TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Fischer, Daniel A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Stockmann, Jörg Manfred A1 - Weise, Matthias T1 - Mapping und Imaging modifizierter Oberflächen: Generische Kenngrößen, Fehlstellen, Reinigungszustand und Haftfestigkeit N2 - Der Vortrag widmet sich dem Mapping und Imaging modifizierter Oberflächen: generische Kenngrößen, Fehlstellen, Reinigungszustand und Haftfestigkeit. Es werden Untersuchungsmethoden zu ihrer Prüfung dargestellt. T2 - 37. ak-adp 2021 CY - Jena, Germany DA - 16.06.2021 KW - Qualitätssicherung KW - Mapping modifizierter Oberflächen KW - Imaging modifizierter Oberflächen KW - Generische Kenngrößen KW - Haftfestigkeit KW - Klebfestigkeit PY - 2021 SP - 1 EP - 10 AN - OPUS4-52893 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Mitzkus, Anja A1 - Sahre, Mario A1 - Reinstädt, Philipp A1 - Griepentrog, Michael A1 - Beck, Uwe A1 - Köppe, Enrico A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Basedau, Frank A1 - Hofmann, Detlef A1 - Gong, Xin A1 - Schukar, Vivien T1 - Altbekannter Watts-Elektrolyt, junge Hightech-Anwendung, Nickel- und Nickel-Eisen-Schichten als magnetostriktive Aktorschicht auf faseroptischen Sensoren N2 - Durch faseroptische Sensoren können Bauteile im Einsatz kontinuierlich überwacht und frühzeitig Informationen über Materialveränderungen gewonnen werden. Mittels einer magnetostriktiven Aktorschicht, welche den Sensor umhüllt, kann nun auch die korrekte Sensorfunktion jederzeit kontrolliert werden. Als Aktorschicht eignet sich galvanisch abgeschiedenes reines Nickel oder Nickel-Eisen in der Zusammensetzung 50:50. Um diese haftfest mit dem Sensor zu verbinden wurde ein ECD/PVD-Kombinationsschichtsystem entwickelt. Die mechanischen Eigenschaften der ECD-Schicht können sowohl mit einer auf die Fasergeometrie angepassten instrumentierten Eindringprüfung als auch einem 2-Punkt-Biegeversuch bestimmt werden. KW - Faseroptik-Sensoren KW - ECD-Aktorschicht KW - PVD-Haftfestigkeit KW - Nickel-/Nickel-Eisen- Magnetostriktion PY - 2016 SN - 2195-5891 SN - 2195-5905 VL - 12 SP - 1 EP - 4 AN - OPUS4-39129 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Griepentrog, Michael A1 - Beck, Uwe ED - Schulte, J. ED - Niu, X. T1 - BAM certified reference materials for nano-metrology: Preparation, characterisation and certification T2 - 3rd Annual Conference of the Asia Pacific Nanotechnology Forum CY - Shanghai, China DA - 2004-12-09 KW - Certified reference materials KW - Film thickness KW - Mechanical properties KW - Surface acoustic waves KW - Naoindentation KW - Non-destructive testing KW - Destructive testing PY - 2005 SN - 0-97-57537-1-1 SP - 71 EP - 83 PB - Asia Pacific Nanotechnology Forum CY - Sydney AN - OPUS4-5482 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Griepentrog, Michael A1 - Beck, Uwe ED - Tiller, H. T1 - Stand der Technik in der Oberflächentechnik T2 - 2. Thüringer Grenz- und Oberflächentage CY - Oberhof, Deutschland DA - 2006-09-13 KW - Oberflächentechnologie KW - Standardisierung PY - 2006 SN - 3-00-019289-1 SP - 179 EP - 191 PB - Innovent CY - Jena AN - OPUS4-13200 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L100 Ti/Al multilayer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l100repe.pdf SP - 1 EP - 23 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25406 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L102 TiN single layer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l102repe.pdf SP - 1 EP - 24 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25408 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L103 VN single layer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l103repe.pdf SP - 1 EP - 22 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25409 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L104 TiC single layer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l104repe.pdf SP - 1 EP - 22 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25410 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Männ, Marion A1 - Sahre, Mario T1 - Certified reference material BAM-L105 VC single layer on 100Cr6 steel PY - 2004 UR - http://www.rm-certificates.bam.de/de/rm-certificates_media/rm_cert_layer_and_surface/bam_l105repe.pdf SP - 1 EP - 22 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25411 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Bonse, Jörn A1 - Hertwig, Andreas A1 - Koter, Robert A1 - Weise, Matthias A1 - Beck, Uwe A1 - Reinstädt, Philipp A1 - Griepentrog, Michael A1 - Krüger, Jörg A1 - Picquart, M. A1 - Haro-Poniatowski, E. T1 - Femtosecond laser pulse irradiation effects on thin hydrogenated amorphous carbon layers N2 - The irradiation of ~0.9-µm-thick hydrogenated amorphous carbon (a-C:H) layers deposited on silicon substrates with single femtosecond (fs) laser pulses (35 fs pulse duration, 790 nm centre wavelength) in air is studied experimentally. Irradiation spots have been generated with different peak fluences and subsequently investigated by optical topometry, micro Raman spectroscopy and microscale mechanical indentation in order to evaluate their microscopic, topographical, structural and mechanical properties (e.g. elastic modulus). By this multi-method approach, a clear separation of different effects (delamination and graphitisation) becomes possible. The joint application of mechanical and spectroscopic techniques provides unique insights into the effects of the fs-laser radiation on the carbon layer. PY - 2013 DO - https://doi.org/10.1007/s00339-012-7170-5 SN - 0947-8396 VL - 112 IS - 1 SP - 9 EP - 14 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-28629 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Griepentrog, Michael ED - Berg, S. T1 - Quality assessment, reliability and damage analysis of coating/substrate systems T2 - 7th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE 2000) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2000-09-17 PY - 2000 SN - 0257-8972 IS - 142-144 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-972 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - van der Kolk, G. J. A1 - Hurkmans, A. A1 - Trinh, T. A1 - Fleischer, W. A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael T1 - Coating evaluation of decorative PVD finishes T2 - 41st Annual Technical Conference CY - Boston, MA, USA DA - 1998-04-18 PY - 1998 UR - http://www.knovel.com/web/portal/browse/display?_EXT_KNOVEL_DISPLAY_bookid=272 SN - 1-591-24158-8 SP - 44 EP - 45 PB - Society of Vacuum Coaters CY - Albuquerque AN - OPUS4-607 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Fischer, Daniel A1 - Griepentrog, Michael A1 - Beck, Uwe A1 - Duwe, M. A1 - Quast, J.-H. A1 - Schneider, S. T1 - Effect of curvature of spherical microscopic indentations on the ellipsometric readout N2 - The authors describe and interpret curvature-related changes to the ellipsometric readout. As model system for a concave curvature, a set of three spherical microscopic indents in silicon (100) of different sizes was prepared by instrumented indentation testing using a spherical indenter. For reference, these samples were characterized by AFM to reveal the topography of each structure. The concavelike indents were analyzed by Mueller-Matrix imaging ellipsometry to extract lateral intensity images of 12 elements of the Mueller-Matrix. As a result of the detailed analysis of the image elements m22, m23, and m14, it was possible to correlate intensity changes and symmetry properties to depolarization and cross polarization induced by the edge threshold and the curved surface of the indent. KW - Spectroskopic Imaging KW - Mueller-Matrix imaging ellipsometry KW - Structural anomalies KW - Structural inhomogenities PY - 2019 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-498105 DO - https://doi.org/10.1116/1.5122252 VL - 37 IS - 6 SP - 062906-1 EP - 062906-5 PB - American Vacuum Society AN - OPUS4-49810 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher, Stefan A1 - Weise, Matthias T1 - Auf dem Weg zu Industrie 4.0: Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets in der Oberflächentechnik N2 - Vorgestellt wurde die Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets für sehr unterschiedliche physikalische Größen, die in der Oberflächentechnik von hoher Relevanz sind: Stufenhöhe h, Schichtdicke d, Eindringhärte HIT und Haftfestigkeit. Die Unterschiede betreffen die Art der Prüfmethodik (optisch zerstörungsfrei vs. mechanisch invasiv/zerstörend), die laterale Größe des Integrationsgebietes der Messung (lokal: nano bis sub-mikro vs. global: mikro bis makro) und die Art der Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets (physikalische Größen: direkt rückführbar; Werkstoffkenngröße: genormt; Systemkenngröße: genormt). Im Rahmen von Industrie 4.0 werden ausgehend der geforderten Spezifikation des beschichteten Produkts (Mittelwert mit Vertrauensbereich oder Mindestwert) durchgehende Toleranzbänder zur Oberflächenmodifizierung/Beschichtung des Substrats, einhergehend mit Prozessfenstern, die diese Toleranzbänder garantieren, erforderlich, die zuverlässig erfasst werden müssen. Die Frage der anzuwendenden Mess- und Prüftechnik und die damit notwendige Betrachtung von Messunsicherheitsbudgets ist für die Digitalisierung von Konditionierungs-, Zustands-, Regel- und Steuergrößen unverzichtbar. Mit Blick auf die Einhaltung von Prozessfenstern und die dafür notwendige Prozessführung wird technologisches Kern-Know-how digitalisiert, das es unbedingt zu schützen gilt. Nur lokale Netze können diese Sicherheit garantieren, in globalen Netzen ist die Datensicherheit bestenfalls maximierbar T2 - 14. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik und 6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik CY - Zeulenroda, Germany DA - 12.03.2019 KW - Oberflächentechnik KW - Messunsicherheit KW - Messtechnik KW - Prüftechnik KW - Haftfestigkeit PY - 2019 SN - 978-3-00-058187-8 VL - 2019 SP - 1 EP - 10 AN - OPUS4-47670 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -