TY - GEN A1 - Görner, Wolf A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Müller, Bernd R. A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Krumrey, M. A1 - Ulm, G. T1 - The first hard X-rays at the BAMline PY - 2001 UR - http://www.helmholtz-berlin.de/media/media/oea/web/pr_webseite/druckschriften/berichte/bessy/annualreport2000.pdf#page=329 SN - 0179-4159 SP - 329 EP - 331 PB - Berliner Elektronenspeicherring-Gesellschaft für Synchrotronstrahlung CY - Berlin AN - OPUS4-1299 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hasche, K. A1 - Ulm, G. A1 - Herrmann, K. A1 - Krumrey, M. A1 - Ade, G. A1 - Sümpel, J. A1 - Busch, I. A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Schädlich, S. A1 - Schindler, A. A1 - Frank, W. A1 - Procop, Mathias A1 - Beck, Uwe T1 - About the calibration of thickness standards on the nanometer scale T2 - 3rd International EUSPEN conference ; 3rd International conference. European Society for Precision Engineering and Nanotechnology ; 4th General meeting. European Society for Precision Engineering and Nanotechnology CY - Eindhoven, The Netherlands DA - 2002-05-26 PY - 2002 SN - 90-386-2883-8 SP - 1 EP - 5 CY - Eindhoven AN - OPUS4-2283 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hasche, K. A1 - Herrmann, K. A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Krumrey, M. A1 - Ulm, G. A1 - Ade, G. A1 - Pohlenz, F. A1 - Stümpel, J. A1 - Busch, I. A1 - Schädlich, S. A1 - Frank, W. A1 - Hirsch, D. A1 - Schindler, A. A1 - Procop, Mathias A1 - Beck, Uwe T1 - Ein Beitrag zu kalibrierten Nanometerschichten für unterschiedliche Anwendungsbereiche N2 - Nanotechnologien werden gegenwärtig als leistungsfähige Oberflächentechniken in erheblichem Umfange industriell genutzt. Dabei spielen dünne Schichten und deren Kenndaten eine wesentliche Rolle, z.B. als Röntgenspiegel oder optische und magnetooptische Datenträger. Die Schichtdicke zählt hierbei zu den technologisch wichtigen Parametern. Abgeleitet von Anwenderinteressen, werden für die Röntgenreflektometrie (XRR bzw. GIXR), Elektronenstrahl-Mikroanalyse (EPMA) und Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) einerseits und die Ellipsometrie andererseits zugeschnittene Schichtdickenmaßverkörperungen (SDM) entwickelt, gefertigt und untersucht. Das Ziel ist die Bereitstellung praxistauglicher, kalibrierter SDM, im weiteren Schichtdickennormale (SDN) genannt. SDN sind Maßverkörperungen, für die der Schichtdickenwert mit einer definierten Messunsicherheit bekannt und auf ein metrologisch anerkanntes Längennormal zurückgeführt ist. Berichtet wird über die Herstellung und messtechnische Charakterisierung der beiden spezifischen Varianten von Maßverkörperungen. T2 - 47. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium. Technische Universität Ilmenau ; Herbstkonferenz der Gesellschaft für Arbeitswissenschaft ; 6. Workshop Multimedia für Bildung und Wirtschaft CY - Ilmenau, Deutschland DA - 2002-09-23 PY - 2002 UR - http://publica.fraunhofer.de/documents/N-14872.html VL - 47 SP - 568 EP - 569 PB - Techn. Univ. CY - Ilmenau AN - OPUS4-2284 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Koenders, L. A1 - Hasche, K. A1 - Ulm, G. A1 - Krumrey, M. A1 - Ade, G. A1 - Stümpel, J. A1 - Busch, I. A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Schädlich, S. A1 - Schindler, A. A1 - Frank, W. A1 - Beck, Uwe A1 - Procop, Mathias T1 - Über die metrologische Charakterisierung von Schichtdicken Standards im Nanometerbereich T2 - 12th Applied Surface Analysis Workshop ; AOFA 12 CY - --- DA - 2002-09-15 PY - 2002 AN - OPUS4-2285 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Müller, Bernd R. A1 - Görner, Wolf A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Krumrey, M. A1 - Ulm, G. A1 - Diete, W. A1 - Klein, U. A1 - Frahm, R. T1 - BAMlin - the first hard X-ray beamline at BESSY II N2 - The first hard X-ray beamline at BESSY II will be installed by BAM and PTB at a superconducting 7 T wavelength shifter. The main optical elements of the beamline are a Double-Multilayer-Monochromator and a Double-Crystal-Monochromator. The two devices can be used separately or in-line. Main applications of monochromatic radiation with photon energies up to 50 keV are X-ray fluorescence analysis, micro-computed tomography, X-ray topography, detector calibration and reflectometry. Calculable undispersed radiation up to 200 keV will be available for radiometric applications. KW - Double-Multilayer-Monochromator with meridional bender KW - Double-Crystal-Monochromator with sagittal bender KW - X-ray fluorescence analysis KW - Micro-computed tomography KW - X-ray topography KW - Detector calibration KW - Reflectometry PY - 2001 U6 - https://doi.org/10.1016/S0168-9002(01)00466-1 SN - 0168-9002 SN - 0167-5087 VL - 467-468 IS - 1 SP - 703 EP - 706 PB - North-Holland CY - Amsterdam AN - OPUS4-1171 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Hasche, K. A1 - Ulm, G. A1 - Herrmann, K. A1 - Krumrey, M. A1 - Ade, G. A1 - Stümpel, J. A1 - Procop, Mathias A1 - Beck, Uwe T1 - Realisation and metrological characterisation of thickness standards below 100 nm T2 - DVG Jahrestagung 2002 CY - Magdeburg, Germany DA - 2002-06-17 PY - 2002 SP - 1 EP - 9 PB - Deutsche Vakuum-Gesellschaft CY - Kaiserslautern AN - OPUS4-1936 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Göbel, E. O. A1 - Hasche, K. A1 - Ulm, G. A1 - Krumrey, M. A1 - Ade, G. A1 - Stümpel, J. A1 - Herrmann, K. A1 - Koenders, L. A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Pohlenz, F. A1 - Xu, M. A1 - Dai, G. A1 - Hoffmann, K.-P. A1 - Busch, I. A1 - Frank, W. A1 - Procop, M. A1 - Beck, Uwe T1 - Kalibrierte Schichtdicken-Maßverkörperungen für Nanometerschichten, Teilvorhaben - Kalibrierung von Schichtdicken-Maßverkörperungen im Nanometerbereich - Abschlussbericht des BMBF Verbundvorhabens 13N7704 - 13N77041 KW - Schichtdicke KW - Nanometerbereich PY - 2003 UR - http://edok01.tib.uni-hannover.de/edoks/e01fb02/373214030.pdf SP - 1 EP - 131 PB - Physikalisch-Technische Bundesanstalt CY - Dresden AN - OPUS4-25428 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Thomsen-Schmidt, P. A1 - Hasche, K. A1 - Ulm, G. A1 - Herrmann, K. A1 - Krumrey, M. A1 - Ade, G. A1 - Stümpel, J. A1 - Busch, I. A1 - Schädlich, S. A1 - Schindler, A. A1 - Frank, W. A1 - Hirsch, D. A1 - Procop, Mathias A1 - Beck, Uwe T1 - Realisation and metrological characterisation of thickness standards below 100 nm N2 - High-accuracy film thickness measurements in the range below 100 nm can be made by various complex methods like spectral ellipsometry (SE), scanning force microscopy (SFM), grazing incidence X-ray reflectometry (GIXR), or X-ray fluorescence analysis (XRF). The measurement results achieved with these methods are based on different interactions between the film and the probe. A key question in nanotechnology is how to achieve consistent results on a level of uncertainty below one nanometre with different techniques. Two different types of thickness standards are realised. Metal film standards for X-ray techniques in the thickness range 10 to 50 nm are calibrated by GIXR with monochromatised synchrotron radiation of 8048 eV. The results obtained at four different facilities show excellent agreement. SiO2 on Si standards for SE and SFM in the thickness range 6 to 1000 nm are calibrated by GIXR with monochromatised synchrotron radiation of 1841 eV and with a metrological SFM. Consistent results within the combined uncertainties are obtained with the two methods. Surfaces and interfaces of both types of standards are additionally investigated by transmission electron microscopy (TEM). PY - 2004 U6 - https://doi.org/10.1007/s00339-003-2273-7 SN - 0947-8396 VL - 78 IS - 5 SP - 645 EP - 649 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-17195 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Beckhoff, B. A1 - Hahn, Oliver A1 - Weser, J. A1 - Wilke, M. A1 - Ulm, G. A1 - Jann, Oliver T1 - Environmental Analyses by TXRF - NEXAFS and IR-Spectroscopy: Speciation of Br in Organics and Characterization of the Organic Matrix KW - TXRF-NEXAFS KW - FTIR KW - Environmental analyses PY - 2006 UR - http://www.helmholtz-berlin.de/media/media/oea/web/pr_webseite/druckschriften/berichte/bessy/annualreport2005.pdf#page=30 SN - 0179-4159 SP - 28 EP - 30 PB - Berliner Elektronenspeicherring-Gesellschaft für Synchrotronstrahlung CY - Berlin AN - OPUS4-12410 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Bresch, Harald A1 - Lexow, Jürgen A1 - Sturm, Heinz A1 - Packroff, R. A1 - Völker, D. A1 - Mutz, D. A1 - Bosse, H. A1 - Gebel, T. A1 - Pipke, R. A1 - Marx, R. A1 - Plitzko, S. A1 - Niesmann, K. A1 - Meyer-Plath, A. A1 - Burgdorf, T. A1 - Engel, N. A1 - Epp, A. A1 - Haase, A. A1 - Herzberg, F. A1 - Laux, P. A1 - Oberemm, A. A1 - Sommer, Y. A1 - Tentschert, J. A1 - Ulm, G. A1 - Schwirn, K. A1 - Liesegang, C. T1 - Nanomaterialien und andere innovative Werkstoffe: anwendungssicher und umweltverträglich T1 - Nanomaterials and other advanced materials: application safety and environmental compatibility N2 - Mit einer langfristigen Forschungsstrategie begleiten die für die Sicherheit von Mensch und Umwelt zuständigen Bundesoberbehörden (Umweltbundesamt, Bundesinstitut für Risikobe-wertung, Bundesanstalt für Arbeitsschutz und Arbeitsmedizin, Bundesanstalt für Materialfor-schung und -prüfung und Physikalisch-Technische Bundesanstalt) die rasch voranschreiten-de Entwicklung neuer Materialien unter den Gesichtspunkten des Arbeits-, Verbraucher- und Umweltschutzes. Die Strategie steht daher in enger Verbindung zu den öffentlichen Förder-programmen für Nanomaterialien und andere innovative Werkstoffe, z. B. des BMBF („Vom Material zur Innovation“) und der EU („Horizon 2020“). Die Forschungsstrategie baut auf den bisherigen Ergebnissen der 2008 begonnenen und 2013 erstmals bilanzierten gemeinsamen Forschungsstrategie der Bundesoberbehörden „Nanotechnologie - Gesundheits- und Umweltrisiken von Nanomaterialien"1 auf und erweitert den Blickwinkel auch auf andere Materialinnovationen, bei denen vergleichbare Risiken für Mensch und Umwelt bestehen oder abgeklärt werden müssen. Darüber hinaus greift sie die Idee „anwendungssichere chemische Produkte“2 aus der Initiative „Neue Qualität der Arbeit“ (INQA) des Bundesministeriums für Arbeit und Soziales (BMAS) und das Konzept der nach-haltigen Chemie3 auf, das vom Bundesministerium für Umwelt, Naturschutz, Bau und Reak-torsicherheit (BMUB) unterstützt wird. Durch eine anwendungssichere und umweltverträgli-che Gestaltung innovativer Materialien und ihrer Folgeprodukte sollen nicht akzeptable Risi-ken für Mensch und Umwelt von Anfang an weitgehend ausgeschlossen werden. Dies kann erreicht werden durch 1. die Verwendung sicherer Materialien ohne Gefahreneigenschaften für Mensch und Umwelt (direkte Anwendungssicherheit) oder 2. eine Produktgestaltung, die über den gesamten Lebenszyklus emissionsarm und umweltverträglich ist (integrierte Anwendungssicherheit) oder 3. eine Unterstützung des Anwenders (product stewardship) durch den Hersteller bei technischen, organisatorischen und persönlichen Schutzmaßnahmen zur sicheren Verwendung und Entsorgung des Produktes (unterstützte Anwendungssicherheit). Die Fortschreibung der Forschungsstrategie soll als Bestandteil des Nanoaktionsplans 2020 der Bundesregierung Beiträge der Ressortforschung zu folgenden Schwerpunkten leisten: • Charakterisierung und Bewertung der Risiken von Materialinnovationen • Unterstützung von Forschungseinrichtungen und Unternehmen • Fortschreiben von Rechtsvorschriften und Praxisempfehlungen 1 http://www.baua.de/nn_47716/de/Themen-von-A-Z/Gefahrstoffe/Nanotechnologie/pdf/Forschungsstrategie.pdf 2 http://www.baua.de/de/Themen-von-A-Z/Gefahrstoffe/Nachhaltige-Chemie/Nachhaltige-Chemie.html 3 http://www.umweltbundesamt.de/themen/chemikalien/chemikalien-management/nachhaltige-chemie 2 • Gesellschaftliche Akzeptanz Die Forschungsstrategie soll mit Projekten und anderen forschungsnahen Aktivitäten umge-setzt werden. Dies umfasst die eigene Forschung der Häuser, die extramurale Ausschrei-bung und Vergabe von Forschungsdienstleistungen sowie die Beteiligung an vorwiegend öffentlich geförderten Drittmittelprojekten. Hinzu kommen Aktivitäten im Rahmen der Politik-beratung und der hoheitlichen Aufgaben. Mit inter- und transdisziplinären Ansätzen soll die Risiko- und Sicherheitsforschung enger mit der Innovationsforschung und Materialentwick-lung verknüpft werden. Die Forschungsstrategie ist aufgrund der raschen Entwicklungen auf diesem Gebiet für den Zeitraum bis 2020 angelegt. Die Forschungsziele adressieren die in diesem Zeitraum voraussichtlich umsetzbaren Forschungsansätze. Die Forschungsstrategie wird durch einen Arbeitskreis begleitet und spätestens mit Ablauf des Nanoaktionsplans 2020 evaluiert und angepasst. KW - Forschungsstrategie KW - Bundesoberbehörden KW - Nanomaterialien KW - Innovative Werkstoffe KW - Nano PY - 2016 UR - https://www.bam.de/_SharedDocs/DE/Downloads/nano-forschungsstrategie-2016.pdf?__blob=publicationFile&v=3 UR - http://www.baua.de/de/Themen-von-A-Z/Gefahrstoffe/Nanotechnologie/pdf/Fortschreibung-Forschungsstrategie.pdf?__blob=publicationFile&v=3 UR - http://www.bmub.bund.de/fileadmin/Daten_BMU/Download_PDF/Nanotechnologie/forschungsstrategie_bundesoberbehoerden_de_bf.pdf SP - 1 EP - 28 PB - UBA/BfR/BAuA/BAM/PTB CY - Berlin AN - OPUS4-37526 LA - mul AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Ewers, Benjamin A1 - Kupsch, Andreas A1 - Lange, Axel A1 - Müller, Bernd R. A1 - Hoehl, a. A1 - Müller, R. A1 - Ulm, G. T1 - Terahertz spectral computed tomography N2 - The novel technique of spectral THz computed tomography is demonstrated at an example of a small plastic figure. The data are reconstructed by conventional filtered back-projection. The reconstruction are discussed. T2 - IRMMW-THz 2009 - 34th International conference on infrared, millimeter, and terahertz waves CY - Busan, Korea DA - 2009-09-21 KW - THz KW - Computed tomography PY - 2009 SN - 978-1-4244-2120-6 SP - 1 EP - 2(?) AN - OPUS4-20546 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Hornemann, A. A1 - Eichert, D. A1 - Flemig, Sabine A1 - Ulm, G. A1 - Beckhoff, B. T1 - Qualifying label components for effective biosensing using advanced high-throughput SEIRA methodology N2 - The need for technological progress in bio-diagnostic assays of high complexity requires both fundamental research and constructing efforts on nano-scaled assay recognition elements that can provide unique selectivity and design-enhanced sensitivity features. Nanoparticle induced sensitivity enhancement and its application related to multiplexed capability Surface-Enhanced InfraRed Absorption (SEIRA) assay formats are well suitable for these purposes. The potential of diverse fluorophore–antibody conjugates, being chemisorbed onto low-cost gold nanoparticulate SEIRA substrates, has been explored with respect to their spectral discriminability. These novel biolabels deliver molecular SEIRA fingerprints that have been successfully analyzed by both uni- and multivariate analyzing tools, to discriminate their multiplexing capabilities. We show that this robust spectral encoding via SEIRA fingerprints opens up new opportunities for a fast, reliable and multiplexed high-end screening in biodiagnostics. KW - SEIRA methodology KW - bio-diagnostic KW - nanotechnology PY - 2015 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:b43-351389 SN - 1463-9076 SN - 1463-9084 VL - 17 IS - 14 SP - 9471 EP - 9479 PB - The Royal Soc. of Chemistry CY - Cambridge AN - OPUS4-35138 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Vogel, Christian A1 - Hermann, P. A1 - Kästner, B. A1 - Adamczyk, Burkart A1 - Hoehl, A. A1 - Ulm, G. A1 - Adam, Christian T1 - Air and chlorine gas corrosion of different silicon carbides analyzed by nano-Fourier-transform infrared (nano-FTIR) spectroscopy N2 - The present study shows the potential of high-resolution imaging and nano-Fourier-transform infrared (nano-FTIR) spectroscopy for corrosion science. The protective oxidation layers of different chlorine-gas treated silicon carbides (SiCs) were characterized with these techniques. A nitrified SiC showed the highest resistant strength against chlorine corrosion at 1000 °C compared to the other SiCs. Nano-FTIR spectroscopy with a lateral resolution below 40 nm detected differences in the crystallinity of the bulk-SiC and in the transitional region to the protective layer. Furthermore, high-resolution imaging provides deep insight in the interfacial layer between bulk-SiC and the protective oxidation layer on sub-micrometer scale. KW - Nano-Fourier-transform infrared spectroscopy KW - Scattering-type scanning near-field optical microscopy (s-SNOM) KW - Synchrotron radiation KW - Corrosion KW - Silicon carbide KW - Chlorine PY - 2018 U6 - https://doi.org/10.1016/j.corsci.2017.12.002 SN - 0010-938X VL - 131 SP - 324 EP - 329 PB - Elsevier AN - OPUS4-43648 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hornemann, A. A1 - Eichert, D. A1 - Flemig, Sabine A1 - Hoehl, A. A1 - Ulm, G. A1 - Beckhoff, B. ED - Shen, Q. ED - Nelson, C. T1 - Probing biolabels for high throughput biosensing via synchrotron radiation SEIRA technique N2 - Bio-diagnostic assays of high complexity rely on nanoscaled assay recognition elements that can provide unique selectivity and design-enhanced sensitivity features. High throughput performance requires the simultaneous detection of various analytes combined with appropriate bioassay components. Nanoparticle induced sensitivity enhancement, and subsequent multiplexed capability Surface-Enhanced InfraRed Absorption (SEIRA) assay formats are fitting well these purposes. SEIRA constitutes an ideal platform to isolate the vibrational signatures of targeted bioassay and active molecules. The potential of several targeted biolabels, here fluorophore-labeled antibody conjugates, chemisorbed onto low-cost biocompatible gold nano-aggregates substrates have been explored for their use in assay platforms. Dried films were analyzed by synchrotron radiation based FTIR/SEIRA spectro-microscopy and the resulting complex hyperspectral datasets were submitted to automated statistical analysis, namely Principal Components Analysis (PCA). The relationships between molecular fingerprints were put in evidence to highlight their spectral discrimination capabilities. We demonstrate that robust spectral encoding via SEIRA fingerprints opens up new opportunities for fast, reliable and multiplexed high-end screening not only in biodiagnostics but also in vitro biochemical imaging. T2 - 12th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation (SRI) CY - New York, NY, USA DA - 06.07.2015 KW - Biolabels KW - High throughput biosensing KW - Synchrotron radiation KW - SEIRA Technique PY - 2016 U6 - https://doi.org/10.1063/1.4952927 VL - 1741 SP - Article Number: 050007 PB - AIP Conference Proceedings AN - OPUS4-40113 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -