TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Wirth, Thomas A1 - Terborg, R. A1 - Kim, K. Y. A1 - Unger, Wolfgang T1 - Measurement of atomic fractions in Cu(In, Ga)Se2 films by Auger Electron Spectroscopy (AES) und Energy Dispersive Electron Probe Microanalysis (ED-EPMA) T2 - Microscopy and Microanalysis M&M 2014 CY - Hartford, CT, USA DA - 2014-08-02 PY - 2014 AN - OPUS4-31467 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Klemm, D. A1 - Reinholz, Uwe A1 - Strub, E. A1 - Röhrich, J. A1 - Bohne, W. A1 - Hoffmann, V. A1 - Wetzig, K. T1 - Machbarkeitsstudie zu geeigneten Kandidaten für die Herstellung von CRM für die Bestimmung von Wasserstoff in Festkörpern T2 - 14. Deutsches Anwendertreffen "Analytische Glimmentladungs-Spektroskopie" CY - Berlin, Germany DA - 2008-04-17 PY - 2008 AN - OPUS4-17460 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Paatsch, Wolfgang A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Lokale Wasserstoffkonzentration: kritisch oder harmlos? PY - 2002 SN - 0026-0797 SN - 0043-2792 VL - 56 IS - 2 SP - 41 EP - 44 PB - IGT, Informationsges. Technik CY - München AN - OPUS4-1542 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias A1 - Bjeoumikhov, A. A1 - Eggert, F. A1 - Wedell, R. T1 - Kombination von Elektronenstrahl-Mikroanalyse und Röntgenfluoreszenzanalyse im Rasterelektronenmikroskop T2 - 36. EDO Herbsttagung CY - Wuppertal, Germany DA - 2006-10-04 PY - 2006 AN - OPUS4-13192 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Holzweber, Markus A1 - Unger, Wolfgang T1 - Ionic liquids as reference material: A "hot" candidate to check your EDS below 1 keV T2 - 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA´15) CY - Granada, Spain DA - 2015-09-28 PY - 2015 AN - OPUS4-34702 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - In-depth analysis of the chemical compostion of thick coatings T2 - European Congress and Exhibition on Advanced Materials and Processes (EUROMAT 2007) CY - Nuremberg, Germany DA - 2007-09-10 PY - 2007 AN - OPUS4-15878 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - How to develop Key Comparisons for Electron Probe Microanalysis (incl. EDX/WDX) T2 - Surface Analysis Working Group (SAWG) Meeting, CCQM CY - Sèvres, France DA - 2008-04-01 PY - 2008 AN - OPUS4-17382 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Akcakayiran, D. A1 - Grigoriev, D. A1 - Shchukin, D. G. T1 - High-Resolution SEM with Coupled Transmission Mode and EDX for Quick Characterization of Micro- and Nanocapsules for Self-Healing Anti-Corrosion Coatings T2 - Microscopy and Microanalysis 2013 CY - Indianapolis, IN, USA DA - 2013-08-04 PY - 2013 AN - OPUS4-28951 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Köster, M. T1 - GDS-Forum Website, freie Software für GDS-Anwender, Leitthema-Vorstellung, Anregungen T2 - 10. Deutsches Anwenndertreffen "Analytische Glimmladungs-Spektrometrie" CY - Lüdenscheid, Germany DA - 2003-09-15 PY - 2003 AN - OPUS4-5007 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Köster, M. T1 - GDS-Forum Webseite, freie Software für GDS-Anwender, Leitthema - Vorstellung, Anregungen T2 - 10. Deutsches Anwenndertreffen "Analytische Glimmladungs-Spektrometrie" CY - Lüdenscheid, Germany DA - 2003-09-15 PY - 2003 AN - OPUS4-4327 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Paatsch, Wolfgang A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - GDOES - Ein Verfahren zur Messung von Wasserstoffprofilen an beschichteten Bauteilen PY - 2002 SN - 0026-0797 SN - 0043-2792 VL - 56 IS - 2 SP - 41 EP - 44 PB - IGT, Informationsges. Technik CY - München AN - OPUS4-1212 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Benemann, Sigrid A1 - Strauß, Birgid T1 - Funktionskontrolle von Röntgenspektrometern T2 - Thermo Anwendertreffen Mikroanalyse CY - Düsseldorf, Germany DA - 2009-04-21 PY - 2009 AN - OPUS4-19290 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Evaluation of the performance of energy dispersive X-ray spectrometers - ISO 15632 and more T2 - IUMAS, 5th International Union of Microbeam Analysis Society CY - Seoul, South Korea DA - 2011-05-22 PY - 2011 AN - OPUS4-23776 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Hoffmann, V. A1 - Paatsch, Wolfgang A1 - Bohne, W. A1 - Lindner, S. A1 - Röhrich, J. A1 - Strub, E. T1 - Erste Ergebnisse bei der Suche nach geeigneten Kandidaten für die Herstellung von CRM für die Bestimmung von Wasserstoff in Festkörpern T2 - 11. Deutsches Anwendertreffen "Analytische Glimmladungs-Spektrometrie" CY - Dresden, Germany DA - 2004-09-13 PY - 2004 AN - OPUS4-5980 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Wirth, Thomas A1 - Griepentrog, Michael A1 - Beck, Uwe T1 - Ergebnisse des Ringversuches "Coated Materials" T2 - 9. Deutsches Anwendertreffen "Analytische GDS" CY - Berlin, Germany DA - 2002-09-09 PY - 2002 AN - OPUS4-6218 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Marinenko, R. A1 - Small, J. A1 - Unger, Wolfgang T1 - EPMA on Copper-Gold Alloys - A CCQM/SAWG Pilot Study T2 - Microscopy and Microanalysis 2011 Meeting CY - Nashville, TN, USA DA - 2011-08-07 PY - 2011 AN - OPUS4-24136 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - EMPIR nPSize - improved traceability chain of nanoparticle size measurements - Is a liaison to CEN/TC 352 nanotechnologies useful? N2 - The main objectives of the new EMPIR project nPSize are to establish EU capability of traceable measurement of NP size and shape, lower uncertainties of NP size measurement by developement of new nano-CRMs, new models (physical and machine learning), 3D method combination, and also by new ISO and CEN standards on accurate NP size measurement and guidance and knowledge transfer. The envisaged outcomes of the project will be presented and their suitability will be discussed to be taken over as pertinent contributions to normative projects within CEN/TC 352 Nanotechnologies. T2 - Joint Working Groups and 24th CEN/TC 352 Nanotechnologies Meetings CY - DIN, Berlin, Germany DA - 09.10.2018 KW - Nanoparticles KW - Size KW - Particle size distribution KW - Particle shape KW - Traceability KW - Standardisation KW - CEN/TC 352 Nanotechnologies PY - 2018 AN - OPUS4-46252 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steinhoff, U. A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - EMPIR Erläuterung der Fördermaßnahme und Beispiele aus der Nanotechnologie N2 - Das EMPIR-Förderprogramm wird kurz erläutert und laufende Projekte aus der Nanotechnologie werden vorgestellt. Der Schwerpunkt liegt auf Standardisierungsprojekten, die gemeinsam mit ISO/TC 229 'Nanotechnologies' und CEN/TC 352 'Nanotechnologies' zu neuen Normen führen sollten. Als Beispiel für laufende Nanotechnologie-Projekte mit Koordination aus Deutschland werden MagNaStand (PTB) und nPSize (BAM) gegeben. T2 - Treffen des Normungsausschusses NA 062-08-17 AA Nanotechnologien CY - KIT, Karlsruhe, Germany DA - 07.03.2019 KW - EMPIR KW - Nanoparticles KW - Reference materials KW - Particle size distribution KW - Traceability KW - Standardisation PY - 2019 AN - OPUS4-47859 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Emissionsprozesse in der Ar und Ne GD-OES, HF-GD-OES und HF-SNMS Tiefenprofilanalyse von beschichteten Gläsern/Glaskeramiken T2 - Doktorandenseminar CY - Jetrichovice, Czech Republic DA - 2000-04-17 PY - 2000 AN - OPUS4-6090 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Einfluß von Wasserstoff in der GDOES, Grundlagen T2 - Gemeinsames Seminar IFW-Dresden und TU Szczecin CY - Lukecin, Poland DA - 2001-04-18 PY - 2001 AN - OPUS4-6158 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Einfluss von Wasserstoff auf die Quantifizierung in der GD-OES T2 - IFW-Seminar CY - Dresden, Germany DA - 2000-03-17 PY - 2000 AN - OPUS4-6088 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Einfluss von H in der analytischen Glimmentladung T2 - GDS-Anwendertreffen CY - Dresden, Germany DA - 2000-10-17 PY - 2000 AN - OPUS4-6115 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Einfluss des Wasserstoffs auf die analytischen Linien in der GD-OES - Temperaturmsessungen an der Oberfläche der Probe T2 - Doktoranden-Seminar des IFW-Dresden CY - Jetrichovice, Czech Republic DA - 1999-04-13 PY - 1999 AN - OPUS4-6029 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rades, Steffi A1 - Ortel, Erik A1 - Salge, T. A1 - Mielke, Johannes T1 - Eds elemental selectivity with respect to nanoparticle analysis T2 - EMAS 2015 CY - Portoroz, Slovenia DA - 2015-05-03 PY - 2015 AN - OPUS4-33148 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Mielke, Johannes A1 - Rades, Steffi A1 - Ortel, Erik A1 - Salge, T. T1 - Eds elemental selectivity with respect to nanoparticle analysis T2 - EMAS 2015 CY - Portoroz, Slovenia DA - 2015-05-03 PY - 2015 AN - OPUS4-33149 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Kim, K. Y. A1 - Unger, Wolfgang T1 - ED-EPMA Measurements of elemental Composition and Thickness of Fe-Ni Alloy Films T2 - IUMAS, 5th International Union of Microbeam Analysis Societies CY - Seoul, South Korea DA - 2011-05-22 PY - 2011 AN - OPUS4-23774 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Marineko, R. A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Bremser, Wolfram A1 - Unger, Wolfgang T1 - Determination of the k-Values of Cu-Au Alloys with ED- and WD-EPMA - Results of an inter-laboratory comparison T2 - Microscopy and Microanalysis M&M 2014 CY - Hartford, CT, USA DA - 2014-08-02 PY - 2014 AN - OPUS4-31470 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Terborg, R. A1 - Procop, M. T1 - Determination of the Collection Solid Angle of EDS Detectors T2 - EMAS 2015 - 14th European Workshop on Modern Developments and applications in microbeam analysis CY - Portoroz, Slovenia DA - 2015-05-03 PY - 2015 AN - OPUS4-33248 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Terborg, R. A1 - Procop, M. T1 - Determination of the Collection Solid Angle of EDS Detectors T2 - EMAS 2015 - 14th European Workshop on Modern Developments and applications in microbeam analysis CY - Portoroz, Slovenia DA - 2015-05-03 PY - 2015 AN - OPUS4-33249 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Guilherme, A. A1 - Pessanha, S. A1 - Bendaoud, R. A1 - Zegzouti, A. A1 - Elaatmani, M. A1 - Coroado, J. A1 - Carvalho, M.L. T1 - Compositional and morphological features of Moroccan Zelli by XRF and SEM/EDX T2 - European Conference on x-Ray Spectrometry (EXRS) CY - Bologna, Italy DA - 2014-06-15 PY - 2014 AN - OPUS4-30966 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias A1 - Rackwitz, Vanessa T1 - Check and Specification of the Performance of EDS Systems attached to the SEM by Means of a New Test Material EDS-TM002 and an Updated Evaluation Software Package EDS Spectrometer Test (Version 3.4) T2 - Microscopy and Microanalysis 2013 CY - Indianapolis, IN, USA DA - 2013-08-04 PY - 2013 AN - OPUS4-28952 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Charakterisierung von Nanopartikeln mit hoch-sensitiven EDX-Detektoren am REM T2 - Bruker Seminartage zur Mikroanalyse 2015 CY - Berlin DA - 2015-10-14 PY - 2015 AN - OPUS4-34680 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Ortel, Erik A1 - Pellutiè, L A1 - Maurino, V. A1 - Mielke, Johannes A1 - Häusler, Ines A1 - Österle, Werner T1 - Characterization of shape-engeneered TiO2 nanoparticles by SEM/TSEM T2 - Workshop on Analytical Transmission Scanning Electron Microscopy CY - Boulder, CO, USA DA - 2015-09-15 PY - 2015 AN - OPUS4-34711 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Kühn, Julius A1 - Linke, S. A1 - Moritz, W. A1 - Unger, Wolfgang T1 - Characterization of Pd-Ni-Co Alloy Thin Films by ED-EPMA and Data Reduction by the STRATAGEM Software T2 - IUMAS, 5th International Union of Microbeam Analysis Societies CY - Seoul, South Korea DA - 2011-05-22 PY - 2011 AN - OPUS4-23779 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rades, Steffi A1 - Ortel, Erik A1 - Mielke, Johannes A1 - Salge, T. A1 - Schmidt, R. T1 - Characterization of nanoparticles by means of high-resolution SEM/EDS T2 - EMAS 2015 - 14th European Workshop on Modern Developments and applications in microbeam analysis CY - Portoroz, Slovenia DA - 2015-05-03 PY - 2015 AN - OPUS4-33250 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Terborg, R. A1 - Falke, M. A1 - Käppel, A. T1 - Characterization of EDS Systems with respect to the Geometrical Collection Efficiency T2 - 18th International Microscopy Congress IMC 2014 CY - Prague, Czech Republic DA - 2014-09-07 PY - 2014 AN - OPUS4-31914 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Reuter, Dirk T1 - Challenges for an accurate Reference-free quantitative Analysis with µ-XRF at a SEM/EDS T2 - European Conference on X-Ray Spectrometry CY - Figueira da Foz, Portugal DA - 2010-06-20 PY - 2010 AN - OPUS4-23568 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Marinenko, R. A1 - Small, J. T1 - CCQM-P130: A Joint NIST/BAM Pilot Study for ED- and WD-EPMA T2 - Surface Analysis Working Group (SAWG) Meeting, CCQM CY - Sèvres, France DA - 2011-04-12 PY - 2011 AN - OPUS4-23567 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias T1 - Calculation of scattering spectra for the determination of the actual transmission of an X-ray minilens for µXRF T2 - European Conference on X-Ray Spectrometry (EXRS 2008) CY - Cavtat, Croatia DA - 2008-06-16 PY - 2008 AN - OPUS4-16644 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Bestimmung der Transmission von Kapillarlinsen durch Streuspektren T2 - TU-Forschungsseminar "Moderne Analytische Methoden der Physik" CY - Berlin, Germany DA - 2008-01-15 PY - 2008 AN - OPUS4-16483 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Bestimmung der ED-Röntgenspektrometer-Eigenschaften mit dem BAM-Testmaterial EDS-TM001 T2 - µ-RFA-Workshop, BAM CY - Berlin, Germany DA - 2011-09-22 PY - 2011 AN - OPUS4-24460 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias A1 - Bjeomikov, A. A1 - Arkadiev, V. A1 - Haschke, M. T1 - Bestimmung der aktuellen Transmission einer Röntgen-Minilinse durch Vergleich von berechneten und gemessenen Streuspektren T2 - Fachtagung Prozessnahe Röntgenanalytik, PRORA 2007 CY - Berlin, Germany DA - 2007-11-15 PY - 2007 AN - OPUS4-16175 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias T1 - Berechnung von Röntgenröhrenspektren auf der Grundlage experimenteller Röntgenausbeuten T2 - Forschungsseminar "Ausgewählte analytische Methoden der Physik" CY - Berlin, Germany DA - 2006-05-30 PY - 2006 AN - OPUS4-12453 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Berechnung von Rayleigh- und Comptonstreuung für die Evaluierung von Röntgenspektren T2 - Forschungsseminar "Moderne Analytische Methoden der Physik" (TUB) CY - Berlin, Germany DA - 2007-01-16 PY - 2007 AN - OPUS4-14500 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Analyse von Wasserstoff in der GDOES, Anwendungen T2 - IFW Dresden Seminar CY - Dresden, Germany DA - 2001-07-11 PY - 2001 AN - OPUS4-6159 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa T1 - An Attempt of Exploiting the Compton-to-Rayleigh Intensity Ratio for Improved Analysis with µXRF at a SEM T2 - Microscopy and Microanalysis 2012 CY - Phoenix, AZ, USA DA - 2012-07-29 PY - 2012 AN - OPUS4-26308 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Aktivitäten der BAM im EU-Projekt NanoDefine N2 - Die Präsentation gibt einen Überblick über die Aktivitäten der BAM im EU-Projekt 'NanoDefine'. Verknüpfungen zur Entwicklung von nano-Referenzmaterialien, ISO- und VAMAS-Aktivitäten und anderen nano-Projekten werden vorausschauend diskutiert. T2 - Expertenaustausch zum Thema ‘Nanosicherheit’ zwischen BMU, BMWi und BAM CY - Berlin, Germany DA - 01.06.2018 KW - Nanomaterial KW - ISO KW - NanoDefine KW - EU-Definition KW - Nanopartikel PY - 2018 AN - OPUS4-45078 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Salge, T. A1 - Terborg, R. A1 - Ball, A. D. A1 - Broad, G. R. A1 - Kearsley, A. T. A1 - Jones, C. G. A1 - Smith, C. A1 - Rades, Steffi T1 - Advanced SEM/EDS analysis using an Annular Silicon Drift Detector (SDD): Applications in Nano, LIfe, Earth and Planetary Sciences below Micrometer Scale T2 - EMAS 2015 - 14th European Workshop on Modern Developments and applications in microbeam analysis CY - Portoroz, Slovenia DA - 2015-05-03 PY - 2015 AN - OPUS4-33247 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Salge, T. A1 - Terborg, R. A1 - Rackwitz, Vanessa T1 - Advanced Elemental Analysis with ED-EPMA, WE-EPMA and µ-XRF at a SEM T2 - IUMAS, 5th International Union of Microbeam Analysis Societies CY - Seoul, South Korea DA - 2011-05-22 PY - 2011 AN - OPUS4-23778 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Salge, T. A1 - Terborg, R. A1 - Rackwitz, Vanessa T1 - Advanced Elemental Analysis with ED-EPMA, WD-EPMA and µ-XRF at a SEM T2 - Microscopy & Microanalysis 2011 Meeting CY - Nashville, TN, USA DA - 2011-08-07 PY - 2011 AN - OPUS4-24149 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -