TY - JOUR A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Schors, Jörg A1 - Wald, Oliver T1 - New Developments in X-ray-Topography of Advanced Non-Metallic Materials T2 - 15th World Conference on Non-Destructive Testing (WCNDT) CY - Roma, Italy DA - 2000-10-15 PY - 2000 UR - http://www.ndt.net/article/wcndt00/papers/idn258/idn258.htm SN - 1435-4934 VL - 5 IS - 11 PB - NDT.net CY - Kirchwald AN - OPUS4-928 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Lange, Axel A1 - Schors, Jörg T1 - Charakterisierung von Mikroschäden in polymeren Faserkompositen mittels Röntgen-Refraktions-Topography T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 2001 CY - Berlin, Deutschland DA - 2001-05-21 PY - 2001 UR - http://www.ndt.net/article/dgzfp01/papers/p49/p49.htm N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - 75-CD PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-1298 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Görner, Wolf A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Müller, Bernd R. A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Krumrey, M. A1 - Ulm, G. T1 - The first hard X-rays at the BAMline PY - 2001 UR - http://www.helmholtz-berlin.de/media/media/oea/web/pr_webseite/druckschriften/berichte/bessy/annualreport2000.pdf#page=329 SN - 0179-4159 SP - 329 EP - 331 PB - Berliner Elektronenspeicherring-Gesellschaft für Synchrotronstrahlung CY - Berlin AN - OPUS4-1299 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel T1 - Non-destructive evaluation of advanced materials by synchrotron radiation refraction topography PY - 2002 UR - http://www.helmholtz-berlin.de/media/media/oea/web/pr_webseite/druckschriften/berichte/bessy/annualreport2001.pdf#page=233 SN - 0179-4159 SP - 233 EP - 234 PB - Berliner Elektronenspeicherring-Gesellschaft für Synchrotronstrahlung CY - Berlin AN - OPUS4-1326 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Ekenhorst, Derk A1 - Brzezinka, Klaus-Werner A1 - Hentschel, Manfred P. ED - Krenkel, W. T1 - Fiber Induced Failure of Carbon/Carbon Composites T2 - 4th International Conference on High Temperature Ceramic Matrix Composites ; 4th HT-CMC Conference CY - Munich, Germany DA - 2001-10-01 PY - 2001 SN - 3-527-30320-0 VL - 4 SP - 175 EP - 180 PB - Wiley-VCH CY - Weinheim AN - OPUS4-1289 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel T1 - SYRTOPO - Materialcharakterisierung an der BAMline N2 - Einleitung Die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) hat im Synchrotronstrahlungslabor BESSY (im Wissenschafts- und Technologiezentrum Berlin-Adlershof) ein Röntgen-Strahlrohr (BAMline) sowie einen Messplatz für die zerstörungsfreie Materialcharakterisierung aufgebaut. Der Messplatz erlaubt die Untersuchung mit monochromatischer Röntgenstrahlung im Energiebereich von 5keV bis 60keV mit hohem Photonenfluß. Seit Anfang 2001 läuft der Probebetrieb zur Optimierung der Strahlungsquelle sowie des experimentellen Aufbaus. Die Besonderheiten der BAMline im Vergleich zu Laboröntgenquellen sind der hohe Photonenfluss bei freier Wahl der Photonenenergie sowie die Polarisationseigenschaften und die außerordentliche Parallelität der Strahlung bei großem Strahlungsquerschnitt. Dies ermöglicht Refraktionstopogramme für Metall-Matrix-Komposite (MMC) in relativ kurzer Zeit, mit einer lateralen Ortsauflösung von 10µm, zu messen. Das neuartige ZfP-Verfahren der Röntgen-Refraktions-Topograhy wurde an anderer Stelle ausführlich beschrieben [1,2]. Es nutzt die Messtechnik der traditionellen Kleinwinkelstreuung auf unkonventionelle Weise, und wurde in den letzten zehn Jahren in unserem Labor entwickelte und an die fortgeschrittenen Anforderungen für die zerstörungsfreie Charakterisierung von neuartigen Werkstoffen wie faserverstärkten Kompositen und Keramiken angepasst. Das Verfahren basiert auf dem Brechungseffekt von Röntgenstrahlen. Auf Grund der kurzen Wellenlänge der Röntgenstrahlen (l » 0.1nm) können innere Oberflächen sowie Grenzflächenkonzentrationen von Nanometer Große detektiert werden, so dass mit Hilfe dieser Technik sehr leicht Partikel, Risse und Porengrößen im Sub-Mikrometer-Bereich gemessen werden können, ohne dabei die Proben zu zerstören, wie es bei mikroskopischen Techniken notwendig ist. Anwendungsfelder dieser Untersuchungsmethode sind z.B. die Erkennung von Faser-Matrix-Enthaftung nach Schlageinwirkung sowie Rissbildung durch Alterung und Herstellung bei faserverstärkten Kompositen. T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 2002 CY - Weimar, Deutschland DA - 2002-05-06 PY - 2002 UR - http://www.ndt.net/article/dgzfp02/papers/v16/v16.htm SN - 3-931381-39-0 N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - 80-CD SP - 1(?) EP - 6(?) PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-2793 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel A1 - Müller, Bernd R. A1 - Schors, Jörg A1 - Harbich, Karl-Wolfram T1 - Röntgen-Refraktions-Computer-Tomographie N2 - Für die Charakterisierung Neuer Werkstoffe, vornehmlich Nichtmetalle, hat sich das Verfahren der Röntgen-Refraktions-Topographie bewährt. Es handelt sich phänomenologisch um eine Technik der Röntgen-Kleinwinkel-Streuung mit Probekörper-Abtastung bei fest vorgewähltem Streuwinkel. Gegenüber der klassischen Beugungstheorie dominieren jedoch bei der Streuung an Strukturen oberhalb von 0.3 µm Größe röntgenoptische Brechungseffekte. Detektierbar sind damit innere Ober- und Grenzflächen, insbesondere Mikrorisse unterhalb der lichtmikroskopischen Erkennbarkeit. Da es sich hierbei um eine Durchstrahlungs-Technik handelt, überlagern jedoch die Strukturen zu einer Projektion, analog zu den radiographischen Verfahren. Um auch Informationen entlang der Durchstrahlungs-Richtung in der Tiefe des Probekörpers zu erhalten, wird unter kleinen Streuwinkeln die Computer-Tomographie durchgeführt, im ersten Ansatz mit nur zwei Meßkanälen, jeweils für die Messung der Absorptions- und der Refraktions-Intensität. Dazu werden nacheinander 360 Linear-Scans nach Drehung von jeweils 1° aufgenommen. Die Intensitätswerte werden nach den Regeln der fouriergefilterten Rückprojektion zu Computer-Tomogrammen verarbeitet. Die Ergebnisse visualisieren die Anordnung von Grenzflächen und innere Oberflächen, die sich für zahlreiche nichtmetallische Werkstoffe, vor alllem im Transportmittel-Leichtbau als relevante Mikrostrukturen für das Versagens-Verhalten und die Werkstoff-Optimierung eignen. Zum Vergleich entstehen aus den simultanen Absorptionsmessungen gleichzeitig die klassischen Computer-Tomogramme, die ausschließlich Dichteänderungen anzeigen. T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 1999 CY - Celle, Deutschland DA - 1999-05-10 KW - Röntgentomographie KW - Röntgen-Refraktions-Computer-Tomographie PY - 1999 UR - http://www.ndt.net/abstract/dgzfp99/data/40.htm SN - 3-931381-27-7 VL - 1 IS - 68 SP - 361 EP - 369 PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-715 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel A1 - Harwardt, Michael T1 - Characterization of fibre reinforced metals by X-ray refraction CT PY - 2003 UR - http://www.helmholtz-berlin.de/media/media/oea/web/pr_webseite/druckschriften/berichte/bessy/annualreport2002.pdf#page=336 SN - 0179-4159 SP - 336 EP - 337 PB - Berliner Elektronenspeicherring-Gesellschaft für Synchrotronstrahlung CY - Berlin AN - OPUS4-2493 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Goebbels, Jürgen A1 - Müller, Bernd R. A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Weidemann, Gerd ED - Mazal, P. T1 - Special Solutions for CT-Investigations with Synchrotron Radiation T2 - 2nd International Workshop of NDT Experts CY - Prague, Czech Republic DA - 2003-10-06 KW - Computed Tomography KW - Synchrotron radiation KW - X-ray refraction KW - Metal matrix composites KW - Porosity PY - 2003 SN - 80-2142475-3 SP - 91 EP - 97 PB - Univ. of Technology CY - Brno AN - OPUS4-2876 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Müller, Bernd R. A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Lange, Axel A1 - Schors, Jörg T1 - X-ray refraction topography for non-destructive evaluation of advanced materials T2 - 15th World Conference on Non-Destructive Testing (WCNDT) CY - Roma, Italy DA - 2000-10-15 KW - X-ray refraction PY - 2000 UR - http://www.ndt.net/article/wcndt00/papers/idn257/idn257.htm SN - 1435-4934 VL - 5 IS - 11 SP - 1 EP - 7(?) PB - NDT.net CY - Kirchwald AN - OPUS4-871 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Lange, Axel A1 - Schors, Jörg A1 - Müller, Bernd R. T1 - Röntgen-Topographie mit Klein- und Weitwinkel-Streuung N2 - Röntgen-Topographische Verfahren sind dadurch gekennzeichnet, daß die Streueigenschaften eines Probekörpers ortskorreliert erfaßt werden. Somit vereinigen sie die Vorzüge der bildgebenden Eigenschaft der Radiographie mit der Strukturselektivität der Röntgenanalyse. Sowohl die Röntgen-Weitwinkel-Streuung als auch die Röntgen-Kleinwinkel-Streuung (-Beugung und -Refraktion) werden topographisch für die Materialcharakterisierung eingesetzt. Die Topographie-Verfahren und Untersuchungsbeispiele an nichtmetallischen Werkstoffen werden dargestellt. T2 - Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 2002 CY - Weimar, Deutschland DA - 2002-05-06 KW - Röntgen-Streuung KW - Materialcharakterisierung KW - Komposite KW - Keramik PY - 2002 UR - http://www.ndt.net/article/dgzfp02/papers/v15/v15.htm SN - 3-931381-39-0 N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - 80-CD PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-2027 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Harwardt, Michael A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Illerhaus, Bernhard A1 - Goebbels, Jürgen T1 - First refraction enhanced 3D computed tomography T2 - International Symposium on Computed Tomography and Image Processing for Industrial Radiology CY - Berlin, Germany DA - 2003-06-23 PY - 2003 SN - 3-931381-48-X N1 - Serientitel: DGZfP-Proceedings BB – Series title: DGZfP-Proceedings BB IS - 84-CD PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-2519 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. ED - Cohen, L. J. T1 - Non-Destructive Characterization of High Performance Composites by use of X-Ray Refraction Topography T2 - 48th International SAMPE symposium and exhibition CY - Long Beach, CA, USA DA - 2003-05-11 KW - Non-Destructive Inspection (NDI) KW - Characterization KW - Advanced Composite PY - 2003 SN - 0-938994-94-8 VL - 1 SP - 1203 EP - 1211 PB - SAMPE International Business Office CY - Covina, Calif. AN - OPUS4-2542 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Non-Destructive Characterisation of High Performance Composites by use of X-Ray Refraction Topography T2 - SAMPE (Society for the Advancement of Material and Process Engineering) - Fachtagung CY - Long Beach, CA, USA DA - 2003-05-11 PY - 2003 AN - OPUS4-3075 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Lange, Axel T1 - SYRTOPO: Materialcharakterisierung an der BAMline T2 - DGZfP-Jahrestagung 2002: ZfP in Anwendung, Entwicklung und Forschung CY - Weimar, Germany DA - 2002-05-06 PY - 2002 AN - OPUS4-3082 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Harwardt, Michael A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Illerhaus, Bernhard A1 - Goebbels, Jürgen A1 - Bamberg, J. A1 - Heutling, F. T1 - 3D Refraction Computed Tomography Applied to Metal Matrix Composites T2 - 35th International SAMPE Technical Conference-2003 CY - Dayton, OH, USA DA - 2003-09-28 PY - 2003 AN - OPUS4-3253 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CHAP A1 - Fensch-Kleemann, Elisabeth A1 - Müller, Bernd R. A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Hentschel, Manfred P. ED - Kriegesmann, J. T1 - Gefügeanalyse keramischer Werkstoffe mittels Röntgen-Refraktion PY - 2002 SN - 3-87156-091-X IS - Kap. 6.1.4.1 SP - 1 EP - 24 PB - Deutscher Wirtschaftsdienst CY - Köln AN - OPUS4-2066 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schors, Jörg A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Lange, Axel A1 - Müller, Bernd R. T1 - Röntgen-Topographie mit Klein- und Weitwinkel-Streuung und Röntgenrefraktions-Computertomographie KW - Röntgen-Streuung KW - Materialcharakterisierung KW - Komposite KW - Keramik KW - Risse KW - Computertomographie PY - 2003 SN - 0948-5112 IS - 86 SP - 11 Seiten PB - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-2652 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Müller, Bernd R. A1 - Lange, Axel A1 - Harwardt, Michael A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Sub-micrometer computed tomography at BAMline PY - 2004 UR - http://www.helmholtz-berlin.de/media/media/oea/web/pr_webseite/druckschriften/berichte/bessy/annualreport2003.pdf#page=321 SN - 0179-4159 SP - 321 EP - 323 PB - Berliner Elektronenspeicherring-Gesellschaft für Synchrotronstrahlung CY - Berlin AN - OPUS4-3509 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Müller, Bernd R. A1 - Hentschel, Manfred P. A1 - Harbich, Karl-Wolfram A1 - Lange, Axel A1 - Schors, Jörg T1 - X-Ray Refraction Topography for Non-Destructive Evaluation of Advanced Materials KW - X-Ray Refraction KW - Fibre Debonding KW - Topography KW - Crack Density KW - Pore Size KW - SAXS PY - 2001 SP - 1 EP - 7 PB - Society of Manufacturing Engineers CY - Dearborn, Mich. AN - OPUS4-1097 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -