TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - µ-RFA am REM T2 - TU-Kolloquium "Ausgewählte analytische Methoden der Physik" T2 - TU-Kolloquium "Ausgewählte analytische Methoden der Physik" CY - Berlin, Germany DA - 2004-01-20 PY - 2004 AN - OPUS4-4611 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Reuter, Dirk T1 - X-Ray Scattering and its Benefits for X-Ray Spectrometry at the SEM T2 - ICXOM20, 20th International Congress on X-ray Optics and Microanalysis T2 - ICXOM20, 20th International Congress on X-ray Optics and Microanalysis CY - Karlsruhe, Germany DA - 2009-09-14 PY - 2009 AN - OPUS4-19535 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Reuter, Dirk T1 - X-Ray Scattering and its Benefit for X-Ray Spectrometry at the SEM T2 - Microscopy & Microanalysis T2 - Microscopy & Microanalysis CY - Richmond, VA, USA DA - 2009-07-26 PY - 2009 AN - OPUS4-19441 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Holzweber, Markus A1 - Ortel, Erik A1 - Unger, Wolfgang T1 - What about ionic liquids as a "hot" reference material candidate to check your EDS below 1 keV? T2 - Microscopy & Microanalysis 2015 T2 - Microscopy & Microanalysis 2015 CY - Portland, Oregon, USA DA - 2015-08-02 PY - 2015 AN - OPUS4-33880 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Holzweber, Markus A1 - Benemann, Sigrid A1 - Unger, Wolfgang T1 - What about ionic liquids as a "hot" reference material candidate to check your EDS below 1 keV? T2 - EMAS 2015 - 14th European Workshop on MODERN DEVELOPMENTS AND APPLICATIONS IN MICROBEAM ANALYSIS T2 - EMAS 2015 - 14th European Workshop on MODERN DEVELOPMENTS AND APPLICATIONS IN MICROBEAM ANALYSIS CY - Portoroz, Spain DA - 2015-05-03 PY - 2015 AN - OPUS4-33100 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Welcoming elemental analysis of nanoparticles by EDX in combination with high-resolution electron microscopy in transmission mode T2 - 13th European Workshop on modern developments and applications in microbeam analysis (EMAS 2013) T2 - 13th European Workshop on modern developments and applications in microbeam analysis (EMAS 2013) CY - Oporto, Portugal DA - 2013-05-12 PY - 2013 AN - OPUS4-28510 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Bremser, Wolfram A1 - Marinenko, R. A1 - Small, J. T1 - WD- & ED-Electron Probe Microanalysis on Au-Cu alloys - Report on progress with CCQM-P130 and how to design a Key Comparison based thereon T2 - CCQM/SAWG (Surface and Micro/Nano Analysis Working Group) Meeting 2013 T2 - CCQM/SAWG (Surface and Micro/Nano Analysis Working Group) Meeting 2013 CY - Sèvres, France DA - 2013-04-16 PY - 2013 AN - OPUS4-28148 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Bremser, Wolfram A1 - Marinenko, R. A1 - John, A. A1 - Steel, E. T1 - WD- & ED- Electron Probe Microanalysis on Au-Cu alloys. Report on progress with CCQM-P130 and How to design a Key Comparison based thereon. T2 - CCQM/SAWG annual meeting T2 - CCQM/SAWG annual meeting CY - Paris, France DA - 2014-04-08 PY - 2014 AN - OPUS4-30585 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Bremser, Wolfram A1 - Marinenko, R. A1 - Small, J. T1 - WD- & ED- Electron Probe Microanalysis on Au-Cu alloys - A CCQM/SAWG Pilot Study (P130) T2 - Training course on Quality Assurance for Traceable Energy Dispersive Electron Probe Microanalysis (ED-EPMA) T2 - Training course on Quality Assurance for Traceable Energy Dispersive Electron Probe Microanalysis (ED-EPMA) CY - Berlin, Germany DA - 2014-03-28 PY - 2014 AN - OPUS4-30584 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Wasserstoffeffekt und -analyse in der GDS - Anwendungen in der Werkstoffforschung T2 - Promotionsverteidigung an der Technischen Universität Dresden T2 - Promotionsverteidigung an der Technischen Universität Dresden CY - Dresden, Germany DA - 2002-10-15 PY - 2002 AN - OPUS4-6247 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Wasserstoffeffekt und -analyse in der GDS - Anwendungen in der Werkstoffforschung T2 - BAM - Fachgruppenseminar VIII.2 T2 - BAM - Fachgruppenseminar VIII.2 CY - Berlin, Germany DA - 2002-11-05 PY - 2002 AN - OPUS4-6250 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Wasserstoffeffekt und -analyse in der GDS - Anwendungen in der Werkstoffforschung T2 - Gemeinsame Doktoranden-Klausur des IFS/IFW Dresden und der TU Szczecin T2 - Gemeinsame Doktoranden-Klausur des IFS/IFW Dresden und der TU Szczecin CY - Szklarska Poreba, Poland DA - 2002-05-22 PY - 2002 AN - OPUS4-6212 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hartelt, Manfred A1 - Wäsche, Rolf A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Verschleißpartikel-Analyse mit Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrie im Transmissionsmodus (TSEM/EDX) T2 - 55. Tribologie-Fachtagung - Reibung, Schmierung und Verschleiß - Forschung und praktische Anwendungen N2 - Untersucht wurden Verschleißpartikel als elektronen-transparente Proben auf dünnen Trägerfolien mit einem hochauflösendem Rasterelektronenmikroskop und energiedispersiver Röntgenspektrometrie im Transmissionsmodus. Die hohe laterale Auflösung dieser modernen Methoden ermöglicht eine morphologische Charakterisierung der Verschleißpartikel bis in den nm-Bereich. Die hochauflösende Elementanalyse erlaubt eine Interpretation der Zusammensetzung und damit Rückschlüsse auf die Verschleißpartikelbildung. Die tribologischen Untersuchungen sind an einem Modell-Verschleißtribometer nach DIN 51834-2 geschmiert, aber ohne Ölkreislauf, durchgeführt worden. Die Präparation der Verschleißpartikel über eine Entnahme und Übertragung einer geringen Schmierstoffmenge mit einer Mikropipette auf eine TEM-Trägerfolie ist mit einem geringen Aufwand möglich. Der präparative Aufwand ist relativ gering. Das benötigte Schmierstoffvolumen beträgt wenige Mikroliter (0,001ml). Die Untersuchung zeigt die geringe geometrische Größe der Verschleißpartikel und bestätigt indirekt die These der Reaktionsschichtbildung mit einer geringen Schichtdicke, die ständig verschleißt und sich stetig neu bildet. Die beschriebenen Verschleißprozesse sind in der Modell-Verschleiß-Prüfung mit sehr hohen Pressungen am Versuchsbeginn nachweisbar. T2 - 55. Tribologie-Fachtagung - Reibung, Schmierung und Verschleiß - Forschung und praktische Anwendungen CY - Göttingen, Germany DA - 22.09.2014 PY - 2014 SN - 978-3-00-046545-1 VL - I SP - 05/1 EP - 05/10 AN - OPUS4-31528 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Hartelt, Manfred A1 - Wäsche, Rolf A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Verschleißpartikel-Analyse mit Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrie im Transmissionsmodus (TSEM/EDX) JF - Tribologie und Schmierungstechnik N2 - Untersucht wurden Verschleißpartikel als elektronentransparente Proben auf dünnen Trägerfolien mit einem hochauflösendem Rasterelektronenmikroskop und energiedispersiver Röntgenspektrometrie im Transmissionsmodus. Die hohe laterale Auflösung dieser modernen Methoden ermöglicht eine morphologische Charakterisierung der Verschleißpartikel bis in den nm-Bereich. Die hochauflösende Elementanalyse erlaubt eine Interpretation der Zusammensetzung und damit Rückschlüsse auf die Verschleißpartikelbildung. Die tribologischen Untersuchungen sind an einem Modell-Verschleißtribometer nach DIN 51834-2 geschmiert, aber ohne Ölkreislauf, durchgeführt worden. Die Präparation der Verschleißpartikel über eine Entnahme und Übertragung einer geringen Schmierstoffmenge mit einer Mikropipette auf eine TEM-Trägerfolie ist mit einem geringen Aufwand möglich. Der präparative Aufwand ist relativ gering. Das benötigte Schmierstoffvolumen beträgt wenige Mikroliter (0,001 ml). Die Untersuchung zeigt die geringe geometrische Größe der Verschleißpartikel und bestätigt indirekt die These der Reaktionsschichtbildung mit einer geringen Schichtdicke, die ständig verschleißt und sich stetig neu bildet. Die beschriebenen Verschleißprozesse sind in der Modell-Verschleiß-Prüfung mit sehr hohen Pressungen am Versuchsbeginn nachweisbar. KW - Modellverschleißprüfung KW - Verschleißpartikel-Analyse KW - TSEM PY - 2015 SN - 0724-3472 VL - 62 IS - 6 SP - 5 EP - 11 PB - Expert Verlag CY - Renningen AN - OPUS4-35043 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Hoffmann, V. A1 - Steers, E.B.M. A1 - Griepentrog, Michael A1 - Dück, Alexander A1 - Beck, Uwe T1 - Verbesserung analytischer GD-OES-Parameter durch Zumischen von Wasserstoff sowie Untersuchungen von Beschichungen als Kandidaten für H-ZRM T2 - 10. Deutsches Anwenndertreffen "Analytische Glimmladungs-Spektrometrie" T2 - 10. Deutsches Anwenndertreffen "Analytische Glimmladungs-Spektrometrie" CY - Lüdenscheid, Germany DA - 2003-09-15 PY - 2003 AN - OPUS4-4328 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Hoffmann, V. T1 - Verbesserung analytischer GD-OES-Parameter durch Zumischen von Wasserstoff sowie Untersuchungen von Beschichtungen als Kandidaten für H-ZRM T2 - 10. Deutsches Anwenndertreffen "Analytische Glimmladungs-Spektrometrie" T2 - 10. Deutsches Anwenndertreffen "Analytische Glimmladungs-Spektrometrie" CY - Lüdenscheid, Germany DA - 2003-09-15 PY - 2003 AN - OPUS4-5006 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Test materials for the performance check and specification of energy dispersive X-ray spectrometers (EDS) for use in electron probe microanalysis (EPMA) T2 - ECASIA´13 (The 15th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis) T2 - ECASIA´13 (The 15th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis) CY - Cagliari, Italy DA - 2013-10-13 PY - 2013 AN - OPUS4-29559 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Mielke, Johannes T1 - Technique evaluation and method development for the characterization and classification of materials according to the EC nano-definition T2 - Public NanoDefine Workshop: Characterization and classification of materials according to the EC nano-definiton T2 - Public NanoDefine Workshop: Characterization and classification of materials according to the EC nano-definiton CY - Brussels, Belgium DA - 2015-06-17 PY - 2015 AN - OPUS4-33883 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Spezielles iMOXS für die Spektroskopie leichter Elemente T2 - iMOXS Anwendertreffen, BAM T2 - iMOXS Anwendertreffen, BAM CY - Berlin, Germany DA - 2009-10-01 PY - 2009 AN - OPUS4-20042 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Source of Measurement Uncertainties associated to Quantitative ED-EPMA T2 - Training course on Quality Assurance for Traceable Energy Dispersive Electron Probe Microanalysis (ED-EPMA) T2 - Training course on Quality Assurance for Traceable Energy Dispersive Electron Probe Microanalysis (ED-EPMA) CY - Berlin, Germany DA - 2014-03-28 PY - 2014 AN - OPUS4-30586 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Motzkus, C. A1 - Macé, T. A1 - Gaie-Levrel, F. A1 - Ducourtieux, S. A1 - Delvallee, A. A1 - Dirscherl, K. A1 - Popov, I. A1 - Popov, O. A1 - Kuselman, I. A1 - Takahata, K. A1 - Ehara, K. A1 - Ausset, P. A1 - Maillé, M. A1 - Michielsen, N. A1 - Bondiguel, S. A1 - Gensdarmes, F. A1 - Morawska, L. A1 - Johnson, J. R. A1 - Faghihi, E. M. A1 - Kim, C. S. A1 - Kim, Y. H. A1 - Chu, M. C. A1 - Guardado, J. A. A1 - Salas, A. A1 - Capannelli, G. A1 - Costa, C. A1 - Bostrom, T. A1 - Jämting, A. K. A1 - Lawn, M. A. A1 - Adlem, L. A1 - Vaslin-Reimann, S. T1 - Size characterization of airborne SiO2 nanoparticles with on-line and off-line measurements techniques: validation with an interlaboratory comparison T2 - Conference on Aerosol Technology 2014 T2 - Conference on Aerosol Technology 2014 CY - Karlsruhe, Germany DA - 2014-06-16 PY - 2014 AN - OPUS4-30110 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias T1 - Simulation der Spektren von Röntgenröhren des Typs MCBM 50 im REM T2 - Fachtagung Prozessnahe Röntgenanalytik (PRORA 2005) T2 - Fachtagung Prozessnahe Röntgenanalytik (PRORA 2005) CY - Berlin, Germany DA - 2005-11-24 PY - 2005 AN - OPUS4-11325 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Silizium-Drift-Detektoren kontra ISO 15632:2002 T2 - Kolloquium 30 Jahre EDS-Analytik in Berlin T2 - Kolloquium 30 Jahre EDS-Analytik in Berlin CY - Berlin, Germany DA - 2012-05-22 PY - 2012 AN - OPUS4-25970 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Salge, T. A1 - Ball, A. D. A1 - Broad, G. R. A1 - Jones, C. G. A1 - Ma, X. A1 - Smith, C. A1 - Kearsley, A. T. A1 - Rades, Steffi A1 - Musat, N. A1 - Falke, M. A1 - Hansen, B. A1 - Terborg, R. T1 - SEM/EDS analysis examples below the nanometre scale using an annular SDD: Applications in nano, life, cultural heritage, earth and planetary sciences T2 - EMAS 2015 - 14th European Workshop on Modern Developments and applications in microbeam analysis T2 - EMAS 2015 - 14th European Workshop on Modern Developments and applications in microbeam analysis CY - Portoroz, Slovenia DA - 2015-05-03 PY - 2015 AN - OPUS4-33246 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Wirth, Thomas A1 - Unger, Wolfgang T1 - Schichtanalyse mit der optischen Glimmentladungsspektroskopie (GD-OES) JF - Technische Rundschau : TR PY - 2000 SN - 1662-3096 SN - 0040-1498 SN - 0040-148X SN - 1023-0823 PB - Binkert Medien CY - Laufenburg AN - OPUS4-1055 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Wirth, Thomas A1 - Unger, Wolfgang T1 - Schichtanalyse mit dem GD-OES-Verfahren JF - Technische Rundschau : TR PY - 2001 SN - 1662-3096 SN - 0040-1498 SN - 0040-148X SN - 1023-0823 VL - 7 SP - 44 EP - 45 PB - Binkert Medien CY - Laufenburg AN - OPUS4-6881 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Röntgenspektroskopie am Rasterelektronenmikroskop in der AG "Schicht- und Oberflächenanalytik" 2002 - 2008 T2 - Kolloquium "Energiedispersive Elektronenstrahl- und Röntgenfluoeszenz-Mikrobereichsanalyse am REM" T2 - Kolloquium "Energiedispersive Elektronenstrahl- und Röntgenfluoeszenz-Mikrobereichsanalyse am REM" CY - Berlin, Germany DA - 2008-05-27 PY - 2008 AN - OPUS4-17603 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa T1 - Reference Materials for the Performance Check and Specification of Energy Dispersive X-Ray Spectrometers in Electron Probe Microanalysis T2 - European Conference on X-Ray Spectrometry EXRS 2012 T2 - European Conference on X-Ray Spectrometry EXRS 2012 CY - Vienna, Austria DA - 2012-06-18 PY - 2012 AN - OPUS4-26143 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa T1 - Reference materials for the performance check and specification of energy dispersive X-ray spectrometers (EDS) in electron probe microanalysis (EPMA) T2 - European Conference on X-Ray Spectrometry T2 - European Conference on X-Ray Spectrometry CY - Vienna, Austria DA - 2012-06-18 PY - 2012 AN - OPUS4-26119 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Akcakayiran, D. A1 - Grigoriev, D. A1 - Shchukin, D. G. T1 - Quick Characterization of Micro- and Nanocapsules for self-Healing Anti-Corrosion Coatings by High-Resolution SEM with Coupled Transmission Mode and EDX T2 - ECASIA´13 (The 15th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis) T2 - ECASIA´13 (The 15th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis) CY - Cagliari, Italy DA - 2013-10-13 PY - 2013 AN - OPUS4-29558 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa T1 - Prediction of Detection Limits of Micro X-Ray Fluorescence (µXRF) T2 - Microscopy and Microanalysis 2012 T2 - Microscopy and Microanalysis 2012 CY - Phoenix, AZ, USA DA - 2012-07-29 PY - 2012 AN - OPUS4-26309 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Lippitz, Judith A1 - Kraft, Benedikt A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Terborg, R. T1 - Performance check of EDS X-ray spectrometers; extension to high count rates T2 - EMAS 2011, 12th european workshop on modern developments and applications in microbeam analysis T2 - EMAS 2011, 12th european workshop on modern developments and applications in microbeam analysis CY - Angers, France DA - 2011-05-15 PY - 2011 AN - OPUS4-23550 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Kraft, B. A1 - Terborg, R. T1 - Performance Check of EDS X-Ray spectrometers - Extensions to high Count Rates T2 - PRORA 2011 Fachtagung Prozessnahe Röntgenanalytik T2 - PRORA 2011 Fachtagung Prozessnahe Röntgenanalytik CY - Berlin, Germany DA - 2011-11-24 PY - 2011 AN - OPUS4-24922 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Lippitz, Andreas A1 - Kraft, Benedikt A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Terborg, R. T1 - Performance Check of EDS X-Ray Spectrometers - Extension to high Count Rates T2 - Microscopy & Microanalysis 2011 Meeting T2 - Microscopy & Microanalysis 2011 Meeting CY - Nashville, TN, USA DA - 2011-08-07 PY - 2011 AN - OPUS4-24132 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias T1 - Performance Check of a Wavelength Dispersive X-Ray Spectrometer (WDS) attached to a SEM T2 - Microscopy & Microanalysis T2 - Microscopy & Microanalysis CY - Richmond, VA, USA DA - 2009-07-26 PY - 2009 AN - OPUS4-19442 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Ortsaufgelöste Elementaranalytik mit GD-OES und ortsaufgelöste Röntgenanalytik im REM T2 - veranstaltung Siemens - BAM T2 - veranstaltung Siemens - BAM CY - Berlin, Germany DA - 2003-09-17 PY - 2003 AN - OPUS4-4329 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Terborg, R. A1 - Falke, M. A1 - Käppel, A. T1 - On the Characterization of the Geometrical Collection Efficiency of Modern EDS Systems T2 - Microscopy and Microanalysis M&M 2014 T2 - Microscopy and Microanalysis M&M 2014 CY - Hartford, CT, USA DA - 2014-08-02 PY - 2014 AN - OPUS4-31468 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Oberflächlich betrachtet - Spektroskopie analysiert Werkstoffe JF - Labor-Praxis KW - Mikrobereichsanalyse KW - Metalle KW - Ringversuch KW - Messunsicherheit PY - 2012 UR - http://www.laborpraxis.vogel.de/analytik/spektroskopie-und-photometrie/roentgenstrukturanalyse/articles/356924 SN - 0344-1733 SN - 1610-8256 IS - März SP - 20 EP - 21 PB - Vogel CY - Würzburg AN - OPUS4-25745 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rades, Steffi A1 - Salge, T. A1 - Schmidt, R. T1 - Need for Large-Area EDS Detectors for Imaging Nanoparticles in a SEM Operating in Transmission Mode T2 - Microscopy and Microanalysis M&M 2014 T2 - Microscopy and Microanalysis M&M 2014 CY - Hartford, CT, USA DA - 2014-08-02 PY - 2014 AN - OPUS4-31469 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Nanoanalytik-Aktivitäten @ BAM N2 - In dieser Präsentation werden Aktivitäten im Bereich der 'nano'-Charakterisierung bei der BAM vorgestellt. Beispiele von F&E-Projekten und -Kooperationen im nano-Analytik-Bereich bei der BAM werden genannt. Thematische Kooperations-Möglichkeiten zwischen BAM und dem Netzwerk NanoAnalytik und -Messtechnik in der Produktion werden diskutiert. T2 - Treffen des Netzwerkes NanoAnalytik und -Messtechnik CY - Berlin, Germany DA - 06.11.2018 KW - Nanoanalytik KW - Nano-Projekte KW - Nano-Kompetenzzentrum KW - Nano-Charakterisierung PY - 2018 UR - https://www.nanoinitiative-bayern.de/nanoanalytik/ AN - OPUS4-46563 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Ostermann, Markus T1 - Nachweisgrenzen der µ-RFA mit REM/EDS für RoHS-Elemente T2 - µ-RFA-Workshop, BAM T2 - µ-RFA-Workshop, BAM CY - Berlin, Germany DA - 2011-09-22 PY - 2011 AN - OPUS4-24462 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rades, Steffi A1 - Salge, T. A1 - Ortel, Erik A1 - Mielke, Johannes A1 - Wirth, Thomas A1 - Kalbe, Henryk A1 - Unger, Wolfgang T1 - Morphological and compositional high-resolution imaging of individual nanoparticles by analytical methods using excitation with a scanning electron beam T2 - IUVSTA Workshop: Nanoparticle concentration, chemistry and interfaces T2 - IUVSTA Workshop: Nanoparticle concentration, chemistry and interfaces CY - Peckforton Castle, Cheshire, UK DA - 2015-04-20 PY - 2015 AN - OPUS4-34185 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Guilherme, A. A1 - Benemann, Sigrid A1 - Coroado, J. A1 - Carvalho, M.L. T1 - Morphological and Compositional Features of Portuguese Polychrome Glazed Pottery Investigated by SEM/EDX - Hints about the Manufacturing Processes T2 - Microscopy and Microanalysis 2013 T2 - Microscopy and Microanalysis 2013 CY - Indianapolis, IN, USA DA - 2013-08-04 PY - 2013 AN - OPUS4-28941 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Guilherme, A. A1 - Benemann, Sigrid A1 - Coroado, J. A1 - Carvalho, M.L. T1 - Morphological and Compositional Features of Portuguese Polychrome Glazed Pottery by Means of SEM/EDX - Hints about the Manufacturing Process T2 - 13th European Workshop on modern developments and applications in microbeam analysis (EMAS 2013) T2 - 13th European Workshop on modern developments and applications in microbeam analysis (EMAS 2013) CY - Oporto, Portugal DA - 2013-05-12 PY - 2013 AN - OPUS4-28509 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Ortel, Erik A1 - Rossi, A. M. T1 - Morphological and chemical characterization of engineered TiO2 NPs and assembled films - an excerpt from the EC/FP7 project SETNanoMetro T2 - CCQM - Surface and Micro/Nano Analysis Working Group (SAWG) Meeting for 2015 T2 - CCQM - Surface and Micro/Nano Analysis Working Group (SAWG) Meeting for 2015 CY - BIPM, Sévres, Paris, France DA - 2015-04-17 PY - 2015 AN - OPUS4-33096 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa T1 - Modeling of X-Ray Scattering for an improved XRF-Analysis T2 - European Conference on X-Ray Spectrometry T2 - European Conference on X-Ray Spectrometry CY - Vienna, Austria DA - 2012-06-18 PY - 2012 AN - OPUS4-26121 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Radnik, Jörg T1 - Minimale Anforderungen an Referenzdaten anhand von Beispielen aus der Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalytik N2 - In dem Vortrag werden, anhand ausgewählten Beispielen aus der Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalytik (EDX und XPS), die minimalen Anforderungen an Referenzdaten für zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse (z.B. Partikelgrößenverteilung, Elementzusammensetzung) vorgestellt und diskutiert. T2 - Workshop "Referenzdaten" CY - Berlin, Germany DA - 13.03.2020 KW - Referenzdaten KW - Nanopartikel KW - Elektronenmikroskopie KW - Oberflächenanalytik KW - Standardarbeitsanweisung KW - SOP KW - Standardisierung PY - 2020 AN - OPUS4-50571 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Procop, Mathias T1 - Micro-X-Ray fluorescence as an extension of the analytical scanning electron microscope T2 - The 56th Annual Denver X-Ray Conference (DXC 2007) T2 - The 56th Annual Denver X-Ray Conference (DXC 2007) CY - Denver, CO, USA DA - 2007-07-30 PY - 2007 AN - OPUS4-15187 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Rackwitz, Vanessa A1 - Reuter, Dirk T1 - Micro-Focus X-Ray Fluorescence (µ-XRF) as an Extension of the Analytical SEM T2 - Microscopy & Microanalysis T2 - Microscopy & Microanalysis CY - Portland, OR, USA DA - 2010-08-01 PY - 2010 AN - OPUS4-20909 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Measurement of nanoparticle size and shape distribution – Current situation and outlook N2 - The EC Recommendation on the definition of nanomaterial, based solely on size of the constituent particles, foresees development of harmonised measurement methods ensuring ‘consistent results across materials and over time’. The EU/FP7 research project NanoDefine has been exclusively dedicated to support the implementation of this EC Recommendation for the European Union’s legislation. For the first time, measurement techniques able to determine the size of nanoparticles have been evaluated systematically on a well-defined set of quality control materials (spherical, monodisperse) as well as industrial materials of complex shapes and considerable polydispersity. Particularly based on the analytical performance of the measurement techniques as tested on the challenging real-world particulate materials, it was possible to formulate recommendations for use of a new tiered approach consisting of screening and confirmatory techniques. Thus, a consistent framework of guidance for nanomaterial identification according to the EC Definition has been issued in form of the NanoDefiner e-tool, with a transparent decision flow scheme and an extensive user manual. Selected examples of analysis and classification as nano-/non-nanomaterials will be given, highlighting the limits of applicability of the available measurement techniques in dependence on sample properties. On some recent relevant developments in sample preparation – as a crucial part for an accurate analysis - will be also reported. Further, ISO/TC 229 ‘Nanotechnologies’ activities aiming at establishing accurate TEM and SEM measurement of NP size and shape as robust, traceable, standard procedures are highlighted. With participation of BAM, study groups have been organizing inter-laboratory comparisons on well-selected NP systems according to the market needs, such as aggregated or shape-controlled titania nano-powder for which size and shape distribution of primary particles must be measured accurately. T2 - Symposium Preparation, Characterization and Processing of Nano and Submicron Powders CY - Berlin, Germany DA - 14.06.2018 KW - Nanoparticles KW - Nanomaterial KW - EC definition KW - Nanoparticle size distribution PY - 2018 AN - OPUS4-45191 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -