TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Computerprogramm zu Modellierung der Spektrometerantwortfunktion eines energiedispersiven Röntgenspektrometers T2 - Fachtagung Prozessnahe Röntgenanalytik (PRORA 2007) CY - Berlin, Germany DA - 2007-11-15 PY - 2007 AN - OPUS4-16935 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Modelling the response function of an EDS with a silicon detector T2 - European X-ray Spectroscopy Conference CY - Cavtat, Croatia DA - 2008-06-16 PY - 2008 AN - OPUS4-17602 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - About the calibration of thickness standards on the nanometer scale T2 - EUSPEN 2002 CY - Eindhoven, Netherlands DA - 2002-05-26 PY - 2002 AN - OPUS4-3259 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Abschätzung der Dicke absorbierender Schichten eines EDX-Detektorsystems mit Hilfe von Bremsstrahlungsspektren T2 - 29. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) CY - Münster, Germany DA - 1996-10-08 PY - 1996 AN - OPUS4-3260 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Eine Mikrofokus-Röntgenquelle als Zusatz zum Raserelektronenmikroskop für die Röntgenflüoreszenzanalyse T2 - Fachtagung "PRORA 2003" CY - Berlin, Germany DA - 2003-04-03 PY - 2003 AN - OPUS4-4369 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Fehlermöglichkeiten bei der ESMA am REM/EDX T2 - Kundenschulung der Fa. Röntec CY - Strausberg, Germany DA - 2003-06-04 PY - 2003 AN - OPUS4-4370 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Film thickness standards for X-ray techniques and ellipsometry T2 - Workshop Metrology CY - Plzen, Czech Republic DA - 2002-10-20 PY - 2002 AN - OPUS4-4322 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Detection efficiency of energy dispersive detectors: high accuracy measurement and modelling T2 - European Conference on X-Ray Spectrometry CY - Alghero, Italy DA - 2004-06-06 PY - 2004 AN - OPUS4-4603 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Stand und Perspektiven der Materialanalyse mittels Röntgenspektroskopie am Rasterelektronenmikroskop T2 - Kolloquium des Zentrums für Mikro- und Nanotechnologie (ZMN) CY - Ilmenau, Germany DA - 2004-03-31 PY - 2004 AN - OPUS4-4610 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Synchrotron Radiation for the Characterization of Energy Dispersive X-ray Spectrometers T2 - Microscopy and Microanalysis CY - Savannah, GA, USA DA - 2004-08-02 PY - 2004 AN - OPUS4-4612 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -