TY - JOUR A1 - Daum, Werner T1 - Optische Messverfahren - unverzichtbares Instrumentarium in der modernen Materialforschung und -prüfung PY - 2002 SN - 0340-837X SN - 0178-2312 SN - 0171-8096 VL - 69 IS - 10 SP - 411 PB - Oldenbourg CY - München AN - OPUS4-1574 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Daum, Werner A1 - Knapp, Jürgen T1 - Sensorik für neuen Lehrter Bahnhof PY - 2002 UR - http://www.vdi-nachrichten.com/ SN - 0042-1758 VL - 56 IS - 2 SP - 6 PB - VDI-Verl. CY - Düsseldorf AN - OPUS4-1577 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Daum, Werner A1 - Scholl, M. T1 - Standardisierte Messverfahren für POF - Stand der VDI/VDE-Arbeitskreisaktivitäten T2 - 9. ITG-Fachtagung Kommunikationskabelnetze CY - Köln, Deutschland DA - 2002-12-10 PY - 2002 SN - 3-8007-2738-2 IS - 174 SP - 35 EP - 39 PB - VDE-Verl. CY - Berlin AN - OPUS4-2132 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Daum, Werner A1 - Scholl, M. T1 - VDI/VDE-Guideline 5570 - The First Comprehensive Standard on Characterization and Testing of POF T2 - 11th POF 2002 ; 11th International Plastic Optical Fibers Conference ; 11th International POF Conference CY - Tokyo, Japan DA - 2002-09-18 PY - 2002 SP - 243 EP - 246 CY - T¯oky¯o AN - OPUS4-1418 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -