TY - JOUR A1 - Favet, J. A1 - Lapanje, A. A1 - Giongo, A. A1 - Kennedy, S. A1 - Aung, Y.-Y. A1 - Cattaneo, A. A1 - Davis-Richardson, A.G. A1 - Brown, C.T. A1 - Kort, R. A1 - Brumsack, H.-J. A1 - Schnetger, B. A1 - Chappell, A. A1 - Kroijenga, J. A1 - Beck, A. A1 - Schwibbert, Karin A1 - Mohamed, A.H. A1 - Kirchner, T. A1 - Dorr de Quadros, P. A1 - Triplett, E.W. A1 - Broughton, William J. A1 - Gorbushina, Anna T1 - Microbial hitchhikers on intercontinental dust: catching a lift in Chad N2 - Ancient mariners knew that dust whipped up from deserts by strong winds travelled long distances, including over oceans. Satellite remote sensing revealed major dust sources across the Sahara. Indeed, the Bodélé Depression in the Republic of Chad has been called the dustiest place on earth. We analysed desert sand from various locations in Chad and dust that had blown to the Cape Verde Islands. High throughput sequencing techniques combined with classical microbiological methods showed that the samples contained a large variety of microbes well adapted to the harsh desert conditions. The most abundant bacterial groupings in four different phyla included: (a) Firmicutes—Bacillaceae, (b) Actinobacteria—Geodermatophilaceae, Nocardiodaceae and Solirubrobacteraceae, (c) Proteobacteria—Oxalobacteraceae, Rhizobiales and Sphingomonadaceae, and (d) Bacteroidetes—Cytophagaceae. Ascomycota was the overwhelmingly dominant fungal group followed by Basidiomycota and traces of Chytridiomycota, Microsporidia and Glomeromycota. Two freshwater algae (Trebouxiophyceae) were isolated. Most predominant taxa are widely distributed land inhabitants that are common in soil and on the surfaces of plants. Examples include Bradyrhizobium spp. that nodulate and fix nitrogen in Acacia species, the predominant trees of the Sahara as well as Herbaspirillum (Oxalobacteraceae), a group of chemoorganotrophic free-living soil inhabitants that fix nitrogen in association with Gramineae roots. Few pathogenic strains were found, suggesting that African dust is not a large threat to public health. KW - Aeolian KW - High throughput sequencing KW - Bodélé Depression KW - Republic of Chad KW - Wind erosion PY - 2013 DO - https://doi.org/10.1038/ismej.2012.152 SN - 1751-7362 SN - 1751-7370 VL - 7 SP - 850 EP - 867 PB - Nature Publishing Group CY - Basingstoke AN - OPUS4-28083 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Giongo, A. A1 - Favet, J. A1 - Lapanje, A. A1 - Gano, K.A. A1 - Kennedy, S. A1 - Davis-Richardson, A.G. A1 - Brown, C. A1 - Beck, A. A1 - Farmerie, W.G. A1 - Cattaneo, A. A1 - Crabb, D.B. A1 - Aung, Y.-Y. A1 - Kort, R. A1 - Brumsack, H.-J. A1 - Schnetger, B. A1 - Broughton, William J. A1 - Gorbushina, Anna A1 - Triplett, E.W. T1 - Microbial hitchhikers on intercontinental dust: high-throughput sequencing to catalogue microbes in small sand samples N2 - Microbiological studies on the intercontinental transport of dust are confounded by the difficulty of obtaining sufficient material for analysis. Axenic samples of dust collected at high altitudes or historic specimens in museums are often so small and precious that the material can only be sacrificed when positive results are assured. With this in mind, we evaluated current methods and developed new ones in an attempt to catalogue all microbes present in small dust or sand samples. The methods used included classical microbiological approaches in which sand extracts were plated out on a variety of different media, polymerase chain reaction (PCR)-based amplification of 16S/18S rRNA sequences followed by construction of clone libraries, PCR amplification of 16S rRNA sequences followed by high-throughput sequencing (HtS) of the products and direct HtS of DNA extracted from the sand. A representative sand sample collected at Bahaï Wadi in the desert of the Republic of Chad was used. HtS with or without amplification showed the most promise and can be performed on ≤100 ng DNA. Since living microbes are often required, current best practices would involve geochemical and microscopic characterisation of the sample, followed by DNA isolation and direct HtS. Once the microbial content of the sample has been deciphered, growth conditions (including media) can be tailored to isolate the micro-organisms of interest. KW - Chad KW - Deserts KW - Eukaryota KW - 16S amplicons KW - Metagenomics PY - 2013 DO - https://doi.org/10.1007/s10453-012-9264-0 SN - 0393-5965 SN - 1573-3025 VL - 29 IS - 1 SP - 71 EP - 84 PB - Springer Science + Business Media B.V. CY - Dordrecht [u.a.] AN - OPUS4-27687 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Favet, J. A1 - Lapanje, A. A1 - Giongo, A. A1 - Kennedy, S. A1 - Aung, Y.-Y. A1 - Cataneo, A. A1 - Kort, R. A1 - Brumsack, H.-J. A1 - Schnetger, B. A1 - Triplett, E.W. A1 - Beck, A. A1 - Broughton, William J. A1 - Gorbushina, Anna T1 - Microbial hitchhikers on intercontinental dust - Chadian origins T2 - VAAM-Jahrestagung 2011 CY - Karlsruhe, Germany DA - 03.04.2011 KW - Intercontinental dust KW - Desert soil PY - 2011 SN - 0947-0867 IS - EMP114 SP - 118 PB - Spektrum, Akad. Verl. AN - OPUS4-23629 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beck, M. A1 - Becker, S. A1 - Beckmann, Jörg A1 - Cojocari, O. A1 - Feige, V. A1 - Fischer, B. A1 - Friederich, F. A1 - Globisch, B. A1 - Haupt, H. A1 - Hechtfischer, G. A1 - Hens, K. A1 - Hübers, H.-W. A1 - Jelonnek, J. A1 - Jonuscheit, J. A1 - Keil, A. A1 - Kleine-Ostmann, T. A1 - Nickel, H.-U. A1 - Peichl, M. A1 - Peters, O. A1 - Sprenger, T. A1 - Steiger, A. A1 - van Frank, S. A1 - Vieweg, N. A1 - Werner, M. A1 - Wilk, R. T1 - Terahertzsysteme - Anwendungsfelder und Systeme N2 - Die nicht ionisierende elektromagnetische Strahlung im Bereich von Terahertz-Frequenzen ermöglicht berührungslose und zerstörungsfreie Mess- und Prüftechnik in zahlreichen Bereichen. Nach ersten Anwendungen in der Astronomie und der Atmosphärenforschung wurden in letzter Zeit Anwendungsfelder in der Sicherheitstechnik, der Medizintechnik, der Nachrichtentechnik und der zerstörungsfreien Prozess- und Qualitätskontrolle erschlossen. Dielektrische Materialien wie Kunststoffe und Keramiken können von Terahertz-Wellen durchdrungen werden. Das ermöglicht Untersuchungen des Objektinneren ohne spezielle Schutzmaßnahmen, wie sie z.B. beim Röntgen notwendig sind. Die Richtlinie erleichtert die Verständigung zwischen Nutzern, Herstellern und dem Vertrieb von Terahertz-Systemen. In der Richtlinie werden bekannte Einsatzgebiete sowie die eingesetzten Verfahren und Funktionsprinzipien aufgeführt, um den Leser bei der Auswahlentscheidung zu unterstützen. Nach einer kurzen Einführung in die physikalischen Grundlagen und Hinweisen zur elektromagnetischen Verträglichkeit, zum Strahlenschutz und zur regulierten Frequenzvergabe werden die verschiedenen Geräteklassen von Terahertz-Systemen ausführlich vorgestellt. Die Richtlinie gibt Hinweise zur messtechnischen Charakterisierung von Terahertz-Wellen. Einsatzgebiete von Terahertz-Systemen, wie die zerstörungsfreie Prüfung, die Dicken- und Abstandsmessung, die Tomografie und die chemische Analytik, werden mit ihren spezifischen Eigenschaften im Detail beschrieben. Umfangreiche Literaturverweise vereinfachen eine vertiefte Beschäftigung mit den Themen der Richtlinie. Eine tabellarische Übersicht mit einer Zusammenfassung, welche Terahertz-Systeme für welche Anwendungsfelder eingesetzt werden können, vervollständigt die Richtlinie. KW - Terahertzsysteme KW - THz-Wellen PY - 2018 UR - https://www.vdi.de/5590 VL - VDI/VDE 5590 Blatt 2 SP - 1 EP - 27 PB - VDI-Verlag CY - Düsseldorf ET - Entwurf - November 2018 AN - OPUS4-46727 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - van der Kolk, G. J. A1 - Hurkmans, A. A1 - Trinh, T. A1 - Fleischer, W. A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael T1 - Coating evaluation of decorative PVD finishes T2 - 41st Annual Technical Conference CY - Boston, MA, USA DA - 1998-04-18 PY - 1998 UR - http://www.knovel.com/web/portal/browse/display?_EXT_KNOVEL_DISPLAY_bookid=272 SN - 1-591-24158-8 SP - 44 EP - 45 PB - Society of Vacuum Coaters CY - Albuquerque AN - OPUS4-607 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hasche, K. A1 - Ulm, G. A1 - Herrmann, K. A1 - Krumrey, M. A1 - Ade, G. A1 - Sümpel, J. A1 - Busch, I. A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Schädlich, S. A1 - Schindler, A. A1 - Frank, W. A1 - Procop, Mathias A1 - Beck, Uwe T1 - About the calibration of thickness standards on the nanometer scale T2 - 3rd International EUSPEN conference ; 3rd International conference. European Society for Precision Engineering and Nanotechnology ; 4th General meeting. European Society for Precision Engineering and Nanotechnology CY - Eindhoven, The Netherlands DA - 2002-05-26 PY - 2002 SN - 90-386-2883-8 SP - 1 EP - 5 CY - Eindhoven AN - OPUS4-2283 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hasche, K. A1 - Herrmann, K. A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Krumrey, M. A1 - Ulm, G. A1 - Ade, G. A1 - Pohlenz, F. A1 - Stümpel, J. A1 - Busch, I. A1 - Schädlich, S. A1 - Frank, W. A1 - Hirsch, D. A1 - Schindler, A. A1 - Procop, Mathias A1 - Beck, Uwe T1 - Ein Beitrag zu kalibrierten Nanometerschichten für unterschiedliche Anwendungsbereiche N2 - Nanotechnologien werden gegenwärtig als leistungsfähige Oberflächentechniken in erheblichem Umfange industriell genutzt. Dabei spielen dünne Schichten und deren Kenndaten eine wesentliche Rolle, z.B. als Röntgenspiegel oder optische und magnetooptische Datenträger. Die Schichtdicke zählt hierbei zu den technologisch wichtigen Parametern. Abgeleitet von Anwenderinteressen, werden für die Röntgenreflektometrie (XRR bzw. GIXR), Elektronenstrahl-Mikroanalyse (EPMA) und Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) einerseits und die Ellipsometrie andererseits zugeschnittene Schichtdickenmaßverkörperungen (SDM) entwickelt, gefertigt und untersucht. Das Ziel ist die Bereitstellung praxistauglicher, kalibrierter SDM, im weiteren Schichtdickennormale (SDN) genannt. SDN sind Maßverkörperungen, für die der Schichtdickenwert mit einer definierten Messunsicherheit bekannt und auf ein metrologisch anerkanntes Längennormal zurückgeführt ist. Berichtet wird über die Herstellung und messtechnische Charakterisierung der beiden spezifischen Varianten von Maßverkörperungen. T2 - 47. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium. Technische Universität Ilmenau ; Herbstkonferenz der Gesellschaft für Arbeitswissenschaft ; 6. Workshop Multimedia für Bildung und Wirtschaft CY - Ilmenau, Deutschland DA - 2002-09-23 PY - 2002 UR - http://publica.fraunhofer.de/documents/N-14872.html VL - 47 SP - 568 EP - 569 PB - Techn. Univ. CY - Ilmenau AN - OPUS4-2284 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Koenders, L. A1 - Hasche, K. A1 - Ulm, G. A1 - Krumrey, M. A1 - Ade, G. A1 - Stümpel, J. A1 - Busch, I. A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Schädlich, S. A1 - Schindler, A. A1 - Frank, W. A1 - Beck, Uwe A1 - Procop, Mathias T1 - Über die metrologische Charakterisierung von Schichtdicken Standards im Nanometerbereich T2 - 12th Applied Surface Analysis Workshop ; AOFA 12 CY - --- DA - 2002-09-15 PY - 2002 AN - OPUS4-2285 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Jacobs, R. A1 - Meneve, J. A1 - Dyson, G. A1 - Jennett, N. M. A1 - von Stebut, J. A1 - Feuchter, P. A1 - Cavalleri, A. A1 - Ronkainen, H. A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Ingelbrecht, C. D. T1 - SMT4-CT98-2238 - A certified reference material for the scratch test - REMAST - Final technical report PY - 2002 SP - 1 EP - 110 PB - Vito CY - Mol, Belgium AN - OPUS4-25601 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Jacobs, R. A1 - Meneve, J. A1 - Dyson, G. A1 - Jennett, N. A1 - von Stebut, J. A1 - Feuchter, P. A1 - Cavaleiro, A. A1 - Ronkainen, H. A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Ingelbrecht, C. T1 - SMT4-CT98-2238 - A certified reference material for the scratch test - REMAST - Synthesis report PY - 2002 SP - 1 EP - 9 PB - Vito CY - Mol, Belgium AN - OPUS4-25625 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -