TY - JOUR A1 - Fuhrland, Matthias T1 - Untersuchungen zu einem lokalen optischen Positionierungssystem JF - Technisches Messen N2 - Der Artikel beschreibt ein Prinzip zur 3D-Positionsbestimmung durch Pseudostreckenmessung mit Hilfe ultrakurzer Laserpulse. Ziel der Entwicklung ist ein lokales optisches Positionierungssystem (LOPS). Laserpulse werden hochdivergent ausgesandt zu vier Detektoren mit jeweils bekannter Position. Es gilt, die 3D-Position der Laserquelle zu bestimmen. Ein TCSPC-System (time-correlated single photon counting) wird verwendet, um die differenzielle Laufzeit des Laserpulses zwischen den vier Detektoren zu bestimmen. Die untersuchten Problemstellungen betreffen die notwendige Pulsleistung, die Pulsbreite und die Strahlformung. Es werden vergleichende Untersuchungen verschiedener ps-Laserpulser, Detektortypen und TCSPC-Systeme sowie die Entwicklung einer elastischen Optik gezeigt. ------------------------------------------------------------ The article describes a principle of 3D positioning by pseudo ranges using ultrashort laser pulses. It can be used as a local optical positioning system (LOPS). Laser pulses are emitted highly divergently to four detectors with known positions. The goal is to determine the 3D position of the laser sender. A time-correlated single photon counting (TSCPC) system is used to measure differential time of flight between the four detectors. The investigated problems concern the required laser power, the pulse width and the beam shaping. Investigations with different ps-laser pulsers, different detector types and TCSPC systems and furthermore the development of an elastic lens are presented. KW - Lokales optisches Positionierungssystem KW - Differenzielles TCSPC KW - Elastische Optik KW - Photon counting KW - Avalanche-Photo-Diode KW - Local optical positioning system KW - Differential TCSPC KW - Elastic optics PY - 2009 DO - https://doi.org/10.1524/teme.2009.0910 SN - 0340-837X SN - 0178-2312 SN - 0171-8096 VL - 76 IS - 1 SP - 16 EP - 25 PB - Oldenbourg CY - München AN - OPUS4-19058 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -