TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Warrikhoff, A. A1 - Panne, Ulrich A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Zertifizierung von Röntgenröhrenspektren an einem kalibrierten Messstand T2 - PRORA 2009 CY - Berlin, Germany DA - 2009-11-26 PY - 2009 AN - OPUS4-20086 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias A1 - Warrikhoff, A. A1 - Panne, Ulrich T1 - The Determination of the Efficiency of an Energy Dispersive X-Ray Spectrometer up to 50keV with a SEM using a calibrated Reference Spectrometer T2 - EMAS 2009 CY - Gdansk, Poland DA - 2009-05-10 PY - 2009 AN - OPUS4-18462 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Benemann, Sigrid T1 - Spezifische Standard ArbeitsAnweisung (StAA) für die Kalibrierung und Funktionskontrolle von energiedispersiven Rötgenspektrometern (EDS) T2 - Training Course on quality Assureance for traceable energy dispersive electron probe microanalysis (ED-EPMA) CY - Berlin, Germany DA - 2014-03-28 PY - 2014 AN - OPUS4-30588 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Röntgenspektroskopie am REM: Von der methodischen Erweiterung zur Metrologie T2 - Institut für Chemische Technologien und Analytik, Technische Universität Wien, Seminar "Moderne Analytische Chemie" CY - Vienna, Austria DA - 2014-01-10 PY - 2014 AN - OPUS4-29958 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Neue Referenz- und Testmaterialien sowie Prozeduren zur Funktionskontrolle und Spezifizierung von energiedispersiven Röntgenspektrometern (EDS) T2 - Training Course on quality Assure for traceable energy dispersive eletron probe microanalysis (ED-EPMA) CY - Berlin, Germany DA - 2014-03-28 PY - 2014 AN - OPUS4-30587 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Krumrey, M. A1 - Scholze, F. A1 - Laubis, C. A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Neue Referenz- und Testmaterialien sowie Prozeduren zur Funktionskontrolle und Spezifizierung von energie-dispersiven Röntgenspektrometern T2 - PRORA 2013 Fachtagung Prozessnahe Röntgenanalytik CY - Berlin, Germany DA - 2013-11-21 PY - 2013 AN - OPUS4-29569 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias T1 - Mikro-Röntgenfluoreszenz-Analyse (µ-RFA) am Rasterelektronen-Mikroskop (REM) T2 - 15. Tagung Festkörperanalytik CY - Chemnitz, Germany DA - 2009-07-12 PY - 2009 AN - OPUS4-19466 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias T1 - Mikro-Röntgenfluorenszenz-Analyse (µ-RFA) am Rasterelektronen-Mikroskop (REM) T2 - 15. Tagung Festkörperanalytik CY - Chemnitz, Germany DA - 2009-07-12 PY - 2009 AN - OPUS4-19529 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias T1 - Mikro-Fokus-Röntgenfluoreszenzanalyse (µ-RFA) am REM T2 - Thermo-Anwendertreffen Mikroanalyse CY - Düsseldorf, Germany DA - 2009-04-21 PY - 2009 AN - OPUS4-19256 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Panne, Ulrich T1 - Micro-Focus X-Ray Fluorescence (µ-XRF) Analysis with a Scanning Electron Microscope (SEM) T2 - Euroanalysis 2009 CY - Innsbruck, Austria DA - 2009-09-06 PY - 2009 AN - OPUS4-19536 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -