TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Urban, Ingrid A1 - Witt, Klaus T1 - Evaluation of optical properties of decorative coatings by spectroscopic ellipsometry PY - 1992 SN - 0040-6090 VL - 220 SP - 234 EP - 240 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-6960 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Urban, Ingrid A1 - Jehn, H.A. A1 - Kopacz, U. A1 - Schack, H. T1 - Decorative hard coatings: new layer systems without allergy risk PY - 1993 SN - 0257-8972 VL - 61 SP - 215 EP - 222 PB - Elsevier Science CY - Lausanne AN - OPUS4-6957 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Österle, Werner A1 - Urban, Ingrid A1 - Nebauer, E. T1 - Alloying reactions of Au-Ni-Ge ohmic contacts to n-GaAs PY - 1994 SP - 781 EP - 782 CY - Les Ulis AN - OPUS4-2479 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Beck, Uwe A1 - Urban, Ingrid A1 - Männ, Marion T1 - Dekorative PVD-Schichten - Grundlegende Eigenschaften und Verhalten - Teilvorhaben Analyse - Förderkennzeichen BMFT 13 N 5836 KW - PVD-Verfahren KW - Oberflächeneigenschaften PY - 1994 SP - 1 EP - 118 PB - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25477 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Urban, Ingrid A1 - Klein, A. A1 - Österle, Werner A1 - Merkel, U. T1 - Phasenbildung in Metall-Halbleiterkontaktschichten und Präparationstechnik für TEM-Untersuchung T2 - 9. Internationale Metallographie-Tagung CY - Leoben, Deutschland DA - 1994-09-28 PY - 1995 SN - 3-446-18221-7 SN - 0343-3579 N1 - Serientitel: Sonderbände der praktischen Metallographie – Series title: Sonderbände der praktischen Metallographie IS - 26 SP - 339 EP - 349 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-2505 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Dörfel, Ilona A1 - Urban, Ingrid T1 - TEM-Untersuchungen der Randzonenschädigung von Aluminiumoxidkeramiken nach Schleifbearbeitung N2 - Es werden elektronenmikroskopische Untersuchungsergebnisse an Al2O3-Keramiken, die verschiedenen Oberflächenbearbeitungsverfahren unterworfen wurden, vorgestellt. Die Untersuchungen dienen dem Ziel der Optimierung der Oberflächenbearbeitung von keramischen Werkstoffen, wobei der Einfluß leistungsfähiger Bearbeitungsverfahren auf die Ausbildung möglichst schädigungsarmer Oberflächenschichten, die keinen negativen Einfluß auf Festigkeitskennwerte aufweisen, betrachtet wird. Die Wirkung verschiedener Schleif- und Polierprozesse auf Oberflächenveränderungen bearbeiteter Werkstücke wird dargestellt. Es wurde sowohl die Mikrostruktur der geschädigten Randzonenschicht als auch die des unbeeinflußten Grundmaterials mit elektronenmikroskopischen Methoden charakterisiert. Die verschiedenen Schädigungsstadien gestatten eine Einschätzung der Stärke des Störungseintrages in das Material durch verschiedene Schleif- und Polierprozesse. KW - Elektronenmikroskop KW - Transmissionselektronenmikr. KW - Schleifen KW - Polieren KW - Aluminiumoxidkeramik KW - Randzonenschädigung KW - Oberflächenbearbeitung PY - 1996 U6 - https://doi.org/10.1002/mawe.19960270609 SN - 0933-5137 SN - 1521-4052 VL - 27 IS - 6 SP - 307 EP - 312 PB - Wiley-VCH Verl. CY - Weinheim AN - OPUS4-651 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Ressel, P. A1 - Österle, Werner A1 - Urban, Ingrid A1 - Dörfel, Ilona A1 - Klein, A. A1 - Vogel, K. A1 - Kräutle, H. T1 - Transmission electron microscopy study of rapid thermally annealed Pd/Ge contacts on IN0.53Ga0.47As PY - 1996 SN - 0021-8979 SN - 1089-7550 VL - 88 SP - 3910 EP - 3914 PB - American Institute of Physics CY - Melville, NY AN - OPUS4-2514 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Klein, A. A1 - Urban, Ingrid A1 - Ressel, P. A1 - Nebauer, E. A1 - Merkel, U. A1 - Österle, Werner T1 - Preparation, transmission electron microscopy, and microanalytical investigations of metal-III-V semiconductor interfaces PY - 1996 SN - 1044-5803 SN - 1873-4189 VL - 37 SP - 143 EP - 151 PB - Elsevier CY - New York, NY AN - OPUS4-2528 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Urban, Ingrid A1 - Dörfel, Ilona A1 - Österle, Werner A1 - Schierhorn, Eike T1 - Interfaces between hard coating systems and substrates T2 - 11th European Conference on Electron Microscopy (EUREM-11) CY - Dublin, Ireland DA - 1996-08-26 PY - 1996 SN - 2-9600163-0-0 PB - CESM, Committee of European Societies of Microscopy CY - Brussels AN - OPUS4-2545 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Ressel, P. A1 - Österle, Werner A1 - Urban, Ingrid A1 - Klein, A. A1 - Vogel, K. A1 - Kräutle, H. T1 - Transmission electron microscopy study of rapid thermally annealed Pd/Ge contacts on In0.53Ga0.47As N2 - Phase formation in rapid thermally annealed Pd/Ge contacts on In0.53Ga0.47As has been investigated by means of cross-sectional transmission electron microscopy, convergent-beam electron diffraction, and energy-dispersive x-ray analysis. Solid-phase regrowth is observed to occur similarly as in Pd/Ge contacts on GaAs or InP. The reaction starts at low temperatures with the formation of an amorphous Pd–In–Ga–As layer, which crystallizes at elevated temperatures yielding hexagonal Pd4In0.53Ga0.47As being first described in this work. At temperatures .250 °C, this phase decomposes due to epitaxial solid-phase regrowth of In0.53Ga0.47As and formation of Pd–Ge phases. The stable composition is reached at temperatures .350 °C with excess Ge diffused through top Pd–Ge to the contact interface and growing epitaxially on the semiconductor. KW - Semiconductor KW - Thin film contact layer KW - Electron microscopy KW - Intermetallic phases PY - 1996 U6 - https://doi.org/10.1063/1.363348 SN - 0021-8979 VL - 80 IS - 7 SP - 3910 EP - 3914 AN - OPUS4-38537 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -