TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Fertigung und Charakterisierung von Kalibrierproben T2 - 1. Treffen im Verbundprojekt Entwicklung und Optimierung von Prüfmethoden zur quantitativen Bestimmung elastischer Eigenschaften in nanoskaligen Dimensionen mit Rastersondenmikroskopie, IZPF CY - Saarbrücken, Germany DA - 2002-09-04 PY - 2002 AN - OPUS4-6526 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Schulz, Eckhard T1 - Untersuchungen zur Materialzusammensetzung der Oberfläche eines Polymerblends: Eine vergleichende Studie zur Aussagefähigkeit mechanischer und elektrischer Zusatzkontraste im SFM T2 - Diskussionstagung: Raster-Sonden-Mikroskopien und Organische Materialien V CY - Münster, Germany DA - 1996-10-09 PY - 1996 AN - OPUS4-6391 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Untersuchung heterogener Werkstoffe mittels dynamisch-mechanischer Zusatz-Kontraste im AFM T2 - 17. SPM Workshop: Fhl. Keramische Technologien und Sinterwerkstoffe CY - Dresden, Germany DA - 1997-03-13 PY - 1997 AN - OPUS4-6413 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Rasterkraftmikroskopische Verfahren zur Charakterisierung von Polymeroberflächen T2 - DECHEMA-Workshop: Mechanische Eigenschaften von Schichtsystemen CY - Frankfurt am Main, Germany DA - 1997-09-29 PY - 1997 AN - OPUS4-6418 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Studies of polymers by SPM T2 - Workshop em Microscopia de Forca Atomica e tecnicas correlatas CY - Rio de Janeiro, Brazil DA - 1997-10-14 PY - 1997 AN - OPUS4-6422 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Studies of wear on materials by SPM T2 - First Workshop on Scanning Probe Microscopy CY - São Carlos, Brazil DA - 1997-10-10 PY - 1997 AN - OPUS4-6421 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Der dynamische Reibungskontrast im SFM T2 - Kolloquium der Abt. VI CY - Berlin, Germany DA - 1997-10-23 PY - 1997 AN - OPUS4-6426 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Munz, Martin A1 - Schulz, Eckhard T1 - Nanomechanics at the Carbon Fibre/PPS interface: A combined SFM study of Topography, AC Conductivity and Surface Stiffness T2 - 24th Intern. TopoMetrix-Workshop: Aktuelle Entwicklungen in der Nanotechnologie und der Rastersondenmikroskopie, Humboldt-Universität CY - Berlin, Germany DA - 1998-03-12 PY - 1998 AN - OPUS4-6458 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Heyde, M. A1 - Munz, Martin A1 - Rademann, K. T1 - Physical properties of nanometer sized particles characterised by Scanning Probe Microscopy Techniques T2 - 2nd German Brazilian Workshop on Applied Surface Science CY - Templin, Germany DA - 1998-09-21 PY - 1998 AN - OPUS4-6454 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Heyde, M. A1 - Sturm, Heinz A1 - Rademann, K. T1 - SPM Techniques to characterise Electrical Properties of Nanometer sized Particles T2 - Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VII CY - Berlin, Germany DA - 1998-10-07 PY - 1998 AN - OPUS4-6455 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Scanning Probe Microscopy Techniques for the Examination of Nanomechanics - a study of Topography, AC Conductivity and Surface Stiffness T2 - Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VII CY - Berlin, Germany DA - 1998-10-08 PY - 1998 AN - OPUS4-6448 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Munz, Martin A1 - Schulz, Eckhard A1 - Hampe, Andreas T1 - Scanning Probe Microscopy Techniques for the Examination of Interface Nanomechanics T2 - ECOF 7, European Conference Thin Organised Films CY - Potsdam, Germany DA - 1998-09-14 PY - 1998 AN - OPUS4-6460 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Geuss, Markus T1 - Measurements of Topography and local electrical properties: Conductivity, Capacity, Surface Charge and Inverse Piezoelectricity T2 - 2nd German Brazilian Workshop on Applied Surface Science CY - Templin, Germany DA - 1998-09-21 PY - 1998 AN - OPUS4-6461 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Munz, Martin A1 - Schulz, Eckhard T1 - SFM-Nanomechanics - Constant Dynamic Indentation- and Harmonically Modulated Friction Force- Microscopy T2 - Workshop: Rastersondenmikroskopie in Forschung und Industrie an der GH Wuppertal CY - Wuppertal, Germany DA - 1999-03-11 PY - 1999 AN - OPUS4-6495 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Heyde, M. A1 - Rademann, K. T1 - Scanning Probe Microscopy Techniques to characterise electric and dielectric properties of nanometer sized particles T2 - ECOF 7, European Conference Thin Organised Films CY - Potsdam, Germany DA - 1998-09-18 PY - 1998 AN - OPUS4-6464 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Heyde, M. A1 - Sturm, Heinz A1 - Rademann, K. T1 - A new application of scanning probe microscopy piezos T2 - Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VII CY - Berlin, Germany DA - 1998-10-07 PY - 1998 AN - OPUS4-6466 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Harmonically modulated friction force microscopy: An AFM tool for analysis and modification of polymer surfaces T2 - International Symposium on Polymer Surface Characterization (MST conference) CY - Newark, NJ, USA DA - 2000-10-10 PY - 2000 AN - OPUS4-6505 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Heyde, M. A1 - Rademann, K. T1 - Analysis of Scanning Probe Microscopy (SPM) Piezos T2 - Digital-Instruments User-Workshop an der TU Dresden CY - Dresden, Germany DA - 1999-04-07 PY - 1999 AN - OPUS4-6498 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Polymere in der AFM-basierten Mikrosystemtechnik - Chancen und Problem anhand zweier Anwendungsbeispiele T2 - Workshop: Microscopy 2000, TU Chemnitz CY - Chemnitz, Germany DA - 2000-03-14 PY - 2000 AN - OPUS4-6503 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Kraft-Modulationstechniken am AFM zum Schreiben und Analysieren kleiner Strukturen T2 - BAM-Kolloquium CY - Berlin, Germany DA - 2000-11-09 PY - 2000 AN - OPUS4-6506 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -