TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Nanoröhren und -drähte: Lithographie, Manipulation und Analyse in ESEM und AFM T2 - Vorbereitungstreffen zum DFG Schwerpunkt "Nanodrähte und Nanoröhren" T2 - Vorbereitungstreffen zum DFG Schwerpunkt "Nanodrähte und Nanoröhren" CY - Halle (Saale), Germany DA - 2003-01-17 PY - 2003 AN - OPUS4-2914 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Scanning Force Microscopy based Lithography T2 - Anwendertreffen JPK Instruments T2 - Anwendertreffen JPK Instruments CY - Berlin, Germany DA - 2003-09-18 PY - 2003 AN - OPUS4-2916 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Geuss, Markus T1 - Methods for Simultaneous Measurements of Topography and Local Electrical Properties: Conductivity, Capacity, Surface Charge and Inverse Piezoelectricity T2 - Workshop: Rastersondenmikroskopie in Forschung und Industrie an der GH Wuppertal T2 - Workshop: Rastersondenmikroskopie in Forschung und Industrie an der GH Wuppertal CY - Wuppertal, Germany DA - 1999-03-11 PY - 1999 AN - OPUS4-6496 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Heyde, M. A1 - Rademann, K. T1 - Recipes for the Calibration of Piezos with a Fibre Optical Displacement Sensor for Scanning Probe Microscopy Usage T2 - 10th International Symposium on Electrets (ISE 10) T2 - 10th International Symposium on Electrets (ISE 10) CY - Delphi, Greece DA - 1999-09-22 PY - 1999 AN - OPUS4-6501 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Harmonisch modulierte Reibmikroskopie an Modellproben von Bremsbelägen T2 - Kolloquium im Sfb 605 - Elementarreibereignisse an der TU Berlin T2 - Kolloquium im Sfb 605 - Elementarreibereignisse an der TU Berlin CY - Berlin, Germany DA - 2000-05-18 PY - 2000 AN - OPUS4-6504 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Experimente mit Polymeren: Statische und dynamische Indentation, Reibung, Referenzproben der BAM T2 - Milestone-Meeting BMBF-Projekt "Entwicklung und Optimierung von Prüfmethoden zur quantitativen Bestimmung elestischer Eigenschaften in nanoskaligen Dimensionen mit Rastersondenmikroskopie" in der BASF T2 - Milestone-Meeting BMBF-Projekt "Entwicklung und Optimierung von Prüfmethoden zur quantitativen Bestimmung elestischer Eigenschaften in nanoskaligen Dimensionen mit Rastersondenmikroskopie" in der BASF CY - Ludwigshafen am Rhein, Germany DA - 2003-12-11 PY - 2003 AN - OPUS4-4096 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Rasterkraft- und elektrische Leitfähigkeitsmikroskopie auf kohlefaserverstärkten Polymersystemen T2 - Workshop "Oberflächencharakterisierung mit Rastersondenmikroskopie" an der Humboldt-Universität T2 - Workshop "Oberflächencharakterisierung mit Rastersondenmikroskopie" an der Humboldt-Universität CY - Berlin, Germany DA - 1994-09-29 PY - 1994 AN - OPUS4-6374 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Prebarrier modified Richardson-Schottky barrier at the Metal-Polyester Interface T2 - 34th IUPAC International Symposium on Macromol. T2 - 34th IUPAC International Symposium on Macromol. CY - Prague, Czech Republic DA - 1992-07-05 PY - 1992 AN - OPUS4-6378 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie auf polymere Werkstoffe T2 - Berliner Verband für Polymerforschung T2 - Berliner Verband für Polymerforschung CY - Berlin, Germany DA - 1993-05-05 PY - 1993 AN - OPUS4-6381 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Schulz, Eckhard T1 - Rasterkraftmikroskopie mit Leitfähigkeitskontrast zur Oberflächenanalyse von Carbonfaser-Compositen T2 - Tagung "Funktionalisierte dünne organische Schichten und Grenzflächen" T2 - Tagung "Funktionalisierte dünne organische Schichten und Grenzflächen" CY - Potsdam, Germany DA - 1995-05-22 PY - 1995 AN - OPUS4-6384 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -