TY - CONF A1 - Bruno, Giovanni A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten A1 - Jaczinski, Jessica T1 - Virtual XCT - Simulation of Industrial XCT-Systems with aRTist N2 - One of the few 3D methods, that can be used to analyze an object non-destructively, is X-ray computed tomography (CT). The determination of the object's deviations, such as shape and the internal structure of objects, including defects and material degradation, is of particular interest to industry. The ability of CT to scan an object with its internal and external features at once causes increasing adoption in dimensional metrology. This includes the need to determine the measurement uncertainty. Experimental uncertainty determination by conducting repeated CT measurements is costly and time-consuming. The simulation of the CT measurement process offers the possibility of determining the task-specific measurement uncertainty numerically in a resource-efficient manner. There are already several software programs available that simulate CT systems, such as aRTist. Once the virtual replica of a CT system has been completed, it’s accuracy must be evaluated quantitively in comparison to the CT measurements. To focus on analyzing the quality of the simulated CT images different metrics are introduced for the comparison of experimental and simulated CT projections. The results of the comparisons are presented, and conclusions are drawn how to improve the simulation of industrial CT systems. T2 - MPA Seminar 2024 CY - Stuttgart, Germany DA - 08.10.2024 KW - X-ray Computed tomography KW - Simulations KW - Virtual XCT KW - Digital Twin PY - 2024 AN - OPUS4-61346 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Ewert, U. A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Schumacher, David A1 - Bircher, B. A1 - Meli, F. A1 - Deresch, A. T1 - EMPIR-Projekt NanoXSpot: Neue Normentwürfe für die Brennfleckmessung an Röntgenröhren im Makro-, Mikro- und Nanometerbereich für Hersteller und Anwender N2 - Im Rahmen des EMPIR-Projektes NanoXSpot (Nanometre X-ray Focal Spot Measurement) werden rückführbare Messverfahren zur Bestimmung der Brennfleckgröße und -form von Röntgenröhren im Bereich von 100 nm bis 10 mm entwickelt, welche die Grundlage für die Erarbeitung mehrerer Normentwürfe bilden. Diese werden 2022 parallel bei ISO TC 135 (NDT) SC 5 (RT) und CEN TC 138 (NDT) WG 1 (RT) eingereicht. Entsprechende Normen werden auch bei ASTM vorgestellt. Die Norm EN 12543-4 (Kantenmethode) wird umgeschrieben für die Messung von Brennflecken von 1 μm – 10 mm durch Auswertung von Loch- oder Scheibenaufnahmen. Der im Rahmen des NanoXSpot-Projektes neu entwickelte NxS-Testkörper ist geeignet für den Bereich von 1 μm – 100 μm. Von 100 μm bis 10 mm können ASTM-Lochtestkörper verwendet werden, die bereits bei ASTM E 1165 beschrieben sind. Neu ist die Anwendung eines CT-Algorithmus zur Rekonstruktion der Brennflecke, um Lochblenden-basierte Brennfleckkameras, insbesondere im Bereich unter 100 μm, zu ersetzen. Ein neuer Normteil, EN 12543-6, wurde entworfen, um die Brennfleckmessung im Bereich 100 nm – 20 μm mit hoher Genauigkeit zu ermöglichen. Verschiedene Strichgruppen-Testkörper kommen hier zum Einsatz. Das sind die JIMAPrüfkörper, ein neuer Hochkontrast-Strichgruppentestkörper von YXLON (HiCo) und der neu entwickelte Testkörper NxS. Diese werden vorgestellt. Die Messprozedur für Röhrenhersteller wird auf einer numerischen Fit-Prozedur basieren, die über einen Ringversuch im Projekt validiert wurde. Beide Normen benötigen numerische Auswertealgorithmen zur korrekten Anwendung, die als kommerzielle Software und Public Domain – Software verfügbar gemacht werden. Es wird über die zu erwartenden Standardprozeduren und die erforderliche Hardware zur Anwendung der Normen informiert. T2 - DGZfP-Jahrestagung CY - Kassel, Germany DA - 23.05.2022 KW - Röntgenröhre KW - Brennfleckmessung KW - Normung PY - 2022 AN - OPUS4-56100 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -