TY - CONF A1 - Barthel, Maria A1 - Schmidt, Wolfram A1 - Kühne, Hans-Carsten A1 - Meng, Birgit ED - Rogge, A. ED - Meng, B. T1 - Betonpflastersteine mit erweiterten Leistungsmerkmalen T2 - 52. DAfStb-Forschungskolloquium CY - Berlin, Deutschland DA - 2011-11-07 PY - 2011 SN - 978-3-9814281-0-0 N1 - Geburtsname von Barthel, Maria: Meinel, M. - Birth name of Barthel, Maria: Meinel, M. SP - 194 EP - 203 PB - BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung CY - Berlin AN - OPUS4-25182 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Maierhofer, Christiane A1 - Ziegler, Mathias A1 - Kunert, M. A1 - Goldammer, M. T1 - Entwicklung von Referenzprobekörpern für die Standardisierung der Blitzthermografie N2 - Die aktive Thermografie wird in der Industrie zunehmend in verschiedenen Bereichen zur Qualitätssicherung, Zustandsdiagnose und Zustandsüberwachung eingesetzt. Bestehende Normen zur Thermografie beschreiben die Grundlagen, Geräte und Begriffe. In diesem Beitrag wird über ein Projekt berichtet, dessen Ziel die Erarbeitung einer Prüfnorm zur Blitzthermografie ist. Diese sollte neben der Auswahl geeigneter Gerätekomponenten, der Auswertungsverfahren und der Vorgehensweise bei der Prüfung auch die Beschreibung geeigneter Referenzprobekörper enthalten, die eine Bewertung der Messapparatur und eine Qualitätssicherung der Prüfung ermöglichen. T2 - Thermographie-Kolloquium 2011 CY - Stuttgart, Germany DA - 29.09.2011 KW - Aktive Thermografie KW - Blitzanregung KW - Prüfnorm KW - Referenzprobekörper PY - 2011 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-246230 SN - 978-3-940283-36-8 VL - 130 SP - 1 EP - 7 PB - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (DGZfP) CY - Berlin AN - OPUS4-24623 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schlichting, Joachim A1 - Ziegler, Mathias A1 - Pelkner, Matthias A1 - Maierhofer, Christiane A1 - Kreutzbruck, Marc T1 - Kameragestütztes Flying-Spot-Verfahren zur Risserkennung N2 - In dieser Arbeit wird ein kameragestütztes Verfahren zur Flying- Spot-Thermografie vorgestellt. Die Anregung wird über einen Diodenlaser mit einem optischen Scanner realisiert. Bei der Auswertung kommt ein effizienter und robuster Algorithmus zum Einsatz, der direkt auf die mit der Kamera aufgenommene Thermografiesequenz angewendet werden kann, ohne auf eine Synchronisation zwischen Kamera und Lasersystem angewiesen zu sein. Daher eignet sich diese Herangehensweise besonders zur Nachrüstung bestehender Thermografiesysteme. Die prinzipielle Eignung dieser Methode wird anhand einer Messung an einem Schienenstück mit Rollkontaktermüdungsrissen gezeigt. Als Referenzverfahren werden die Magnetpulverprüfung und eine auf GMR (Giant Magnetoresistance)- Sensoren basierende Streufeldmessung herangezogen. Mit dem thermografischen Verfahren konnten sämtliche enthaltenen Fehler erkannt werden. Dabei wurden Risse im mm-Abstand getrennt nachgewiesen, was etwa der geometrischen Auflösung der eingesetzten Kamera entspricht. T2 - Thermographie-Kolloquium 2011 CY - Stuttgart, Germany DA - 29.09.2011 KW - Flying-Spot Thermografie KW - Diodenlaser KW - Rissortung KW - Magnetpulverprüfung KW - GMR-Sensoren PY - 2011 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-246220 SN - 978-3-940283-36-8 IS - DGZfP-BB 130 (Vortrag 09) SP - 1 EP - 6 PB - Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e.V. (DGZfP) AN - OPUS4-24622 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Simon, Franz-Georg A1 - Meggyes, Tamás T1 - Effective cleanup of groundwater contaminated with uranium using permeable reactive barriers T2 - 4th International contaminated site remediation conference - CleanUp 2011 CY - Adelaide, Australia DA - 2011-09-11 KW - Permeable reactive barriers KW - Groundwater remediation KW - Uranium PY - 2011 SN - 978-1-921431-29-6 IS - A 106 SP - 13 EP - 14 AN - OPUS4-25558 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Simon, Franz-Georg A1 - Berger, Wolfgang T1 - Recovery of scarce metals from end-of-life photovoltaic modules T2 - Resources that don’t cost the earth - workshop CY - Berlin, Germany DA - 2011-12-01 KW - Resources KW - Photovoltaics KW - Recycling PY - 2011 IS - Case study 3 SP - 18 PB - RSC AN - OPUS4-26834 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Maierhofer, Christiane A1 - Röllig, Mathias A1 - Steinfurth, Henrik A1 - Ziegler, Mathias A1 - Heck, S.J. A1 - Scheuerlein, C. T1 - Aktive Thermografie zur zerstörungsfreien Prüfung von Lötverbindungen N2 - In diesem Beitrag werden die Möglichkeiten der Ortung von Fehlstellen in Cu Lötverbindungen unterhalb verschiedener Cu Blechdicken mit aktiver Thermografie demonstriert. Dabei wurden die Anregung mit Blitzlicht und die periodische Anregung mit der Lock-In Technik miteinander verglichen. Die Vor- und Nachteile der Anwendung unterschiedlicher IR-Kamerasysteme, einer gekühlten InSb-Quantendetektor IR-Kamera und einer Mikrobolometer IR-Kamera, werden dargestellt. Als objektives Kriterium wurde das SNR für unterschiedliche Fehlstellengrößen herangezogen. T2 - DGZfP-Jahrestagung 2011 CY - Bremen, Germany DA - 30.05.2011 KW - Aktive Thermografie KW - Blitzlichtanregung KW - Lock-In Anregung KW - Lötverbindung KW - Kupfer PY - 2011 UR - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-249935 SN - 978-3-940283-33-7 IS - DGZfP-BB 127 (Di.1.C.1) SP - 1 EP - 8 PB - Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (DGZfP) AN - OPUS4-24993 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schartel, Bernhard ED - Gibson, A.G. T1 - Fire retardancy in composites: a journey from nano to intermediate scale N2 - The fire behaviour of composites clearly differs in comparison to polymers. Even though fibres and inorganic particles may be inert with respect to pyrolysis, they are clearly not with respect to fire behaviour. They change heat absorption and transfer within the Condensed phase, the melt flow/dripping behaviour of pyrolysing melts, the amount and properties of the fire residue and so on. Flame retardancy concepts tailored to composites are needed. Furthermore tasks that are specific for composites such as the structural integrity in fire get into the focus. Thus understanding of fire behaviour and flame retardancy mechanisms in composites is a key for target-oriented future development. The field is illuminated by Spotlights on different length scales. The examples are taken from different projects carried out in the group of the authors in the recent years. Flame retardancy mechanisms in nanocomposites are discussed, advanced halogen-free flame retardants for carbon and glass fibre composites presented as well as an approach to mechanical intermediate scale testing of carbon fibre composites under fire. T2 - Composites in fire 6 - 6th International conference on composites in fire CY - Newcastle, UK DA - 09.06.2011 KW - Flame retardancy KW - Composite KW - Composite and fire KW - Flame retardants PY - 2011 SN - 978-0-9540459-9-9 SP - 55 EP - 62 PB - CompositeLink (Consultants) Limited AN - OPUS4-23857 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Richter, M. A1 - Schultz, C. A1 - Bonse, Jörn A1 - Pahl, H.-U. A1 - Endert, H. A1 - Rau, B. A1 - Schlatmann, R. A1 - Quaschning, V. A1 - Stegemann, B. A1 - Fink, F. T1 - Laser-ablation behavior of thin-film materials used in silicon and CIGSe based solar cells N2 - Structuring of thin-film photovoltaic modules requires basic knowledge of the laser – thin-film interaction in order to adapt the accessible laser parameters, like wavelength, power, repetition rate and scribing speed whilst taking into account the specific material properties of the layer. We have studied the nanosecond laserablation behavior of corresponding layers (i) of silicon based thin-film solar cells with a-Si/µc-Si tandem absorber type and (ii) of back contact and absorber layer of CIGSe solar cells. The respective ablation threshold fluences were determined as integrative parameters describing the specific laser – material interaction. For the threshold determination we used two different methods and developed a new analytical approach taking into account scribing through the glass substrate as it is preferred for most structuring processes. This was done by analyzing the thin film ablation results by means of optical microscopy, profilometry, scanning electron microscopy (SEM). Moreover, we determined the incubation coefficient of the regarded material layers which allows us to predict quantitatively the influence of the spot overlap on the scribing threshold. T2 - 26th European photovoltaic solar energy conference and exhibition CY - Hamburg, Germany DA - 05.09.011 KW - Laser processing KW - Ablation KW - Incubation KW - a-Si/my-Si KW - CIGS PY - 2011 SN - 3-936338-27-2 DO - https://doi.org/10.4229/26thEUPVSEC2011-3DV.2.8 SP - 2943 EP - 2946 AN - OPUS4-24997 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias ED - Uhlmann, E. T1 - Ellipsometrische Codierung & Fabry-Perot Schichtsysteme mit offenen, versteckten und forensischen Merkmalen zur Produkt-Authentifizierung T2 - 3. Internationaler Kongress - Sichere Identität CY - Berlin, Deutschland DA - 2011-04-05 KW - Ellipsometric encoding KW - Fabry-Perot layer stacks KW - Product authentification PY - 2011 SP - 1 EP - 4(?) CY - Berlin AN - OPUS4-23306 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Bonse, Jörn A1 - Rosenfeld, A. A1 - Krüger, Jörg ED - Panchenko, V. ED - Mourou, G. ED - Zheltikov, A. M. T1 - Femtosecond laser-induced periodic surface structures: recent approaches to explain their sub-wavelength periodicities N2 - The formation of laser-induced periodic surface structures (LIPSS) upon irradiation of semiconductors and dielectrics by linearly polarized high-intensity Ti:sapphire fs-laser pulses (τ ~100 fs, λ ~800 nm) is studied experimentally and theoretically. In the experiments, two different types of LIPSS exhibiting very different spatial periods are observed (socalled LSFL – low spatial frequency LIPSS, and HSFL - high spatial frequency LIPSS), both having a different dependence on the incident laser fluence and pulse number per spot. The experimental results are analyzed by means of a new theoretical approach, which combines the generally accepted LIPSS theory of J. E. Sipe and co-workers [Phys. Rev. B 27, 1141-1154 (1983)] with a Drude model, in order to account for transient changes of the optical properties of the irradiated materials. The joint Sipe-Drude model is capable of explaining numerous aspects of fs-LIPSS formation, i.e., the orientation of the LIPSS, their fluence dependence as well as their spatial periods. The latter aspect is specifically demonstrated for silicon crystals, which show experimental LSFL periods Λ somewhat smaller than λ. This behaviour is caused by the excitation of surface plasmon polaritons, SPP, (once the initially semiconducting material turns to a metallic state upon formation of a dense free-electron-plasma in the material) and the subsequent interference between its electrical fields with that of the incident laser beam, resulting in a spatially modulated energy deposition at the surface. Upon multi-pulse irradiation, a feedback mechanism, caused by the redshift of the resonance in a grating-assisted SPP excitation, is further reducing the LSFL spatial periods. The SPP-based mechanism of LSFL successfully explains the remarkably large range of LSFL periods between ~0.6 λ and λ. T2 - LAT 2010 - International Conference on Lasers, Applications, and Technologies CY - Kazan, Russia DA - 23.08.2010 KW - Femtosecond laser ablation KW - Laser-induced periodic surface structures (LIPSS) KW - Surface plasmon polaritons KW - Second harmonic generation (SHG) KW - Silicon KW - Semiconductors KW - Dielectrics PY - 2011 DO - https://doi.org/10.1117/12.879813 SN - 0277-786X N1 - Serientitel: Proceedings of SPIE – Series title: Proceedings of SPIE VL - 7994 SP - 79940M-1 EP - 79940M-10 CY - Bellingham, USA AN - OPUS4-23291 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -