TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Synchrotron Radiation for the Characterization of Energy Dispersive X-ray Spectrometers T2 - Microscopy and Microanalysis CY - Savannah, GA, USA DA - 2004-08-02 PY - 2004 AN - OPUS4-4612 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Qualitätssicherung in einem REM/EDX-Labor T2 - Workshop "Raster-Elektronen-Mikroskopie in der Mikroverbindungstechnik" des FhG-IZM CY - Berlin, Germany DA - 1999-10-27 PY - 1999 AN - OPUS4-6054 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Quantitative Analysis in EDS T2 - Short Course "Energy Dispersive X-ray Microanalysis" der DPG Konstanz CY - Konstanz, Germany DA - 1999-05-03 PY - 1999 AN - OPUS4-6034 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - RDXTOOLS - Computer Programmes for the Determination of Critical EDX System Parameters T2 - EMAS´99, 6th Workshop of the European Microanalysis Society CY - Konstanz, Germany DA - 1999-05-03 PY - 1999 AN - OPUS4-6077 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Aufbau und Funktionsweise von energiedispersiven Röntgenspektrometern T2 - 32. Kolloquium EDO CY - Saarbrücken, Germany DA - 2000-09-18 PY - 2000 AN - OPUS4-6121 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Einsatz des Röntec MultiMax in der Materialforschung und -prüfung T2 - Festkolloquium zum 10-jährigen Bestehen der Firma Röntec CY - Berlin, Germany DA - 2001-05-28 PY - 2001 AN - OPUS4-6153 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Erfahrungen mit STRATAGEM bei der Bestimmung von Metallschichtdicken im Nanometerbereich T2 - SAMx-Anwender-Treffen CY - Halle (Saale), Germany DA - 2001-07-02 PY - 2001 AN - OPUS4-6154 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Wie genau ist standardlose Elektronenstrahl-Mikroanalyse? T2 - Kolloquium "Ausgewählte analytische Methoden der Physik" - TU-Berlin, Institut für Atomare Physik und Fachdidaktik CY - Berlin, Germany DA - 2002-10-29 PY - 2002 AN - OPUS4-6248 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - EDX-Spektrometerüberprüfung an der BAM gemäß ISO 17025 T2 - ThermoNORAN Nutzertreffen CY - Marburg, Germany DA - 2002-11-05 PY - 2002 AN - OPUS4-6249 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Elektronenstrahl-Mikroanalyse T2 - Kolloquium "Ausgewählte analytische Methoden der Physik", TU-Berlin - Institut für Atomare Physik und Fachdidaktik CY - Berlin, Germany DA - 2001-12-11 PY - 2001 AN - OPUS4-6206 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Energiedispersive Röntgenspektrometrie und Qualitätssicherung T2 - BAM-Kolloquium "Rasterelektronenmikrosakopie unter variablem Kammerinnendruck" CY - Berlin, Germany DA - 2002-05-28 PY - 2002 AN - OPUS4-6213 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - How accurate your standardless EDS analysis really is? T2 - SCANDEM 2002 CY - Tampere, Finland DA - 2002-06-14 PY - 2002 AN - OPUS4-6214 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Schichtdickenbestimmung für Nanometer-Kalibriernormale mittels XRF T2 - 2. Seminar zur Nutzung des Wellenlängenschieber-Messplatzes bei BESSY II CY - Berlin, Germany DA - 2001-11-08 PY - 2001 AN - OPUS4-6163 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Schnelle Elementverteilungsanalysen mit dem RÖNTEC ColorSEM T2 - Kundenschulung der Fa. Röntec CY - Strausberg, Germany DA - 2003-06-04 PY - 2003 AN - OPUS4-6356 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Röntgenfluoreszenz am Rasterelektronenmikroskop - Vor- und Nachteile gegenüber der Elektronenstrahlmikroanalyse T2 - Kolloquium "Neue Analysenmethoden am Rasterelektronenmikroskop", BAM CY - Berlin, Germany DA - 2004-03-25 PY - 2004 AN - OPUS4-6425 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Röntgenfluoreszenz am Rasterelektronenmikroskop - Vor- und Nachteile gegenüber der Elektronenstrahlmikroanalyse T2 - Kolloquium "Neue Analysenmethoden am Rasterelektronenmikroskop", BAM CY - Berlin, Germany DA - 2004-03-04 PY - 2004 AN - OPUS4-6424 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Procop, Mathias T1 - EDXTOOLS - Computer Programmes for the Determination of Critical EDX Spectrometer Parameters N2 - Quality assurance according to ISO or EN norms entails a periodical check of critical instrumental parameters. Not yet all commercial software purchased with instruments supports the related measurements and their fast evaluation. EDXTOOLS consist of a programme library which complements the existing software for electron excited energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) in this respect. EDXTOOLS can be used to check the detection efficiency by the evaluation of the L/K intensity ratio in a copper or nickel spectrum or by the calculation of the thickness of absorbing detector layers from experiments, which can be performed on any scanning electron microscope. Moreover, measured spectra can be modified by the transmission curve of absorbing media to estimate their influence on the result of quantitative analysis. EDXTOOLS allow the determination of the signal to background ratio from an Fe-55 spectrum and the fitting of measured FWHM's of K-lines to find the resolution curve DE = Ö{DE 2el + DE 2det}. They are completed by the possibility of calculating EDX spectra for the K-lines of light elements and to compare the resulting spectra for different formulae, physical data tables, and detector parameters chosen for the calculation. EDXTOOLS are written in MATLAB®, a wide spread interpreter language. This has the advantage that the programmes are readable text files. A user can check each computational step and modify it. The installation of MATLAB® and its optimization toolbox is necessary to work with EDXTOOLS. KW - X-ray spectrometry KW - EDS KW - Quantitative analysis KW - Computer programmes PY - 2000 DO - https://doi.org/10.1007/s006040050104 SN - 0026-3672 SN - 1436-5073 VL - 132 IS - 2-4 SP - 527 EP - 530 PB - Springer CY - Wien AN - OPUS4-6837 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Procop, Mathias T1 - Measurement of X-Ray Emission Efficiencies for K-Lines KW - X-ray spectrometry KW - X-ray emission KW - X-ray yield KW - Electron probe microanalysis KW - EMPA KW - Standardless analysis PY - 2004 DO - https://doi.org/10.1017/S1431927604040139 SN - 1431-9276 SN - 1435-8115 VL - 10 IS - 4 SP - 481 EP - 490 PB - Cambridge University Press CY - New York, NY AN - OPUS4-6838 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - RPRT A1 - Procop, Mathias T1 - Röntgenspektroskopie am Rasterelektronenmikroskop PY - 2001 SP - 1 EP - 26 AN - OPUS4-6834 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Wandel, K. A1 - Procop, Mathias A1 - Richter, U. A1 - Wolf, R. T1 - The influence of the storage time and the deposition of SiO2 on the properties of H2SO4 etched (In,Ga) As surface layers investigated by XPS and ellipsometry PY - 1993 SN - 0268-1242 SN - 1361-6641 VL - 8 SP - 1438 EP - 1444 PB - IOP Publ. CY - Bristol AN - OPUS4-7087 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Gruska, B. A1 - Wandel, K. A1 - Procop, Mathias ED - Lengeler, B. T1 - The InGaAs/SiO2 interface investigated by angle resolved XPS and ellipsometry T2 - 4th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces (ICFSI) CY - Jülich, Germany DA - 1993-06-14 PY - 1993 SN - 981-021559-2 VL - 4 SP - 373 EP - 376 PB - World Scientific CY - Singapore AN - OPUS4-7088 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -