TY - JOUR A1 - Schwarz, Wolfram A1 - Schmidt, Daniel T1 - A test chart for STEREOSCAN 180 by generating grey-scale signals in staircase form PY - 1978 SN - 0161-0457 SN - 1932-8745 VL - 1 IS - 2 SP - 131 EP - 133 PB - Wiley CY - Hoboken, NJ AN - OPUS4-8950 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Arndt, Jürgen A1 - Hantsche, Harald A1 - Schmidt, Daniel T1 - A simple beam current stabilizing unit for SEMs PY - 1978 SN - 0161-0457 SN - 1932-8745 VL - 1 IS - 2 SP - 125 EP - 126 PB - Wiley CY - Hoboken, NJ AN - OPUS4-8942 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Arndt, Jürgen A1 - Hantsche, Harald A1 - Schmidt, Daniel T1 - Eine einfache Strahlstrom-Stabilisierungseinrichtung für das Stereoscan Mark II A T2 - 2. Sitzung des Arbeitsausschusses Geräteentwicklung CY - Berlin, Deutschland DA - 1977-10-14 PY - 1978 SP - 57 EP - 64 CY - Berlin AN - OPUS4-8941 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schmidt, Daniel T1 - Alphanumerische Dateneinblendung am Stereoscan T2 - 7. Kolloquium des Arbeitskreises Elektronenmikroskopische Direktabbildung von Oberflächen CY - Frankfurt am Main, Deutschland DA - 1974-06-04 PY - 1975 SN - 0340-3815 VL - 7 SP - 165 EP - 172 PB - Remy CY - Münster, Westf. AN - OPUS4-8307 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schmidt, Daniel A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Schichtdickenberechnung aus Mikrosondenmessungen mittels Gaußscher Verteilung PY - 1974 SN - 0028-1042 SN - 1432-1904 VL - 61 IS - 1 SP - 30 EP - 31 PB - Springer CY - Berlin AN - OPUS4-8089 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Schmidt, Daniel A1 - Schwarz, Wolfram T1 - Zum Zusammenhang zwischen der Dicke dünner Metallschichten, der relativen Röntgenintensität und anderen Mikrosonden-Parametern T2 - Gemeinsame Tagung für Elektronenmikroskopie CY - Lüttich, Belgien DA - 1973-09-03 PY - 1974 SN - 0340-3815 VL - 6 SP - 55 EP - 66 PB - Remy CY - Münster, Westf. AN - OPUS4-8090 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -