TY - CONF A1 - Steckert, Carsten A1 - Günther, Bernd T1 - Farbmetrische Kalibrierung von Farbmonitoren, Flachbettscannern und Digitalkameras für industrielle Anwendungen T2 - Wissenschaftliches Kolloquium "Trends in der Weißmetrik 2005" CY - Greiz, Germany DA - 2005-05-12 PY - 2005 AN - OPUS4-7535 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steckert, Carsten T1 - Activities of laboratory S.13 "Optical Measurement and Testing Methods; Reference Materials" T2 - Internes Seminar des National Research Council of Canada (NRC), Institute for National Measurement Standards CY - Ottawa, Canada DA - 2004-09-30 PY - 2004 AN - OPUS4-6061 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steckert, Carsten T1 - Activities of laboratory S.13 "Optical Measurement and Testing Methods; Reference Materials" T2 - Internes Seminar des National Institute of Standards and Technology (NIST). Optical Thermometry and Spectral Methods Group CY - Gaithersburg, MD, USA DA - 2004-10-07 PY - 2004 AN - OPUS4-5982 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steckert, Carsten A1 - Günzel, K.-P. T1 - Digital colour image analysis for quality evaluation of car washing stations and affiliated cleaning agents T2 - Test 2003, International Conference on Materials Testing CY - Nuremberg, Germany DA - 2003-05-13 PY - 2003 AN - OPUS4-5144 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steckert, Carsten T1 - Farbmetrisch gestützte Farbbildanalyse zur vergleichenden Bewertung geschädigter Lackoberflächen T2 - FARB-INFO'2002, Deutsches Farbenzentrum e. V. CY - Berlin, Germany DA - 2002-11-20 PY - 2002 AN - OPUS4-4881 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steckert, Carsten A1 - Witt, Klaus A1 - Richter, Klaus T1 - Elektronische Hilfsmittel zur Qualitätssicherung dekorativer Beschichtungen auf Aluminium bei Freibewitterung T2 - Tagung Aluminium-Anwendungen, Neue Entwicklung in der Oberflächentechnik, Deutsche Gesellschaft für Galvano- und Oberflächentechnik e. V. CY - Düsseldorf, Germany DA - 1998-03-10 PY - 1998 AN - OPUS4-4868 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steckert, Carsten T1 - Optische Oberflächeninspektion von Beschichtungen mittels farbmetrisch kalibrierter digitaler Bildanalyse T2 - VDI/VDE-GMA Fachtagung "Oberflächenmesstechnik" CY - Langen (Hesse), Germany DA - 2003-12-01 PY - 2003 AN - OPUS4-4867 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steckert, Carsten T1 - Farbmetrische Scannerkalibrierung T2 - Workshop "Ortsaufgelöste Farb- und Spektralmesstechnik", Optence e. V. (Kompetenznetz Optische Technologien Hessen/Rheinland-Pfalz) CY - Darmstadt, Germany DA - 2003-09-11 PY - 2003 AN - OPUS4-4865 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steckert, Carsten T1 - Optical Surface Inspection of Paint Coatings by Colorimetrically Adjusted Image Analysis T2 - 2nd International Workshop of NDT Experts, "NDT in Progress" CY - Prague, Czech Republic DA - 2003-10-06 PY - 2003 AN - OPUS4-4866 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steckert, Carsten T1 - Einsatz von Monitoren und Scannern zur farbgetreuen Bildwiedergabe freibewitterter dekorativer Beschichtungen T2 - FARB-INFO '99, Deutsches Farbenzentrum CY - Berlin, Germany DA - 1999-11-04 PY - 1999 AN - OPUS4-4823 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steckert, Carsten T1 - Application of CRT displays and scanners for correct colour image reproduction of naturally weathered paint coatings T2 - DFZ-BAM-Workshop: Digital and analog ISO-Test chart reproduction in offices CY - Berlin, Germany DA - 1999-11-01 PY - 1999 AN - OPUS4-4822 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steckert, Carsten A1 - Witt, Klaus T1 - Application of digital color image analysis for colorimetric quality evaluation of surface defects on paint coatings T2 - Proceedings of SPIE (International Society for Optical Engineering) CY - San José, CA, USA DA - 2001-01-23 PY - 2001 AN - OPUS4-3312 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -