TY - CONF A1 - Günther, Bernd A1 - Czepluch, Wolf A1 - Mäder, Klaus A1 - Zedler, Steffen T1 - Multiplexer for Attenuation Measurements during POF Durability Testing T2 - International POF Technical Conference 2000 (POF 2000) CY - Cambridge, MA, USA DA - 2000-09-05 KW - POF Durability Testing PY - 2000 SP - 209 EP - 213 PB - Information Gatekeepers Inc. CY - Cambridge, Mass. AN - OPUS4-877 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Czepluch, Wolf A1 - Daum, Werner A1 - Günther, Bernd T1 - Automated long-term transmission measurements of plastic optical fibres (POF) T2 - International Metrology Conference CY - Bucharest, Romania DA - 2001-09-18 PY - 2001 VL - 1 SP - 155 EP - 160 AN - OPUS4-1170 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Günther, Bernd A1 - Steckert, Carsten T1 - Messung optischer Kennzahlen von Referenzmaterialien unter Berücksichtigung von ISO 17025 T2 - 5. TITV-Workshop "Trends in der Farb- und Weißmetrik" CY - Greiz, Germany DA - 2003-05-22 PY - 2003 AN - OPUS4-5113 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Günther, Bernd A1 - Steckert, Carsten T1 - Sicherheit in Arbeitswelt und Verkehr T2 - Tag der offenen Tür im DIN CY - Berlin, Germany DA - 2006-10-14 PY - 2006 AN - OPUS4-13501 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Günther, Bernd A1 - Otto, Peter A1 - Steckert, Carsten T1 - Optische Messverfahren und Referenzmaterialien T2 - DfwG-Jahrestagung 2005 CY - Berlin, Germany DA - 2005-10-04 PY - 2005 AN - OPUS4-10915 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -