TY - GEN A1 - Hahn, Oliver A1 - Merchel, Silke A1 - Reiche, I. A1 - Simon, O. ED - Ketelsen, T. T1 - Zeichenmaterialien des 15. Jahrhunderts T2 - Das Geheimnis des Jan van Eyck KW - Zerstörungsfreie Materialcharakterisierung KW - RFA KW - VIS-Spektroskopie KW - IR-Reflektographie KW - Archäometrie PY - 2005 SN - 3-422-06566-0 SP - 228 EP - 232 PB - Dt. Kunstverl. CY - München AN - OPUS4-7603 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Reiche, I. A1 - Merchel, Silke A1 - Ketelsen, T. A1 - Simon, O. ED - Ketelsen, T. T1 - Alc ixh xan - Zum zeichnerischen Kalkül Jan van Eycks T2 - Das Geheimnis des Jan van Eyck T2 - Ausstellung "Das Geheimnis des Jan van Eyck. Die Frühen Niederländischen Zeichnungen und Gemälde in Dresden" CY - Dresden, Deutschland DA - 2005-08-13 KW - X-ray spectrometry KW - XRF KW - Röntgenfluoreszenzanalyse KW - RFA KW - Silverpoint drawing KW - Silberstiftzeichnung PY - 2005 SN - 3-422-06566-0 SP - 8 EP - 13 PB - Dt. Kunstverl. CY - München AN - OPUS4-10655 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -