TY - JOUR A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten T1 - Monte Carlo Simulation für radiographische Anwendungen PY - 2003 SN - 0025-5300 N1 - Geburtsname von Jaenisch, Gerd-Rüdiger: Tillack, G.-R. - Birth name of Jaenisch, Gerd-Rüdiger: Tillack, G.-R. VL - 45 IS - 3 SP - 85 EP - 91 PB - Carl Hanser Verlag CY - München AN - OPUS4-1995 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten A1 - Zhukovskiy, M. A1 - Podoliako, S. T1 - Monte-Carlo-Simulation und CAD KW - Prozeßtomographie KW - Rekonstruktionsalgorithmen KW - Markov-Felder KW - Statistische Estimationstheorie KW - Kalman-Filter PY - 2005 U6 - https://doi.org/10.3139/120.100650 SN - 0025-5300 VL - 47 IS - 4 SP - 210 EP - 218 PB - Carl Hanser Verlag CY - München AN - OPUS4-11605 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Bellon, Carsten A1 - Zhukovskiy, M. A1 - Podoliako, Serguei A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Monte-Carlo-Simulation der Strahlenausbreitung an realen Bauteilgeometrien T2 - DGZfP-Jahrestagung 2004: ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung CY - Salzburg, Austria DA - 2004-05-17 PY - 2004 AN - OPUS4-5597 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Bellon, Carsten T1 - Durchstrahlungsprüfung am Computer simuliert T2 - 12. Sommerkurs Werkstofftechnik, Otto-von-Guericke-Universität CY - Magdeburg, Germany DA - 2004-09-03 PY - 2004 AN - OPUS4-5598 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Bellon, Carsten A1 - Ewert, Uwe A1 - Fratzscher, Daniel A1 - Gollwitzer, Christian A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Simulation of Complex Scan Paths for 3D Reconstruction T2 - International Symposium on Digital Industrial Radiology and Computed Tomography CY - Berlin, Germany DA - 2011-06-20 PY - 2011 AN - OPUS4-24383 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Schulze, M. A1 - Staude, Andreas A1 - Neukamm, M. A1 - Neuschaefer-Rube, U. A1 - Goebbels, Jürgen A1 - Bartscher, M. A1 - Bellon, Carsten A1 - Hilpert, U. ED - Weckenmann, A. T1 - Hochgenaue Geometriebestimmung von Mikrobauteilen mit Computertomographie (CT) N2 - Ziel des Vorhabens ist die hochgenaue und vollständige Erfassung innerer und äußerer Geometrien von Mikrobauteilen mittels Mikro-Computertomographie (µCT). Industriell wichtige Mikrobauteile sind z.B. Einspritzsysteme, Festplattenkomponenten oder Instrumente für die minimal-invasive Chirurgie. Typische Bauteilgrößen liegen hier im Bereich 0,1 mm - 100mm; typische zu messende Strukturen haben Größen von 0,5 µm - 500 µm. Mit klassischen Methoden der Messtechnik ist eine schnelle und hochgenaue Erfassung der gesamten Oberfläche von Mikrobauteilen bisher kaum möglich. Innenstrukturen von Mikrobauteilen können mit keiner optischen oder taktilen Messtechnik zerstörungsfrei gemessen werden. Diese Einschränkungen sollen mittels hochgenauer µCT überwunden werden. Hierzu soll der Messprozess simuliert werden, um die Anwendung von Korrekturverfahren zur Genauigkeitssteigerung zu ermöglichen. CT-Messungen an kalibrierten Mikroprüfkörpern sollen die Korrekturverfahren verifizieren. Für die Kalibrierung der Prüfkörper sollen Multisensor-Verfahren entwickelt und getestet werden. Diese sollen es erlauben, Prüfkörper gleichzeitig hochgenau und mit großer Messpunktdichte zu kalibrieren. Es ist geplant, die an Prüfkörpern erreichten Messunsicherheiten und Auflösungen zum Projektabschluss an realen, industriellen Mikrobauteilen (z.B. Mikrozahnrädern) messtechnisch nachzuweisen. T2 - Abschlusskolloquium DFG Schwerpunktprogramm 1159 - Neue Strategien der Mess- und Prüftechnik für die Produktion von Mikrosystemen und Nanostrukturen CY - Erlangen, Deutschland DA - 06.10.2010 PY - 2011 SN - 978-3-8440-0358-1 SN - 0945-0769 SP - 36 EP - 52 PB - Shaker Verlag GmbH AN - OPUS4-24875 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Bellon, Carsten A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Durchstrahlungsprüfung am Computer simuliert T2 - DGZfP-Jahrestagung 2005 CY - Rostock, Deutschland DA - 2005-05-02 KW - Radiographie KW - Computer-Simulation PY - 2005 SN - 3-931381-64-1 N1 - Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. IS - 94-CD SP - 1 EP - 4(?) PB - DGZfP CY - Berlin AN - OPUS4-11590 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Ewert, Uwe A1 - Beckmann, Jörg A1 - Bellon, Carsten A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Jechow, Mirko T1 - Fehlergrößenabhängige Kontrastreduktion und zusätzliche Unschärfe durch Streustrahlung - Film und digitale Detektoren im Vergleich N2 - Die radiografische Bildqualität in ihrer klassischen Definition hängt von Kontrast, Rauschen und Unschärfe ab. Diese Parameter werden normalerweise mit Bildgüteprüfkörpern (BPK) bestimmt. Die Streustrahlung reduziert im Allgemeinen immer die Bildqualität in der Radiografie. Verschiedene Einflussgrößen werden unter Berücksichtigung von Techniken, wie Film-Radiografie, Computer-Radiografie mit Speicherfolien und digitale Radiographie mit Matrixdetektoren, analysiert. In Lehrbüchern und Standards werden das Streuverhältnis k und verschiedene Kontraste definiert. Für digitale Medien werden zusätzliche Parameter wie das Signal-Rausch-Verhältnis SNR und das Kontrast-Rausch-Verhältnis CNR eingeführt. In diesem Zusammenhang wird der Einfluss der Streustrahlung aus dem Messobjekt und dem Detektor bestehend aus Kassette bzw. Gehäuse und sensitiver Detektorschicht auf die Bildqualität ermittelt. Die numerische Modellierung wird eingesetzt, um die Streustrahlung und die Primärstrahlung aus dem Objekt separat zu bestimmen. Die Streustrahlung aus dem Objekt und Detektor erzeugen eine Abbildung des Objektes, die dem Primärstrahlungsbild überlagert ist, wobei das Streubild eine höhere Unschärfe aufweist. Dieser Effekt hängt von der Fehlergröße, dem Abstand zwischen Detektor und Objekt und der Zwischenfilterung ab. KW - Digitale Radiologie KW - Kontrast-Rausch-Verhältnis KW - Streuverhältnis KW - Röntgen Simulation PY - 2008 SN - 0025-5300 VL - 50 IS - 10 SP - 560 EP - 568 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-18346 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Ewert, Uwe A1 - Beckmann, Jörg A1 - Bellon, Carsten A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Jechow, Mirko A1 - Großer, A. T1 - Fehlergrößenabhängige Kontrastreduktion und zusätzliche Unschärfe durch Streustrahlung reduzierendie Bildqualität radiologischer Abbildungen - Film und digitale Detektoren im Vergleich T2 - DACH-Jahrestagung 2008 - Zerstörungsfreie Materialprüfung, ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung CY - St. Gallen, Schweiz DA - 2008-04-28 KW - Digitale Radiologie KW - Streuverhältnis KW - Strahlenkontrast KW - Unschärfe PY - 2008 SN - 978-3-940283-09-2 IS - DGZfP-BB 113 (Di.1.A.1) SP - 133 EP - 144 AN - OPUS4-18349 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Bellon, Carsten A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger T1 - Durchstralungsprüfung am Computer simuliert T2 - DGZfP-Jahrestagung 2005 CY - Rostock, Germany DA - 2005-05-03 PY - 2005 AN - OPUS4-11438 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -