TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Fischer, Daniel A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher-Hofinger, Stefan A1 - Stockmann, Jörg Manfred A1 - Weise, Matthias T1 - Mapping und Imaging modifizierter Oberflächen: Generische Kenngrößen, Fehlstellen, Reinigungszustand und Haftfestigkeit T2 - Tagungsband zum 37. ak-adp 2020, Leipzig N2 - Der Vortrag widmet sich dem Mapping und Imaging modifizierter Oberflächen: generische Kenngrößen, Fehlstellen, Reinigungszustand und Haftfestigkeit. Es werden Untersuchungsmethoden zu ihrer Prüfung dargestellt. T2 - 37. ak-adp 2021 CY - Jena, Germany DA - 16.06.2021 KW - Qualitätssicherung KW - Mapping modifizierter Oberflächen KW - Imaging modifizierter Oberflächen KW - Generische Kenngrößen KW - Haftfestigkeit KW - Klebfestigkeit PY - 2021 SP - 1 EP - 10 AN - OPUS4-52893 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hielscher, Stefan A1 - Weise, Matthias T1 - Auf dem Weg zu Industrie 4.0: Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets in der Oberflächentechnik T2 - Tagungsband 14. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik und 6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik N2 - Vorgestellt wurde die Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets für sehr unterschiedliche physikalische Größen, die in der Oberflächentechnik von hoher Relevanz sind: Stufenhöhe h, Schichtdicke d, Eindringhärte HIT und Haftfestigkeit. Die Unterschiede betreffen die Art der Prüfmethodik (optisch zerstörungsfrei vs. mechanisch invasiv/zerstörend), die laterale Größe des Integrationsgebietes der Messung (lokal: nano bis sub-mikro vs. global: mikro bis makro) und die Art der Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets (physikalische Größen: direkt rückführbar; Werkstoffkenngröße: genormt; Systemkenngröße: genormt). Im Rahmen von Industrie 4.0 werden ausgehend der geforderten Spezifikation des beschichteten Produkts (Mittelwert mit Vertrauensbereich oder Mindestwert) durchgehende Toleranzbänder zur Oberflächenmodifizierung/Beschichtung des Substrats, einhergehend mit Prozessfenstern, die diese Toleranzbänder garantieren, erforderlich, die zuverlässig erfasst werden müssen. Die Frage der anzuwendenden Mess- und Prüftechnik und die damit notwendige Betrachtung von Messunsicherheitsbudgets ist für die Digitalisierung von Konditionierungs-, Zustands-, Regel- und Steuergrößen unverzichtbar. Mit Blick auf die Einhaltung von Prozessfenstern und die dafür notwendige Prozessführung wird technologisches Kern-Know-how digitalisiert, das es unbedingt zu schützen gilt. Nur lokale Netze können diese Sicherheit garantieren, in globalen Netzen ist die Datensicherheit bestenfalls maximierbar T2 - 14. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik und 6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik CY - Zeulenroda, Germany DA - 12.03.2019 KW - Oberflächentechnik KW - Messunsicherheit KW - Messtechnik KW - Prüftechnik KW - Haftfestigkeit PY - 2019 SN - 978-3-00-058187-8 VL - 2019 SP - 1 EP - 10 AN - OPUS4-47670 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Griepentrog, Michael A1 - Beck, Uwe ED - Tiller, H. T1 - Stand der Technik in der Oberflächentechnik T2 - Oberflächentechnik für die Praxis : 2. Thüringer Grenz- und Oberflächentage T2 - 2. Thüringer Grenz- und Oberflächentage CY - Oberhof, Deutschland DA - 2006-09-13 KW - Oberflächentechnologie KW - Standardisierung PY - 2006 SN - 3-00-019289-1 SP - 179 EP - 191 PB - Innovent CY - Jena AN - OPUS4-13200 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Griepentrog, Michael A1 - Beck, Uwe ED - Schulte, J. ED - Niu, X. T1 - BAM certified reference materials for nano-metrology: Preparation, characterisation and certification T2 - Proceedings of the 3rd Annual Conference of the Asia Pacific Nanotechnology Forum T2 - 3rd Annual Conference of the Asia Pacific Nanotechnology Forum CY - Shanghai, China DA - 2004-12-09 KW - Certified reference materials KW - Film thickness KW - Mechanical properties KW - Surface acoustic waves KW - Naoindentation KW - Non-destructive testing KW - Destructive testing PY - 2005 SN - 0-97-57537-1-1 SP - 71 EP - 83 PB - Asia Pacific Nanotechnology Forum CY - Sydney AN - OPUS4-5482 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Griepentrog, Michael ED - Berg, S. T1 - Quality assessment, reliability and damage analysis of coating/substrate systems T2 - Proceedings of the 7th International Conference on Plasma Surface Engineering (Surface & coatings technology 142/144) T2 - 7th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE 2000) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2000-09-17 PY - 2000 SN - 0257-8972 IS - 142-144 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-972 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - van der Kolk, G. J. A1 - Hurkmans, A. A1 - Trinh, T. A1 - Fleischer, W. A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael T1 - Coating evaluation of decorative PVD finishes T2 - 41st Annual Technical Conference proceedings T2 - 41st Annual Technical Conference CY - Boston, MA, USA DA - 1998-04-18 PY - 1998 UR - http://www.knovel.com/web/portal/browse/display?_EXT_KNOVEL_DISPLAY_bookid=272 SN - 1-591-24158-8 SP - 44 EP - 45 PB - Society of Vacuum Coaters CY - Albuquerque AN - OPUS4-607 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -