TY - CONF A1 - Beckmann, Jörg A1 - Spranger, Holger T1 - THz-TDS-SAFT for the detection of inherent discontinuities in dielectric materials N2 - Today X-ray tomography and Ultrasound Synthetic Aperture Focusing Techniques are representative examples for defect imaging in the field of nondestructive testing. THz time domain spectroscopy (TDS) operates with short electromagnetic pulses. The sensitivity of the pulses to optical material property changes makes THz-TDS attractive for the detection of flaws in dielectric materials. Unfortunately, the X-ray computed tomography (CT) model holds only for THz-TDS reconstruction if minor refraction index differences between the inhomogeneities and the surrounding material matrix exist. A Time Domain SAFT algorithm has been developed to overcome the restrictions. THz time domain measurement on representative sample sets with inherent artefacts were performed to use them for the Image reconstructions. The results will be presented and compared with optical surface images of the used test objects to evaluate the SAFT algorithm in relation to the econstruction quality. T2 - 42nd International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves CY - Cancun, Mexico DA - 27.08.2017 KW - THz-TDS-Saft KW - Tomography KW - Dielectric materials KW - Image reconstruction KW - Terahertz spectroscopy KW - Terahertz wave imaging KW - Time-domain analysis KW - X-ray tomography KW - Ultrasound synthetic aperture focusing techniques KW - Terahertz time domain spectroscopy KW - Time domain SAFT algorithm KW - Image reconstructions KW - Optical surface images KW - Computed tomography KW - Dielectrics KW - Time measurement KW - Reflection PY - 2017 UR - http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8067159&isnumber=8066832 SN - 978-1-5090-6048-1 U6 - https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2017.8067159 SP - TD.19-1 EP - TD.19-2 PB - IEEE CY - Danvers, USA AN - OPUS4-42030 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Spranger, Holger A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz-SAFT Rekonstruktion von HDPE-Bauteilen N2 - Obwohl THz-TDS-Systeme vielfältige Qualitätsparameter von Dielektrika ermitteln können, ist deren industrielle Nutzung im Bereich der zerstörungsfreien Bauteilprüfung noch nicht anerkannter Stand der Technik. Ein pragmatischer Weg, TDS-Systeme neben traditionellen Prüfverfahren zu etablieren, sind systematische Untersuchungen an Modellbauteilen, mit dem Ziel einer Methodenentwicklung zur zuverlässigen berührungslosen Prüfung von Dielektrika. Anhand von THz-TDS-Messungen an Polyethylen-Testkörpern mit künstlich eingebauten Fehlstellen werden anfänglich die Möglichkeiten der Laufzeitmessung zur Ermittlung von Tiefenlagen von Ungänzen in Testkörpern präsentiert. Im weitern Teil wird gezeigt, wie durch eine veränderte Versuchsdurchführung und Verwendung eines modifizierten SAFT-Rekonstruktions-Algorithmus Tomogramme berechnet werden können, in denen die künstlich eingebrachten Fehlstellen hinsichtlich ihrer Größe und Lage geometrisch richtig dargestellt werden. T2 - 3. Fachseminar des FA MTHz Mikrowellen- und Terahertz-Prüftechnik in der Praxis CY - Würzburg, Germany DA - 05.04.2017 KW - THz KW - THz-SAFT KW - THz-TDS KW - SAFT KW - HDPE PY - 2017 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:b43-396883 SN - 978-3-940283-84-9 VL - 161 SP - 1 EP - 9 PB - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (DGZfP) CY - Berlin AN - OPUS4-39688 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Spranger, Holger A1 - Beckmann, Jörg T1 - THZ-SAFT Rekonstruktion von HDPE-Bauteilen N2 - Obwohl THz-TDS-Systeme vielfältige Qualitätsparameter von Dielektrika ermitteln können, ist deren industrielle Nutzung im Bereich der zerstörungsfreien Bauteilprüfung noch nicht anerkannter Stand der Technik. Ein pragmatischer Weg, TDS-Systeme neben traditionellen Prüfverfahren zu etablieren, sind systematische Untersuchungen an Modellbauteilen, mit dem Ziel einer Methodenentwicklung zur zuverlässigen berührungslosen Prüfung von Dielektrika. Anhand von THz-TDS-Messungen an Polyethylen-Testkörpern mit künstlich eingebauten Fehlstellen werden anfänglich die Möglichkeiten der Laufzeitmessung zur Ermittlung von Tiefenlagen von Ungänzen in Testkörpern präsentiert. Im weitern Teil wird gezeigt, wie durch eine veränderte Versuchsdurchführung und Verwendung eines modifizierten SAFT-Rekonstruktions-Algorithmus Tomogramme berechnet werden können, in denen die künstlich eingebrachten Fehlstellen hinsichtlich ihrer Größe und Lage geometrisch richtig dargestellt werden. T2 - 3. Fachseminar Mikrowellen- und Terahertz-Prüftechnik in der Praxis CY - Würzburg, Germany DA - 05.04.2017 KW - THz KW - THz-SAFT KW - HDPE PY - 2017 AN - OPUS4-39689 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Spranger, Holger A1 - Beckmann, Jörg T1 - THz – ToF optical layer analysis (OLA) to determine optical properties of dielectric materials N2 - Electromagnetic waves with frequencies between 0.1 and 10 THz are described as THz-radiation (T-ray). The ability to penetrate dielectric materials makes T-rays attractive to reveal discontinuities in polymer and ceramic materials. THz-Time Domain Spectroscopy Systems (THz-TDS) are available on the market today which operates with THz-pulses transmitted and received by optically pumped semiconductor antennas. In THz-TDS the travelling time (ToF) and shape of the pulse is changed if it interacts with the dielectric material and its inherent discontinuities. A tomogram of the object under the test can be reconstructed from time of flight diffraction (ToFD) scans if a synthetic focusing aperture (SAFT) algorithm is applied. The knowledge of the base materials shape and optical properties is essential for a proper reconstruction result. To obtain these properties a model is assumed which describes the device under the test as multilayer structure composed of thin layers with different dielectric characteristics. The Optical Layer Analysis (OLA) is able to fulfill these requirements. A short description why the optical properties are crucial for meaningful SAFT reconstruction results will be given first. Afterwards the OLA will be derived and applied on representative samples to discuss and evaluate ist benefits and limits. T2 - QNDE 2016 CY - Atlanta, GA, USA DA - 17.07.2016 KW - Optical layer analysis KW - THz-TDS KW - Optical properties of dielectric materials KW - THz-ToF PY - 2017 SN - 978-0-7354-1474-7 U6 - https://doi.org/10.1063/1.4974707 SN - 0094-243X VL - 1806 IS - 1 SP - UNSP 120002, 1 EP - 7 PB - AIP Publishing AN - OPUS4-39393 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -