TY - GEN A1 - Ritter, Martin A1 - Hemmleb, Matthias A1 - Hohenberg, H. ED - Luhmann, T. T1 - Kalibrierung unterschiedlicher 3D-Messmethoden mit einem vielseitig einsetzbaren Kalibrierobjekt T2 - 4. Oldenburger 3D-Tage CY - Oldenburg, Deutschland DA - 2005-02-02 KW - 3D-Mikroskopie KW - AFM KW - SEM KW - CLSM KW - Kalibrierung PY - 2005 UR - http://www.m2c-calibration.com/veroeff/O3D2005_Ritter.pdf SN - 3-87907-420-8 VL - 4 SP - 66 EP - 73 PB - Wichmann CY - Heidelberg AN - OPUS4-11474 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -