TY - CONF A1 - Bretz, S. A1 - Ranz, H.-J. A1 - Hahn, Oliver T1 - Materialwissenschaftliche Analysen an Hinterglasbildern T2 - Jahrestagung Archäometrie und Denkmalpflege 2004 CY - Mannheim, Germany DA - 2004-10-06 PY - 2004 AN - OPUS4-4994 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -