TY - GEN A1 - Ewert, Uwe A1 - Beckmann, Jörg A1 - Bellon, Carsten A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Jechow, Mirko A1 - Großer, A. T1 - Fehlergrößenabhängige Kontrastreduktion und zusätzliche Unschärfe durch Streustrahlung reduzierendie Bildqualität radiologischer Abbildungen - Film und digitale Detektoren im Vergleich T2 - DACH-Jahrestagung 2008 - Zerstörungsfreie Materialprüfung, ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung CY - St. Gallen, Schweiz DA - 2008-04-28 KW - Digitale Radiologie KW - Streuverhältnis KW - Strahlenkontrast KW - Unschärfe PY - 2008 SN - 978-3-940283-09-2 IS - DGZfP-BB 113 (Di.1.A.1) SP - 133 EP - 144 AN - OPUS4-18349 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Osterloh, Kurt A1 - Wrobel, Norma A1 - Fratzscher, Daniel A1 - Jechow, Mirko A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Ewert, Uwe A1 - Hasenstab, A. T1 - Backscatter radiation - using X-rays for illumination T2 - MATEST 2009 CY - Cavtat/Dubrovnik, Croatia DA - 2009-09-23 KW - X-ray back scatter KW - Unilateral access KW - Twisted slit collimator KW - Pinhole camera principle with high energy radiation PY - 2009 SN - 978-953-7283-03-2 IS - #12 SP - 1 EP - 11 AN - OPUS4-20709 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -