TY - GEN A1 - Becker, S. A1 - Beckmann, Jörg A1 - Braun, M.-T. A1 - Cojocari, O. A1 - Feige, V. A1 - Fischer, B. A1 - Friederich, F. A1 - Globisch, B. A1 - Hechtfischer, G. A1 - Hens, K. A1 - Hübers, H.-W. A1 - Jelonnek, J. A1 - Jonuscheit, J. A1 - Keil, A. A1 - Kleine-Ostmann, T. A1 - Marquardt, E. A1 - Mayr, M. A1 - Nickel, H.-U. A1 - Nüßler, D. A1 - Peichl, M. A1 - Peters, O. A1 - Schür, J. A1 - Sprenger, T. A1 - Steiger, A. A1 - van Frank, S. A1 - Vieweg, N. A1 - Wilk, R. ED - Jonuscheit, J. ED - Marquardt, E. T1 - Terahertzsysteme und Anwendungsfelder N2 - Der Frequenzbereich der Terahertzwellen liegt im elektromagnetischen Spektrum zwischen den Mikrowellen und dem infraroten Licht – also etwa im Bereich von 0,1 bis 10 Terahertz (THz). Der VDI-Statusreport „Terahertzsysteme und Anwendungen“ stellt die unterschiedlichen Konzepte für Terahertzsysteme vor und zeigt Anwendungsbeispiele, bei denen die Terahertztechnik erfolgreich eingesetzt wird. Umfangreiche Literaturangaben ermöglichen eine intensivere Beschäftigung mit allen Themen des VDI-Statusreports. KW - Terahertzsysteme PY - 2020 UR - https://www.vdi.de/ueber-uns/presse/publikationen/details/terahertzsysteme-und-anwendungsfelder SP - 1 EP - 44 PB - Verein Deutscher Ingenieure (VDI) CY - Düsseldorf AN - OPUS4-50556 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beckmann, Jörg A1 - Marchetti, B. A1 - von Chrzanowski, Lars S. A1 - Ritter, E. A1 - Puskar, L. A1 - Aziz, E. F. A1 - Schade, U. T1 - Optical constants of harmful and highly energetic liquids for application to THz screening systems N2 - The far-infrared (IR) optical constants of a set of hazardous and flammable liquids have been obtained by means of spectroscopic ellipsometry in attenuated total reflection configuration over a broad spectral range. Such liquids recently became of considerable concern for transportation security measures worldwide. Their optical identification at check-in gates can only become possible if the characteristic spectra are already known. The refractive indices and the extinction coefficients reported here contribute to a spectroscopic data base in the far-IR and terahertz (THz) spectral regions and may support modeling the performance of THz screening systems on liquids for airports and other security sensitive areas. Examples of several container material/liquid systems are discussed. From the measured optical constants typical THz waveforms are calculated and discussed. KW - liquids material characterization KW - Ellipsometry KW - FT-IR spectroscopy KW - THz time-domain spectroscopy (THz-TDS) PY - 2016 DO - https://doi.org/10.1109/TTHZ.2016.2547319 SN - 2156-342X VL - 2016 / Vol. PP IS - 99 SP - 1 EP - 12 PB - IEEE - Inst. Electrical Electronics Engineers Inc CY - New York, NY, USA AN - OPUS4-36366 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schade, U. A1 - Dawei, C. A1 - Puskar, L. A1 - Ritter, E. A1 - Beckmann, Jörg T1 - Removal of Etalon Features in the Far-Infrared–Terahertz Transmittance Spectra of Thin Polymer Films N2 - Etalon features in infrared spectra of stratified samples, their influence on the interpretation and methods to circumvent their presence in infrared spectra have been in discussion for decades. This paper focuses on the application of a method originally developed to remove interference fringes in the mid-infrared spectra for far-infrared Fourier transform spectroscopy on thin polymer films. We show that the total transmittance-reflectance technique, commonly used for mid-infrared, also works successfully in the far infrared spectral range where other approaches fail. Experimental spectra obtained by such technique are supported by model calculations and reveal the possibility and limits to obtain almost undisturbed far-infrared spectra which are suitable to determine low energy vibrations of ionomer salts under certain sample conditions. KW - Far-infrared spectroscopy KW - Absorption KW - Etalon feature KW - Total transmittance reflectance PY - 2020 DO - https://doi.org/10.1177/0003702820922295 VL - 74 IS - 12 SP - 1530 EP - 1539 PB - Sage journals AN - OPUS4-51367 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - One-Line Monitoring of the Curing Process of FRP N2 - The knowledge of the cure situation during the production process of thermosetting material is of enormous importance. • Mid- and near- infrared (IR) spectroscopy in attenuated total reflectance (ATR) geometry are promising techniques for curing studies. • An IR/THz sensor system was developed to investigate its suitability for future online monitoring of curing processes in the production line. T2 - BESSY@HZB User Meeting 2020 CY - Online meeting DA - 10.12.2020 KW - Fiber Reinforced Polymers KW - Curing Monitoring KW - Attenuated Total Reflectance PY - 2020 AN - OPUS4-51804 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Novel Technique for On-Line Monitoring of the Curing Process of Fiber Reinforced Polymer Composites N2 - A specially designed experimental set up has been integrated into a commercially available FT IR Spectrometer for ATR experiments on Epoxy Systems. Representative data of far infrared spectra measured during the curing process at different temperatures of an epoxy system will be presented in dependency of the curing situation. The experiments and the selected set up are discussed to demonstrate its potential for future monitoring and ageing control applications during a manufacturing process of polymer composites. T2 - 45. International Confercene on infrared, milimeter and terahertz waves CY - Online meeting DA - 08.11.2020 KW - Far-infrared spectroscopy KW - Curing Monitoring PY - 2020 UR - https://live-irmmwthz.pantheonsite.io/technical-program AN - OPUS4-51649 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Becker, S. A1 - Beckmann, Jörg A1 - Cojocari, O. A1 - Feige, V. A1 - Fischer, B. A1 - Friederich, F. A1 - Globisch, B. A1 - Hechtfischer, G. A1 - Hens, K. A1 - Hübers, H.-W. A1 - Jelonnek, J. A1 - Jonuscheit, J. A1 - Keil, A. A1 - Kleine-Ostmann, T. A1 - Mayr, M. A1 - Nüßler, D. A1 - Peichl, M. A1 - Peters, O. A1 - Schür, J. A1 - Sprenger, T. A1 - Steiger, A. A1 - van Frank, S. A1 - Vieweg, N. A1 - Wilk, R. T1 - Terahertzsysteme - Zeitbereichsspektrometer (TDS-Systeme) N2 - Diese Richtlinie definiert Kenngrößen und Messverfahren, um Terahertzsysteme für die Zeitbereichsspektroskopie (TDS)zu spezifizieren. So können Hersteller ihre Systeme übereinstimmend beschreiben und Anwender einfach Systeme vergleichen. Systeme für die Terahertz-Zeitbereichsspektroskopie sind aktive Systeme und nutzen verschiedene Techniken sowohl zur Erzeugung als auch zur zeitaufgelösten Messung von breitbandigen Terahertzimpulsen. Die dazugehörigen Terahertzspektren und -Phasen werden nach einer zeitlichen Abtastung über eine Fourier-Transformation berechnet. In dieser Richtlinie wird ein Überblick über die Funktionsweisen von Zeitbereichsspektrometern gegeben, die eingesetzten Messverfahren näher erläutert sowie die benötigten Begriffe und Kenngrößen definiert. Die Richtlinie konzentriert sich dabei auf Systeme, die auf sogenannten Abtastmessverfahren (Sampling-Messverfahren) basieren. KW - TDS-Systeme PY - 2020 UR - https://www.vdi.de/5590 VL - VDI/VDE 5590 Blatt 2 SP - 1 EP - 22 PB - VDI-Verlag CY - Düsseldorf ET - Entwurf - Oktober 2020 AN - OPUS4-51947 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Puskar, L. A1 - Ritter, E. A1 - Schade, U. T1 - Novel Technique for On-Line Monitoring of the Curing Process of Fiber Reinforced Polymer Composites N2 - A specially developed experimental set up has been integrated into a commercially available FT IR Spectrometer to study the curing of Epoxy Systems. MIR and FIR spectra measured during the curing process at different temperatures of an epoxy system will be presented in dependency of the curing time. The experiments and the selected set up are discussed to demonstrate its potential for future monitoring and ageing control applications during a manufacturing process of polymer composites. T2 - 45. International conference on infrared, millimeter, and terahertz waves CY - Online meeting DA - 08.11.2020 KW - Far-infrared spectroscopy KW - Online Curing Monitoring PY - 2021 SN - 978-1-7281-6620-9 DO - https://doi.org/10.1109/irmmw-thz46771.2020.9370646 SP - 1 PB - IEEE AN - OPUS4-53059 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beckmann, Jörg A1 - Redmer, Birgit A1 - Finn, Monika A1 - Glaubitz, Steffen T1 - Bestimmung der elastischen Eigenschaften von Festkörpern - Teil 1 N2 - ür die Berücksichtigung mechanischer Belastungen unterhalb der Streckgrenze ist im Rahmen einer zuverlässigen Bauteilauslegung die Kenntnis der elastischen Konstanten von besonderer Bedeutung. Für die experimentelle Bestimmung des Elastizitätsmoduls wurde eine Vielzahl von Verfahren entwickelt, die zum Teil werkstoffspezifisch Eingang in die Normung gefunden haben. Prinzipiell können diese Verfahren in zwei Gruppen unterteilt werden: die statischen und die dynamischen Prüfverfahren. Die statischen Verfahren beruhen auf der direkten Messung des Spannungs-Dehnungs-Zusammenhangs während einer mechanischen Belastung im elastischen Verformungsbereich (Zug, Biegung, Druck). Die dynamischen Verfahren basieren auf der Schwingungsanregung eines Prüfkörpers und der Analyse der resultierenden Schwingungen (Resonanzmethode oder Impulsanregungsmethode) oder auf der Messung der Ultraschallausbreitungsgeschwindigkeit. Stellvertretend für die dynamischen Verfahren wird im ersten Teil dieses Beitrages die Resonanzmethode vorgestellt. Der zweite Teil dieses Beitrages fasst die werkstoffabhängigen Ergebnisse der E-Modulbestimmung mit statischen Verfahren im Zug- und Biegeversuch zusammen. KW - Modul KW - Resonanzmessung PY - 2006 DO - https://doi.org/10.1515/mt-2006-0003 SN - 0025-5300 VL - 48 IS - 6 SP - 274 EP - 281 PB - De Gruyter CY - Berlin AN - OPUS4-54602 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schade, U. A1 - Puskar, L. A1 - Golnak, R. A1 - Veber, A. A1 - Beckmann, Jörg T1 - Infrared Attenuate Total Reflection Cell with a Functionalized Surface N2 - ATR cell utilizing chips from silicon wafers is discussed. The cell can be used for wet-chemical analysis on functionalized surfaces. Here, silicon chips are exemplarily "functionalized" by silica layers to provide a hydrophilic or hydrophobic ATR surface in-situ. T2 - 48th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz) CY - Montreal, Quebec, Canada DA - 17.09.2023 KW - THz radiation KW - ATR KW - FTIR PY - 2023 DO - https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz57677.2023.10298918 SP - 1 PB - IEEE CY - New York, NY AN - OPUS4-59326 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schade, U. A1 - Puskar, L. A1 - Ritter, E. A1 - Beckmann, Jörg T1 - Etalon effects in THz film measurements N2 - Etalon effects in THz transmittance spectra, either taken in time- domain or frequency-domain, often hamper or even hinder the interpretation of film properties. In this paper we discuss the transferability and applicability of spectroscopic methods typically employed in the near and mid infrared spectral range to eliminate the fringes in the transmittance spectra in the THz spectral range. T2 - 2020 45th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz) CY - Buffalo, NY, USA DA - 08.11.2020 KW - THz radiation KW - Total transmittance reflection technique KW - Etalon effects PY - 2020 SN - 978-1-7281-6620-9 DO - https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz46771.2020.9370451 SN - 2162-2035 SN - 2162-2027 SP - 1 PB - IEEE CY - Buffalo, NY AN - OPUS4-56943 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz-TDS NDT applications for material and structure characterization of dielectrics N2 - THz time domain spectroscopy (TDS) operates with short electromagnetic pulses. The sensitivity of the pulses to optical material property changes makes THz-TDS attractive for the detection of flaws in dielectric materials. Unfortunately, the X-ray computed tomography (CT) model holds only for THz-TDS reconstruction if minor refraction index differences between the inhomogeneities and the surrounding material matrix exist. A Time Domain SAFT algorithm has been developed to overcome the restrictions. THz time domain measurement on representative sample sets with inherent artefacts were performed to use them for the image reconstructions. The results will be presented and compared with optical surface images of the used test objects to evaluate the SAFT algorithm in relation to the reconstruction quality. T2 - Berlin Terahertz Symposium CY - Berlin, Germany DA - 20.11.2017 KW - THz Time Domain Spectroscopy KW - THz-SAFT PY - 2017 AN - OPUS4-43240 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Spranger, Holger A1 - Ewert, Uwe T1 - THz Applications for Non-Destructive Testing N2 - Up to now THz-TDS-systems aren’t considered to be nondestructive testing facilities for large scale industrial applications, despite it was proven that they provide a comprehensive set of quality parameters. A practical approach to bring THz-TDS in addition to already existing testing systems into the industrial mainstream is systematic development of future test procedures and test facilities for dielectrics. For this purpose polyeth-ylene test specimen with introduced artefacts were designed, to evaluate the detection sensitivity of Time of Flight measurements based on dielectrics. SAFT reconstructed tomograms are presented which visualize the sizes and location of artificially introduced flaws. T2 - 2017 Far East NDT New Technology & Application Forum (FENDT) CY - XI'an, China DA - 22.06.2017 KW - THz radiation KW - Dielectric materials KW - Image reconstruction KW - Terahertz synthetic aperture PY - 2018 DO - https://doi.org/10.1109/FENDT.2017.8584511 VL - 12 SP - 272 EP - 276 PB - IEEE Conference Publication CY - USA AN - OPUS4-47220 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, M. A1 - Becker, S. A1 - Beckmann, Jörg A1 - Cojocari, O. A1 - Feige, V. A1 - Fischer, B. A1 - Friederich, F. A1 - Globisch, B. A1 - Haupt, H. A1 - Hechtfischer, G. A1 - Hens, K. A1 - Hübers, H.-W. A1 - Jelonnek, J. A1 - Jonuscheit, J. A1 - Keil, A. A1 - Kleine-Ostmann, T. A1 - Nickel, H.-U. A1 - Peichl, M. A1 - Peters, O. A1 - Sprenger, T. A1 - Steiger, A. A1 - van Frank, S. A1 - Vieweg, N. A1 - Werner, M. A1 - Wilk, R. T1 - Terahertzsysteme - Anwendungsfelder und Systeme N2 - Die nicht ionisierende elektromagnetische Strahlung im Bereich von Terahertz-Frequenzen ermöglicht berührungslose und zerstörungsfreie Mess- und Prüftechnik in zahlreichen Bereichen. Nach ersten Anwendungen in der Astronomie und der Atmosphärenforschung wurden in letzter Zeit Anwendungsfelder in der Sicherheitstechnik, der Medizintechnik, der Nachrichtentechnik und der zerstörungsfreien Prozess- und Qualitätskontrolle erschlossen. Dielektrische Materialien wie Kunststoffe und Keramiken können von Terahertz-Wellen durchdrungen werden. Das ermöglicht Untersuchungen des Objektinneren ohne spezielle Schutzmaßnahmen, wie sie z.B. beim Röntgen notwendig sind. Die Richtlinie erleichtert die Verständigung zwischen Nutzern, Herstellern und dem Vertrieb von Terahertz-Systemen. In der Richtlinie werden bekannte Einsatzgebiete sowie die eingesetzten Verfahren und Funktionsprinzipien aufgeführt, um den Leser bei der Auswahlentscheidung zu unterstützen. Nach einer kurzen Einführung in die physikalischen Grundlagen und Hinweisen zur elektromagnetischen Verträglichkeit, zum Strahlenschutz und zur regulierten Frequenzvergabe werden die verschiedenen Geräteklassen von Terahertz-Systemen ausführlich vorgestellt. Die Richtlinie gibt Hinweise zur messtechnischen Charakterisierung von Terahertz-Wellen. Einsatzgebiete von Terahertz-Systemen, wie die zerstörungsfreie Prüfung, die Dicken- und Abstandsmessung, die Tomografie und die chemische Analytik, werden mit ihren spezifischen Eigenschaften im Detail beschrieben. Umfangreiche Literaturverweise vereinfachen eine vertiefte Beschäftigung mit den Themen der Richtlinie. Eine tabellarische Übersicht mit einer Zusammenfassung, welche Terahertz-Systeme für welche Anwendungsfelder eingesetzt werden können, vervollständigt die Richtlinie. KW - Terahertzsysteme KW - THz-Wellen PY - 2018 UR - https://www.vdi.de/5590 VL - VDI/VDE 5590 Blatt 2 SP - 1 EP - 27 PB - VDI-Verlag CY - Düsseldorf ET - Entwurf - November 2018 AN - OPUS4-46727 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schade, U. A1 - Ritter, E. A1 - Aziz, E. F. A1 - Puskar, L. A1 - Beckmann, Jörg T1 - Spectroscopic ellipsometry on liquids in the far infrared N2 - The far infrared refractive indices and the extinction coefficients of liquids can be obtained by means of spectroscopic ellipsometry in attenuated total reflection configuration. Such optical constants will contribute to a spectroscopic data base in the far infrared and terahertz spectral regions. The experimental implementation and the calibration procedure of the method are described in detail. The temperature dependency of the optical constants for water over a broad spectral range is exemplarily presented. T2 - 42nd International Conference on Infrared, Millimeter and THz Waves CY - Cancun, Mexico DA - 27.08.2017 KW - Ellipsometry KW - Far Infrared KW - ATR KW - Attenuated total reflection KW - Calibration KW - Extinction coefficients KW - Refractive index measurement KW - Spectroscopic ellipsometry KW - Far infrared refractive index KW - Terahertz spectral region KW - Optical constant KW - Attenuated total reflection configuration KW - Liquid extinction coefficient KW - Optical refraction KW - Optical variables control KW - Optical reflection KW - Liquids KW - Optical films KW - Optical polarization KW - Optical variables measurement PY - 2017 UR - http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8066931&isnumber=8066832 DO - https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2017.8066931 SN - 2162-2035 SP - MD.1.5-1 EP - MD.1.5-2 PB - IEEE CY - Danvers AN - OPUS4-42028 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Spranger, Holger T1 - THz-TDS-SAFT for the detection of inherent discontinuities in dielectric materials N2 - Today X-ray tomography and Ultrasound Synthetic Aperture Focusing Techniques are representative examples for defect imaging in the field of nondestructive testing. THz time domain spectroscopy (TDS) operates with short electromagnetic pulses. The sensitivity of the pulses to optical material property changes makes THz-TDS attractive for the detection of flaws in dielectric materials. Unfortunately, the X-ray computed tomography (CT) model holds only for THz-TDS reconstruction if minor refraction index differences between the inhomogeneities and the surrounding material matrix exist. A Time Domain SAFT algorithm has been developed to overcome the restrictions. THz time domain measurement on representative sample sets with inherent artefacts were performed to use them for the Image reconstructions. The results will be presented and compared with optical surface images of the used test objects to evaluate the SAFT algorithm in relation to the econstruction quality. T2 - 42nd International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves CY - Cancun, Mexico DA - 27.08.2017 KW - THz-TDS-Saft KW - Tomography KW - Dielectric materials KW - Image reconstruction KW - Terahertz spectroscopy KW - Terahertz wave imaging KW - Time-domain analysis KW - X-ray tomography KW - Ultrasound synthetic aperture focusing techniques KW - Terahertz time domain spectroscopy KW - Time domain SAFT algorithm KW - Image reconstructions KW - Optical surface images KW - Computed tomography KW - Dielectrics KW - Time measurement KW - Reflection PY - 2017 UR - http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8067159&isnumber=8066832 SN - 978-1-5090-6048-1 DO - https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2017.8067159 SP - TD.19-1 EP - TD.19-2 PB - IEEE CY - Danvers, USA AN - OPUS4-42030 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz-TDS-SAFT for the detection of inherent discontinuities in dielectric materials N2 - X-ray computed tomography (CT) model holds only for THz-TDS reconstruction if minor refraction index differences between the inhomogeneities and the surrounding material matrix exist. A Time Domain SAFT algorithm has been developed to overcome the restrictions. THz time domain measurement on representative sample sets with inherent artefacts were performed to use them for the Image reconstructions. The results will be presented and compared with optical surface images of the used test objects to evaluate the SAFT algorithm in relation to the reconstruction quality. T2 - 42nd International Conference on Infrared, Millimeter and THz waves CY - Cancun, Mexico DA - 27.08.2017 KW - THz-time-domain spectroscopy KW - SAFT KW - Tomography PY - 2017 AN - OPUS4-42034 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Optischer Ansatz zur Bestimmung von Materialeigenschaften und Schichtstrukturen N2 - THz-TDS Systeme können zeitaufgelöst die Amplitude der elektrischen Feldstärke E(t) detektieren. Der Vorteil des verwendeten Messprinzips besteht in dem gleichzeitigen Nachweis von Amplitude und Phase des zwischen der Antenne und dem Detektor sich ausbreitenden elektrischen Feldes eines Impulses. Befindet sich im Strahlengang dielektrisches Material, dann ändern sich die Laufzeit (Time of Flight) und Amplitude des Impulses im Vergleich zum freien Strahlengang. Planare Fehlstellen, wie Risse oder delaminierte Schichten in Kompositen sowie mehrschichtig aufgebaute Dielektrika können als optische Mehrschichtsysteme aufgefasst werden, mit denen sich die beobachteten Transmissions- und Reflektionseigenschaften im THz-Bereich erklären lassen. Bei Entwicklung eines optischen Schichtenmodells für das jeweilig ausgewählte Schichtensystem lassen sich zeitliche Impulsverläufe in Abhängigkeit von der Schichtenfolge- und deren –dicke berechnen. Durch den Fit der experimentell gewonnener Daten mit den aus dem Schichtenmodell berechneten Impulssequenzen lassen sich unter Verwendung der Methode der kleinsten Quadrate Schichtdicken oder die Brechungsindizes der einzelnen Schichten im jeweiligen Testobjekt bestimmen. Anhand eines repräsentativen Beispiels wird die Entwicklung des Schichtenmodells erklärt und die erreichten Genauigkeiten zur Bestimmung der Schichtdicken und Brechungsindizes anhand selbst entwickelter Testkörper diskutiert. T2 - Workshop „Wertschöpfungspotential der neuen Mikrowellen- und Terahertz-Sensorik in der Kunststoffindustrie" CY - Würzburg, Germany DA - 07.11.2018 KW - Dickenmessung, KW - Zeitaufgelöste THz-Spektroskopie PY - 2018 AN - OPUS4-46629 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - Hat die Nutzung der Terahertz-Strahlung eine Zukunft in der Zerstörungsfreien Prüfung? N2 - Die zeitaufgelöste THz-Spektroskopie (THz-TDS) ist eine relativ junge Technologie, die im Bereich der Zerstörungsfreien Werkstoffprüfung (ZfP) seit einiger Zeit genutzt wird. Es werden die neusten Entwicklungen in Verbindung mit deren Perspektiven in der ZfP vorgestellt und diskutiert. T2 - DGZfP Arbeitskreis Zwickau-Chemnitz CY - Ackerbürgersaal am Kornmarkt 5, Zwickau, Germany DA - 16.10.2018 KW - Zeitaufgelöste THz Spektroskopie KW - ZfP 4.0 PY - 2018 AN - OPUS4-46637 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schade, U. A1 - Ritter, E. A1 - Bawagan, A.D.O. A1 - Beckmann, Jörg A1 - Aziz, E. F. T1 - Far-infrared absorption measurements on thin polymer films N2 - Interference fringes in the far-infrared spectra of thin films are the result of the coherent adding up of waves and can influence the spectral interpretation by concealing smaller features. A number of methods have been developed in order to eliminate such oscillating features from the transmittance spectrum. The paper critically evaluates the total transmission-reflection technique and applies the method to quantify the spectra of different polymer films. T2 - IRMMW-THz 2014 - 39th International conference on infrared, millimeter, and terahertz waves CY - Tucson, Arizona, USA DA - 14.09.2014 KW - Far-infrared spectra KW - Thin films KW - Total transmission reflection technique KW - Infrared spectroscopy KW - Light absorption KW - Light reflection KW - Polymer films KW - Far-infrared absorption measurements KW - Thin polymer films KW - Interference fringes KW - Spectral interpretation KW - Transmittance spectrum KW - Oscillating features KW - Total transmission-reflection technique KW - Interference KW - Absorption KW - Finite impulse response filters KW - Optical films KW - Optical reflection PY - 2014 UR - http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6956145&isnumber=6955975 SN - 978-1-4799-3877-3 DO - https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2014.6956145 IS - IEEE Catalog No.: CFP14IMM-ART SP - 1 EP - 2 AN - OPUS4-32700 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Spranger, Holger A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz – ToF optical layer analysis (OLA) to determine optical properties of dielectric materials N2 - Electromagnetic waves with frequencies between 0.1 and 10 THz are described as THz-radiation (T-ray). The ability to penetrate dielectric materials makes T-rays attractive to reveal discontinuities in polymer and ceramic materials. THz-Time Domain Spectroscopy Systems (THz-TDS) are available on the market today which operates with THz-pulses transmitted and received by optically pumped semiconductor antennas. In THz-TDS the travelling time (ToF) and shape of the pulse is changed if it interacts with the dielectric material and its inherent discontinuities. A tomogram of the object under the test can be reconstructed from time of flight diffraction (ToFD) scans if a synthetic focusing aperture (SAFT) algorithm is applied. The knowledge of the base materials shape and optical properties is essential for a proper reconstruction result. To obtain these properties a model is assumed which describes the device under the test as multilayer structure composed of thin layers with different dielectric characteristics. The Optical Layer Analysis (OLA) is able to fulfill these requirements. A short description why the optical properties are crucial for meaningful SAFT reconstruction results will be given first. Afterwards the OLA will be derived and applied on representative samples to discuss and evaluate ist benefits and limits. T2 - QNDE 2016 CY - Atlanta, GA, USA DA - 17.07.2016 KW - Optical layer analysis KW - THz-TDS KW - Optical properties of dielectric materials KW - THz-ToF PY - 2017 SN - 978-0-7354-1474-7 DO - https://doi.org/10.1063/1.4974707 SN - 0094-243X VL - 1806 IS - 1 SP - UNSP 120002, 1 EP - 7 PB - AIP Publishing AN - OPUS4-39393 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz applications for NDT N2 - Electromagnetic waves in the frequency range between 0.1 and 10 THz are described as THz-radiation (T-ray). The ability to penetrate dielectric materials, to operate contactless and to be non-ionizing as well as be-ing insensitive to ambient temperatures makes THz technologies for NDT applications attractive especially where other techniques are not available or less suitable. Today T-rays are applied in non-destructive testing for quality control and condition monitoring issues. The operation is based on the combination of both transmission and/or reflection measurements and specially developed reconstruction procedures. Firstly, THz-TDS measurements will be presented to demonstrate the opportunities for spectroscopy and imaging of polymer materials. A SAFT algorithm and an Optical Layer-Model will be presented and discussed in more detail to demonstrate the opportunities of image reconstruction for visualization of the inner structures of op-tically and far infra-red opaque polymer composites. T2 - 2017 Far East Forum On Nondestructive Evaluation/Testing: New Technology & Application CY - XI'an, China DA - 22.06.2017 KW - THz radiation KW - Terahertz synthetic aperture focusing KW - Thickness measurements KW - Image reconstruction KW - Dielectric materials PY - 2017 AN - OPUS4-40799 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -