TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Messungen elektrischer Eigenschaften in der Rasterkraftmikroskopie T2 - Forschungsseminar zur Oberflächenphysik der Lehrstühle: Oberflächenphysik und Atomstoßprozesse und Elektronische Eigenschaften und Supraleitung CY - Berlin, Germany DA - 1997-11-17 PY - 1997 AN - OPUS4-6428 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Munz, Martin T1 - Harmonically Modulated Friction Force Microscopy of Polymers and Composites T2 - Workshop "Scanning Probe Microscopy In the New Millennium" CY - Faure, South Africa DA - 2001-02-26 PY - 2001 AN - OPUS4-6512 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Nanomechanics in Scanning Force Microscopy (SFM) T2 - 1st Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy (LA SPM1) CY - São Carlos, Brazil DA - 2001-03-29 PY - 2001 AN - OPUS4-6515 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Dynamic Plowing Lithography T2 - International Workshop on Scanning Probe Microscopy in Nanotechnology CY - Wroclaw, Poland DA - 2001-07-09 PY - 2001 AN - OPUS4-6514 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Bericht und Neuanträge des Teilprojektes A1/B5 T2 - Sfb605 "Elementarreibereignisse" CY - Berlin, Germany DA - 2001-05-07 PY - 2001 AN - OPUS4-6513 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - How to write functional areas on polymers using DPL - a way to produce nanoarrays for life science applications T2 - iThemba LABS CY - Somerset West, South Africa DA - 2002-02-03 PY - 2002 AN - OPUS4-6528 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - From microstructures to nanodots: AFM experiments with a piezoelectric polymer T2 - iThemba LABS CY - Somerset West, South Africa DA - 2002-02-03 PY - 2002 AN - OPUS4-6527 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Munz, Martin A1 - Sturm, Heinz A1 - Schulz, Eckhard T1 - The Normal Force Modulation as a method for Studying the Interphase of Fibre Reinforced Polymer T2 - 24th Intern. TopoMetrix-Workshop: Aktuelle Entwicklungen in der Nanotechnologie und Rastersondenmikroskopie, Humboldt-Universität CY - Berlin, Germany DA - 1998-03-12 PY - 1998 AN - OPUS4-6457 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Munz, Martin A1 - Schulz, Eckhard A1 - Hampe, Andreas T1 - Scanning Probe Microscopy Techniques for the Examination of Interface Nanomechanics - A Study of Topography, AC Conductivity and Surface Stiffness T2 - Workshop: Rastersondenmikroskopie in Forschung und Industrie an der GH Wuppertal CY - Wuppertal, Germany DA - 1999-03-11 PY - 1999 AN - OPUS4-6497 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Geuss, Markus T1 - Scanning Force Microscopy Investigation on Electroactive Polymers and their Metal Electrodes Probing Local Electro-Mechanical Properties T2 - 10th International Symposium on Electrets (ISE 10) CY - Delphi, Greece DA - 1999-09-22 PY - 1999 AN - OPUS4-6502 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Fertigung und Charakterisierung von Kalibrierproben T2 - 1. Treffen im Verbundprojekt Entwicklung und Optimierung von Prüfmethoden zur quantitativen Bestimmung elastischer Eigenschaften in nanoskaligen Dimensionen mit Rastersondenmikroskopie, IZPF CY - Saarbrücken, Germany DA - 2002-09-04 PY - 2002 AN - OPUS4-6526 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Schulz, Eckhard T1 - Untersuchungen zur Materialzusammensetzung der Oberfläche eines Polymerblends: Eine vergleichende Studie zur Aussagefähigkeit mechanischer und elektrischer Zusatzkontraste im SFM T2 - Diskussionstagung: Raster-Sonden-Mikroskopien und Organische Materialien V CY - Münster, Germany DA - 1996-10-09 PY - 1996 AN - OPUS4-6391 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Untersuchung heterogener Werkstoffe mittels dynamisch-mechanischer Zusatz-Kontraste im AFM T2 - 17. SPM Workshop: Fhl. Keramische Technologien und Sinterwerkstoffe CY - Dresden, Germany DA - 1997-03-13 PY - 1997 AN - OPUS4-6413 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Rasterkraftmikroskopische Verfahren zur Charakterisierung von Polymeroberflächen T2 - DECHEMA-Workshop: Mechanische Eigenschaften von Schichtsystemen CY - Frankfurt am Main, Germany DA - 1997-09-29 PY - 1997 AN - OPUS4-6418 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Studies of polymers by SPM T2 - Workshop em Microscopia de Forca Atomica e tecnicas correlatas CY - Rio de Janeiro, Brazil DA - 1997-10-14 PY - 1997 AN - OPUS4-6422 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Studies of wear on materials by SPM T2 - First Workshop on Scanning Probe Microscopy CY - São Carlos, Brazil DA - 1997-10-10 PY - 1997 AN - OPUS4-6421 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Der dynamische Reibungskontrast im SFM T2 - Kolloquium der Abt. VI CY - Berlin, Germany DA - 1997-10-23 PY - 1997 AN - OPUS4-6426 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Munz, Martin A1 - Schulz, Eckhard T1 - Nanomechanics at the Carbon Fibre/PPS interface: A combined SFM study of Topography, AC Conductivity and Surface Stiffness T2 - 24th Intern. TopoMetrix-Workshop: Aktuelle Entwicklungen in der Nanotechnologie und der Rastersondenmikroskopie, Humboldt-Universität CY - Berlin, Germany DA - 1998-03-12 PY - 1998 AN - OPUS4-6458 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Heyde, M. A1 - Munz, Martin A1 - Rademann, K. T1 - Physical properties of nanometer sized particles characterised by Scanning Probe Microscopy Techniques T2 - 2nd German Brazilian Workshop on Applied Surface Science CY - Templin, Germany DA - 1998-09-21 PY - 1998 AN - OPUS4-6454 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Heyde, M. A1 - Sturm, Heinz A1 - Rademann, K. T1 - SPM Techniques to characterise Electrical Properties of Nanometer sized Particles T2 - Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VII CY - Berlin, Germany DA - 1998-10-07 PY - 1998 AN - OPUS4-6455 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -