TY - CONF A1 - Traub, Heike T1 - Erste praktische Erfahrungen mit einem ETV ICP OES-System T2 - Anwenderseminar über die direkte Analyse von Festproben mit simultaner ICP-OES / Analyse organischer und anorganischer Proben mit elektrothermischer Verdampfung (ETV) und Lichtbogen-Emission CY - Neu-Isenburg, Deutschland DA - 2002-09-23 PY - 2002 AN - OPUS4-1932 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike T1 - Analyse von Hochtechnologiematerialien mit ETV und Bogen T2 - Solid-Samping-User-Meeting CY - Kempten, Germany DA - 2004-05-24 PY - 2004 AN - OPUS4-3571 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Matschat, Ralf A1 - Czerwensky, Michael A1 - Traub, Heike A1 - Heinrich, Hans-Joachim A1 - Kipphardt, Heinrich T1 - Special new techniques of atomic spectrometric methods for trace analysis of high purity metals PY - 2003 SN - 0032-6895 SN - 1778-3771 VL - 91 IS - Décembre SP - 37 EP - 50, N° Hors Série CY - Paris AN - OPUS4-6188 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike T1 - Laser ablation ICP-MS for the determination of trace impurities in pure copper T2 - EuroAnalysis XIV CY - Antwerp, Belgium DA - 2007-09-09 PY - 2007 AN - OPUS4-15692 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike T1 - Vergleich unterschiedlicher Ansätze zur Kalibrierung bei der Analyse von reinem Kupfer mit LA-ICP-MS T2 - ANAKON 2007 CY - Jena, Germany DA - 2007-03-27 PY - 2007 AN - OPUS4-14642 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Traub, Heike A1 - Czerwensky, Michael A1 - Matschat, Ralf A1 - Kipphardt, Heinrich A1 - Panne, Ulrich T1 - Homogenitätsprüfung und Analyse von reinem Kupfer mit Laserablation-ICP-Massenspektrometrie KW - Laserablation KW - Kupfer KW - Homogenität KW - ZRM PY - 2007 SN - 0026-0746 VL - 61 IS - 11 SP - 744 EP - 745 PB - Giesel Verlag GmbH CY - Isernhagen AN - OPUS4-16153 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike T1 - Homogenitätsprüfung und Analyse von reinem Kupfer mit Laserablation-ICP-Massenspektrometrie T2 - 4. Hochschul-Kupfersymposium CY - Berlin, Germany DA - 2007-11-06 PY - 2007 AN - OPUS4-14803 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike T1 - Direkte Feststoffanalyse von Hochtechnologie-Materialien mit ETV ICP OES und DC-Arc-OES T2 - Abteilungsseminar der Abt. I CY - Berlin, Germany DA - 2005-06-20 PY - 2005 AN - OPUS4-11909 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike T1 - Analyse von reinem Kupfer mit LA-ICP-MS: Möglichkeiten der Kalibrierung mit synthetischen Standards T2 - CANAS '07, Colloquium Analytische Atomspektroskopie CY - Konstanz, Germany DA - 2007-03-18 PY - 2007 AN - OPUS4-14627 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Traub, Heike T1 - Beitrag der LA-ICP-MS zur Charakterisierung von Kupfer-Referenzmaterialien T2 - 21. ICP-MS Anwendertreffen und 8. Symposium über Massenspektrometrische Verfahren der Elementspurenanalyse CY - Dresden, Germany DA - 2008-09-17 PY - 2008 AN - OPUS4-17715 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -