TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Geuss, Markus T1 - Methods for Simultaneous Measurements of Topography and Local Electrical Properties: Conductivity, Capacity, Surface Charge and Inverse Piezoelectricity T2 - Workshop: Rastersondenmikroskopie in Forschung und Industrie an der GH Wuppertal CY - Wuppertal, Germany DA - 1999-03-11 PY - 1999 AN - OPUS4-6496 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Heyde, M. A1 - Rademann, K. T1 - Recipes for the Calibration of Piezos with a Fibre Optical Displacement Sensor for Scanning Probe Microscopy Usage T2 - 10th International Symposium on Electrets (ISE 10) CY - Delphi, Greece DA - 1999-09-22 PY - 1999 AN - OPUS4-6501 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Experimente mit Polymeren: Statische und dynamische Indentation, Reibung, Referenzproben der BAM T2 - Milestone-Meeting BMBF-Projekt "Entwicklung und Optimierung von Prüfmethoden zur quantitativen Bestimmung elestischer Eigenschaften in nanoskaligen Dimensionen mit Rastersondenmikroskopie" in der BASF CY - Ludwigshafen am Rhein, Germany DA - 2003-12-11 PY - 2003 AN - OPUS4-4096 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Rasterkraft- und elektrische Leitfähigkeitsmikroskopie auf kohlefaserverstärkten Polymersystemen T2 - Workshop "Oberflächencharakterisierung mit Rastersondenmikroskopie" an der Humboldt-Universität CY - Berlin, Germany DA - 1994-09-29 PY - 1994 AN - OPUS4-6374 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Schulz, Eckhard T1 - Rasterkraftmikroskopie mit Leitfähigkeitskontrast zur Oberflächenanalyse von Carbonfaser-Compositen T2 - Tagung "Funktionalisierte dünne organische Schichten und Grenzflächen" CY - Potsdam, Germany DA - 1995-05-22 PY - 1995 AN - OPUS4-6384 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Schulz, Eckhard T1 - Leitfähigkeitskontrast auf Kohlefaseroberflächen und atomare Auslösung auf HOPG T2 - 6th International Workshop "Frontiers in SPM" CY - Saarbrücken, Germany DA - 1995-09-20 PY - 1995 AN - OPUS4-6387 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Bovtun, V. A1 - Schulz, Eckhard T1 - Messungen lokaler elektrischer Eigenschaften an keramischen Dielektrika T2 - 29. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. CY - Münster, Germany DA - 1996-10-10 PY - 1996 AN - OPUS4-6393 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Heyde, M. A1 - Munz, Martin A1 - Rademann, K. T1 - Recipes for the Calibration of Piezos with a cheap and easy-to-use Fibre Optical Displacement Sensor T2 - 2nd German Brazilian Workshop on Applied Surface Science CY - Templin, Germany DA - 1998-09-21 PY - 1998 AN - OPUS4-6465 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Scanning Force Microscopy (SFM) with additional mechanical and electrical materials contrasts T2 - Seminar of the Department of Materials and Interfaces, Weizmann Institute of Science CY - Rehovot, Israel DA - 1997-02-16 PY - 1997 AN - OPUS4-6412 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Studies of wear on materials by SPM T2 - Workshop em Microscopiy de Forca Atomica e tecnicas correlatas CY - Rio de Janeiro, Brazil DA - 1997-10-14 PY - 1997 AN - OPUS4-6423 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -