TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias T1 - Mikro-Röntgenfluorenszenz-Analyse (µ-RFA) am Rasterelektronen-Mikroskop (REM) T2 - 15. Tagung Festkörperanalytik CY - Chemnitz, Germany DA - 2009-07-12 PY - 2009 AN - OPUS4-19529 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias T1 - Characterisation of Polycapillary Lenses with a Scanning Electron Microscope (SEM) T2 - ICXOM20, 20th International Congress on X-ray Optics and Microanalysis CY - Karlsruhe, Germany DA - 2009-09-14 PY - 2009 AN - OPUS4-19533 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Panne, Ulrich T1 - Micro-Focus X-Ray Fluorescence (µ-XRF) Analysis with a Scanning Electron Microscope (SEM) T2 - Euroanalysis 2009 CY - Innsbruck, Austria DA - 2009-09-06 PY - 2009 AN - OPUS4-19536 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Warrikhoff, A. A1 - Panne, Ulrich T1 - Experimental Determination of the X-Ray Tube Spectral Distribution with a Scanning Electron Microscope (SEM) T2 - ICXOM20, 20th International Congress on X-ray Optics and Microanalysis CY - Karlsruhe, Germany DA - 2009-09-14 PY - 2009 AN - OPUS4-19537 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias T1 - Mikro-Fokus-Röntgenfluoreszenzanalyse (µ-RFA) am REM T2 - Thermo-Anwendertreffen Mikroanalyse CY - Düsseldorf, Germany DA - 2009-04-21 PY - 2009 AN - OPUS4-19256 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Warrikhoff, A. A1 - Panne, Ulrich A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Zertifizierung von Röntgenröhrenspektren an einem kalibrierten Messstand T2 - PRORA 2009 CY - Berlin, Germany DA - 2009-11-26 PY - 2009 AN - OPUS4-20086 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias T1 - Mikro-Röntgenfluoreszenz-Analyse (µ-RFA) am Rasterelektronen-Mikroskop (REM) T2 - 15. Tagung Festkörperanalytik CY - Chemnitz, Germany DA - 2009-07-12 PY - 2009 AN - OPUS4-19466 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa T1 - Evaluierung von IMOXS-Quant unter Verwendung von Referentmaterialien T2 - Nutzertreffen iMOXS, BAM CY - Berlin, Germany DA - 2009-10-01 PY - 2009 AN - OPUS4-20043 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -