TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Lange, Thorid A1 - Hielscher, Stefan A1 - Rietz, Uwe A1 - Lerche, D. A1 - Pfuch, A. T1 - Multiple-sample approach for bonding and testing: validation of bonding strength of adhesive-bonded joints and adhesive tapes N2 - The multiple-sample approach by means of centrifugal adhesion testing (CAT-technology) allows the determination of bonding strength of adhesive-bonded joints on a statistical basis of up to eight samples. Therefore, it is obvious to ensure the continuous handling and identical processing of an octet of samples within the entire process chain of wet-chemical cleaning, plasma-chemical pre-treatment, bonding of samples, and testing of bonding strength. Within the multiple-sample bonding set-up (MPKV-technology) a defined bonding pressure can be adjusted regardless the actual number of samples. A comparison of single- and multiple-sample approach is made for bonding strength of selected adhesives, double-sided adhesive tapes and different material combinations [stainless steel (V2A) vs. stainless steel, polyamide (PA), or polypropylene (PP)]. It is shown that both technologies improve reliability of results T2 - EURADH 2016 Adhesion ´16 CY - Glasgow, UK DA - 21.09.2016 KW - Multiple-sample bonding KW - Multiple-sample testing KW - Bonding strength KW - Adhesives and adhesive tapes PY - 2016 SP - 162 EP - 166 AN - OPUS4-37588 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Pfuch, A. A1 - Beck, Uwe A1 - Lange, Thorid A1 - Rietz, U. A1 - Küzün, B. A1 - Twardygrosz, R. T1 - Wie Klebungen einfacher validiert werden können N2 - Die Bestimmung der Haftfestigkeit von Lackierungen, Beschichtungen oder Klebungen ist wichtig für die Beurteilung von entsprechenden Fertigungsabläufen. Unter Verwendung einer neuen Zentrifugentechnik wurde jetzt ein neues Mehr-Proben-Konzept zur schnellen Validierung von Klebverbindungen entwickelt. KW - Klebfestigkeit KW - Haftfestigkeit KW - Mehr-Proben-Vorbehandeln/Kleben/Prüfen PY - 2015 SN - 0001-8198 VL - 9 SP - 44 EP - 52 PB - Vieweg CY - Wiesbaden AN - OPUS4-34282 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Beck, Uwe A1 - Pfuch, A. A1 - Rietz, U. T1 - Zentrifugentechnologie erleichtert Prüfverfahren N2 - Die Bestimmung der Haftfestigkeit von Lackierungen, Beschichtungen oder Klebeverbunden ist ein wichtiges Analyseinstrument bei der Beurteilung von entsprechenden Fertigungsabläufen. Unter Verwendung einer neuen Zentrifugentechnologie wurde in einem AiF Forschungsprojekt OKTETT die gesamte Prozesskette Vorbehandlung - Verklebung - Prüfung validiert. KW - Klebfestigkeit KW - Haftfestigkeit KW - Mehr-Proben-Vorbehandeln/Kleben/Prüfen PY - 2015 SN - 2195-5891 SN - 2195-5905 IS - 3 SP - 1 PB - WOTech CY - Waldshut-Tiengen AN - OPUS4-32834 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Weise, Matthias A1 - Kittler-Packmor, Kai A1 - Rietz, U. A1 - Lerche, D. A1 - Pfuch, A. T1 - Mehr-Proben-Konzept zum Kleben und Prüfen: Validierung von Klebverbunden im OKTETT T2 - 10. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik mit 4. Optik-Kolloquium CY - Leipzig, Germany DA - 2014-09-02 KW - Zentrifugentechnologie KW - Klebfestigkeit KW - Haftfestigkeit KW - Mehr-Proben-Prüfen/Kleben PY - 2014 SP - BA04, 1 EP - 2 AN - OPUS4-31313 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Pfuch, A. A1 - Horn, K. A1 - Mix, Renate A1 - Ramm, M. A1 - Heft, A. A1 - Schimanski, A. ED - Suchentrunk, R. T1 - Direct and remote plasma assisted CVD at atmospheric pressure for the preparation of oxide thin films N2 - In this paper the preparation of silicon and titanium oxide thin films using an atmospheric pressure plasma process will be reported. To obtain these oxide films hexamethyldisiloxane and titanium tetraisopropoxide were used as precursor materials. Based on the different chemical reaction mechanisms the film deposition processes were carried out in the direct as well as in the remote PACVD mode. The deposition parameters were varied and the influence on different film properties was studied. The deposited oxide films were characterised by profilometry, ellipsometry, SEM, UV-VIS-NIR-transmission measurements. FT-IR spectroscopy and contact angle measurements. Additionally, first results will be presented concerning the creation of composite films using a combination of plasma and liquid dye nebulization technique. KW - FTIR KW - Ellipsometry KW - Profilometry KW - SEM KW - PACVD KW - Silicon oxide PY - 2010 SN - 978-3-87480-259-8 VL - 66 SP - 114 EP - 124 PB - Eugen G. Leuze CY - Bad Saulgau AN - OPUS4-22798 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -