TY - JOUR A1 - Dörfel, Ilona A1 - Urban, Ingrid T1 - TEM-Untersuchungen der Randzonenschädigung von Aluminiumoxidkeramiken nach Schleifbearbeitung N2 - Es werden elektronenmikroskopische Untersuchungsergebnisse an Al2O3-Keramiken, die verschiedenen Oberflächenbearbeitungsverfahren unterworfen wurden, vorgestellt. Die Untersuchungen dienen dem Ziel der Optimierung der Oberflächenbearbeitung von keramischen Werkstoffen, wobei der Einfluß leistungsfähiger Bearbeitungsverfahren auf die Ausbildung möglichst schädigungsarmer Oberflächenschichten, die keinen negativen Einfluß auf Festigkeitskennwerte aufweisen, betrachtet wird. Die Wirkung verschiedener Schleif- und Polierprozesse auf Oberflächenveränderungen bearbeiteter Werkstücke wird dargestellt. Es wurde sowohl die Mikrostruktur der geschädigten Randzonenschicht als auch die des unbeeinflußten Grundmaterials mit elektronenmikroskopischen Methoden charakterisiert. Die verschiedenen Schädigungsstadien gestatten eine Einschätzung der Stärke des Störungseintrages in das Material durch verschiedene Schleif- und Polierprozesse. KW - Elektronenmikroskop KW - Transmissionselektronenmikr. KW - Schleifen KW - Polieren KW - Aluminiumoxidkeramik KW - Randzonenschädigung KW - Oberflächenbearbeitung PY - 1996 U6 - https://doi.org/10.1002/mawe.19960270609 SN - 0933-5137 SN - 1521-4052 VL - 27 IS - 6 SP - 307 EP - 312 PB - Wiley-VCH Verl. CY - Weinheim AN - OPUS4-651 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Urban, Ingrid A1 - Klein, A. A1 - Österle, Werner A1 - Merkel, U. T1 - Phasenbildung in Metall-Halbleiterkontaktschichten und Präparationstechnik für TEM-Untersuchung T2 - 9. Internationale Metallographie-Tagung CY - Leoben, Deutschland DA - 1994-09-28 PY - 1995 SN - 3-446-18221-7 SN - 0343-3579 N1 - Serientitel: Sonderbände der praktischen Metallographie – Series title: Sonderbände der praktischen Metallographie IS - 26 SP - 339 EP - 349 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-2505 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Österle, Werner A1 - Urban, Ingrid A1 - Nebauer, E. T1 - Alloying reactions of Au-Ni-Ge ohmic contacts to n-GaAs PY - 1994 SP - 781 EP - 782 CY - Les Ulis AN - OPUS4-2479 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Österle, Werner A1 - Urban, Ingrid A1 - Gesatzke, Wolfgang A1 - Rooch, Heidemarie ED - Bartz, Wilfried J. T1 - Characterization and evaluation of the formation of friction layers during braking with conventional PMC friction material against a cast iron rotor T2 - 14th International Colloquium Tribology, "Tribology and Lubrication Engineering" CY - Stuttgart, Germany DA - 2004-01-13 PY - 2004 SN - 3-924813-54-X VL - 1 SP - 483 EP - 489 PB - Techn. Akad. Esslingen CY - Ostfildern AN - OPUS4-3494 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Österle, Werner A1 - Dörfel, Ilona A1 - Gesatzke, Wolfgang A1 - Rooch, Heidemarie A1 - Urban, Ingrid T1 - Charakterisierung tribologischer Kontakte mit FIB und TEM KW - FIB KW - TEM KW - Verbundwerkstoff KW - Bremse KW - Diamantschicht PY - 2004 SN - 0032-678X N1 - Sprachen: Deutsch/Englisch - Languages: German/English VL - 41 IS - 4 SP - 166 EP - 179 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-3496 LA - mul AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Ressel, P. A1 - Österle, Werner A1 - Urban, Ingrid A1 - Dörfel, Ilona A1 - Klein, A. A1 - Vogel, K. A1 - Kräutle, H. T1 - Transmission electron microscopy study of rapid thermally annealed Pd/Ge contacts on IN0.53Ga0.47As PY - 1996 SN - 0021-8979 SN - 1089-7550 VL - 88 SP - 3910 EP - 3914 PB - American Institute of Physics CY - Melville, NY AN - OPUS4-2514 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Klein, A. A1 - Urban, Ingrid A1 - Ressel, P. A1 - Nebauer, E. A1 - Merkel, U. A1 - Österle, Werner T1 - Preparation, transmission electron microscopy, and microanalytical investigations of metal-III-V semiconductor interfaces PY - 1996 SN - 1044-5803 SN - 1873-4189 VL - 37 SP - 143 EP - 151 PB - Elsevier CY - New York, NY AN - OPUS4-2528 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Urban, Ingrid A1 - Dörfel, Ilona A1 - Österle, Werner A1 - Schierhorn, Eike T1 - Interfaces between hard coating systems and substrates T2 - 11th European Conference on Electron Microscopy (EUREM-11) CY - Dublin, Ireland DA - 1996-08-26 PY - 1996 SN - 2-9600163-0-0 PB - CESM, Committee of European Societies of Microscopy CY - Brussels AN - OPUS4-2545 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Österle, Werner A1 - Urban, Ingrid A1 - Nebauer, E. A1 - Ressel, P. ED - Thomann, H. T1 - Metallurgie von Ohmschen Kontakten auf aktiven Halbleiterschichten T2 - Werkstoffwoche '96 (WW) CY - Stuttgart, Deutschland DA - 1996-05-28 PY - 1997 SN - 3-88355-229-1 VL - 1 SP - 199 EP - 204 PB - DGM Informationsges. CY - Frankfurt AN - OPUS4-2546 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Österle, Werner A1 - Dörfel, Ilona A1 - Urban, Ingrid A1 - Reier, T. A1 - Schultze, J. T1 - XPS and XTEM study of AlN formation by N+2 implantation of aluminium N2 - X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and cross-sectional transmission electron microscopy (XTEM) were used to study the formation of AlN films by N+2 ion implantation of aluminium at energies of 3 keV and 100 keV. In both cases, a two-stage mechanism was found, comprising first the oriented precipitation of small particles of the hexagonal AlN-phase, followed by growth and coalescence finally forming a continuous AlN-layer while increasing the implantation dose from 1×1017 cm-2 to 2×1017 cm-2. The results of both methods are in excellent agreement and furthermore provide complementary information concerning chemical composition and binding energies as well as microstructural details. KW - AIN KW - Aluminium KW - N2+ KW - Implantation KW - XPS KW - XTEM PY - 1998 U6 - https://doi.org/10.1016/S0257-8972(98)00355-7 SN - 0257-8972 VL - 102 IS - 1-2 SP - 168 EP - 174 PB - Elsevier Science CY - Lausanne AN - OPUS4-2363 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -