. Finally, first steps towards an algorithm that allows for an extraction of the liquids dielectric properties are discussed. The algorithm works for the analysis of reflection data even if the liquid is located inside a container. KW - Handheld terahertz spectrometer KW - Liquid explosives PY - 2009 DO - https://doi.org/10.1117/12.830381 SN - 0277-786X VL - 7485 SP - 748504-1 - 748504-12 AN - OPUS4-20268 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - TERAHERTZ TIME DOMAIN SPECTROSCOPY - PERSPECTIVES FOR STAND OFF INSPECTION OF LIQUIDS T2 - Laser Optics CY - Berlin, Germany DA - 2010-03-22 PY - 2010 AN - OPUS4-21154 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Time of Flight Diffraction-Technik (ToFD) mit THz-Strahlung zur Untersuchung von Kunststoffobjekten T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 CY - Erfurt, Germany DA - 2010-05-10 PY - 2010 AN - OPUS4-21245 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - von Chrzanowski, Lars A1 - Ewert, Uwe T1 - Time of Flight Diffraction-Technik (ToFD) mit THz-Strahlung zur Untersuchung von Kunststoffobjekten N2 - Als Terahertz-Strahlung bezeichnet man eine elektromagnetische Strahlung im Frequenzbereich zwischen 0.3 und 6 THz. Sie ist zwischen der Mikrowellen- und der Infrarotstrahlung eingeordnet und steht erst seit einigen wenigen Jahren infolge der Entwicklung von effizienten THz-Systemen für Untersuchungen im Labormaßstab zur Verfügung. Weit verbreitet ist heutzutage die THz-Spektroskopie (Time-Domain Spectroscopy, TDS) und THz – Bildgebung (THz-Imaging). Die THz-Strahlung hat wesentliche Vorteile für die Materialuntersuchung und - charakterisierung. Sie ist nicht ionisierend und verfügt über eine vergleichsweise große Eindringtiefe bei vielen nichtleitenden optisch opaquen Materialien. Verpackungsmaterialen wie z.B. Papier, Kunststoffe, Keramiken und am menschlichen Körper getragene Kleidungsstücke erscheinen im Wellenlängenbereich der THz Strahlung transparent. Unterschiedliche Materialien, wie z.B. Sprengstoffe oder Drogen zeigen im THz-Spektrum infolge kollektiver molekularer Anregungsmechanismen im Material charakteristische Absorptionsbereiche, die als 'Fingerprints' in der Pharmazie oder bei der Kriminalitätsbekämpfung zu deren Identifizierung verwendet werden. Beim THz-Imaging wird die Probe z.B. mit Hilfe eines fokussierten THz-Strahls berührungslos abgetastet, um Reflexions- oder Transmissionseigenschaften (Amplitude, Zeitverzögerung, spektrale Information) ortsaufgelöst zweidimensional zu detektieren. Sowohl das THz-Imaging als auch die THz-Spektroskopie weisen ein hohes Anwendungspotential für die berührungslose zerstörungsfreie Werkstoffprüfung von Kunststoffen, Glasfaser-Verbundstoffen oder Keramiken auf. Die ortsaufgelöste Messung der Feuchte in einem Bauteil, der Nachweis von Defekten oder von Einschlüssen im Probeninneren oder die Delaminationsvorgänge in Verbundwerkstoffen sind beispielgebend genannte Anwendungsmöglichkeiten. Die Auflösung lag dabei, bedingt durch die Wellenlänge der THz-Strahlung, im Millimeter-Bereich und ist somit vergleichbar mit der typischen Wellenlänge bei Ultraschalluntersuchungen. Die BAM verfügt über ein glasfasergekoppeltes Picometrix T-Ray 2000 System, mit dem durch die Integration eines Mehrkreisgoniometers der THz-Sender, THz-Detektor und der Probenkörper beliebig und unabhängig voneinander positioniert werden können. Bei getrennter V-förmige Reflexanordnung der Sende- und Empfangsantenne (z. B. 45º) in Bezug zur Oberflächennormale des Prüfgegenstandes können z.B. Risse, Bohrungen oder Kerben, die sich im Inneren des „beleuchteten“ Probenvolumens befinden, nachgewiesen werden, weil die eingelagerten Inhomogenitäten sowohl eine zusätzlich Reflexion als auch eine Beugung des THz – Pulses verursachen. Charakteristisches Merkmal von TOFD (Beugungslaufzeitmethode) ist die Nutzung der von den Fehlerrändern verursachten (schwachen) Beugungssignale zur Bildgebung. Damit bietet TOFD in Analogie zum gleichnamigen Ultraschallprüfverfahren generell nicht nur die Möglichkeit zum Fehlernachweis, sondern vor allem auch die der Fehlergrößenbestimmung und Fehlerlage. Der Beitrag zeigt, wie mit Hilfe der Time of Flight - Diffractions - Technik künstlich in Kunststoffkörper eingebrachte Fehlstellen berührungslos nachgewiesen und deren laterale Ausdehnungen bestimmt werden können. T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 CY - Erfurt, Deutschland DA - 2010-05-10 KW - Time of flight diffraction (ToFD) KW - Terahertz KW - Kunststoffe PY - 2010 UR - http://www.ndt.net/article/dgzfp2010/Inhalt/p35.pdf SN - 978-3-940283-26-9 IS - DGZfP-BB 122 (Poster 35) SP - 1 EP - 2 CY - Berlin AN - OPUS4-22533 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Przybilla, Waldemar A1 - Redmer, Bernhard A1 - Ewert, Uwe A1 - Rachny, S. A1 - Ochsenfarth, B. A1 - Krull, R. T1 - Durchstrahlungsprüfung aluminothermischer Schweißungen von verlegten Schienen mit Hilfe von Speicherfoliensystemen N2 - Speicherfoliensysteme werden seit den 80-iger Jahren in der Röntgendiagnostik eingesetzt. Die technische Modifizierung der anfänglich im medizinischen Bereich genutzten Speicherfoliensysteme ermöglichte die Einführung der Computer-Radiographie (CR) in die Digitale Industrielle Röntgenprüfung mit dem Ziel des Filmersatzes. Die Speicherfolien detektieren im Vergleich zum Röntgenfilm einen wesentlich größeren Dosisbereich. Die daraus resultierende Dynamik befähigt die Speicherfoliensysteme zur Abbildung eines großen Objektumfanges und verringert zugleich das Risiko einer Fehlbelichtung. Vor allem die Möglichkeit, unmittelbar nach dem Belichten das virtuell im Speicherleuchtstoff gespeicherte Durchstrahlungsbild auszulesen, in digitalisierter Form im PC zu speichern und auf dem Bildschirm betrachten zu können, verdeutlicht die Vorteile von CR Systemen beim Gebrauch in der Durchstrahlungsprüfung. Eine vollständige Ablösung des Röntgenfilmes durch digitale Techniken ist jedoch erst dann zu erwarten, wenn es gelingt, eine Bildqualität zu erreichen, die besser oder gleichwertig zu der vom jeweiligen Röntgenfilmsystem geforderten ist. Mit diesem Ziel hat in den letzten Jahren eine technische Weiterentwicklung von CR Systemen für den industriellen Einsatz stattgefunden. Im gleichen Zeitraum wurden mehrere Standards zur Bewertung von CR Systemen und zu deren richtigen Gebrauch in der Durchstrahlungsprüfung entwickelt. Heutzutage ist die Herstellung von Durchstrahlungsbildern mit einer entsprechend gewünschten Bildgüte sichergestellt, was in den letzten Jahren zum verstärkten Einsatz von CR Systemen in der Durchstrahlungsprüfung führte. Im Rahmen einer von der EU finanzierten Studie (Filmfree) wurden anfänglich systematische Untersuchungen zu den Einsatzmöglichkeiten und –grenzen von CR Systemen für die Durchstrahlungsprüfung von aluminothermischen Schweißnähten in Schienen durchgeführt. Anhand der Ergebnisse ließen sich optimale Bedingungen und Strategien für die Durchstrahlungsprüfung von Schienen ableiten, die anschließend im vor Ort Einsatz auf der Teststrecke der Deutschen Bahn verifiziert wurden. Im vorgestellten Beitrag werden die Vorteile des Einsatzes von CR Systemen bei der Durchstrahlungsprüfung von aluminothermischen Schweißnahtverbindungen dargestellt und deren Verwendung unter realen Verkehrsbedingungen im Schienenverkehr beschrieben. Es wird gezeigt, wie unter den bestehenden Fahrbetriebsbedingungen die Durchstrahlungsprüfung von Schweißungen in verlegten Schienen umgesetzt werden kann. T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 CY - Erfurt, Deutschland DA - 2010-05-10 KW - Digital radiography KW - Computed radiography KW - Image quality KW - Speicherfolien KW - Schienenprüfung PY - 2010 SN - 978-3-940283-26-9 IS - DGZfP-BB 122 (Di.1.A.1) SP - 1 EP - 16 CY - Berlin AN - OPUS4-22534 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Ewert, Uwe A1 - Skerik, M. T1 - Image Quality Assessment of CR Systems N2 - Computed Radiography exposure experiments on welded plate sections were performed to demonstrate that the requirements for pressure vessels weld inspection according to EN1435 or EN14784-2 class B can be achieved. The representative comparative studies of the image qualities were performed with standardized image quality indicators and image evaluation procedures on both film and digital radiographs. Recommendations for weld inspections with CR systems are drawn from the results. It is demonstrated that present CR systems can be used for weld inspection and produce images with testing class B if the selected X-ray tube voltage is reduced compared with the max. voltage of EN 14784-2 and set equivalent to maximum X-ray voltage values for steel as defined in the radioscopic standard EN 13068-3. The work was part of the European 'Filmfree' Project promoted during the 6’th framework. T2 - 10th European conference on non-destructive testing CY - Moscow, Russia DA - 2010-06-07 KW - Film KW - Digital radiography KW - Computed radiography KW - Image quality PY - 2010 UR - http://www.ndt.net/article/ecndt2010/reports/1_04_07.pdf IS - Paper 4.02.18 SP - 1 EP - 10 AN - OPUS4-22536 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Image Quality Assessment of CR Systems T2 - 10th European Conference on Non-Destructive Testing CY - Moscow, Russia DA - 2010-06-07 PY - 2010 AN - OPUS4-22506 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Durchstrahlungsprüfung aluminothermischer Schweißungen von verlegten Schienen mit Hilfe von Speicherfoliensystemen T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 CY - Erfurt, Germany DA - 2010-05-10 PY - 2010 AN - OPUS4-22511 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Standardization and Certification in the Area of CBRN T2 - "EU Security Research - Achievements & Lessons Learned", organised by the Centre for Strategy & Evaluation Services (CSES) CY - Brussels, Belgium DA - 2010-11-30 PY - 2010 AN - OPUS4-22663 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Agenda 2020 for a European Certification System for CBRNE Sensor Systems and Devices - the Concept for a Road Map T2 - 1st international Symposium on Development of CBRN-Defence Capabilities, the information plaform for experts and Decision Makers in the field of CBRN. CY - Berlin, Germany DA - 2010-11-30 PY - 2010 AN - OPUS4-22665 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Roadmap for a European Certification System for CBRNE Sensor Systems and Devices T2 - 2nd CREATIF Workshop European Certification System for CBRNE Sensor Systems & Devices; AM CY - Berlin, Germany DA - 2010-10-05 PY - 2010 AN - OPUS4-23335 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beckmann, Jörg A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Ewert, Uwe T1 - Untersuchungen zur Optimierung der Bildqualität in der Computer-Radiografie für die Schweißnahtprüfung N2 - In der Filmradiografie kann durch den Einsatz von Metallfolien und Metallfolienkombinationen der Bildkontrast verbessert werden. Die Mechanismen zur Erzeugung der latenten Röntgenbilder und deren Sichtbarmachung für das menschliche Auge sind in Speicherfolien nicht mit denen in einem Röntgenfilm identisch. Demzufolge lassen sich die in den Normen zur Filmradiografie veröffentlichten Empfehlungen zum Einsatz von Metallfolien und zur Auswahl der Röhrenspannung nicht unmittelbar auf die Computer-Radiografie zur Schweißnahtprüfung übertragen. Die Qualität digitaler Röntgenbilder wird von der Bildunschärfe und dem Kontrast-zu-Rausch-Verhältnis (CNR) bestimmt. Während die Norm EN 14784-1 handhabbare Verfahren zur Bestimmung der inneren Unschärfe und des Signal-zu-Rausch-Verhältnisses (SNR) beschreibt, sind die in EN 14784-2 vorgegebenen Vorgehensweisen zur Kontrastverbesserung durch die Vorgaben zur geeigneten Röhrenspannung und Metallfoliendicke für die Schweißnahtprüfung nicht ausreichend dargelegt. Um die Parameter zur Verbesserung der Bildqualität von CR-Systemen für den Fall der radiografischen Durchstrahlungsprüfung von Schweißnähten zu optimieren, wurden systematische Untersuchungen zum Einfluss eines Kupfer-Vorfilters, von Bleifolien-Speicherfolien-Kombinationen und der Röhrenspannung auf den Bildkontrast von Stahlstufenaufnahmen durchgeführt. Auf der Grundlage dieser Ergebnisse wurden Empfehlungen zum Einsatz der Metallfilter und -folienkombinationen sowie zur Auswahl geeigneter Röhrengrenzspannungen für die Speicherfolientechnik zur Optimierung der Durchstrahlungsprüfung von Schweißnähten abgeleitet. KW - Speicherfolien KW - Digitale Radiographie KW - Schweißnahtprüfung KW - Durchstrahlungsprüfung PY - 2008 SN - 0025-5300 VL - 50 IS - 10 SP - 552 EP - 559 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-18345 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Lange, Axel A1 - Harwardt, Michael A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Zerstörungsfreie Charakterisierung der oxidativen Schädigung faserverstärkter 2D-C/C-Keramiken mit Hilfe der Röntgen-Refraktions-Topographie N2 - Kohlenstofffaser verstärkte Kohlenstoffe werden während ihres Ge-brauches an Luft zwischen 600°C und 1000°C korrodiert. Um zu überprüfen, ob die Röntgerefraktionsmethode als zerstörungsfreies Prüfverfahren die bei der Oxidation auftretenden morphologischen Änderungen im Probekörper signifikant nachweisen können, wurden bei 630°C oxidativ geschädigte gasphaseninfiltrierte C/C Kerami-ken untersucht. Anhand eines Kugelmodells werden die aus dem Experiment ableit-baren Größen der spezifischen Oberfläche und Porosität erläutert. Die experimen-tellen Ergebnisse konntne nachweisen, dass infiltrierten C/C Keramiken während einer oxidativen Belastung aufgrund des lokal unterschiedlichen Oxidationsverhal-tens eine ausgeprägte Kern Schale Struktur ausbilden. T2 - DGZfP-Jahrestagung 2007 CY - Fürth, Deutschland DA - 2007-05-14 KW - C/C Keramiken KW - Oxidative Schädigung KW - Röntgen-Refraktion PY - 2007 SN - 978-3-931381-98-1 SP - 1 EP - 10 (Poster 30) PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-18347 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Ewert, Uwe A1 - Beckmann, Jörg A1 - Bellon, Carsten A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Jechow, Mirko A1 - Großer, A. T1 - Fehlergrößenabhängige Kontrastreduktion und zusätzliche Unschärfe durch Streustrahlung reduzierendie Bildqualität radiologischer Abbildungen - Film und digitale Detektoren im Vergleich T2 - DACH-Jahrestagung 2008 - Zerstörungsfreie Materialprüfung, ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung CY - St. Gallen, Schweiz DA - 2008-04-28 KW - Digitale Radiologie KW - Streuverhältnis KW - Strahlenkontrast KW - Unschärfe PY - 2008 SN - 978-3-940283-09-2 IS - DGZfP-BB 113 (Di.1.A.1) SP - 133 EP - 144 AN - OPUS4-18349 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Rachny, S. A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Ewert, Uwe T1 - Improved Procedure for Computed Radiography - A Comparative Study on Welded Tube Sections by Film Radiography and Computed Radiography N2 - Different girth welds of tube sections have been inspected by elliptical projection technique according to the EN 1435. The radiographic images were taken by using both film radiography and computed radiography. The purpose of this study was to compare a C3 (AGFA D4) film system and a Duerr HDCR 35 NDT / HR IP imaging plate system with respect to the exposure time, image quality and the detection of fine weld imperfections. The results indicate to a dominant influence of the lead screens on the image contrast sensitivity if doing the inspection according to the EN 14748 -2 for imaging plate exposures. New screen combinations had been applied to make a computed radiograph of a testing class B quality possible. T2 - 17th World Conference on Non-Destructive Testing CY - Shanghai, China DA - 2008-10-25 KW - Film KW - Digital radiography KW - Computed radiography KW - Image quality PY - 2008 IS - Paper 69 SP - 1 EP - 7 PB - International Committee for Non-Destructive Testing CY - Shanghai AN - OPUS4-18412 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beckmann, Jörg A1 - Großer, Anja A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Ewert, Uwe T1 - Einfluss von Metall - Speicherfolien - Kombinationen auf die Bildqualität in der Computer - Radiographie N2 - Bei der Normgestaltung für Speicherfolien sind die Auswirkungen von Metallfolien und Metallfolienkombinationen auf die Bildqualität von Speicher-folienaufnahmen nicht ausreichend berücksichtigt worden. Es ist bekannt, dass bei Film - Metallfolien - Kombinationen zusätzlich zur Änderung der optischen Dichte und der Filmgranularität auch Änderungen der inneren Unschärfe durch den seitli-chen Energietransport in der Film – Metallfolien - Kombination entstehen, welche überwiegend durch ausgelöste Elektronen und zum Teil durch sekundäre Strahlung hervorgerufen werden. Gleichzeitig dienen die Metallfolien bei Röntgenaufnahmen mit Film als Streustrahlfilter und können zur Verbesserung des Bildkontrastes bei-tragen. Die Mechanismen zur Erzeugung des virtuellen Röntgenbildes und dessen Visualisierung sind in Speicherfolien nicht mit denen in einem Röntgenfilm iden-tisch. Demzufolge können die in den Normen festgelegten Vorschriften zum Einsatz von Metallfolien in der Filmradiographie nicht auf Speicherfolien uneingeschränkt übertragen werden. Anhand der hier erzielten Ergebnisse lassen sich Empfehlungen zum zukünftigen Einsatz der Metallfilter und -folienkombinationen für die Speicher-folientechnik zur Verbesserung der Bildgüte ableiten. T2 - DACH-Jahrestagung 2008 - Zerstörungsfreie Materialprüfung, ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung CY - St. Gallen, Schweiz DA - 2008-04-28 PY - 2008 SN - 978-3-940283-09-2 IS - DGZfP-BB 113 (Poster 29) SP - 1 EP - 8 AN - OPUS4-18413 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beckmann, Jörg A1 - Großer, Anja A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Ewert, Uwe T1 - Einfluss von Metall-Speicherfolien-Kombinationen auf die Bildqualität in der Computer-Radiographie T2 - DACH-Jahrestagung 2008 - Zerstörungsfreie Materialprüfung, ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung CY - St. Gallen, Schweiz DA - 2008-04-28 KW - Speicherfolien KW - Durchstrahlungsprüfung KW - Computer Radiographie KW - Metallfolien PY - 2008 SN - 978-3-940283-09-2 IS - DGZfP-BB 113 (Poster 29) SP - 847 EP - 856 AN - OPUS4-18351 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - von Chrzanowski, Lars A1 - Beckmann, Jörg A1 - Ewert, Uwe T1 - Spektroskopische Untersuchung von flüssigen Gefahrstoffen mit Terahertz-Strahlung T2 - DGZfP-Jahrestagung 2009 CY - Münster, Deutschland DA - 2009-05-18 PY - 2009 UR - http://www.ndt.net/article/dgzfp2009/Inhalt/p28.pdf SN - 978-3-940283-16-0 IS - DGZfP-BB 115 (Poster 28) SP - 1 EP - 8 AN - OPUS4-20506 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - von Chrzanowski, Lars A1 - Beckmann, Jörg A1 - Marchetti, Barbara A1 - Ewert, Uwe A1 - Schade, U. T1 - Terahertz-Strahlung - Möglichkeiten für die zerstörungsfreie Prüfung von Flüssigkeiten N2 - Elektromagnetische Wellen von 0.3 bis 6 Terahertz (THz) werden als THz-Strahlung bezeichnet. Im elektromagnetischen Spektrum sind sie zwischen Mikro-/Millimeterwellen und Infrarot angesiedelt. Der nicht ionisierende Charakter und die Möglichkeit, Verpackungsmaterialen sowie Kleidung zu durchstrahlen, machen die THz-Strahlung für bildgebende- und spektroskopische Anwendungen sehr interessant. Besondere Aufmerksamkeit gilt der Zeitaufgelösten Terahertz- Spektroskopie (THz-TDS) im Sicherheitssektor. Feste Spreng- und Gefahrenstoffe sind vielfach bezüglich ihrer Transmissions- und Reflexionseigenschaften untersucht worden, um sie anhand ihrer ‚Fingerprints’ zu identifizieren. Moderne mit Glasfaser ausgerüstete THz-TD-Spektrometer zeichnen sich im Vergleich zu konventionellen Freistrahlgeräten durch höhere Flexibilität aus. In Zukunft werden diese auch als ‚Handheld’-Geräte entwickelt, um eine Nutzung außerhalb des Laboratoriums zu ermöglichen. Das glasfasergekoppelte Picometrix T-ray 2000 System der BAM wurde in ein Zwei-Kreis Goniometer integriert. Probe und Detektor können unabhängig voneinander bewegt werden. Eine schnelle Überführung der Transmissionsin die Reflexionsanordnung und umgekehrt, ist möglich. Seit der Verwendung flüssiger Brand- und Gefahrstoffe bei terroristischen Anschlägen ist das Interesse an der Identifizierung im Sicherheitsbereich zunehmend gewachsen. Um zu überprüfen, ob die THz-TDS für die spektrale Charakterisierung von Flüssigkeiten eingesetzt werden kann, wurden Transmissions- und Reflexionseigenschaften repräsentativer Flüssigkeiten und Flüssigkeitsgemische bestimmt. Polare Flüssigkeiten sind starke Absorber im THz-Bereich. Ab einer Flüssigkeitsschichtdicke von ca. 1mm ist mit dem THz-Spektrometer T-ray 2000 kein Signal stark polarer Flüssigkeiten mehr detektierbar. Der Einsatz einer Messzelle mit variabler Schichtdicke (50 - 1000 .m) war für die Bestimmung der Transmissionseigenschaften polarer Flüssigkeiten notwendig. Anhand von Transmissions- und Reflexionsuntersuchungen an polaren sowie unpolaren Flüssigkeiten werden die Möglichkeiten der THz-TDS zur berührungslosen Identifizierung von Flüssigkeiten aufgezeigt. T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 CY - Erfurt, Deutschland DA - 2010-05-10 PY - 2010 UR - http://www.ndt.net/article/dgzfp2010/Inhalt/di3b2.pdf SN - 978-3-940283-26-9 IS - DGZfP-BB 122 (Di.3.B.2) SP - 1 EP - 10 CY - Berlin AN - OPUS4-21932 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Marchetti, Barbara A1 - von Chrzanowski, Lars A1 - Beckmann, Jörg A1 - Röseler, A. A1 - Schade, U. T1 - THz Spectroscopy to derive the optical constants of liquids N2 - THz stand-off detection of explosives and other hazardous liquids in public areas becomes more and more relevant and with it the knowledge of their optical properties. We present here both the results of THz transmission spectroscopy measurements and spectroscopic ellipsometry measurements on liquids and their mixtures. T2 - IRMMW-THz 2010 - 35th International conference on infrared, millimeter, and terahertz waves CY - Rome, Italy DA - 2010-09-05 KW - THz Spectroscopy KW - Optical constants KW - Liquids PY - 2010 SN - 978-1-4244-6656-6 DO - https://doi.org/10.1109/ICIMW.2010.5612487 SP - 1 EP - 2 AN - OPUS4-22045 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Radiographic Imaging for Assessment of UXO, Suspected of Chemical Warfare Material T2 - 8th ECNDT CY - Barcelona, Spain DA - 2002-06-17 PY - 2002 AN - OPUS4-6110 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beckmann, Jörg A1 - Osterloh, Kurt A1 - Malitte, Hans-Joachim A1 - Ewert, Uwe T1 - Mobile Durchstrahlungsprüfung - Untersuchungen kampfstoffverdächtiger Objekte mit der Speicherfolientechnik PY - 2002 SN - 0025-5300 VL - 44 IS - 10 SP - 414 EP - 419 PB - Carl Hanser Verlag CY - München AN - OPUS4-2079 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Döring, Joachim A1 - Bartusch, Jürgen A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Ewert, Uwe A1 - Erhard, Anton T1 - Time Domain Spectroscopy Techniques for Non Destructive Contact less Flaw Detection and Imaging in Advanced Materials T2 - 9th European Conference on NDT CY - Berlin, Germany DA - 2006-09-25 KW - Time domain spectroscopy KW - Air coupled ultrasound KW - Pulsed THz radiation system KW - Pulse compression KW - THz imaging PY - 2006 SN - 3-931381-86-2 SP - 1(?) EP - 8(?) PB - European Federation for Non-Destructive Testing CY - Berlin AN - OPUS4-13874 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Richter, Heike A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Ewert, Uwe A1 - Weinzierl, J. A1 - Schmidt, L.-P. A1 - Rutz, F. A1 - Koch, M. A1 - Richter, H. A1 - Hübers, H.-W. T1 - Imaging Capability of Terahertz and Millimeter-Wave Instrumentations for NDT of Polymer Materials T2 - 9th European Conference on NDT CY - Berlin, Germany DA - 2006-09-25 KW - Time domain spectroscopy KW - Air coupled ultrasound KW - Pulsed THz radiation system KW - Pulse compression KW - THz imaging PY - 2006 SN - 3-931381-86-2 SP - 1(?) EP - 9(?) PB - European Federation for Non-Destructive Testing CY - Berlin AN - OPUS4-13875 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Imaging capability of terahertz and milimeter-wave instrumentations for NDT of polymer materials T2 - 9th European Conference on Non-Destructive Testing 2006 CY - Berlin, Germany DA - 2006-09-23 PY - 2006 AN - OPUS4-13892 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Time domain spectroscopy techniques for non destructive contact less flaw detection and imaging in advanced materials T2 - ECNDT Berlin 2006, 9th European Conference on NDT CY - Berlin, Germany DA - 2006-09-25 PY - 2006 AN - OPUS4-14159 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Röntgenographische Charakterisierung des oxidativen Schädigungsverhaltens infiltrierter faserverstärker 2D-C/C-Keramiken T2 - Frühjahrstagung des Arbeitskreises Kohlenstoff (AKK) Der Deutschen Keramischen Gesellschaft e.V. (DKG) Uni Kassel CY - Kassel, Germany DA - 2006-05-05 PY - 2006 AN - OPUS4-14537 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Zerstörungsfreie Charakterisierung der oxidativen Schädigung faserverstärkter 2D-C/C-Keramiken mit Hilfe der Refraktions - Topographie T2 - DGZfP-Jahrestagung 2007 CY - Fürth, Germany DA - 2007-05-14 PY - 2007 AN - OPUS4-15483 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Ewert, Uwe A1 - Beckmann, Jörg A1 - von Chrzanowski, Lars A1 - Brekow, Gerhard A1 - Brackrock, Daniel T1 - Time of flight diffraction (ToFD) with THz radiation - an alternative to the ultra sound - ToFD technique for non-metallic materials N2 - A time domain spectrometer in the range of 0.5–2 THz was used for time of flight (ToF) measurements of THz pulses for imperfection detection in non metallic materials. The measurements were performed in comparison to the established ultra sound pulse echo (PE) and time of flight diffraction (ToFD) technique. No coupling agent and no contact to the surface is required for THz ToFD measurements. Plastic test specimen with notches, voids and drilled side holes were used to study reflected and diffracted response signals. No major differences were observed between the UT and THz ToFD records for the first surface of the notches, voids and holes. Additionally to the UT records also signals were obtained from its back side and a second raw of holes. The THz measurement is fast and has the potential to substitute UT applications in some industrial areas. Within the German project 'Handheld' the potential for miniaturization of the time domain equipment is explored for efficient application. KW - Spectrometers KW - Ultrasonic diffraction KW - Acoustic signal processing KW - Voids (solid) KW - Terahertz time domain spectroscopy KW - Ultrasonic KW - Time of flight diffraction KW - Non destructive testing KW - Polymers PY - 2011 DO - https://doi.org/10.1063/1.3591898 SN - 0094-243X VL - 1335 SP - 541 EP - 548 PB - American Institute of Physics CY - Melville, NY, USA AN - OPUS4-23895 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Strategien zur EU-weiten Zertifizierung von Detektions-Systemen, mit denen chemische, biologische, radioaktive und nukleare Gefahrstoffe sowie Explosivstoffe nachgewiesen werden können T2 - DGZfP-Jahrestagung 2011 CY - Bremen, Germany DA - 2011-05-30 PY - 2011 AN - OPUS4-24670 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Spectral and Spatial Nondestructive Examination of Dielectric Materials with THz Time Domain Spectroscopy T2 - REVIEW OF PROGRESS IN QUANTITATIVE NDE 2011 CY - Burlington, VT, USA DA - 2011-07-17 PY - 2011 AN - OPUS4-24671 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Anwendungen von THz-Technologien für die Sicherheit und Zerstörungsfreien Werkstoffprüfung T2 - Werkstattgespräch Terahertz-Technologien für den Ganzkörperscanner - Neue Ansätze für die berührungsfreie Passagierkontrolle, MATNET/ SustAir & BAM, Ludwig Erhard Saal, BAM CY - Berlin, Germany DA - 2011-10-27 PY - 2011 AN - OPUS4-24672 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Röntgen an Schienen T2 - 7. Fachtagung ZfP im Eisenbahnwesen CY - Wittenberge, Germany DA - 2012-03-20 PY - 2012 AN - OPUS4-25785 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Spectral and Spatial Nondestructive Examination of Dielectric Materials with THz Time Domain Spectroscopy T2 - International Forum on THz Spectroscopy and Imaging 5'th Workshop on THz Technology CY - Kaiserslautern, Germany DA - 2012-03-06 PY - 2012 AN - OPUS4-25786 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Fratzscher, Daniel A1 - Beckmann, Jörg A1 - von Chrzanowski, Lars A1 - Ewert, Uwe T1 - Computed THz - tomography N2 - Available THz Time Domain Spectroscopy (THz-TDS) systems can be applied in a pulse echo mode for tomographic application. In contrast to common transmission methods, a TDS reflection geometry was used to inspect cylindrical polyethylene samples with internal voids of known shape. The geometry of the voids was simulated and its shape was reconstructed. B-scan pulse echo images were acquired in the time domain, similar to UT pulse echo techniques on basis of the numeric model. The results were used to verify the simulation model and the reconstruction algorithm, based on a modified Synthetic Aperture Focusing Technique (SAFT). The model was used to conclude recommendations on an optimized measurement setup in the reflection mode. Based on that, the quality of the reconstructed tomograms was improved. T2 - 18th WCNDT - World conference on nondestructive testing CY - Durban, South Africa DA - 2012-04-16 KW - THz KW - Computed tomography KW - Non metallics KW - SAFT KW - Delaminations PY - 2012 SN - 978-0-620-52872-6 SP - 1 EP - 10 (Paper 291) AN - OPUS4-25874 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - von Chrzanowski, Lars A1 - Fratzscher, Daniel A1 - Ewert, Uwe ED - Thompson, D. O. ED - Chimenti, D. E. T1 - Spectral and spatial nondestructive examination of dielectric materials with THz time domain spectroscopy N2 - A time domain spectrometer T-ray 2000® operating in the range of 0.2-2 THz was used for Time of Flight measurements. A series of ethanol water mixtures from 10% to 90% were produced subsequently filled in polystyrene cells and analyzed in the T-ray 2000 TDS system in the reflection mode. The reflectivity of the material liquid interface is strongly influenced by the ethanol concentration in water. The reciprocal reflection coefficient of the material liquid interface was found to be a useful discriminating feature for further Probably of Detection calculations which can be used for the performance evaluation of potential THz bottle scanners. THz pulse echo (PE) measurements were performed in comparison to the established ultra sound PE technique for flaw detection of plastics. Synthetic aperture reconstructions were applied for simulated data to reconstruct the flaw shape. The results were compared with B-scan images of a high density polyethylene (HDPE) test cylinder. Existing restrictions on the quality of the back projected images and limits of the existing model are discussed in detail. T2 - 38th Annual Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation CY - Burlington, VT, USA DA - 17.07.2011 KW - Terahertz time domain spectroscopy KW - Time of flight diffraction KW - Non destructive testing KW - Polymers KW - Probability of detection KW - Thz Tomography PY - 2012 SN - 978-0-7354-1013-8 DO - https://doi.org/10.1063/1.4716279 SN - 0743-0760 SN - 0094-243X N1 - Serientitel: AIP conference proceedings – Series title: AIP conference proceedings VL - 31A IS - 1430 SP - 573 EP - 580 PB - American Institute of Physics CY - Melville, NY AN - OPUS4-26103 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - von Chrzanowski, Lars A1 - Beckmann, Jörg A1 - Marchetti, Barbara A1 - Ewert, Uwe A1 - Schade, U. T1 - Terahertz time domain spectroscopy for non-destructive testing of hazardous liquids N2 - Flüssige Gefahr- und Brennstoffe sowie explosive Flüssigkeiten werden mittels zeitaufgelöster Terahertz-Spektroskopie (THZ-TDS) in Analogie zu den in der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung verwendeten Strategien untersucht. Verschiedene polare Flüssigkeiten (Alkohole, Aceton, Wasserstoffperoxid, Nitromethan), unpolare Flugzeug- und Kraftfahrzeugkraftstoffe sowie organische Lösungsmittel werden in der praxisrelevanten Reflexionsgeometrie berührungs- und zerstörungsfrei im Zeitbereich charakterisiert. Die Absorptions- und Brechungsindizes einer repräsentativen Auswahl von Flüssigkeiten wurden im Frequenzbereich zwischen 0.1 THz und 1.1 THz unter Verwendung der Transmissionsanordnung spektral ermittelt. Die Messkonfiguration wird für stark und schwach absorbierende Flüssigkeiten jeweils angepasst. KW - Zeitaufgelöste Terahertz-Spektroskopie (THZ-TDS) KW - Flüssige Gefahr und Brennstoffe KW - Time domain spectroscopy PY - 2012 SN - 0025-5300 VL - 54 IS - 6 SP - 444 EP - 450 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-26057 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Zeitaufgelöste THz-Spektroskopie für technische und zivile Sicherheitsanwendungen T2 - DACH Jahrestagung der DGZfP CY - Graz, Austria DA - 2012-09-17 PY - 2012 AN - OPUS4-26635 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Ullner, Christian A1 - Beckmann, Jörg A1 - Morrell, R. T1 - Instrumented Indentation Test for Advanced Technical Ceramics N2 - The standard for advanced technical ceramics ENV 843-4 of 1995 (Vickers, Knoop and Rockwell superficial hardness tests) was validated within the framework of the CERANORM EC-project. The paper reports on depth sensing hardness measurements done for comparison with the other hardness tests. The instrumented indentation test is a modern technique (recent issue ISO/DIS 14577) that has the potential to take into account the specific response of materials in a much better way. An evaluation has been made to establish whether the instrumented hardness technique is a appropriate method for advanced technical ceramics and offers potential for additional applications. KW - Al2O3 KW - Hardness KW - Indentation KW - SiC KW - Si3N4 KW - Standards KW - Testing PY - 2002 DO - https://doi.org/10.1016/S0955-2219(01)00433-2 SN - 0955-2219 SN - 1873-619X VL - 22 SP - 1183 EP - 1189 PB - Elsevier CY - Oxford AN - OPUS4-1064 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Osterloh, Kurt A1 - Malitte, Hans-Joachim A1 - Ewert, Uwe T1 - Radiographic Imaging for Assessment of UXO, Suspected of Chemical Warfare Material N2 - Radiography is a helpful method to identify the inherent structure of unexploded ordnances (UXO’s). Portable Computed Radiography (CR) systems on the basis of phosphor imaging plates , have attracted attention for NDT-applications during the last few years. A portable IP system “ACR 2000” has been tested for X-ray inspection of UXO's in the field. Digitised radiographs are presented to explain the needs and demands for a reliable characterisation of UXO's. Computed radiographs of UXO’s are compared with film radiographs exposed in the same way, to evaluate the reliability and to identify advantages and disadvantages of the CR system for UXO inspection. Film based and CR systems provide sufficient information for identification of chemical warfare agents in UXO's, which is an essential problem for explosive ordnance disposal. The advantages and the potential of the portable CR system is discussed on the basis of experiences gathered during different field trails. T2 - 8th ECNDT CY - Barcelona, Spain DA - 2002-06-17 PY - 2002 UR - http://www.ndt.net/article/ecndt02/146/146.htm PB - European Federation for Non-Destructive Testing CY - Barcelona AN - OPUS4-1996 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Ewert, Uwe A1 - Beckmann, Jörg A1 - Bellon, Carsten A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Jechow, Mirko T1 - Fehlergrößenabhängige Kontrastreduktion und zusätzliche Unschärfe durch Streustrahlung - Film und digitale Detektoren im Vergleich N2 - Die radiografische Bildqualität in ihrer klassischen Definition hängt von Kontrast, Rauschen und Unschärfe ab. Diese Parameter werden normalerweise mit Bildgüteprüfkörpern (BPK) bestimmt. Die Streustrahlung reduziert im Allgemeinen immer die Bildqualität in der Radiografie. Verschiedene Einflussgrößen werden unter Berücksichtigung von Techniken, wie Film-Radiografie, Computer-Radiografie mit Speicherfolien und digitale Radiographie mit Matrixdetektoren, analysiert. In Lehrbüchern und Standards werden das Streuverhältnis k und verschiedene Kontraste definiert. Für digitale Medien werden zusätzliche Parameter wie das Signal-Rausch-Verhältnis SNR und das Kontrast-Rausch-Verhältnis CNR eingeführt. In diesem Zusammenhang wird der Einfluss der Streustrahlung aus dem Messobjekt und dem Detektor bestehend aus Kassette bzw. Gehäuse und sensitiver Detektorschicht auf die Bildqualität ermittelt. Die numerische Modellierung wird eingesetzt, um die Streustrahlung und die Primärstrahlung aus dem Objekt separat zu bestimmen. Die Streustrahlung aus dem Objekt und Detektor erzeugen eine Abbildung des Objektes, die dem Primärstrahlungsbild überlagert ist, wobei das Streubild eine höhere Unschärfe aufweist. Dieser Effekt hängt von der Fehlergröße, dem Abstand zwischen Detektor und Objekt und der Zwischenfilterung ab. KW - Digitale Radiologie KW - Kontrast-Rausch-Verhältnis KW - Streuverhältnis KW - Röntgen Simulation PY - 2008 SN - 0025-5300 VL - 50 IS - 10 SP - 560 EP - 568 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-18346 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Einfluss von Metall - Speicherfolien - Kombinationen auf die Bildqualität in der Computer-Radiographie T2 - DGZfP-DACH-Jahrestagung 2008 CY - St. Gallen, Switzerland DA - 2008-04-28 PY - 2008 AN - OPUS4-18387 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Rehmer, Birgit A1 - Beckmann, Jörg A1 - Finn, Monika A1 - Glaubitz, Steffen ED - Singh, M. T1 - Determination of elastic moduli of C/C-Composite at elevated temperature up to 1900° C T2 - 5th International Conference on High Temperature Ceramic Matrix Composites (HTCMC-5) CY - Seattle, WA, USA DA - 2004-09-12 KW - E-Modul KW - Keramische Verbundwerkstoffe KW - Hochtemperaturprüfung PY - 2004 SN - 1-574-98219-2 SP - 575 EP - 580 PB - American Ceramic Society CY - Westerville AN - OPUS4-5606 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beckmann, Jörg A1 - Schultze, Dietrich A1 - Finn, Monika A1 - Harwardt, Michael A1 - Rehmer, Birgit ED - Degischer, H.-P. T1 - Einfluß der oxidativen Schädigung auf das Elastizitätsverhalten infiltrierter faserverstärkter 2D-C\C- Keramiken T2 - 14. Symposium Verbundwerkstoffe und Werkstoffverbunde CY - Wien, Österreich DA - 2003-07-02 PY - 2003 SN - 3-527-30762-1 SP - 361 EP - 366 PB - Wiley-VCH CY - Weinheim AN - OPUS4-2593 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Untersuchungen zum oxidativen Schädigungsverhalten infiltrierter faserverstärkter 2D-C/C-Keramiken mit Hilfe der Röntgen-Refraktions-Topographie und Resonanzmethode T2 - Werkstoffwoche 2004: Kongress für innovative Werkstoffe, Verfahren und Anwendungen CY - Munich, Germany DA - 2004-09-21 PY - 2004 AN - OPUS4-4832 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beckmann, Jörg A1 - Rehmer, Birgit A1 - Finn, Monika A1 - Glaubitz, Steffen T1 - Bestimmung der elastischen Eigenschaften von Festkörpern - Teil 1 - Vergleichende Bewertung verschiedener Versuchsmethoden N2 - Für die Berücksichtigung mechanischer Belastungen unterhalb der Streckgrenze ist im Rahmen einer zuverlässigen Bauteilauslegung die Kenntnis der elastischen Konstanten von besonderer Bedeutung. Für die experimentelle Bestimmung des Elastizitätsmoduls wurde eine Vielzahl von Verfahren entwickelt, die zum Teil werkstoffspezifisch Eingang in die Normung gefunden haben. Prinzipiell können diese Verfahren in zwei Gruppen unterteilt werden; die statischen und die dynamischen Prüfverfahren. Die statischen Verfahren beruhen auf der direkten Messung des Spannungs-Dehnungs-Zusammenhangs während einer mechanischen Belastung im elastischen Verformungsbereich (Zug, Biegung, Druck). Die dynamischen Verfahren basieren auf der Schwingungsanregung eines Prüfkörpers und der Analyse der resultierenden Schwingungen (Resonanzmethode oder Impulsanregungsmethode) oder auf der Messung der Ultraschallausbreitungsgeschwindigkeit. Stellvertretend für die dynamischen Verfahren wird im ersten Teil dieses Beitrages die Resonanzmethode vorgestellt. Der zweite Teil dieses Beitrages fasst die werkstoffabhängigen Ergebnisse der E-Modulbestimmung mit statischen Verfahren im Zug- und Biegeversuch zusammen. KW - Elastizitätsmodul KW - Resonanzmethode PY - 2006 DO - https://doi.org/10.3139/120.100399 SN - 0025-5300 VL - 48 IS - 6 SP - 274 EP - 281 PB - Carl Hanser Verlag CY - München AN - OPUS4-12571 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Onel, Yener A1 - Finn, Monika A1 - Rehmer, Birgit T1 - Charakterisierung des oxidativen Schädigungsverhaltens infiltrierter faserverstärkter 2D-C/C-Keramiken mit Hilfe der Röntgencomputertomographie T2 - 15. Symposium Verbundwerkstoffe und Werkstoffverbunde CY - Kassel, Deutschland DA - 2005-04-06 KW - Schädigungsuntersuchung KW - Röntgencomputertomographie KW - Oxidation KW - Keramische Verbundwerkstoffe KW - Kohlenwerkstoffe PY - 2005 SP - 421 EP - 426 PB - DGM CY - Kassel AN - OPUS4-7622 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Charakterisierung des oxidativen Schädigungsverhaltens infiltrierter faserverstärkter 2D-C/C-Keramiken mit Hilfe der Röntgencomputertomographie T2 - 15. Symposium: Verbundwerkstoffe und Werkstoffverbunde der DGM vom 6. - 8. April in Kassel CY - Kassel, Germany DA - 2005-04-06 PY - 2005 AN - OPUS4-7063 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Radiologische Verfahren zur Prüfung und Charakterisierung von Hochleistungswerkstoffen T2 - Herbsttagung des Arbeitskreises Kohlenstoffe der Deutschen Keramischen Gesellschaft CY - Bad Hoffen, Germany DA - 2004-10-14 PY - 2004 AN - OPUS4-5516 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Bildgebende zeitaufgelöste THz-Spektroskopie für die zerstörungsfreie Werkstoffprüfung von Polymerwerkstoffen T2 - Ordentliche Mitgliederversammlung des Laserverbundes Berlin-Brandenburg e.V. CY - Berlin, Germany DA - 2007-01-18 PY - 2007 AN - OPUS4-15475 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Review on Thz - Techniques for Non Destructive Contactless Flaw Detection and Imaging of Non-Metallic Materials T2 - 3rd Workshop on Terhertz Technology CY - Kaiserslautern, Germany DA - 2008-03-04 PY - 2008 AN - OPUS4-18480 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Application of Time Domain THz Spectroscopy for Non Destructive Contactless Inspection of Non-Metallic Materials and Substances T2 - Far East Forum On Nondestructive Evaluation/Testing: New Technology & Application CY - Kunshan, China DA - 2010-05-26 PY - 2010 AN - OPUS4-21517 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Kupsch, Andreas A1 - Beckmann, Jörg A1 - Ewert, Uwe A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. ED - Beyerer, J. T1 - Threat detection and characterisation by spectroscopic THz-imaging T2 - 2nd Security Research Conference "Future Security" CY - Karlsruhe, Germany DA - 2007-09-12 KW - Terahertz-Radiography KW - Explosives PY - 2007 SN - 978-3-86644-147-7 SP - 155 EP - 158 PB - Universitätsverl. CY - Karlsruhe AN - OPUS4-16101 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Kupsch, Andreas A1 - Beckmann, Jörg A1 - Ewert, Uwe A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel T1 - Terahertz-Radiographie riskanter Substanzen ohne Strahlengefährdung T2 - DGZfP-Jahrestagung 2007 CY - Fürth, Deutschland DA - 2007-05-14 KW - Terahertz-Radiographie KW - Explosivstoffe KW - Nichtmetallische Werkstoffe PY - 2007 SN - 978-3-931381-98-1 SP - 1 EP - 10 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-16100 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Kupsch, Andreas A1 - Beckmann, Jörg A1 - Ewert, Uwe A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel T1 - Terahertz-Wellen: Radiographie ohne Strahlengefährdung N2 - Mit dem Einsatz von Terahertz-Wellen eröffnen sich gegenüber Röntgenstrahlung neuartige Möglichkeiten der Radiologie. Von der dielektrischen Materialcharakterisierung nicht metallischer Werkstoffe bis zur Detektion des Innenlebens von unkonventionellen Spreng- und Brandvorrichtungen (USBV) wird ein großes Anwendungsspektrum für die bildgebende zerstörungsfreie Prüfung abgedeckt. Die physiologische Unbedenklichkeit der Strahlung favorisiert sie auch für Personenkontrollen an Flughäfen. Das Prinzip eines modernen zeitauflösenden Terahertz-Spektrometers mit einer Ortsauflösung bis 0,3mm und einem Frequenzbereich von 0,1 bis 2,2THz wird erläutert sowie die Wechselwirkung mit Materie. Die Besonderheiten von THz-Topogrammen werden am Beispiel einer Briefbombenattrappe mit Röntgen-Radiogrammen verglichen. KW - Terahertz-Radiographie KW - Explosivstoffe KW - Nichtmetallische Werkstoffe PY - 2008 UR - http://materialstesting.de/directlink.asp?MP100891 SN - 0025-5300 VL - 50 IS - 6 SP - 341 EP - 348 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-17598 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Ewert, Uwe A1 - Osterloh, Kurt A1 - Kupsch, Andreas A1 - Lange, Axel A1 - Beckmann, Jörg A1 - Hentschel, Manfred P. ED - Beyerer, J. T1 - Advanced radiological technologies for imaging and characterisation of threats T2 - 2nd Security Research Conference "Future Security" CY - Karlsruhe, Germany DA - 2007-09-12 KW - Threat Detection KW - Dual Energy KW - Multiple View Inspection KW - Terahertz Imaging KW - Explosives PY - 2007 SN - 978-3-86644-147-7 SP - 116 EP - 119 PB - Universitätsverl. CY - Karlsruhe AN - OPUS4-18348 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Fourier-spektroskopische Untersuchungen im mittleren - und fernen Infrarotbereich an Co-60 bestrahlten und thermisch belasteten ultrahochmolekularen Polyethylen-Proben T2 - DGZFP Jahrestagung 2014 CY - Potsdam, Germany DA - 2014-05-26 PY - 2014 AN - OPUS4-31304 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz- and MIR FTIR Spectroscopy on Polythylene, irradiated with gamma Co60 Radiation T2 - 6th International Workshop on THz Technology and Applications CY - Kaiserslautern, Germany DA - 2014-03-11 PY - 2014 AN - OPUS4-30400 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Eddah, Mustapha A1 - Markötter, Henning A1 - Mieller, Björn A1 - Widjaja, Martinus Putra A1 - Beckmann, Jörg A1 - Bruno, Giovanni T1 - Multi-energy high dynamic range synchrotron X-ray computed tomography N2 - Synchrotron X-ray computed tomography (SXCT) is regularly used in materials science to correlate structural properties with macroscopic properties and to optimize manufacturing processes. The X-ray beam energy must be adapted to the sample properties, such as size and density. If both strongly and weakly absorbing materials are present, the contrast to the weakly absorbing materials is lost, resulting in image artifacts and a poor signal-tonoise ratio (SNR). One particular example is a low-temperature co-fired ceramics (LTCC), in which metal connections are embedded in a ceramic matrix and form 3-dimensional conducting structures. This article describes a method of combining SXCT scans acquired at different beam energies, significantly reducing metal artifacts, and improving image quality. We show how to solve the difficult task of merging the scans at low and high beam energy. Our proposed merging approach achieves up to 35 % improvement in SNR within ceramic regions adjacent to metallic conductors. In this way, previously inaccessible regions within the ceramic structure close to the metallic conductors are made accessible. The paper further discusses methodological requirements, limitations, and potential extensions of the presented multi-energy SXCT merging technique. KW - Synchrotron computed tomography KW - Reconstruction algorithm KW - High dynamic range KW - Data merging KW - Low-temperature cofired ceramics PY - 2025 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-652339 DO - https://doi.org/10.1016/j.tmater.2025.100079 SN - 2949-673X VL - 9 SP - 1 EP - 10 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-65233 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Fedelich, Bernard A1 - Beckmann, Jörg A1 - Finn, Monika A1 - Zelewski, Mirjana A1 - Olschewski, Jürgen T1 - Determination of temperature dependent elastic constants of anisotropic materials by the resonance method T2 - Materials Week 2002 ; European Congress on Advanced Materials, their Processes and Applications ; 6th International Conference on Joining Ceramics, Glass and Metal CY - Munich, Germany DA - 2002-09-30 PY - 2002 SN - 3-88355-314-X PB - Werkstoff-Informationsges. AN - OPUS4-1790 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Eddah, Mustapha A1 - Markötter, Henning A1 - Mieller, Björn A1 - Widjaja, Martinus Putra A1 - Beckmann, Jörg A1 - Bruno, Giovanni T1 - Multi-Energy High Dynamic Range (HDR) Synchrotron X-ray Computed Tomography applied to LTCC samples N2 - Synchrotron X-ray computed tomography (SXCT) is regularly used in materials science to correlate structural properties with macroscopic properties and to optimize manufacturing processes. The X-ray beam energy must be adapted to the sample properties, such as size and density. If both strongly and weakly absorbing materials are present, the contrast to the weakly absorbing materials is lost, resulting in image artifacts and a poor signal-to-noise ratio (SNR). One example is a low-temperature co-fired ceramics (LTCC), in which metal connections are embedded in a ceramic matrix and form 3-dimensional conducting structures. This article describes a method of combining SXCT scans acquired at different beam energies, significantly reducing metal artifacts, and improving image quality. We show how to solve the difficult task of merging the scans at low and high beam energy. Our proposed merging approach achieves up to 35% improvement in SNR within ceramic regions adjacent to metallic conductors. In this way, previously inaccessible regions within the ceramic structure close to the metallic conductors are made accessible. The paper further discusses methodological requirements, limitations, and potential extensions of the presented multienergy SXCT merging technique. T2 - iCT 2026 CY - Linz, Austria DA - 10.02.2026 KW - Synchrotron x-ray CT KW - Multi-energy CT KW - Low-Temperature cofired ceramics PY - 2026 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-655848 SP - 1 EP - 7 CY - e-Journal of Nondestructive Testing AN - OPUS4-65584 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Schade, U. A1 - von der Ehe, Kerstin A1 - Jaunich, Matthias A1 - Wolff, Dietmar A1 - Aziz, E. F. T1 - THz and Mid IR Fourier transform spectroscopy on polyethylene irradiated with Gamma- Co60 radiation N2 - THz and mid IR spectroscopy of high molecular PE (HMW) and ultra high molecular PE (UHMW) reveals modifications of the molecular structure induced by γ-Co60 radiation. UHMW-PE and HMW-PE can be distinguished. The integral absorption in the B1u THz-region can quantitatively describe the amorphization of crystallinity. The formation of trans vinylene unsaturations and the decay of vinyl can be followed by mid IR spectroscopy T2 - IRMMW-THz 2014 - 39th International conference on infrared, millimeter, and terahertz waves CY - Tucson, Arizona, USA DA - 14.09.2014 KW - Thz and Mid IR Fourier transform spectroscopy KW - Polyethylene KW - Gamma-Co-60 radiation KW - Fourier transform spectroscopy KW - Infrared spectroscopy KW - Light absorption KW - Molecular electronic states KW - Polymers KW - MidIR Fourier transform spectroscopy KW - Terahertz spectroscopy KW - THz spectroscopy KW - γ-Co60radiation KW - HMW KW - High molecular PE KW - Ultrahigh molecular PE KW - Molecular structure modifications KW - UHMW-PE KW - HMW-PE KW - Integral absorption KW - B1uTHz-region KW - Crystallinity amorphization KW - Transvinylene unsaturation formation KW - Vinyl decay KW - Absorption KW - Radiation effects KW - Temperature measurement KW - Spectroscopy PY - 2014 UR - http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6956355&isnumber=6955975 SN - 978-1-4799-3877-3 DO - https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2014.6956355 IS - IEEE Catalog No.: CFP14IMM-ART SP - 1 EP - 2 AN - OPUS4-32699 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Synthetische Aperturfokussierung für die Terahertzspektroskopie N2 - Die zeitaufgelöste THz-Spektroskopie (THz-TDS) operiert mit elektromagnetischen Impulsen, die ein Amplitudenspektrum im unteren THz-Bereich aufweisen. Die THz-TDS ist in der Lage, dielektrische Volumina zerstörungs- und kontaktfreie zu durchstrahlen. Um eine 3D-THz Bildung zu ermöglichen, wurde für die THz-TDS ein rechnergestütztes Mess- und Rekonstruktionsverfahren (THz-TD-SAFT) entwickelt, mit dem es gelingt, unter Verwendung der im Zeitbereich registrierten THz-TDS-Daten das Volumeninnere in Form eines dreidimensionalen Tomogramms zu rekonstruieren. Die THz-TD-SAFT basiert auf die für die Ultraschalltechnik entwickelte Synthetische Apertur Fokussierung (SAFT) bzw. des heuristisch begründeten Algorithmus des Synthetischen Apertur Radars (SAR). Anhand von Beispielen wird die Möglichkeiten der THz-TD-SAFT demonstriert und nachgewiesen, dass mit dem Rekonstruktionsansatz die künstlich eingebauten Fehlstellen bezüglich der Position und Größe geometrisch richtig im Tomogramm abgebildet werden können. T2 - 4. Fachseminar, Mikrowellen- und Terahertz-Prüftechnik in der Praxis CY - Fürth, Germany DA - 02.04.2019 KW - Zeitaufgelöste THz-Spektroskopie KW - THz-TD-SAFT KW - THz-Tommographie PY - 2019 AN - OPUS4-47756 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Kömmling, Anja A1 - Chatzigiannakis, E. A1 - Beckmann, Jörg A1 - Wachtendorf, Volker A1 - von der Ehe, Kerstin A1 - Braun, Ulrike A1 - Jaunich, Matthias A1 - Schade, U. A1 - Wolff, Dietmar T1 - Discoloration Effects of High-Dose gamma-Irradiation and Long-Term Thermal Aging of (U) HMW-PE N2 - Two polyethylene types with ultra-high (UHMWPE) and high molecular weight (HMW-PE) used as neutron radiation shielding materials in casks for radioactive waste were irradiated with doses up to 600 kGy using a 60Co gammasource. Subsequently, thermal aging at 125∘C was applied for up to one year. Degradation effects in the materials were characterized using colorimetry, UV-Visspectroscopy, IR spectroscopy, and DSC. Both materials exhibited a yellowing upon irradiation.The discoloration of UHMW-PE disappeared again after thermal aging.Therefore, the yellowing is assumed to originate fromannealable color centers in the formof free radicals that are trapped in the crystalline regions of the polymer and recombine at elevated temperatures. For the antioxidantcontaining HMWPE, yellowing was observed after both irradiation and thermal aging. The color change was correlated mainly to decomposition products of the antioxidant in addition to trapped radicals as in UHMW-PE. Additionally, black spots appeared after thermal aging of HMW-PE. KW - Irradiation KW - UHMWPE KW - Colour center KW - Yellowness index PY - 2017 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-423992 DO - https://doi.org/10.1155/2017/1362491 SN - 1687-9422 VL - 2017 IS - Article ID 1362491 SP - 1 EP - 10 PB - Hindawi AN - OPUS4-42399 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Photolytically and Thermally Initiated Destruction N2 - Casks for storage and transportation of used fuel rods of radioactive material are equipped with polyethylene (PE) for improved neutron flux shielding. The embedded PE structures are additionally exposed to gamma radiation and heat flow due to the specific high activity of the fission products. 60Co γ-radiation and heat load experiments at 125°C has been performed to evaluate PE degradation during the ageing process. FAR-FTIR-experiments were subsequently performed at differently aged PE test samples to characterize the oxidation process and morphological changes in the samples during the ageing at 125°C. T2 - 11'th Joint BER II and BESSY II User Meeting CY - Berlin, Germany DA - 04.12.2019 KW - FTIR KW - High Molecular Polyethylene KW - Ageing PY - 2019 AN - OPUS4-49988 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Photolytically and Thermally Initiated Destruction on the Stability of (Ultra)High Molecular Polyethylene N2 - THz and mid IR spectroscopy of high-molecular PE (HMW) and ultra high-molecular PE (UHMW) reveals modifications of the molecular structure. Characteristic absorption bands are changed if the two materials are exposed by γ-Co60 radiation up to 600 kGy and subsequently stored at an annealing temperature of 398 K until for 729 days. UHMW-PE and HMW-PE behave differently during the ageing process because of their molecular weight and inherent structure distinctions. The spectroscopic data offer characteristic absorption bands, which have been used to describe the complete ageing process in more detail. For instance, the integral absorption in the B1u THz-region can be used to describe quantitatively the reduction of crystallinity. The formation of trans vinylene unsaturation and the decay of vinyl during ageing can be observed in detail in the mid IR range. T2 - 9th International Workshop on Terahertz Technology and Applications CY - Kaiserslautern, Germany DA - 03.03.2020 KW - Degradation KW - MID IR Spectroscopy PY - 2020 AN - OPUS4-50555 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - von der Ehe, Kerstin A1 - Jaunich, Matthias A1 - Schade, U. A1 - Aziz, E. F. A1 - Wolff, Dietmar T1 - Fourier-spektroskopische Untersuchungen im mittleren- und fernen Infrarotbereich an Co-60 bestrahlten und thermisch belasteten ultrahochmolekularen Polyethylen-Proben N2 - Fourier-Spektroskopische Untersuchungen von hochmolekularem Polyethylen (HMW-PE) und ultrahochmolekularem Polyethylen (UHMW-PE) im Mittleren - und Fernen Infrarotbereich können Veränderungen der molekularen Strukturen nachweisen, die durch Co60 γ-Strahlung und Rekristallisationsprozesse initiiert werden. UHMW-PE und HMW-PE sind im gewählten IR-Bereich unterscheidbar. Die integrale Absorption der B1u – Gitterschwingungen im Fernen Infrarotbereich (THz-Bereich) ermöglichen die quantitative Beschreibung des Kristallinitätsgrades und dessen Abbau. Die Bildung ungesättigter Vinylengruppen und der Abbau ungesättigter Methylengruppen können im Mittleren Infrarotbereich nachgewiesen werden. T2 - DGZfP-Jahrestagung 2014 CY - Potsdam, Germany DA - 26.05.2014 KW - Infrared and far-infrared spectroscopy KW - Polyethylene KW - Co-60 irradiation PY - 2014 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-313317 SN - 978-3-940283-61-0 VL - 148 SP - 1 EP - 7 PB - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (DGZfP) CY - Berlin AN - OPUS4-31331 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg ED - Spranger, Holger T1 - Synthetische Aperturfokussierung für die Terahertzspektroskopie N2 - Die zeitaufgelöste THz-Spektroskopie (THz-TDS) operiert mit elektromagnetischen Impulsen, die ein Amplitudenspektrum im unteren THz-Bereich aufweisen. Die THz-TDS ist in der Lage, dielektrische Volumina zerstörungs- und kontaktfreie zu durchstrahlen. Um eine 3D-THz Bildung zu ermöglichen, wurde für die THz-TDS ein rechnergestütztes Mess- und Rekonstruktionsverfahren (THz-TDSAFT) entwickelt, mit dem es gelingt, unter Verwendung der im Zeitbereich registrierten THz-TDS-Daten das Volumeninnere in Form eines dreidimensionalen Tomogramms zu rekonstruieren. Die THz-TD-SAFT basiert auf die für die Ultraschalltechnik entwickelte Synthetische Apertur Fokussierung (SAFT) bzw. des heuristisch begründeten Algorithmus des Synthetischen Apertur Radars (SAR). Anhand von Beispielen wird die Möglichkeiten der THz-TD-SAFT demonstriert und nachgewiesen, dass mit dem Rekonstruktionsansatz die künstlich eingebauten Fehlstellen bezüglich der Position und Größe geometrisch richtig im Tomogramm abgebildet werden können. T2 - 4. Fachseminar des FA MTHz, Mikrowellen- und Terahertz-Prüftechnik in der Praxis CY - Fürth, Germany DA - 02.04.2019 KW - THz-TDS KW - Tomographie, KW - Zerstörungsfreie Prüfung PY - 2019 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-490481 UR - https://www.ndt.net/search/docs.php3?MainSource=262 SP - 1 EP - 8 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-49048 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Eddah, Mustapha A1 - Markötter, Henning A1 - Mieller, Björn A1 - Sintschuk, Michael A1 - Beckmann, Jörg A1 - Bruno, Giovanni T1 - Mitigation of DMM-induced stripe patterns in synchrotron X-ray radiography through dynamic tilting N2 - In synchrotron X-ray radiography, achieving high image resolution and an optimal signal-to-noise ratio (SNR) is crucial for the subsequent accurate image analysis. Traditional methods often struggle to balance these two parameters, especially in situ applications where rapid data acquisition is essential to capture specific dynamic processes. For quantitative image data analysis, using monochromatic X-rays is essential. A double multilayer monochromator (DMM) is successfully used for this aim at the BAMline, BESSY II (Helmholtz Zentrum Berlin, Germany). However, such DMMs are prone to producing an unstable horizontal stripe pattern. Such an unstable pattern renders proper signal normalization difficult and thereby causes a reduction of the SNR. We introduce a novel approach to enhance SNR while preserving resolution: dynamic tilting of the DMM. By adjusting the orientation of the DMM during the acquisition of radiographic projections, we optimize the X-ray imaging quality, thereby enhancing the SNR. The corresponding shift of the projection during this movement is corrected in post-processing. The latter correction allows a good resolution to be preserved. This dynamic tilting technique enables the homogenization of the beam profile and thereby effectively reduces noise while maintaining high resolution. We demonstrate that data captured using this proposed technique can be seamlessly integrated into the existing radiographic data workflow, as it does not need hardware modifications to classical X-ray imaging beamline setups. This facilitates further image analysis and processing using established methods. KW - Double multilayer monochromators KW - Synchrotron X-ray imaging KW - Signal normalization KW - BAMline KW - Dynamic tilting PY - 2024 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-615049 DO - https://doi.org/10.1107/S1600577524008646 SN - 1600-5775 VL - 31 SP - 1551 EP - 1560 PB - International Union of Crystallography (IUCr) AN - OPUS4-61504 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz- and MIR FTIR Spectroscopy on Polyethylene, irradiated with gamma Co60 Radiation T2 - 6th International Workshop on Terahertz Technology and Applications Workshop, VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik CY - Kaiserslautern, Germany DA - 2014-03-11 PY - 2014 AN - OPUS4-31303 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg ED - Jaunich, Matthias ED - Wolf, Dietmar ED - Schade, U. ED - Kerstin, von der Ehe T1 - THz-and mid IR Fourier Transform Spectroscopy on Physical Aged Polyethylene N2 - THz and mid IR spectroscopy of high-molecular PE (HMW) and ultra high-molecular PE (UHMW) reveals modifications of the molecular structure. Characteristic absorption bands are changed if the two materials are exposed by γ-Co60 radiation up to 600 kGy and subsequently stored at an annealing temperature of 398 K until for 729 days. T2 - 43rd International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THZ), 2018 CY - Nagoya, Japan DA - 09.09.2018 KW - THz Spectroscopy PY - 2018 SN - 978-1-5386-3809-5 SN - 2162-2027 SP - 1 EP - 1 PB - IEEE Xplore Digital Library AN - OPUS4-46824 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz- and MIR FTIR Spectroscopy on Polyethylene, irradiated with gamma Co60 Radiation N2 - THz and mid IR spectroscopy of high-molecular PE (HMW) and ultra high-molecular PE (UHMW) are appropriated to characterize theire molecular structure. Characteristic absorption bands are changed if the two materials are exposed by gamma-Co60 radiation up to 600 kGy and subsequently stored at an annealing temperature of 398 K until for 729 days. The spectroscopic data oarfe used to describe the existing ageing process in more detail. T2 - 10TH JOINT BER II AND BESSY II USER MEETING CY - Berlin, Bessy DA - 05.12.2018 KW - Physical Ageing KW - Far Infrared Spectroscopy PY - 2018 AN - OPUS4-46937 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz- and MIR FTIR Spectroscopy on Polyethylene, N2 - THz and mid IR spectroscopy of high-molecular PE (HMW) and ultra high-molecular PE (UHMW) reveals modifications of the molecular structure. Characteristic absorption bands are changed if the two materials are exposed by -Co60 radiation up to 600 kGy and subsequently stored at an annealing temperature of 398 K until for 729 days. UHMW-PE and HMW-PE behave differently during the ageing process because of their molecular weight and inherent structure distinctions. The spectroscopic data offer characteristic absorption bands, which have been used to describe the complete ageing process in more detail. For instance, the integral absorption in the B1u THz-region can be used to describe quantitatively the reduction of crystallinity. The formation of trans vinylene unsaturation and the decay of vinyl during ageing can be observed in detail in the mid IR range. T2 - IRMMW-THz 2018 (43rd) Conference CY - Nagoya, Japan DA - 09.09.2018 KW - Gamma-Co60 radiation KW - THz and mid IR spectroscopy PY - 2018 AN - OPUS4-46442 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Spranger, Holger A1 - Beckmann, Jörg A1 - Boehm, Rainer T1 - THz-ToF techniques for the detection of inherent discontinuities in dielectric materials based on a SAFT – and an optical layer reconstruction algorithm N2 - Electromagnetic waves with frequencies between 0.1 and 10 THz are described as THz-radiation (T-ray). The ability to penetrate dielectric materials makes T-rays attractive to reveal discontinuities in polymer and ceramic materials. THz-Time Domain Spectroscopy Systems (THz-TDS) are available on the market today which operates with THz-pulses transmitted and received by optically pumped semiconductor antennas. In THz-TDS the travelling time (ToF) and shape of the pulse is changed if it interacts with the dielectric material and its inherent discontinuities. A tomogram of the object under the test can be reconstructed from time of flight diffraction (ToFD) scans if a synthetic focusing aperture (SAFT) algorithm is applied. Otherwise, planar discontinuities like cracks in plastics or delaminated layers in composites can be abstracted as layers located at any angle in relation to the outer sample surface direction. A tomogram from the scanned sample can then be reconstructed in case the interactions of electromagnetic pulses with the existing inherent interfaces are detectable and a model is assumed which describes the device under the test as multilayer structure composed of thin layers with different dielectric properties. A short description of both the SAFT – and Optical Layer algorithm for the reconstruction of the inherent structure is initially given. Measurements on representative samples with a variety of artificially produced small and large scale. Reconstructed tomograms are presented to discuss and evaluate the benefits and limits of the two different reconstruction approaches. T2 - 19th World Conference on Non-Destructive Testing 2016 CY - Munich, Germany DA - 13.06.2016 KW - THz SAFT Optical layer reconstruction PY - 2016 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-365866 SN - 978-3-940283-78-8 VL - 158 SP - 1 EP - 10 AN - OPUS4-36586 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Fratzscher, Daniel A1 - von Chrzanowski, Lars A1 - Ewert, Uwe T1 - Zeitaufgelöste THz-Spektroskopie für technische und zivile Sicherheitsanwendungen N2 - Vortrag über Zeitaufgelöste THz-Spektroskopie für technische und zivile Sicherheitsanwendungen T2 - DACH-Jahrestagung 2012 CY - Graz, Austria DA - 17.09.2012 KW - THz Spektroskopie KW - Technische und zivile Sicherheit PY - 2012 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-280013 SN - 978-3-940283-44-3 IS - DGZfP-BB 136 SP - Mi.1.C.4, 1 EP - 14 PB - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. (DGZfP) AN - OPUS4-28001 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Spranger, Holger A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz-SAFT Rekonstruktion von HDPE-Bauteilen N2 - Obwohl THz-TDS-Systeme vielfältige Qualitätsparameter von Dielektrika ermitteln können, ist deren industrielle Nutzung im Bereich der zerstörungsfreien Bauteilprüfung noch nicht anerkannter Stand der Technik. Ein pragmatischer Weg, TDS-Systeme neben traditionellen Prüfverfahren zu etablieren, sind systematische Untersuchungen an Modellbauteilen, mit dem Ziel einer Methodenentwicklung zur zuverlässigen berührungslosen Prüfung von Dielektrika. Anhand von THz-TDS-Messungen an Polyethylen-Testkörpern mit künstlich eingebauten Fehlstellen werden anfänglich die Möglichkeiten der Laufzeitmessung zur Ermittlung von Tiefenlagen von Ungänzen in Testkörpern präsentiert. Im weitern Teil wird gezeigt, wie durch eine veränderte Versuchsdurchführung und Verwendung eines modifizierten SAFT-Rekonstruktions-Algorithmus Tomogramme berechnet werden können, in denen die künstlich eingebrachten Fehlstellen hinsichtlich ihrer Größe und Lage geometrisch richtig dargestellt werden. T2 - 3. Fachseminar des FA MTHz Mikrowellen- und Terahertz-Prüftechnik in der Praxis CY - Würzburg, Germany DA - 05.04.2017 KW - THz KW - THz-SAFT KW - THz-TDS KW - SAFT KW - HDPE PY - 2017 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-396883 SN - 978-3-940283-84-9 VL - 161 SP - 1 EP - 9 PB - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (DGZfP) CY - Berlin AN - OPUS4-39688 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -