TY - CONF A1 - Traub, Heike A1 - Kipphardt, Heinrich A1 - Jakubowski, Norbert T1 - LA-ICP-MS zur Bestimmung von Elementspuren in Niobpentoxid-Pulver T2 - 9. Symposium Massenspektrometrische Verfahren der Elementspurenanalyse, 22. ICP-MS Anwendertreffen CY - Berlin, Germany DA - 2010-09-06 PY - 2010 AN - OPUS4-21791 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike A1 - Wienold, Julia A1 - Czerwensky, Michael A1 - Kipphardt, Heinrich A1 - Recknagel, Sebastian A1 - Matschat, Ralf A1 - Panne, Ulrich T1 - Laser ablation ICP-MS for the determination of trace impurities in pure copper T2 - EuroAnalysis XIV CY - Antwerp, Belgium DA - 2007-09-09 PY - 2007 AN - OPUS4-15692 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike A1 - Wienold, Julia A1 - Czerwensky, Michael A1 - Kipphardt, Heinrich A1 - Recknagel, Sebastian A1 - Matschat, Ralf A1 - Panne, Ulrich T1 - Laser ablation ICP-MS for the determination of trace impurities in pure copper T2 - IGAS-Jahreskolloquium 2007 CY - Berlin, Germany DA - 2007-11-08 PY - 2007 AN - OPUS4-16304 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike A1 - Drescher, Daniela A1 - Büchner, Tina A1 - Zeise, Ingrid A1 - Kneipp, J. A1 - Jakubowski, Norbert T1 - Localisation and quantification of metallic nanoparticles in single cells by LA-ICP-MS T2 - 12th European Workshop on Laser Ablation (EWLA2014) CY - London, England DA - 2014-07-08 PY - 2014 AN - OPUS4-31099 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike A1 - Drescher, D. A1 - Büchner, T A1 - Kneipp, J. A1 - Jakubowski, Norbert T1 - Localisation and quantification of metallic nanoparticles in single cells by laser ablation ICP-MS T2 - NanoBio Europe, 10th International Congress & Exhibition on Nanobiotechnology CY - Münster, Germany DA - 2014-06-02 PY - 2014 AN - OPUS4-30781 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Meermann, Björn A1 - Lisec, Jan A1 - Jaeger, Carsten A1 - Saatz, Jessica A1 - Traub, Heike A1 - von der Au, Marcus T1 - Mehr Analyten, kleinere Proben N2 - Molekülmassenspektrometrie entwickelt sich weg von klassischer Target- hin zu Nontarget-Analytik. Elementmassenspektrometrie liefert hohe Ortsauflösung beim Element-Imaging und analysiert einzelne Zellen. Aufgrund der Fortschritte bei den Geräten für Timeof-Flight-Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICPToF-MS) lässt sich das gesamte Periodensystem der Elemente in kurzen transienten Signalen quasi-simultan massenspektrometrisch erfassen. KW - Massenspektrometrie KW - Non-target KW - ICP-ToF-MS KW - Laser Ablation/Imaging PY - 2021 VL - 69 IS - Juni SP - 64 EP - 67 PB - Wiley-VCH AN - OPUS4-52800 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Matschat, Ralf A1 - Czerwensky, Michael A1 - Traub, Heike A1 - Heinrich, Hans-Joachim A1 - Kipphardt, Heinrich T1 - Special new techniques of atomic spectrometric methods for trace analysis of high purity metals PY - 2003 SN - 0032-6895 SN - 1778-3771 VL - 91 IS - Décembre SP - 37 EP - 50, N° Hors Série CY - Paris AN - OPUS4-6188 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike A1 - Drescher, Daniela A1 - Büchner, Tina A1 - Zeise, Ingrid A1 - Kneipp, Janina A1 - Jakubowski, Norbert T1 - Studying cellular uptake and processing of nanoparticles by LA-ICP-MS T2 - European Winter Conference on Plasma Spectrochemistry - EWCPS 2015 CY - Münster, Germany DA - 2015-02-22 PY - 2015 AN - OPUS4-32748 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike A1 - Czerwensky, Michael A1 - Matschat, Ralf A1 - Kipphardt, Heinrich A1 - Panne, Ulrich T1 - Vergleich unterschiedlicher Ansätze zur Kalibrierung bei der Analyse von reinem Kupfer mit LA-ICP-MS T2 - ANAKON 2007 CY - Jena, Germany DA - 2007-03-27 PY - 2007 AN - OPUS4-14642 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -